本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种确定屏体内像素电路电压补偿值的方法、装置，一种消除屏体内mura的方法、装置，以及一种显示屏体。
背景技术：
随着各种消费电子的发展，尤其是电视机、显示器、移动终端不断更新换代的背景下，显示屏体的显示效果逐渐成为关注的热点。mura是指显示屏体亮度不均匀,造成各种痕迹的现象，不仅影响到屏体整体的视觉效果，同时严重影响到整体良率和综合产能提升，于是如何消除屏体内mura成为目前良率提升的难题之一。mura的产生，究其原因主要是薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)和有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)的不均一性造成的。
现有技术消除mura的方式是先将显示屏体点亮，通过外部设备对显示面板上的每个像素进行扫描从而收集色彩数据，再将收集到的色彩数据与预先设定的无mura的色彩数据进行对比，通过数次尝试，确定出针对存在mura的像素的补偿值，通常该补偿值为电压的补偿值，比如在工作时对存在mura的像素在原有电压的基础上二次加成+0.1V或-0.1V等。
如前所述，如图1所示，先将显示屏体点亮，每个像素均由RGB(red红、green绿、blue蓝)色彩模式控制，可以将显示屏体中的每个像素(像素1至8)均设置为(R159、G159、B159)，并通过外部设备对显示屏体上的每个像素进行扫描，收集色彩数据，将收集到的色彩数据与(R159、G159、B159)进行对比，当扫描到像素6的色彩数据与(R159、G159、B159)不匹配时，根据预设的确定方法确定对该像素的电压补偿值，比如，识别出像素6的色彩数据为(R195、G195、B195)，根据预设的算法，对像素6单独进行电压补偿，通过数次尝试，确定出电压补偿值，下次点亮屏体时，对该像素单独进行电压补偿，达到消除mura的效果。
现有技术的关键在于外部设备，没有该外部设备便无法对显示面板上的每个像素进行扫描，也就无法消除mura。且mura现象有可能随着工作时间的延长(如在使用过程中出现故障)，或者生产商在出厂前对存在mura现象的屏体处理不到位，依旧存在mura现象。然而，该外部设备通常是显示屏体生产商才有，远不能做到每个用户都有，且并不是所有用户可以随时通过外部设备扫描显示屏体上的每个像素，并确定补偿值，所以现有技术通过外部设备消除屏体内mura的方式，存在一定的局限性，普遍性较低。
技术实现要素：
鉴于上述问题，本发明提供了一种确定屏体内像素电路电压补偿值的方法、装置，一种消除屏体内mura的方法、装置，以及一种显示屏体，用于使每个显示屏体自身都具有消除mura的功能，提高消除屏体内mura的普遍性。
本发明提供了一种确定屏体内像素电路电压补偿值的方法，包括：
根据预设测试电压，对屏体内的像素电路进行加压；
获取所述像素电路的实际电性参数；
根据所述实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值；
将针对所述像素电路的电压补偿值保存至存储器。
本发明提供了一种确定屏体内像素电路电压补偿值的装置，包括：第一加压单元、第一获取单元、确定单元以及存储单元，其中，
第一加压单元，用于根据预设测试电压，对屏体内的像素电路进行加压；
第一获取单元，用于获取所述像素电路的实际电性参数；
确定单元，用于根据所述实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值；
存储单元，用于将针对所述像素电路的电压补偿值保存至存储器。
本发明提供了一种消除屏体内mura的方法，包括：
接收针对屏体内像素电路的预设电压；
获取存储器中对所述像素电路的电压补偿值；
根据所述预设电压以及所述电压补偿值的加成值，对所述像素电路进行加压。
本发明提供了一种消除屏体内mura的装置，包括：接收单元、第二获取单元以及第二加压单元，其中，
接收单元，用于接收针对屏体内像素电路的预设电压；
第二获取单元，用于获取存储器中对所述像素电路的电压补偿值；
第二加压单元，用于根据所述预设电压以及所述电压补偿值的加成值，对所述像素电路进行加压。
本发明提供了一种显示屏体，包括：像素电路、驱动模块、电压模块以及存储器，其中，
驱动模块，用于：将预设测试电压发送至电压模块；获取所述像素电路的实际电性参数；根据所述实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对所述像素电路的电压补偿值；
电压模块，用于：根据预设测试电压，对屏体内的所述像素电路进行加压；接收对屏体内所述像素电路的预设电压；获取所述存储器中针对所述像素电路的电压补偿值；根据预设电压以及电压补偿值的加成值，对所述像素电路进行加压；
所述存储器，用于：保存针对所述像素电路的电压补偿值。
采用上述的显示屏体、确定屏体内像素电路电压补偿值的方法、装置以及消除屏体内mura的方法、装置，在屏体内部可以根据预设测试电压对像素电路进行加压，根据获取的实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对像素电路的电压补偿值，并保存至显示屏体内部的存储器。当显示屏体工作时，根据针对像素电路的预设电压，以及从存储器获取的针对该像素电路的电压补偿值，对该像素进行加压，以便消除mura，实现显示画面的均一性。相比于现有技术需要通过外部设备完成电压补偿值的确定而言，本申请的显示屏体及方法、装置，可以在显示屏体内部完成电压补偿值的确定，换句话说，可以针对mura随时更新每个像素电路的电压补偿值，不再需要借助其他外部设备，提高了消除屏体内mura的普遍性。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为现有技术通过外部设备确定电压补偿值时，显示屏体的显示效果示意图；
图2为本发明提供的柔性屏确定屏体内像素电路电压补偿值的方法的流程示意图；
图3为本发明提供的消除屏体内mura的方法的流程示意图
图4为本发明提供的显示屏体的结构图；
图5为本发明提供的确定针对像素电路的电压补偿值的方法的时序示意图；
图6为本发明提供的电压补偿值阶段以及消除mura阶段的示意图；
图7为本发明提供的确定屏体内像素电路电压补偿值的装置的结构图；
图8为本发明提供的消除屏体内mura的装置的结构图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明具体实施例及相应的附图对本发明技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
以下结合附图，详细说明本发明各实施例提供的技术方案。
如图2所示，为本申请提供的确定屏体内像素电路电压补偿值的方法的流程示意图，假设执行主体为显示屏体，包括下述步骤：
步骤11：根据预设测试电压，对屏体内的像素电路进行加压。
若要确定每个像素电路的电压补偿值，则需要先让每个像素电路处于工作状态，所以本步骤可以预先设置测试电压，由于后续步骤需要获取像素电路的电性参数，所以该测试电压可以是变化的值，比如测试电压可以是增压的过程，如1V～2V等，又如测试电压也可以是减压的过程，如2V～1V等。并根据该测试电压，对屏体内的像素电路进行加压，即施加电压，使像素电路处于工作状态，本步骤并未限定像素电路的个数，由于屏体内部存在多个像素电路，在实际应用中，可以对屏体内的部分像素电路施加电压，也可以同时对全部像素电路施加电压。
步骤12：获取像素电路的实际电性参数。
前文已经介绍，mura的产生，究其原因主要是像素电路中的薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)和有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)的不均一性造成的，若要消除mura，可以针对每个TFT和/或OLED进行不同的电压值补偿，以便解决mura问题，而若要确定电压的补偿值，则需要先获知实际的电性参数，所以本步骤就可以获取像素电路的实际电性参数。
在实际应用中，TFT和OLED都具有各自的电性参数，每个像素电路可以包含若干个TFT和一个OLED，TFT可以理解为开关，而OLED可以理解为灯，在AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体)中，通过每个像素电路中的若干个TFT(开关)，控制一个OLED(灯)。出现mura，有可能仅与像素电路中的TFT有关，也可能仅与像素电路中的OLED有关，还有可能与像素电路中的TFT和OLED均有关。所以，在一种实施方式中，本步骤可以包括：获取该像素电路中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和/或有机发光二极管的实际电流电压曲线。输出特性曲线可以代表TFT的基本特性，而电流电压曲线(U-I曲线)可以代表OLED的基本特性。
步骤13：根据该实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对该像素电路的电压补偿值。
在上一步骤中获取到实际电性参数后，若要得知是否需要补偿，就需要和不存在mura的电性参数进行对比，可以称为理论电性参数，如果不匹配，即存在偏差，则说明实际电性参数对应的TFT和/或OLED，存在不均一性。此时就可以根据偏差的情况，确定针对该像素电路的电压补偿值。比如，上一步骤已经提到，可以获取TFT的实际输出特性曲线，也可以获取OLED的实际U-I曲线，本步骤就可以将TFT的实际输出特性曲线与理论输出特性曲线进行匹配，根据匹配程度确定针对该像素电路的电压补偿值；也可以仅将OLED的实际U-I曲线与理论U-I曲线进行匹配，根据匹配程度确定针对该像素电路的电压补偿值；还可以将TFT的实际输出特性曲线与理论输出特性曲线进行匹配，以及将OLED的实际U-I曲线与理论U-I曲线进行匹配，根据匹配程度确定针对该像素电路的电压补偿值。
在实际应用中，考虑到每个像素电路的TFT和OLED的特性均存在差异，所以理论电性参数也往往略有差异，在一种实施方式中，本步骤可以包括：根据实际输出特性曲线，确定阈值电压，并根据该阈值电压确定理论输出特性曲线；和/或根据实际电流电压曲线，确定开启电压，并根据该开启电压确定理论电流电压曲线；根据该实际输出特性曲线与该理论输出特性曲线的匹配程度，和/或该实际电流电压曲线与该理论电流电压曲线的匹配程度，确定针对该像素电路的电压补偿值。
具体地，TFT存在阈值电压，可以先根据TFT的实际输出特性曲线确定出这个阈值电压，再根据阈值电压，确定出理论的输出特性曲线，通过实际与理论的输出特性曲线的匹配，确定出针对该像素电路的电压补偿值。OLED存在开启电压，可以先根据OLED的实际U-I曲线确定出开启电压，再根据该开启电压，确定出理论U-I曲线，通过实际与理论的U-I曲线的匹配，确定出针对该像素电路的电压补偿值。
在实际应用中，为了提高确定出的电压补偿值的准确性，可以综合TFT和OLED的电性参数确定电压补偿值。所以，在一种实施方式中，步骤12可以包括：获取该像素电路中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和有机发光二极管的实际电流电压曲线。则本步骤可以包括：根据该实际输出特性曲线，确定阈值电压，并根据该阈值电压确定理论输出特性曲线，以及根据该实际电流电压曲线，确定开启电压，并根据该开启电压确定理论电流电压曲线；根据实际输出特性曲线与理论输出特性曲线的匹配程度，以及实际电流电压曲线与理论电流电压曲线的匹配程度，确定针对该像素电路的电压补偿值。
具体地，可以先分别确定出TFT的理论输出特性曲线以及OLED的理论U-I曲线，再综合实际输出特性曲线与理论输出特性曲线的匹配程度，以及实际U-I曲线与理论U-I曲线的匹配程度，确定针对该像素电路的电压补偿值。
步骤14：将针对该像素电路的电压补偿值保存至存储器。
在上一步骤确定出针对该像素电路的电压补偿值后，为了方便在使用过程中随时调取，可以将电压补偿值保存在屏体内部的存储器中，以便显示屏体在工作过程中，随时调取电压补偿值，进而消除mura。
在介绍完确定屏体内像素电路电压补偿值的方法后，接下来介绍本申请提供的一种消除屏体内mura的方法，用于在显示屏体工作过程中，消除屏体内mura。如图3所示，为本申请提供的消除屏体内mura的方法的流程示意图，假设执行主体依旧为显示屏体，包括下述步骤：
步骤21：接收针对屏体内像素电路的预设电压。
当显示屏体在工作时，屏体内的每个像素电路都需要接收预设的电压，从而驱动像素电路中的TFT和OLED进行显示。而在实际应用中，为了显示不同的颜色，往往每个像素电路的预定电压均不同，就可以接收针对不同屏体内像素电路的预设电压。
步骤22：获取存储器中针对该像素电路的电压补偿值。
在步骤14中，已经将像素电路的电压补偿值保存在存储器中，所以当显示屏体工作时，为了消除mura，可以在对像素电路进行加压之前，获取存储器中保存的对该像素电路的电压补偿值，若该像素电路不存在mura，则获取不到电压补偿值，或者获取到的电压补偿值为0。若该像素电路存在mura，则可以获取到最该像素电路的电压补偿值。
步骤23：根据该预设电压以及该电压补偿值的加成值，对该像素电路进行加压。
在前一步骤获取到电压补偿值后，本步骤就可以将该电压补偿值作用于该像素电路中，以便消除mura，所以就可以根据预设电压以及电压补偿值，确定出电压的加成值，该加成值可以是指预设电压与电压补偿值的代数和。比如预设电压为1.2V，电压补偿值为0.2V，则确定出电压的加成值为1.4V；又如预设电压为1.2V，电压补偿值为-0.2V，则确定出电压的加成值为1.0V。确定出加成值后，就可以以加成值为基准，对该像素电路进行加压。
在前文介绍确定屏体内像素电路电压补偿值的方法，以及消除屏体内mura的方法时，均假设了执行主体为显示屏体，而现有技术已经提到，通过外部设备确定电压补偿值存在一定的局限性，所以本申请为了达到使每个显示屏体自身都具有消除mura的功能，提高消除屏体内mura的普遍性的目的，提供一种显示屏体。该显示屏体的结构图如图4所示，包括：像素电路30、驱动模块31、电压模块32、以及存储器33，其中，
驱动模块31，可以用于：
将预设测试电压发送至电压模块32；
获取像素电路30的实际电性参数；
根据实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对像素电路30的电压补偿值；
驱动模块31还可以将针对像素电路30的电压补偿值发送至存储器33；
电压模块32，可以用于：
根据预设测试电压，对屏体内的像素电路30进行加压；
接收对屏体内像素电路30的预设电压；
获取存储器33中针对像素电路30的电压补偿值；
根据预设电压以及电压补偿值的加成值，对像素电路30进行加压；
本显示屏体还可以包括侦测模块，可以用于：
向像素电路30发送侦测信号，以便驱动模块31可以获取像素电路30的实际电性参数；
存储器33，可以用于：
保存针对像素电路30的电压补偿值。
在一种实施方式中，驱动模块31，可以用于：获取像素电路30中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和/或有机发光二极管的实际电流电压曲线，则
驱动模块31，可以用于：
根据该实际输出特性曲线，确定阈值电压，并根据该阈值电压确定理论输出特性曲线，和/或
根据该实际电流电压曲线，确定开启电压，并根据该开启电压确定理论电流电压曲线；
根据该实际输出特性曲线与该理论输出特性曲线的匹配程度，和/或该实际电流电压曲线与该理论电流电压曲线的匹配程度，确定针对该像素电路30的电压补偿值。
具体地，如图4所示，其中，CTRL、FB为控制信号；M为薄膜晶体管(TFT)；OLED为有机发光二极管；C1为电容；ELVDD为显示屏体的正压；ELVSS为显示屏体的负压。
如图5所示，为确定针对像素电路30的电压补偿值的时序示意图，
在T0时刻，CTRL1置高电平，M1关闭，CTRL2置低电平，使M2开启，驱动模块31将预设测试电压发送至电压模块32，由电压模块32写入预设测试电压至M3栅极，并由C1保持电荷。
在T1时刻，FB控制M4首次打开，侦测模块可以向像素电路30发送侦测信号，驱动模块31可以获取OLED的实际U-I曲线；
在T2时刻，M1打开，同时M4再次打开，侦测模块可以再次向像素电路30发送侦测信号，驱动模块31可以获取M1、即TFT的实际输出特性曲线；
驱动模块31可以根据OLED的实际U-I曲线以及TFT实际输出特性曲线，分别确定出该OLED的开启电压以及该TFT的阈值电压，并确定出该OLED的理论U-I曲线以及该TFT的理论输出特性曲线；
驱动模块31可以根据实际输出特性曲线与理论输出特性曲线的匹配程度，以及实际U-I曲线与理论U-I曲线的匹配程度，确定针对像素电路30的电压补偿值，并可以将电压补偿值发送至存储器33，由存储器33保存。
在实际应用中，由于显示屏体中存在多个像素电路，并且未必所有像素电路30都存在mura，所以可以以像素电路的编号，坐标等作为识别像素电路的标识，进行存储。
当显示屏体处于工作状态时，FB保持高电平，即M4保持关闭状态，侦测模块同时保持休眠状态，电压模块32可以先接收对屏体内像素电路的预设电压，再获取存储器33中针对像素电路30的电压补偿值，最后可以根据预设电压以及电压补偿值的加成值，对像素电路进行加压，以便实现显示画面的均一性。
及如图6所示，为显示屏体，在执行确定屏体内像素电路电压补偿值的方法，以及消除屏体内mura的方法的示意图，分别确定电压补偿值阶段以及消除mura阶段。
采用上述的显示屏体、确定屏体内像素电路电压补偿值的方法以及消除屏体内mura的方法，在屏体内部可以根据预设测试电压对像素电路进行加压，根据获取的实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对像素电路的电压补偿值，并保存至显示屏体内部的存储器。当显示屏体工作时，根据针对像素电路的预设电压，以及从存储器获取的针对该像素电路的电压补偿值，对该像素进行加压，以便消除mura，实现显示画面的均一性。相比于现有技术需要通过外部设备完成电压补偿值的确定而言，本申请的显示屏体及方法，可以在显示屏体内部完成电压补偿值的确定，换句话说，可以针对mura随时更新每个像素电路的电压补偿值，不再需要借助其他外部设备，提高了消除屏体内mura的普遍性。
基于相同的发明思路，本申请还提供一种确定屏体内像素电路电压补偿值的装置，该装置的如图7所示结构图，包括：第一加压单元41、第一获取单元42、确定单元43以及存储单元44，其中，
第一加压单元41，可以用于根据预设测试电压，对屏体内的像素电路进行加压。
具体地，第一加压单元41可以接收对像素电路的预设测试电压，并根据该电压，对屏体的像素电路施加电压。如果需要同时对多个像素电路加压，可以接收像素电路与预设测试电压的对应关系。
第一获取单元42，可以用于获取像素电路的实际电性参数。
在第一加压单元41根据预设测试电压，对像素电路加压后，本功能单元就可以获取像素电路的实际电性参数，比如可以分别获取TFT和OLED各自的电性参数，还可以至获取TFT或OLED的电性参数。在实际应用中，实际输出特性曲线可以作为电性参数代表TFT的基本特性；而电流电压曲线(U-I曲线)可以作为电性参数代表OLED的基本特性。
则在一种实施方式中，第一获取单元42，可以用于：
获取像素电路中薄膜晶体管的实际输出特性曲线，和/或获取像素电路中有机发光二极管的实际电流电压曲线。
而为了提高确定出的电压补偿值的准确性，可以综合TFT和OLED的电性参数确定电压补偿值，所以第一获取单元42在优选的方案中，可以获取像素电路中TFT的实际输出特性曲线，以及获取像素电路中有OLED的U-I曲线。
确定单元43，可以用于根据实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对像素电路的电压补偿值。
在第一获取单元42获取到像素电路的实际电性参数后，本功能单元可以将实际电性参数与理论电性参数进行匹配，根据匹配程度，确定针对像素电路的电压补偿值。
比如，可以将TFT的实际输出特性曲线与理论输出特性曲线进行匹配，或将OLED的实际U-I曲线与理论U-I曲线进行匹配，根据匹配程度确定针对该像素电路的电压补偿值。
为了提高确定出的电压补偿值的准确性，本功能单元可以将TFT的实际输出特性曲线与理论输出特性曲线进行匹配，以及将OLED的实际U-I曲线与理论U-I曲线进行匹配，根据匹配程度确定针对该像素电路的电压补偿值。
存储单元44，可以用于将针对像素电路的电压补偿值保存至存储器。
为了方便在使用过程中随时调取，本功能单元可以将电压补偿值保存在屏体内部的存储器中，以便显示屏体在工作过程中，随时调取电压补偿值，进而消除mura。
基于相同的发明思路，本申请还提供一种消除屏体内mura的装置，该装置的如图8所示结构图，包括：接收单元51、第二获取单元52以及第二加压单元53，其中，
接收单元51，可以用于接收对屏体内像素电路的预设电压。
当显示屏体在工作时，屏体内的每个像素电路都需要接收预设的电压，从而驱动像素电路中的TFT和OLED进行显示。本功能单元就可以接收针对不同屏体内像素电路的预设电压。
第二获取单元52，可以用于获取存储器中对像素电路的电压补偿值。
在存储单元44中已经保存了针对像素电路的电压补偿值，本功能单元就可以在对像素电路进行加压之前，获取存储器中保存的对该像素电路的电压补偿值。
第二加压单元53，可以用于根据预设电压以及电压补偿值的加成值，对像素电路进行加压。
在第二获取单元52获取到针对像素电路的电压补偿值后，本功能单元，就可以确定出对像素电路施加的最终值，即预设电压与电压补偿值的加成值，该加成值可以是指预设电压与电压补偿值的代数和。
在前文已经介绍了显示屏体的结构包括：像素电路30、驱动模块31、电压模块32以及存储器33。而这里介绍的两个装置中的各单元，可以分别被配置在上述模块中。
具体地，第一获取单元42、确定单元43、存储单元44可以被配置在驱动模块31中，驱动模块31中的存储单元44可以用于将针对像素电路的电压补偿值发送至存储器33。第一加压单元41、接收单元51、第二获取单元52第二加压单元53可以被配置在电压模块32中，存储单元44可以再次被配置在存储器33中，存储器33中的存储单元44可以用于接收并保存针对像素电路的电压补偿值。
采用上述的确定屏体内像素电路电压补偿值的装置以及消除屏体内mura的装置，在屏体内部可以根据预设测试电压对像素电路进行加压，根据获取的实际电性参数与理论电性参数的匹配程度，确定针对像素电路的电压补偿值，并保存至显示屏体内部的存储器。当显示屏体工作时，根据针对像素电路的预设电压，以及从存储器获取的针对该像素电路的电压补偿值，对该像素进行加压，以便消除mura，实现显示画面的均一性。相比于现有技术需要通过外部设备完成电压补偿值的确定而言，本申请的显示屏体及装置，可以在显示屏体内部完成电压补偿值的确定，换句话说，可以针对mura随时更新每个像素电路的电压补偿值，不再需要借助其他外部设备，提高了消除屏体内mura的普遍性。
以上所述仅为本发明的实施例而已，并不用于限制本发明。对于本领域技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的权利要求范围之内。