具有触摸检测功能的显示装置、触摸检测装置及电子单元的制作方法

专利名称：具有触摸检测功能的显示装置、触摸检测装置及电子单元的制作方法
技术领域：
本公开涉及一种触摸检测装置，具体地涉及一种基于响应外部接近物体的静电电容的变化来检测触摸事件的触摸检测装置、包括这种触摸检测装置而具有触摸检测功能的显示装置以及电子单元。
背景技术：
近年来，通过在诸如液晶显示装置的显示装置上安装触摸检测装置(其为所谓的触摸面板)或将触摸面板与显示装置一体化并替代通常的机械式按钮而将各种按钮图像等显示在显示装置上，使得能够输入信息的显示装置引起了关注。包括这种触摸面板的显示装置不需要诸如键盘、鼠标以及小键盘的输入装置，因此除计算机之外，这种显示装置的使用还趋于扩展应用到诸如移动电话的便携式信息终端。触摸检测方法包括多种方法，它们中的一种是静电电容法。例如，日本未审查专利申请公开No. 2008-U9708公开了一种触摸面板，其包括多个X方向电极和配置为面向 X方向电极的多个Y方向电极，并且通过利用在X方向电极和Y方向电极的交点形成的静电电容响应外部接近物体的变化，来检测触摸事件。这些电极由半透过性材料形成的，然而具有电极的部分和没有电极的部分的透光率是不同的，因此从外部可能会察看到这些电极。因此，在触摸面板中，在X方向电极之间或者Y方向电极之间设置虚设电极(dummy electrode)，以减少形成有X方向电极和Y方向电极的电极区域与配置有虚设电极的电极间区域之间透光率的差异，并且因此使从外部几乎察看不到X方向电极和Y方向电极。

发明内容
不仅是上述光的透射，而且例如从外部入射的光被电极反射也导致X方向电极和 Y方向电极可能被察看到。然而，在日本未审查专利申请公开No. 2008-129708中，没有对反射作出描述。当由于反射而察看到X方向电极和Y方向电极时，可能会使显示在显示装置上的画面的可视性降低。期望提供一种即使在光从外部进入的情形下也能够抑制由电极引起的显示画面的可视性降低的具有触摸检测功能的显示装置、触摸检测装置及电子单元。根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第一显示装置包括多个触摸检测电极、多个显示元件和多个虚设电极。多个触摸检测并行配置成在一个方向延伸，形成有包括电极部分和开口部分的预定电极图案，并且每个触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号。多个显示元件形成于与设置有触摸检测电极的层不同的层中，并且在与触摸检测电极相对应的区域中在宽度方向上配置预定数量的显示元件。多个虚设电极配置在多个触摸检测电极的检测电极间区域中。开口部分被设置为使触摸检测电极的配置面积率近似等于检测电极间区域中虚设电极的配置面积率。这里，短语“设置为近似相等”或“设置为彼此接近”意指即使两者不完全相同，也是两者被设置得尽可能的彼此接近。
根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第二显示装置包括多个触摸检测电极、多个显示元件和多个虚设电极。多个触摸检测电极并行配置成在一个方向延伸，形成有包括电极部分和开口部分的预定电极图案，并且每个触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号。多个显示元件形成于与设置有触摸检测电极的层不同的层中，并且在与触摸检测电极相对应的区域中在宽度方向上配置预定数量的显示元件。多个虚设电极配置在多个触摸检测电极的检测电极间区域中。开口部分被配置为使每单位面积的开口部分的所有边的总长度近似等于每单位面积的虚设电极的所有边的总长度。根据本公开实施方式的触摸检测装置包括多个触摸检测电极和多个虚设电极。多个触摸检测电极并行配置成在一个方向延伸，形成有包括电极部分和开口部分的预定电极图案，并且每个触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号。多个虚设电极配置在多个触摸检测电极的检测电极间区域中。开口部分被设置为使触摸检测电极的配置面积率近似等于检测电极间区域中虚设电极的配置面积率。根据本公开实施方式的电子单元包括具有触摸检测功能的显示装置，并且对应于电视装置、数码相机、个人计算机、摄像机、或者诸如移动电话的便携式终端设备。在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第一显示装置、触摸检测装置和电子单元中，通过在触摸检测电极中设置开口部分来使触摸检测电极的配置面积率与检测电极间区域中的虚设电极的配置面积率彼此近似相等。因此，当光从外部进入时，触摸检测电极和检测电极间区域之间的反射率基本相同。在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第二显示装置中，通过在触摸检测电极中设置开口部分，来使每单位面积的开口部分的所有边的总长度近似等于每单位面积的虚设电极的所有边的总长度。因此，当光从外部进入时，触摸检测电极和检测电极间区域之间的反射率基本相同。在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第一显示装置中，例如，期望将开口部分设置为每单位面积的开口部分的所有边的总长度近似等于每单位面积的虚设电极的所有边的总长度。例如，期望触摸检测电极由均包含开口部分的多个检测电极单位晶胞(electrode unit cell)构成，并且期望检测电极间区域由均包含虚设电极的多个虚设电极单位晶胞构成。例如，期望检测电极单位晶胞和虚设电极单位晶胞中的每一个的大小等于或小于500 平方微米。例如，检测电极单位晶胞的大小可以与虚设电极单位晶胞的大小相对应。例如， 检测电极单位晶胞和虚设电极单位晶胞配置在与各显示元件相对应的位置处。显示元件可构成至少包括红色显示元件、绿色显示元件和蓝色显示元件的显示像素，并且检测电极单位晶胞的大小可以与显示像素的大小或显示像素的大小的整数倍相对应。此外，例如，虚设电极单位晶胞的大小可以与显示像素的大小或显示像素的大小的整数倍相对应。开口部分可至少配置在与红色显示元件、绿色显示元件和蓝色显示元件中对电极部分具有最低透射率的色光的显示元件相对应的位置处。在该情形下，例如，开口部分可配置在与蓝色显示元件相对应的位置处。另外，虚设电极以相邻的虚设电极间的间隙中在与红色显示元件、绿色显示元件以及蓝色显示元件的配置方向交叉的方向上延伸的间隙位于与蓝色显示元件相对应的位置处的方式配置。
例如，可进一步地设置选择线以选择执行显示操作的显示元件，并且开口部分可配置在与选择线相对应的位置处。例如，触摸检测电极可直接形成在用于支撑的玻璃基板上。而且，例如，触摸检测电极介由透光层形成在用于支撑的玻璃基板上，或者形成于玻璃基板与透光层之间，并且透光层的折射率具有玻璃基板的折射率和触摸检测电极的折射率之间的值。此外，虚设电极可处于电浮接(floating)状态。例如，多个驱动电极可并行配置成在与多个触摸检测电极交叉的方向上延伸，并且可在多个触摸检测电极和多个驱动电极之间的每个交点上形成静电电容。例如，显示元件可构造为包括液晶层和配置为间隔液晶层而面向驱动电极的像素电极，或可构造为包括液晶层和形成于液晶层与驱动电极之间的像素电极。在该情形下，显示元件可构造为例如夹在两个由圆偏光板或椭圆偏光板构成的偏光板之间。在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第一显示装置、触摸检测装置和电子单元中，在触摸检测电极中设置开口部分，并且触摸检测电极的配置面积率近似等于检测电极间区域中虚设电极的配置面积率。因此，触摸检测电极和虚设电极之间的反射率近似相等，使得即使在光从外部进入的情形下，也抑制了由触摸检测电极引起的显示画面的可视性低下。此外，在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的第二显示装置中，在触摸检测电极中设置开口部分，并且每单位面积的开口部分的所有边的总长度近似等于每单位面积的虚设电极的所有边的总长度。因此，触摸检测电极和虚设电极之间的反射率近似相等， 使得即使在光从外部进入的情形下，也抑制了由触摸检测电极引起的显示画面的可视性低下。应当理解，前述概括描述和后面的详细描述是示例性的，并且意指对权利要求提供进一步的技术说明。


所包括的附图用于提供对本公开的进一步理解，并且结合于本说明书中并构成本说明书的一部分。附图示出了实施方式，并且与说明书一起用于解释该技术的原理。图1是用于说明在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的显示装置中触摸检测方法的基本原理的图示，以及示出了手指不接触或者不接近显示装置的状态的图。图2是用于说明在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的显示装置中触摸检测方法的基本原理的图示，以及示出了手指接触或接近显示装置的状态的图。图3是用于说明在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的显示装置中触摸检测方法的基本原理的图示，以及示出了驱动信号和触摸检测信号的波形的示例的图。图4是示出了根据实施方式的具有触摸检测功能的显示装置的构造示例的框图。图5是示出了根据实施方式的具有触摸检测功能的显示部的示意性横截面构造的截面图。图6A和图6B分别是电路图和平面图，都示出了根据实施方式的具有触摸检测功能的显示部的像素配置。图7是示出了根据实施方式的具有触摸检测功能的显示部的驱动电极和触摸检测电极的构造示例的透视图。图8是示出了根据第一实施方式的触摸检测电极和虚设电极的构造示例的平面图。图9A和图9B是用于说明电极面积比和电极边缘长度比的平面图。图IOA和图IOB是用于说明反射率的测量的示意图。图IlA和图IlB是示出了反射率比对电极面积比的依赖性和对电极边缘长度比的依赖性的特性图。图12A和图12B是示出了根据实施方式的对准标记的图示。图13是示出了根据第一实施方式的变形例的触摸检测电极和虚设电极的构造示例的平面图。图14是示出了根据第二实施方式的触摸检测电极和虚设电极的构造示例的平面图。图15A和图15B是用于说明根据第二实施方式的纵向电极边缘长度的平面图。图16是示出了根据第二实施方式的变形例的触摸检测电极和虚设电极的构造示例的平面图。图17A和图17B是用于说明根据第二实施方式的变形例的横向电极边缘长度的平面图。图18是示出了根据第三实施方式的触摸检测电极和虚设电极的构造示例的平面图。图19是示出了根据实施方式的示例的表格。图20是示出了应用实施方式的具有触摸检测功能的显示装置的应用例1的外观构造的透视图。图21A和图21B是示出了应用例2的外观构造的透视图。图22是示出了应用例3的外观构造的透视图。图23是示出了应用例4的外观构造的透视图。图24A至图24G是示出了应用例5的外观构造的前视图、侧视图、顶视图和底视图。图25是示出了根据实施方式的变形例的具有触摸检测功能的显示部的示意性横截面构造的截面图。图沈是示出了根据实施方式的另一变形例的具有触摸检测功能的显示部的示意性横截面构造的截面图。
具体实施例方式下文中，将参照附图详细描述本公开的优选实施方式。将以下列顺序给出该描述。1.静电电容式触摸检测的基本原理2.第一实施方式3.第二实施方式4.第三实施方式5.示例
6.应用例<1.静电电容式触摸检测的基本原理〉首先，将参照图1至图3描述在根据本公开实施方式的具有触摸检测功能的显示装置中触摸检测的基本原理。触摸检测方法实现为静电电容式触摸传感器，并且如图1的 (A)所示，使用其间插入电介质体D的彼此面对的一对电极(驱动电极El和触摸检测电极 E2)来构造电容元件。该构成被表示为图1的(B)中所示的等效电路。电容元件Cl由驱动电极E1、触摸检测电极E2和电介质体D构成。电容元件Cl的一端连接至交流信号源(驱动信号源)S,而另一端P通过电阻器R接地并且连接至电压检测器(触摸检测电路)DET。 当从交流信号源S向驱动电极El (电容元件Cl的一端)施加具有预定频率(例如，几kHz 到几十kHz)的交流矩形波Sg(图3的(B))时，在触摸检测电极E2(电容元件Cl的另一端 P)呈现图3的(A)中所示的输出波形(触摸检测信号Vdet)。注意，交流矩形波Sg相当于后面描述的驱动信号Vcom。如图1中所述，在手指未接触(或未接近)显示装置的状态下，响应于对电容元件 Cl的充电和放电，流动取决于电容元件Cl的电容值的电流10。此时，电容元件Cl的另一端P具有如图3的㈧中的波形VO的电位波形，并且电压检测器DET检测该波形。另一方面，在手指接触(或接近)显示装置的状态下，如图2所示的以与电容元件 Cl串联的方式添加了由手指形成的电容元件C2。在该状态下，分别响应于对电容元件Cl 和C2的充电和放电而流动电流Il和12。此时，电容元件Cl的另一端P具有如图3的㈧ 中的波形Vl的电位波形，并且由电压检测器DET检测该波形。此时，点P的电位是由流过电容元件Cl和C2的电流Il和12的值确定的分压电位。因此，波形Vl的值小于非接触状态下的波形VO的值。电压检测器DET将检测到的电压与预定的阈值电压Vth比较，以在检测到的电压等于或大于阈值电压时确定为非接触状态，并且以在检测到的电压小于阈值电压时确定为接触状态。以这种方式，可实现触摸检测。<2.第一实施方式>[构造示例](整体构造示例)图4示出了根据本公开第一实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1的构造示例。顺便提及，根据本公开实施方式的触摸检测装置由第一实施方式来实现，因此将一并给出其描述。具有触摸检测功能的显示装置使用液晶显示元件作为显示元件，并且是其中由液晶显示元件构造的液晶显示部和静电电容式触摸检测部一体化的所谓的内嵌型。具有触摸检测功能的显示装置1包括控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14、具有触摸检测功能的显示部10和触摸检测电路40。控制部11是基于从外部提供的影像(picture，映像)信号Vdisp向栅极驱动器 12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14和触摸检测电路40提供控制信号并且控制这些部彼此同步运作的电路。基于从控制部11供给的控制信号，栅极驱动器12具有依次选择作为具有触摸检测功能的显示部10的显示驱动的对象的一条水平线的功能。具体地，如后面描述的，栅极驱动器12通过扫描信号线GCL向像素Pix的TFT元件Tr的栅极施加扫描信号Vscan，以依次选择在具有触摸检测功能的显示部10的液晶显示部20中形成为矩阵状的像素Pix中的一行(一条水平线)作为显示驱动的对象。基于从控制部11供给的控制信号，源极驱动器13是向具有触摸检测功能的显示部10中的每个像素Pix (后面描述)提供像素信号Vpix的电路。具体地，源极驱动器13 通过后面描述的像素信号线SGL将像素信号Vpix提供给构成由栅极驱动器12依次选择的一条水平线的每个像素Pix。然后，在像素Pix中，响应于所供给的像素信号Vpix执行该水平线的显不。驱动电极驱动器14是基于从控制部11提供的控制信号将驱动信号Vcom提供给具有触摸检测功能的显示部10的驱动电极COML (后面描述)的电路。具体地，驱动电极驱动器14以时间分割(time-divisional)方式将驱动信号Vcom依次施加到驱动电极C0ML。 然后，触摸检测部30根据来自多个触摸检测电极TDL (后面描述)的驱动信号Vcom输出触摸检测信号Vdet，并且将该信号提供给触摸检测电路40。具有触摸检测功能的显示部10是结合有触摸检测功能的显示部。具有触摸检测功能的显示部10包括液晶显示部20和触摸检测部30。如后面所述的，液晶显示部20是根据从栅极驱动器12供给的扫描信号Vscan以一条水平线为基础执行顺次扫描从而执行显示的部。触摸检测部30基于上述静电电容式触摸检测的基本原理运作，并输出触摸检测信号Vdet。如后面所述，触摸检测部30根据从驱动电极驱动器14供给的驱动信号执行顺次扫描，以执行触摸检测。触摸检测电路40是基于从控制部11供给的控制信号和从具有触摸检测功能的显示部10的触摸检测部30供给的触摸检测信号Vdet检测对触摸检测部30触摸的事件存在， 并且当检测到触摸事件时，触摸检测电路40确定触摸检测区域中的坐标等，从而输出坐标等作为输出信号Out的电路。(具有触摸检测功能的显示部10)接下来，将详细描述具有触摸检测功能的显示部10的构造的示例。图5示出了具有触摸检测功能的显示部10的主要部分的横截面构造的示例。具有触摸检测功能的显示部10具有像素基板2、配置为面对像素基板2的相对基板3以及插入像素基板2与相对基板3之间的液晶层6。像素基板2包括作为电路基板的TFT基板21和TFT基板21上配置成矩阵状的多个像素电极22。在TFT基板21中，尽管未示出，但是形成有各像素的薄膜晶体管(TFT)以及诸如用于将像素信号Vpix提供给各像素电极22的像素信号线SGL和用于驱动各TFT的扫描信号线GCL的配线。相对基板3包括玻璃基板31、形成在玻璃基板31 —个表面上的彩色滤光片32以及形成在彩色滤光片32上的多个驱动电极C0ML。彩色滤光片32通过周期地配置红(R)、绿 (G)和蓝(B)三个彩色滤光片层构成，并且一组R、G和B三个颜色对应于各显示像素。驱动电极COML具有用作液晶显示部20的共用驱动电极的功能，并且具有用作触摸检测部30 的驱动电极的功能。注意，在该示例中，尽管驱动电极为显示和触摸检测共用，但是可单独地设置用于显示的驱动电极和用于触摸检测的驱动电极。驱动电极COML通过接触导电柱 (未示出)连接至TFT基板21，并且具有交流矩形波形的驱动信号Vcom通过接触导电柱从 TFT基板21施加到驱动电极COML。透光层33形成在玻璃基板31的另一个表面上，并且作为触摸检测部30的检测电极的触摸检测电极TDL形成在透光层33上。每个触摸检测电极TDL由例如ITO (氧化铟锡)、ΙΖ0和SnO组成，并且是具有半透光性的电极。每个触摸检测电极TDL具有如后面描述的多个开口部分。透光层33由诸如SiN和SiC的绝缘材料组成， 并且其折射率在具有高可视性的550nm波长附近具有介于玻璃基板31的折射率(例如，近似1.5)和触摸检测电极TDL的折射率(例如，近似1.8)之间的值(例如，SiN情形下近似为1.75，SiC情形下近似为1.6)。透光层33被设置为用于减少玻璃基板31和触摸检测电极TDL之间的反射的折射率匹配层。而且，在触摸检测电极TDL上设置偏光板35。液晶层6根据电场状态调制穿过的光，并且使用诸如TN(扭曲向列)、VA (垂直配向)和ECB (电控双折射)的各种模式的液晶。顺便提及，配向膜设置于液晶层6和像素基板2之间以及液晶层6和相对基板3 之间，图中未示出。另外，入射侧偏光板设置在像素基板2的下表面侧，图中未示出。使用圆偏光板或椭圆偏光板来作为偏光板35和入射侧偏光板(未示出)。图6A和图6B示出液晶显示部20中的像素构造的构造示例，其中图6A是其电路图，而图6B是其平面图。液晶显示部20具有配置成矩阵状的多个像素Pix。每个像素Pix 由三个子像素SPix构成。三个子像素SPix被配置为分别对应于图5中所示的彩色滤光片 32的三个颜色(RGB)。每个子像素SPix具有TFT元件Tr和液晶元件LC。TFT元件Tr由薄膜晶体管构成，并且在该示例中，TFT元件Tr由η沟道MOS(金属氧化物半导体)TFT构成。TFT元件Tr的源极连接至像素信号线SGL，其栅极连接至扫描信号线GCL，并且其漏极连接至液晶元件LC的一端。液晶元件LC的一端连接至TFT元件Tr的漏极，而其另一端连接至驱动电极COML。每个子像素SPix通过扫描信号线GCL与位于液晶显示部20的同一行的其他子像素SPix相互连接。扫描信号线GCL连接至栅极驱动器12，并且扫描信号Vscan从栅极驱动器12提供。此外，每个子像素SPix通过像素信号线SGL与位于液晶显示部20的同一列的其他子像素SPix相互连接。像素信号线SGL连接至源极驱动器13，并且像素信号Vpix从源极驱动器13提供。如图6Β所示，像素信号线SGL和扫描信号线GCL配置在相邻子像素SPix间的边界处。具体地，像素信号线SGL配置在横向相邻的子像素SPix间的边界处，而扫描信号线 GCL配置在纵向相邻的子像素SPix间的边界处。像素信号线SGL和扫描信号线GCL例如由铝、铝合金、钼和钛的单层膜或多层膜构成。因此，在与像素信号线SGL和/或扫描信号线 GCL对应的部分不透射光。此外，每个子像素SPix通过驱动电极COML与位于液晶显示部20的同一行的其他子像素SPix相互连接。驱动电极COML连接至驱动电极驱动器14，并且驱动信号Vcom由驱动电极驱动器14提供。利用该构造，在液晶显示部20中，栅极驱动器12驱动扫描信号线GCL以以时间分隔方式执行线顺次扫描，从而顺次选择一条水平线。然后，源极驱动器13将像素信号Vpix 提供给所选择的水平线上的像素Pix，从而以一条水平线为基础来执行显示。图7是示出触摸检测部30的构造示例的透视图。触摸检测部30由配置在相对基板3中的驱动电极COML和触摸检测电极TDL构成。每个驱动电极COML由在图的横向延伸的条状电极图案构成。当执行触摸检测操作时，驱动信号Vcom通过驱动电极驱动器14顺次提供给每个电极图案，并且以时间分隔的方式执行顺次扫描驱动。每个触摸检测电极TDL由在与每个驱动电极COML的电极图案的延伸方向交叉的方向上延伸的电极图案构成。如后面所述，虚设电极37(未示出)配置于触摸检测电极TDL之间(检测电极间区域)。每个触摸检测电极TDL包括包含多个开口部分的电极图案，设置多个开口部分以用于将触摸检测电极TDL的反射率和虚设电极37的反射率调整为彼此相等。每个触摸检测电极TDL的电极图案连接至触摸检测电路40。彼此相交的驱动电极COML的电极图案和触摸检测电极 TDL的电极图案在每个交点处形成静电电容。利用该构造，在触摸检测部30中，驱动电极驱动器14将驱动信号Vcom施加至驱动电极C0ML，从而从触摸检测电极TDL输出触摸检测信号Vdet，并由此执行触摸检测。在图1至图3中所示的触摸检测的基本原理中，驱动电极COML相当于驱动电极E1，触摸检测电极TDL相当于触摸检测电极E2，并且触摸检测部30根据该基本原理检测触摸事件。如图 7所示，彼此相交的电极图案构成矩阵状的静电电容式触摸传感器。因此，在触摸检测部30 的整个触摸检测表面上执行扫描，使得能够检测到外部接近物体的接触位置或最接近的位置。图8示出了触摸检测电极TDL的构造示例。触摸检测电极TDL在配置有像素Pix 的显示区域Sd中具有多个开口部分36 (开口部分36A和36B)。对应于像素Pix形成开口部分36。具体地，开口部分36A形成在对应于蓝色(B)子像素SPix的部分。开口部分36B 形成在在图中与垂直相邻的像素Pix间的边界对应的位置处。换句话说，开口部分36B配置在与形成在像素基板2中的扫描信号线GCL相对应的位置处，即配置在不透射光的位置处。以此方式，开口部分36以像素Pix的周期来形成。换句话说，触摸检测电极TDL以像素 Pix作为单位晶胞UC来形成。期望单位晶胞UC具有人眼不可见的大小，例如，期望等于或小于500 μ m。触摸检测电极TDL被形成为延伸到显示区域Sd外部的框(frame)区域Sf， 并且连接至触摸检测电路40。在相邻触摸检测电极TDL之间的区域(检测电极间区域Rd)中，设置有多个虚设电极37。类似于触摸检测电极TDL，每个虚设电极37由ITO组成。虚设电极37也设置为与像素Pix相对应。具体地，在图8中，虚设电极37被配置为图中的横向相邻虚设电极37 间的间隙对应于像素Pix中蓝色(B)子像素SPix。此外，虚设电极37被配置为图中的纵向相邻虚设电极37间的间隙对应于像素Pix的边界。以此方式，虚设电极37也以像素Pix 的周期来形成。如同单位晶胞UC，期望虚设电极37具有人眼不可见的大小，例如期望等于或小于500 μ m。每个虚设电极37都不与其他部分电连接，并且处于浮接状态。触摸检测电极TDL中的开口部分36A和横向相邻虚设电极37间的间隙配置成与蓝色⑶子像素SPix相对应的原因在于，在红色(R)、绿色(G)和蓝色⑶之间，电极在蓝色(B)中的光透过率是最低的。换句话说，通过在开口部分36A或虚设电极37间的间隙中配置蓝色子像素SPix，在这些电极中蓝色光强度被降低，从而阻止了白色的色度变成黄色。图9A示出了触摸检测电极TDL的单位晶胞UC的构造示例，图9B示出了虚设电极 37的构造示例。在具有触摸检测功能的显示装置1中，图9A中所示的触摸检测电极TDL的单位晶胞UC中配置有电极的部分的面积(阴影线部分)近似等于图9B中所示的虚设电极 37的面积(阴影线部分)。换句话说，触摸检测电极TDL的配置面积率近似等于检测电极间区域Rd中虚设电极的配置面积率。在该情形下，子像素SPix对应于本公开的“显示元件”的具体示例。开口部分36A和36B对应于本公开的“开口部分”的具体示例。单位晶胞UC对应于本公开的“检测电极单位晶胞”的具体示例。像素Pix对应于本公开的“显示像素”的具体示例。扫描信号线 GCL对应于本公开的“选择线”的具体示例。[作用和效果]接着，将描述根据该实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1的作用和效果。(整体操作概述)控制部11基于从外部供给的影像信号Vdisp向栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14和触摸检测电路40提供控制信号，并且控制这些部分以使彼此同步运作。 栅极驱动器12将扫描信号Vscan提供给液晶显示部20，以顺次选择要被驱动的一条水平线以进行显示。源极驱动器13将像素信号Vpix提供给构成由栅极驱动器12所选择的一条水平线的各个像素Pix。驱动电极驱动器14向驱动电极COML顺次施加驱动信号Vcom。具有触摸检测功能的显示部10执行显示操作，并且基于驱动信号Vcom执行触摸检测操作，以从触摸检测电极TDL输出触摸检测信号Vdet。触摸检测电路40确定对触摸检测部30的触摸的事件的存在和触摸坐标，并且将该结果作为输出信号Out输出。在具有触摸检测功能的显示装置1中，触摸检测电极TDL和虚设电极被形成为触摸检测电极TDL中的每单位晶胞UC(像素Pix)的电极面积近似等于检测电极间区域Rd中每单位晶胞UC的电极面积。因此，在光从外部入射的情形下，触摸检测电极TDL中的反射率具有接近于检测电极间区域Rd中的反射率的值，使得几乎察看不到触摸检测电极TDL， 因此改善了显示画面的可视性。下文中，将对其细节进行描述。(反射率)图IOA和图IOB示意地示出了反射率的测量，其中图IOA示出了触摸检测电极TDL 中的测量，而图IOB示出了检测电极间区域Rd中的测量。在这些测量中，光照射到触摸检测电极TDL和检测电极间区域Rd中的每一个，并且在这时确定直径为600 μ m的圆的范围 (测量区域M)中的每个反射率。然后，通过将检测电极间区域Rd中的反射率除以触摸检测电极TDL中的反射率获得反射率比Rref。从定义中显而易见的是，这意味着反射率比Rref 越接近100%，检测电极间区域Rd中的反射率越接近触摸检测电极TDL中的反射率。换句话说，随着反射率比Rref接近100%，即使从外部入射光时，也几乎察看不到触摸检测电极 TDL。考虑光的反射不仅由电极的上面(例如，图9A和图9B中的阴影线部分)贡献，还由电极的侧面(例如，图9A和9B中的边缘部分E)贡献的情形。因此，采出阴影线部分的面积(电极面积幻与边缘部分E的总长度(电极边缘长度LE)彼此不同的多个样品，并且测量每个样品的反射率比Rref。图IlA和图IlB示出了反射率比Rref的测量结果，其中图IlA示出了对电极面积比RS的依赖性，而图IlB示出了对电极边缘长度比RLE的依赖性。在该情形下，通过将检测电极间区域Rd中每单位晶胞UC(像素Pix)的电极面积除以触摸检测电极TDL中每单位晶胞UC的电极面积来获得电极面积比RS。另外，通过将检测电极间区域Rd中每单位晶胞 UC(像素Pix)的电极边缘长度除以触摸检测电极TDL中每单位晶胞UC的电极边缘长度来获得电极边缘长度比RLE。如图IlA中所示，反射率比Rref具有与电极面积比RS强的相关性，并且电极面积比RS越大，反射率比Rref越大。此外，如图IlB中所示，反射率比Rref具有与电极边缘长度比RLE弱的相关性，并且电极边缘长度比RLE越大，反射率比Rref越大。在具有触摸检测功能的显示装置1中，关注的是反射率比Rref与电极面积比RS 之间的强的相关性，并且触摸检测电极TDL和虚设电极37被形成为触摸检测电极TDL中每单位晶胞UC(像素Pix)的电极面积近似等于检测电极间区域Rd中每单位晶胞UC的电极面积。这可通过在触摸检测电极TDL中设置开口部分36来实现。具体地，例如，将开口部分36A的开口宽度Wa和开口部分36B的开口宽度Wb调整为宽于相邻虚设电极37间的距离，因此触摸检测电极TDL中每单位晶胞UC (像素Pix)的电极面积近似等于检测电极间区域Rd中每单位晶胞UC的电极面积。因此，触摸检测电极TDL中的反射率可设定为接近检测电极间区域Rd中的反射率的值。因此，即使当光从外部进入时，也几乎察看不到触摸检测电极TDL，并且可改善显示画面的可视性。另外，如图5所示，偏光板35形成在具有触摸检测功能的显示装置1的显示面。因此，可减少来自触摸检测电极TDL或虚设电极37的反射光本身，由此几乎察看不到触摸检测电极TDL。尽管稍后将参照图9详细描述示例，但是允许电极面积比RS接近100 %，因此反射率比Rref可接近100%。因此，确认的是即使从光外部进入，也能够改善显示画面的可视性。(对准标记)如图8中所示，在具有触摸检测功能的显示装置1中，开口部分36和虚设电极37 被配置为与像素Pix相对应。这意味着，当触摸检测电极TDL和虚设电极37在相对基板3 上形成时，与像素Pix对准是必要的。下文中，将详细描述进行对准所使用的对准标记。在制造具有触摸检测功能的显示装置1的过程中，例如，在制造像素基板的步骤中制造的大的像素基板102和在制造相对基板的步骤中制造的大的相对基板103相互重叠，根据需要通过打磨或蚀刻减小重叠的玻璃的厚度，然后在相对基板103上形成触摸检测电极TDL和虚设电极37。在形成这些电极等之后，切割重叠的大的基板，将各种组件附接到各切断的基板，并且组装具有触摸检测功能的显示装置1。在制造过程的示例中，触摸检测电极TDL和虚设电极37在大的像素基板102和大的相对基板103重叠之后形成。因此用于形成电极的对准标记可以是在制造像素基板的步骤中所使用的对准标记，或可以是在制造相对基板的步骤中所使用的对准标记。图12A示出了大的像素基板102的对准标记的示例，而图12B示出了大的相对基板103的对准标记的示例。图12A中所示的大的像素基板102的对准标记用于在TFT基板 21上形成TFT元件Tr、像素电极22、像素信号线SGL、扫描信号线GCL等，或者用于在制造像素基板的步骤中对它们进行检查。图12B中所示的大的相对基板103的对准标记用于在玻璃基板31上形成彩色滤光片32、驱动电极COML等，或者用于在制造相对基板的步骤中对它们进行检查。为了在形成触摸检测电极TDL和虚设电极37时使用对准标记，在将大的像素基板 102和大的相对基板103重叠时，需要从外部检测对准标记。具体地，例如，在图12A中所示的大的像素基板102的对准标记Al用于形成触摸检测电极TDL等的情形下，在大的相对基板103上与对准标记Al的位置相对应的位置处必要的是不设置图案。另外，例如，在图
112B中所示的大的相对基板103的对准标记A2用于形成触摸检测电极TDL等的情形下，在大的像素基板102上与对准标记A2的位置相对应的位置处，必要的是不设置图案。以此方式，即使大的像素基板102和大的相对基板103重叠，也检测到用于形成触摸检测电极TDL 的对准标记(例如，对准标记Al和k2~)，因此可防止装置的错误识别和读取错误。尽管在上面描述中，触摸检测电极TDL和虚设电极37在大的像素基板102和大的相对基板103重叠之后形成，但这并非是限定性的。可替换地，例如，在制造相对基板的步骤中将触摸检测电极TDL和虚设电极37形成在大的相对基板上之后，可将大的像素基板 102和大的相对基板103重叠。在该情形下，例如，在制造相对基板的步骤中，触摸检测电极TDL和虚设电极37可在形成彩色滤光片的相对基板图案等之后形成，或者相对基板图案可在形成触摸检测电极TDL和虚设电极37之后形成。在该情形下，在制造相对基板的步骤中，利用大的相对基板的对准标记来形成触摸检测电极TDL等。(效果)在如上所述的实施方式中，在触摸检测电极中设置开口部分。因此，触摸检测电极TDL中每单位晶胞UC(像素Pix)的电极面积近似等于检测电极间区域Rd中每单位晶胞 UC(像素Pix)的电极面积。另外，各区域的反射率彼此近似相等，因此即使当光从外部进入时，也可改善显示画面的可视性。在该实施方式中，触摸检测电极的一些开口部分配置在与扫描信号线相对应的位置处，使得可减小由开口部分引起的亮度变化的影响。在该实施方式中，触摸检测电极的一些开口部分设置在蓝色子像素区域中，使得可抑制触摸检测电极中由蓝色光强度的减弱引起的白色的色移。在该实施方式中，制造像素基板和相对基板所使用的对准标记通常用于形成触摸检测电极和虚设电极，使得以高精度调整像素的位置和触摸检测电极的位置。因此，可减小显示物体的位置和触摸显示装置上的显示物体时的触摸检测位置之间的间隙，并且可实现高的位置检测精度。此外，不需要设置用于形成触摸检测电极和虚设电极的专用对准标记， 从而使图案简单化。[变形例1-1]尽管在上述实施方式中，虚设电极以像素Pix的周期形成，但这并不是限定性的。 可替换地，例如，虚设电极可以以多个像素Pix的周期来形成。下面的示例是每个虚设电极以四个像素Pix的周期来形成的情形。图13示出了根据变形例的具有触摸检测功能的显示装置IB的虚设电极37B的构造示例。虚设电极37B具有图8中相邻的四个虚设电极37彼此连接的形状。虚设电极 37B在与图8中四个虚设电极37之间的间隙相对应的位置处具有开口部分38和39。类似于虚设电极37等，期望虚设电极37B具有人眼察觉不到的大小，并且例如期望等于或小于 500 μ m。同样在此情形下，例如，开口部分36A的开口宽度Wa和开口部分36B的开口宽度 Wb被调整为触摸检测电极TDL的配置面积率近似等于检测电极间区域Rd中虚设电极的配置面积率。因此，即使当光从外部进入时，也可改善显示画面的可视性。[变形例1-2] 尽管在上述实施方式中，意指使单位晶胞UC对应于像素Pix的大小，但这并不是限定性的。例如，单位晶胞UC可对应于多个像素Pix的大小。具体地，在图8中，例如，去除图中纵向配置的两个开口部分36B中的任一个，使得单位晶胞UC可对应于两个像素Pix 的大小。<3.第二实施方式〉接下来，将描述根据本公开第二实施方式的具有触摸检测功能的显示装置5。在第二实施方式中，触摸检测电极的开口部分不但基于电极面积还基于电极边缘长度来形成。 换句话说，具有触摸检测功能的显示装置5通过使用包括这种开口部分的具有触摸检测功能的显示部50来构成。其他构造与上述第一实施方式中的相同(图4等)。注意，相同的标号用于表示与根据第一实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1的实质上相同的组件，并且适当地省略其描述。图14示出了具有触摸检测功能的显示装置5的触摸检测电极TDL2的构造示例。 触摸检测电极TDL2在配置有像素Pix的显示区域Sd中具有开口部分36C、36D和36E。开口部分36C和36D形成在与蓝色(B)子像素SPix相对应的部分中，并且开口部分36E配置在与图中纵向相邻的像素Pix间的边界相对应的的位置处。图15A和图15B是用于说明具有触摸检测功能的显示装置5中电极面积比RS和电极边缘长度比RLE的平面图，其中图15A示出了触摸检测电极TDL2的单位晶胞UC，以及图15B示出了虚设电极37。在具有触摸检测功能的显示装置5中，类似于根据上述第一实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置1，触摸检测电极TDL2中每单位晶胞UC的电极面积(图15A中阴影线部分)近似等于虚设电极37的电极面积(图15B中的阴影线部分)。具体地，例如，开口部分36C和36D中的每一个的开口宽度Wa和开口部分36E的开口宽度恥被调整为触摸检测电极TDL2中每单位晶胞UC的电极面积近似等于虚设电极37的电极面积。注意，开口宽度Wa和开口宽度Wb可以彼此相等，或者可以彼此不同。此外，在具有触摸检测功能的显示装置5中，在图15中，在触摸检测电极TDL2中纵向方向上的电极边缘长度近似等于检测电极间区域Rd中的电极边缘长度。具体地，根据图15A中电极的左侧的四个纵向边缘部ET(纵向方向上的电极边缘长度)的总长度近似等于根据图15B中虚设电极37的左侧的纵向边缘部ET的长度。在具有触摸检测功能的显示装置5中，触摸检测电极TDL2和虚设电极37被形成为除了每单位晶胞UC(像素Pix)的电极面积之外，触摸检测电极TDL2中纵向方向上的电极边缘长度近似等于检测电极间区域Rd中的电极边缘长度。因此，触摸检测电极TDL2中的反射率可以具有接近检测电极间区域Rd中的反射率的值。尽管后面将参照图19详细描述示例，但确认的是电极面积比RS和电极边缘长度比RLE接近100%，使得反射率比Rref接近100%。因此，即使当光从外部进入时，也可改善显示画面的可视性。在如上所述的实施方式中，除了电极面积之外，触摸检测电极中纵向方向上的电极边缘长度近似等于检测电极间区域中的电极边缘长度。因此，通过使每个区域中的反射率彼此近似相等，即使当光从外部进入时，也可改善显示画面的可视性。其他效果与上述第一实施方式中的相同。[变形例2]尽管在上述实施方式中，开口部分被构造为纵向方向上的电极边缘长度在触摸检
15测电极和检测电极间区域之间相同，但这并不是限制性的。可替换地，例如，开口部分可被配置为横向方向上的电极边缘长度相同。下面将描述该示例。图16示出了根据该变形例的具有触摸检测功能的显示装置5B中触摸检测电极 TDL2B的示例。触摸检测电极TDL2B具有开口部分36F和36G。开口部分36F形成在与蓝色(B)子像素SPix相对应的部分中，并且开口部分36G形成在与图中纵向相邻的像素Pix 间的边界相对应的位置处。开口部分36F的形状像字母“I”，由此，其电极边缘长度在横向方向上是可调整的。图17A和图17B是用于说明具有触摸检测功能的显示装置5B的电极面积比RS和电极边缘长度比RLE的平面图，其中图17A示出触摸检测电极TDL2B的单位晶胞UC，以及图 17B示出了虚设电极37。在具有触摸检测功能的显示装置5B中，类似于实施方式中具有触摸检测功能的显示装置5，触摸检测电极TDL2B中每单位晶胞UC的电极面积(图17A中阴影线部分)近似等于虚设电极37的电极面积(图17B中的阴影线部分)。具体地，例如，开口部分36F的开口宽度Wa和开口部分36G的开口宽度Wb被调整为电极面积在触摸检测电极和检测电极间区域之间彼此近似相等。另外，在具有触摸检测功能的显示装置5B中，在图17中，触摸检测电极TDL2B和检测电极间区域Rd之间横向方向上的电极边缘长度近似相等。具体地，根据图17A中电极的上侧的四个横向边缘部分EY的总长度近似等于根据图 17B中虚设电极37的上侧的横向边缘部分EY的长度。<4.第三实施方式〉接下来，将描述根据本公开第三实施方式的具有触摸检测功能的显示装置7。在第三实施方式中，触摸检测电极的开口部分被构造为电极面积和电极边缘长度在触摸检测电极和检测电极间区域之间均近似相同。换句话说，具有触摸检测功能的显示装置7通过使用具有这种开口部分的具有触摸检测功能的显示部70构成。其他构造与上述第一实施方式(图4等)中的相同。注意，相同的标号用于表示与根据第一实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1实质上相同的组件，并且适当地省略其描述。图18示出了具有触摸检测功能的显示装置7的触摸检测电极TDL3的构造示例。 触摸检测电极TDL3在配置有像素Pix的显示区域Sd中具有开口部分36H和361。开口部分36H形成在对应于蓝色(B)子像素SPix的部分中，并且开口部分361形成在与图中纵向相邻的像素Pix间的边界相对应的位置处。开口部分36H具有矩形的框状，以彼此独立地调整横向方向上的电极边缘长度和纵向方向上的电极边缘长度。在具有触摸检测功能的显示装置7中，类似于根据上述第一实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1，触摸检测电极TDL3中每单位晶胞UC的电极面积近似等于虚设电极 37中的电极面积。具体地，例如，开口部分36H的开口宽度Wa和开口部分361的开口宽度 Wb被调整为这些电极面积彼此近似相等。而且，在具有触摸检测功能的显示装置7中，类似于根据上述第二实施方式的具有触摸检测功能的显示装置5和5B，纵向方向上的电极边缘长度和横向方向上的电极边缘长度在触摸检测电极TDL3和检测电极间区域Rd之间几乎相同。具体地，在具有触摸检测功能的显示装置7中，可单独地设定纵向方向上的电极边缘长度和横向方向上的电极边缘长度。在具有触摸检测功能的显示装置7中，触摸检测电极TDL3和虚设电极37被形成为每单位晶胞UC(像素Pix)的电极面积以及横向方向上和纵向方向上的电极边缘长度在触摸检测电极TDL3和检测电极间区域Rd之间近似相同。因此，触摸检测电极TDL3中的反射率和检测电极间区域Rd中的反射率可以彼此接近，并且可改善显示画面的可视性。尽管后面将参照图19详细描述该示例，但电极面积比RS和电极边缘长度比RLE 接近100%，使得反射率比Rref接近100%。因此，确认的是，即使光从外部进入，也可改善显示画面的可视性。如上所述，在实施方式中，电极面积以及纵向方向上和横向方向上的电极边缘长度在触摸检测电极和检测电极间区域之间近似相等，使得每个区域中的反射率彼此近似相等。因此，即使光从外部进入时，也可改善显示画面的可视性。其他效果与上述第一实施方式的相同。<5.示例 >实验上制造了已描述为第一至第三实施方式及其变形例的具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7，并且执行了其的评价。下面将描述该细节。图19示出了实验上制造的具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7及其评价结果。实验上制造的具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7中的每一个的电极面积比RS和电极边缘长度比RLE被设定为如图19所示的各种值。注意，在所有显示装置中每个电极(触摸检测电极和虚设电极)的厚度都相同。对反射率比Rref、反射可视性和透射可视性的三个评价项目执行了评价。在反射可视性的评价中，执行了确定触摸检测电极在“太阳光下太阳”、“太阳光下天空”、“荧光灯下荧光灯”以及“荧光下的其他”的四个条件下是否可见的评价。在该情形下，“太阳光下太阳”的条件表示在太阳光下太阳光被正反射的情形，“太阳光下天空"的条件表示在太阳光下反射方向是朝着光源(太阳)以外(例如，蓝天)方向的情形，“荧光灯下荧光灯”的条件表示荧光被正反射的情形，“荧光下的其他”的条件表示荧光灯下反射方向是朝着光源(荧光灯)以外的方向的情形。在这些条件的评价中，从任何方向都察看不到触摸检测电极的情形被认为是“良好的”，而从所有方向都察看得到触摸检测电极的情形被认为是“劣质的”。此外，从一些方向察看得到触摸检测电极而从显示屏的正面察看不到的情形被认为是“可接受的”。此外，在透射可视性的评价中，执行确定观看显示画面时是否可察看到触摸检测电极的评价。在该评价中，从任何方向都察看不到触摸检测电极的情形被认为是“良好的”。在第一至第三实施方式中所描述的具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7 中，触摸检测电极和虚设电极被形成为触摸检测电极TDL的配置面积率近似等于检测电极间区域Rd中虚设电极的配置面积率，并且每个装置的电极面积比RS的值接近于100%。另外，在根据第二和第三实施方式的具有触摸检测功能的显示装置5、5B和7，触摸检测电极和虚设电极被形成为电极边缘长度比RLE的值接近于100 %。具体地，在根据第三实施方式的具有触摸检测功能的显示装置7中，电极边缘长度比RLE的值非常接近100%。因此，反射率比Rref的值在任何具有触摸检测功能的显示装置中都接近100%。在反射可视性的测量结果中，尽管观察到微小的差异，但实质上在任何具有触摸检测功能的显示装置中都获得良好的特性。具体地，在根据第三实施方式的具有触摸检测功能的显示装置7中，在“太阳光下太阳，，和“荧光灯下荧光灯”的条件下，获得比其他显示装置在其他条件下更好的特性。
如图19所示，为了获得良好的反射可视性，期望电极面积比RS设定在98%到 102%的范围内。优选地，电极面积比RS设定在99%到101%的范围内。而且，为了确认具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7的效果，实验上制造一些具有触摸检测功能的显示装置(比较例1到4)。根据比较例的具有触摸检测功能的显示装置都具有与根据第一实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1 (图8)相同的开口部分36。然而，在比较例中，与具有触摸检测功能的显示装置1不同的是，如图19所示，开口部分36的宽度等于相邻虚设电极37之间的距离，因此电极面积比RS不接近于100%，并且反射率比Rref也不接近于100%。因此，作为根据比较例的反射可视性的测量结果，如图 19所示，获得了比根据上述实施方式的具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7低劣的特性。注意，对于透射可视性，在第一至第三实施方式中所述的具有触摸检测功能的显示装置1、1B、5、5B和7和根据比较例(比较例1至4)的具有触摸检测功能的显示装置中的任一个中，都获得良好的特性。<6.应用例〉接下来，将参考图20至图24G描述实施方式和变形例中所述的具有触摸检测功能的显示装置的应用例。上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置可应用于任何领域中的电子单元，例如电视机、数字照相机、笔记本个人计算机、诸如移动电话的便携式终端设备和摄像机。换句话说，上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置可应用于各种领域中用于将从外部输入的影像信号或内部产生的影像信号显示为图像或影像的电子单兀。(应用例1)图20示出了应用上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置的电视的外观。该电视具有例如包括前面板511和滤光片玻璃512的影像显示画面部510。影像显示画面部510由根据上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置构成。(应用例2)图21A和图21B示出应用上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置的数字照相机的外观。数字照相机具有例如用于闪光的发光部521、显示部522、菜单切换523和快门按钮524。显示部522由根据上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置构成。(应用例3)图22示出了应用上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置的笔记本个人计算机的外观。笔记本个人计算机具有例如主体531、用于输入字符等的操作的键盘532及用于显示图像的显示部533。显示部533由根据上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置构成。(应用例4)图23示出了应用上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置的摄像机的外观。摄像机具有例如主体Ml、用于对设置在主体MI的前方侧面的物体进行摄像的透镜 M2、摄像开始/停止开关543和显示部M4。此外，显示部M4由根据上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置构成。(应用例5)
图24A至图24G示出了应用上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置的移动电话的外观。在移动电话中，例如，上侧壳体710和下侧壳体720通过接合部(铰链部件)730接合。移动电话具有显示器740、副显示器750、闪光灯(picture light) 760和照相机770。显示器740或副显示器750由根据上述实施方式等的具有触摸检测功能的显示装置构成。上文中，尽管已参照几个实施方式、变形例、示例和应用至电子单元的应用例描述了本公开，但是本公开并不局限于此，并且可进行多种变形。例如，尽管在上述实施方式等中，在玻璃基板31和触摸检测电极TDL之间形成透光层33，但这并不是是限定性的。可替换地，透光层33可设置在触摸检测电极TDL上，如图 25所示。例如，尽管在上述实施方式等中，设置有透光层33，但这并不是限定性的，并且可替换地，可省略透光层33。例如，尽管在上述实施方式等中，触摸检测电极的配置面积率和虚设电极的配置面积率彼此近似相等，但这并不是限定性的。可替换地，每单位面积的开口部分的所有边的总长度和每单位面积的虚设电极的所有边的总长度可彼此近似相等。在该情形下，触摸检测电极中的反射率可近似等于虚设电极中的反射率，因此，即使当光从外部进入时，可抑制由触摸检测电极引起的显示画面可视性的劣化。例如，在上述实施方式等中，具有触摸检测功能的显示部10通过使用诸如TN、VA 和ECB的各种模式下的液晶将触摸检测部30和液晶显示部20 —体化来构成。可替换地，可使用诸如FFS (边缘场切换)和IPS (面内切换)的横向电场模式下的液晶将触摸检测部和液晶显示部一体化。例如，在使用横向电场模式下的液晶的情形下，具有触摸检测功能的显示部90可构造为如图沈所示。图沈示出了具有触摸检测功能的显示部90中重要部分的横截面构造的示例，并且示出了液晶层6B夹在像素基板2B和相对基板:3B之间的状态。由于其他部分的名称、功能等与图5的情形相同，所以省略其描述。在该示例中，与图5的情形不同的是，通常用于显示和用于触摸检测的驱动电极COML直接形成在TFT基板21上，并且构成像素基板2B的一部分。像素电极22穿过绝缘层23而配置在驱动电极COML上方。 在该情形下，配置在驱动电极COML和触摸检测电极TDL之间的包括液晶层6B的所有电介质体都对形成电容元件Cl有贡献。例如，尽管在上述实施方式等中，液晶显示部20和触摸检测部30 —体化，但这并不是限定性的。可替换地，触摸检测部(触摸检测装置)可与液晶显示部分离地构造。在该情形下，在触摸检测部中，触摸检测电极TDL的配置面积率近似等于检测电极间区域Rd 中虚设电极的配置面积率，使得各区域中的反射率彼此近似相等。因此，当将该触摸检测部安装在显示装置上时，可改善显示画面的可视性。本公开包含于2010年8月23日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2010-186197的相关主题，其全部内容通过引证结合于此。本领域的技术人员应当理解，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合以及替换，只要它们在所附权利要求书或其等同物的范围内。
权利要求
1.一种具有触摸检测功能的显示装置，包含多个触摸检测电极，并行配置成在一个方向延伸，由包括电极部分和开口部分的预定电极图案形成，并且每个所述触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号；多个显示元件，形成在与设置有所述触摸检测电极的层不同的层中，并且在与所述触摸检测电极相对应的区域中在宽度方向上配置预定数量的所述显示元件；以及多个虚设电极，配置在多个所述触摸检测电极的检测电极间区域中，其中，所述开口部分被设置为使所述触摸检测电极的配置面积率近似等于所述检测电极间区域中所述虚设电极的配置面积率。
2.根据权利要求1所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述开口部分被设置为使每单位面积的所述开口部分的所有边的总长度近似等于每单位面积的所述虚设电极的所有边的总长度。
3.根据权利要求1所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述触摸检测电极由多个包括所述开口部分的检测电极单位晶胞构成。
4.根据权利要求3所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述检测电极间区域由多个包括所述虚设电极的虚设电极单位晶胞构成。
5.根据权利要求4所述的触摸检测功能的显示装置，其中，所述检测电极单位晶胞和所述虚设电极单位晶胞中的每一个的大小等于或小于500平方微米。
6.根据权利要求5所述的触摸检测功能的显示装置，其中，所述检测电极单位晶胞的大小与所述虚设电极单位晶胞的大小相对应。
7.根据权利要求4所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述检测电极单位晶胞和所述虚设电极单位晶胞配置在与各所述显示元件相对应的位置处。
8.根据权利要求7所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述显示元件构成至少包括红色显示元件、绿色显示元件和蓝色显示元件的显示像素，以及所述检测电极单位晶胞的大小与所述显示像素的大小或所述显示像素的大小的整数倍相对应。
9.根据权利要求7所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述显示元件构成至少包括红色显示元件、绿色显示元件和蓝色显示元件的显示像素，以及所述虚设电极单位晶胞的大小与所述显示像素的大小或所述显示像素的大小的整数倍相对应。
10.根据权利要求8所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述开口部分至少配置在与所述红色显示元件、所述绿色显示元件和所述蓝色显示元件中对所述电极部分具有最低透射率的色光的显示元件相对应的位置处。
11.根据权利要求10所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述开口部分配置在与所述蓝色显示元件相对应的位置处。
12.根据权利要求9所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述虚设电极被设置为使得在相邻的所述虚设电极间的间隙中，在与所述红色显示元件、所述绿色显示元件以及所述蓝色显示元件的配置方向交叉的方向上延伸的间隙位于与所述蓝色显示元件相对应的位置处。
13.根据权利要求3所述的具有触摸检测功能的显示装置，进一步包含 选择线，用于选择执行显示操作的所述显示元件，其中，所述开口部分配置在与所述选择线相对应的位置处。
14.根据权利要求3所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述触摸检测电极直接形成在用于支撑的玻璃基板上。
15.根据权利要求3所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述触摸检测电极介由透光层形成在用于支撑的玻璃基板上，或者形成于所述玻璃基板与所述透光层之间，以及所述透光层的折射率具有介于所述玻璃基板的折射率和所述触摸检测电极的折射率之间的值。
16.根据权利要求3所述的具有触摸检测功能的显示装置，其中，所述虚设电极处于电浮接状态。
17.一种具有触摸检测功能的显示装置，包含多个触摸检测电极，并行配置成在一个方向上延伸，由包括电极部分和开口部分的预定电极图案形成，并且每个所述触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号；多个显示元件，形成在与设置有所述触摸检测电极的层不同的层中，并且在与所述触摸检测电极相对应的区域中在宽度方向上配置预定数量的所述显示元件；以及多个虚设电极，配置在多个所述触摸检测电极的检测电极间区域中，其中， 所述开口部分被配置为使每单位面积的所述开口部分的所有边的总长度近似等于每单位面积的所述虚设电极的所有边的总长度。
18.一种触摸检测装置，包含多个触摸检测电极，并行配置成在一个方向上延伸，由包括电极部分和开口部分的预定电极图案形成，并且每个所述触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号；以及多个虚设电极，配置在多个所述触摸检测电极的检测电极间区域中，其中， 所述开口部分被设置为使所述触摸检测电极的配置面积率近似等于所述检测电极间区域中所述虚设电极的配置面积率。
19.一种显示装置，包含 多个检测电极；多个显示元件，设置在与设置有所述检测电极的层不同的层中；以及多个虚设电极，设置在与设置有所述检测电极的层相同的层中，其中， 多个所述检测电极中的每一个都具有开口部分。
20.根据权利要求19所述的显示装置，其中，所述开口部分的宽度宽于相邻的所述虚设电极之间的间隙的宽度。
全文摘要
本发明公开了具有触摸检测功能的显示装置、触摸检测装置及电子单元，其中具有触摸检测功能的显示装置包括多个触摸检测电极，并行配置成在一个方向延伸，由包括电极部分和开口部分的预定电极图案形成，并且每个触摸检测电极基于响应外部接近物体的静电电容的变化输出检测信号；多个显示元件，形成于与设置有触摸检测电极的层不同的层中，并且在与触摸检测电极相对应的区域中在宽度方向上配置预定数量的显示元件；以及多个虚设电极，配置在多个触摸检测电极的检测电极间区域中。开口部分被配置为使触摸检测电极的配置面积率近似等于检测电极间区域中的虚设电极的配置面积率。
文档编号G02F1/13GK102375638SQ201110235280
公开日2012年3月14日 申请日期2011年8月16日 优先权日2010年8月23日
发明者松井靖幸, 池田雅延, 石崎刚司 申请人:索尼公司