球形硅石微粉末以及使用球形硅石微粉末的静电图像显影用调色剂外部添加剂的制作方法
【专利摘要】提供间隔效果优良、即使在反复的图像形成中也不会引起图像状态不佳、且适用于制备具有稳定的打印特性的调色剂的调色剂外部添加剂。此外，提供适于在这种调色剂外部添加剂中添加的球形硅石微粉末。球形硅石微粉末的特征在于，用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的平均粒径为0.090μm以上0.140μm以下，粒径为0.150μm以上的颗粒含有率在5.0％质量以上25.0％质量以下，粒径为0.300μm以上的颗粒含有率在1.0％质量以下。优选地，用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的粒径为0.050μm以下的颗粒含有率为0.5％质量以下，粒径超过0.050μm且在0.080μm以下的颗粒含有率为1.0％质量以上15.0％质量以下。
【专利说明】球形硅石微粉末以及使用球形硅石微粉末的静电图像显影用调色剂外部添加剂
【技术领域】
[0001]本发明涉及球形娃石微粉末(fine spherical silica powder)以及使用球形娃石微粉末的静电图像显影用调色剂外部添加剂。
【背景技术】
[0002]以往，在数字复印机、激光打印机等所使用的静电图像显影用调色剂中，为了改善其流动性、使其带电特性稳定化，使用经过了表面处理的硅石微粉体作为调色剂外部添加剂。对上述硅石微粉体所要求的特性是，为了减少因湿度引起的带电量的变化，要求其具有高疏水性，另外为了能够均匀地被覆调色剂表面，要求其凝集少、高分散。关于硅石微粉体的比表面积，使用200~500m2/g左右的超微粉末，但确认了在反复地进行图像形成的过程中，硅石超微粉末埋没于调色剂颗粒表面，调色剂的流动性、摩擦带电量、转印性能等降低而引起图像状态不佳。
[0003]为了减少上述硅石超微粉末的埋没，有一并使用比表面积不足80m2/g的粒径较大的无机微粉末的方法(专利文献1、专利文献2)。粒径较大的无机微粉末显现出使调色剂彼此直接接触而产生的应力降低的间隔效果。据此，采用了抑制娃石超微粉末的埋没，谋求调色剂的长寿命化的方法等。
[0004]然而，近年来，从削减数字复印机、激光打印机的耗电的观点出发，存在减少在使调色剂定影之际施加的热量的倾向，因此，调色剂树脂的小径化、低融点化正在快速地发展。与此相伴，对调色剂外部添加剂所使用的硅石微粉的间隔效果也要求有进一步的改善。
[0005](现有技术文献)
[0006](专利文献)
[0007]专利文献1:日本特开平5-346682号公报
[0008]专利文献2:日本特开2000-81723号公报
【发明内容】
[0009](发明所要解决的问题)
[0010]本发明的目的是提供间隔效果优良、即使在反复的图像形成中也不会引起图像状态不佳、且适用于制备具有稳定的打印特性的调色剂的调色剂外部添加剂，提供适于向这种调色剂外部添加剂添加的球形硅石微粉末。
[0011](用于解决问题的手段)
[0012]本发明人为了达成上述目的而进行了深入的研究，发现了达成上述目的的球形硅石微粉末。本发明是基于相关见解得到的，具有以下的主旨。
[0013](1)球形硅石微粉末，其特征在于，用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的平均粒径为0.090 μ m以上0.140 μ m以下，粒径为0.150 μ m以上的颗粒含有率在5.0%质量以上25.0%质量以下，粒径为0.300 μ m以上的颗粒含有率在1.0%质量以下。[0014](2)根据所述(I)记载的球形硅石微粉末，其特征在于，用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的粒径为0.050 μ m以下的颗粒含有率为0.5%质量以下，粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的颗粒含有率为1.0%质量以上15.0%质量以下。
[0015](3)根据所述(I)或(2)记载的球形硅石微粉末，其特征在于，在基于显微镜法的投影面积圆当量直径为0.1OOym以上的颗粒中，平均球形度为0.88以上，球形度为0.85以下的颗粒个数比例为15%以下，球形度为0.80以下的颗粒个数比例为8%以下。
[0016](4)根据所述(I)至(3)中任意一项记载的球形硅石微粉末，其特征在于，Na+浓度为IOppm以下、Cl —浓度为5ppm以下。
[0017](5)对所述(I)至(4)中任意一项记载的球形硅石微粉末实施表面处理而获得的球形硅石微粉末。
[0018](6)根据所述(5)记载的球形硅石微粉末，其特征在于，使用六甲基二硅氮烷作为表面处理剂。
[0019](7)静电图像显影用调色剂外部添加剂，其特征在于，含有所述(5)或(6)所记载的球形硅石微粉末。
[0020](发明的效果)
[0021]根据本发明，能够提供间隔效果优良，适合制备即使反复地形成图像也不会引起图像状态不佳、具有稳定的打印特性的调色剂的调色剂外部添加剂。另外，提供适合向所述调色剂外部添加剂中添加的球形硅石微粉末。
【具体实施方式】
[0022]以下，详细地说明本发明。
[0023]本发明的球形硅石微粉末的利用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的平均粒径需要为0.090 μ m以上0.140 μ m以下。粒径为0.090 μ m以上0.140 μ m以下的颗粒是形成球形硅石微粉末的主要构成颗粒组的区域。若平均粒径不足0.090 μ m,则在作为调色剂外部添加剂使用的情况下，埋没于调色剂树脂的球形硅石微粉末多，间隔效果不充分。另一方面，若平均粒径超过0.140 μ m,则调色剂树脂表面中的球形硅石微粉末少，间隔效果同样也不充分。优选地，平均粒径在0.095 μ m以上0.135 μ m以下，更优选地，在0.100 μ m以上0.130 μ m以下。
[0024]本发明的球形硅石微粉末的利用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的粒径为0.150 μ m以上的颗粒含有率需要为5.0%质量以上25.0%质量以下，粒径为0.300 μ m以上的颗粒含有率需要为1.0%质量以下。粒径为0.090 μ m以上0.140 μ m以下的颗粒的作用在于防止为了赋予流动性而添加于调色剂表面的200~500m2/g的硅石超微粉末的埋没，与此相对，粒径为0.150 μ m以上的颗粒的作用在于防止本发明的球形硅石微粉末的主要构成颗粒组即粒径为0.090 μ m以上0.140 μ m以下的颗粒的埋没。据此，能够使调色剂外部添加剂在使用之际的间隔效果进一步提高，并且能够提高调色剂外部添加剂的历时稳定性。若粒径为0.150 μ m以上的颗粒含有率不足5.0%质量，则无法充分地防止0.090 μ m以上0.140 μ m以下的颗粒的埋没，历时稳定性的提高效果不充分。另一方面，若粒径为
0.150 μ m以上的颗粒含有率超过25.0 %质量和/或粒径为0.300 μ m以上的颗粒含有率超过1.0%质量，则调色剂树脂表面的球形硅石微粉末被覆率降低，结果，有可能对调色剂的带电特性造成不良影响。粒径为0.150 μ m以上的球形硅石微粉末的优选颗粒含有率为
6.5%质量以上20.0 %质量以下,更优选为8.0 %质量以上15.0 %质量以下。此外,粒径为
0.300 μ m以上的球形硅石微粉末的优选颗粒含有率为0.8%质量以下，更优选为0.5%质量以下。
[0025]优选地，本发明的球形硅石微粉末的用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的粒径为0.050 μ m以下的颗粒含有率为0.5%质量以下，粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的颗粒含有率为1.0%质量以上15.0%质量以下。粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的颗粒为作为本发明的主要构成颗粒组即粒径为0.090 μ m以上0.140 μ m以下的颗粒与为了赋予流动性而添加于调色剂表面的200~500m2/g的硅石超微粉末的中间的粒径。因此，容易进入各个颗粒的间隙，历时稳定性提高。若粒径为0.050 μ m以下的颗粒含有率为0.5%质量以下，粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的颗粒含有率为1.0%质量以上15.0%质量以下，则这种效果优良。
[0026]粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的球形硅石微粉末的优选颗粒含有率为
1.5%质量以上12.5%质量以下,更优选为2.0%质量以上10.0%质量以下。
[0027]为了平衡良好地获得一并使用本发明的球形娃石微粉末与200~500m2/g的娃石超微粉末时的流动性赋予功能、或者间隔功能等对粉末希望的各种特性，粒径为0.050 μ m以下的颗粒含有率优选为0.5%质量以下。
[0028]本发明的球形硅石微粉末的激光衍射散射式粒度分布可以使用贝克曼库尔特公司制“LS-230”来进行测量。在测量之际，使用水作为溶剂，并且作为预处理，使用日本TOMYSEIKO公司制“超声波发生器UD-200 (安装有超微量探头TP-040)”，施加200W的输出来进行2分钟的分散处理。此外，将PIDS (偏光强度差式散射法；Polarization IntensityDifferential Scattering)浓度调整为45~55%质量。粒度分布的分析是以粒径通道为log(ym) = 0.04的宽度将0.04~2000 μ m的范围进行了 116分割而进行的。水的折射率使用1.33，球形硅石微粉末的折射率使用了 1.50。另外，在测量出的粒度分布中，累计质量为50%的颗粒为平均粒径。
[0029]对于本发明的球形硅石微粉末，优选地，在基于显微镜法的投影面积圆当量直径为0.100 μ m以上的颗粒中，平均球形度为0.88以上，球形度为0.85以下的颗粒个数比例为15%以下，球形度为0.80以下的颗粒个数比例为8%以下。球形度低的颗粒大多数情况下具有组织(structure)结构或形成聚集体,球形度越低则上述倾向越显著。
[0030]在基于显微镜法的投影面积圆当量直径为0.1OOym以上的颗粒中，若平均球形度为0.88以上，球形度为0.85以下的颗粒个数比例为15%以下，球形度为0.80以下的颗粒个数比例为8%以下，则对调色剂表面的均匀的外部添加剂的被覆与间隔效果优良。
[0031]优选地，基于显微镜法的投影面积圆当量直径为0.ΙΟΟμπι以上的颗粒的平均球形度为0.90以上，更优选为0.92以上。此外，优选地，球形度为0.85以下的颗粒个数比例为13%以下，球形度为0.80以下的颗粒个数比例为6.5%以下；更优选地，球形度为0.85以下的颗粒个数比例为10%以下，球形度为0.80以下的颗粒个数比例为5%以下。
[0032]本发明的球形硅石微粉末的球形度可以通过下述方法测量。将利用扫描式电子显微镜(例如日本电子株式会社制“JSM-6301F型”)、透射式电子显微镜(例如日本电子株式会社制“ JEM-2000FX型”)等拍摄到的颗粒像输入到图像分析装置(例如Mountech公司制“MacView”)，根据照片显示的颗粒的投影面积(A)与周长(PM)进行测量。若设与周长(PM)对应的正圆的面积为(B)，则该颗粒的球形度为A/B，因而，若设想具有与试样的周长(PM)相同的周长的正圆，根据PM= 2 Ji r、B= r2，可以得出B= π X (PM/2 Ji)2，各个颗粒的球形度为:球形度=Α/Β = ΑΧ4π/(ΡΜ)2。求出200个这样得到的任意的投影面积圆当量直径为0.100 μ m以上的颗粒的球形度，取其平均值作为平均球形度。此外，根据这些200个颗粒中的球形度为0.85以下或者0.80以下的颗粒个数来计算各自的颗粒个数比例。
[0033]对于本发明的球形硅石微粉末，优选地，Na +浓度为IOppm以下，Cl —浓度为5ppm以下。若含有的Na+浓度超过IOppm和/或Cl —浓度超过5ppm，则存在调色剂或者调色剂外部添加剂的带电性恶化的情况、难以进行带电量的控制的情况，存在使显影性、转印性恶化的担忧。
[0034]优选地，Na +浓度为8ppm以下，Cl —浓度为4ppm以下,更优选地，Na +浓度为5ppm以下，Cl —浓度为3ppm以下。
[0035]本发明的球形硅石微粉末的Na+浓度可以利用原子吸收分析法按照下述顺序进行测量，Cl —浓度可以利用离子色谱法按照下述顺序进行测量。 [0036](I)Na+浓度的测量:将试样IOg与离子交换水70ml注入聚乙烯制容器并摇动I分钟后，放入干燥器在95°C下放置20小时后冷却。增补蒸发的量的水而成为规定量。然后，进行离心分离，将上清液提取到烧杯中作为供试液。另外，进行上述操作的除了试样称量之外的全部操作而形成为空白试验用供试液。使用原子吸收光度计来测量供试液的一部分的吸光度。根据预先作成的检量线求出Na+浓度，算出含有率。对空白试验用供试液也进行同样的测量，对结果进行修正。原子吸收光度计例如为岛津制作所株式会社制“AA-6800”。用于作成检量线的标准液例如为关东化学株式会社制原子吸收用Na标准液(浓度lOOOppm)。另外，测量之际的火焰使用空气乙炔焰，测量了波长为589.0nm处的吸光度并进行了定量。
[0037](2) Cl —浓度的测量:将试样IOg与离子交换水70ml注入聚乙烯制容器并摇动I分钟后，放入干燥器在95°C放置20小时后冷却。增补蒸发的量的水而成为规定量。之后，进行离心分离，将上清液提取到烧杯中作为供试液。另外，进行上述操作的除了试样称量之外的全部操作而形成为空白试验用供试液。使用离子色谱仪测量供试液的一部分。根据预先作成的检量线求出Cl—浓度，算出含有率。对空白试验用供试液也进行同样的测量，对结果进行修正。离子色谱仪例如为DIONEX株式会社制“ICS-1500”。用于作成检量线的标准液例如为关东化学株式会社制离子色谱用Cl—标准液(浓度lOOOppm)。
[0038]对于球形硅石微粉末的制造方法，为了实现本发明的球形硅石微粉末的球形度、Na+浓度、Cl 一浓度，优选为金属硅的氧化反应法。例如可以通过将金属硅投入由化学焰、电炉等所形成的高温场所而使其一边发生氧化反应、一边球形化的方法(例如日本发明专利第1568168号说明书),将金属娃颗粒衆料向火焰中喷雾而使其一边发生氧化反应、一边球形化的方法(例如日本特开2000-247626号公报)等进行制造。优选地，所使用的金属硅的Na+浓度为IOppm以下，Cl —浓度为5ppm以下。
[0039]为了获得本发明的球形硅石微粉末的粒度，也可以对利用上述方法等制造出的球形硅石微粉末进行分级。作为分级方法，采用重力分级、惯性分级等干式分级、沉降分级、水力分级等湿式分级、以及利用筛子的筛分分级等公知的方法即可。
[0040]在使调色剂外部添加剂含有本发明的球形硅石微粉末的情况下，优选实施表面处理。作为本发明所使用的表面处理剂，有烷基氣硅烷、烷基烷氧基硅烷、TK甲基二娃氣烧等甲娃烷基化剂、钛酸酯类偶联剂、氟类硅烷偶联剂、硅油、娃漆(Silicone vanish)、具有氨基、季铵碱(Quaternary ammonium base)的偶联剂、改性硅油等。它们之中，从表面处理后的疏水性的高度考虑，优选六甲基二硅氮烷。此外，上述表面处理剂可以单独使用一种，或可以在两种以上的情况下混合使用，或者按顺序分阶段地进行表面处理，从而能够达到按照用途所要求的表面处理特性。
[0041]关于球形娃石粉末原料的表面处理法,例如有在使球形娃石粉末原料悬浮的状态下将表面处理剂的原液进行喷雾的方法，或者使表面处理剂气化并使其与球形硅石微粉末接触的方法等。此外，在用TK甲基二娃氣烧等甲娃烷基化剂进行疏水化表面处理的情况下，也可以首先将水喷雾、混合而使硅醇基活化，之后进行疏水化表面处理。
[0042]关于本发明的球形娃石微粉末的疏水化度优选为60%以上。若疏水化度不足60%,则高湿度环境下的调色剂的带电量变化，或者调色剂颗粒彼此聚集而流动性降低。优选地，疏水化度为65%以上，更优选为70%以上。疏水化度可以通过以下的方法来进行测量。即，将离子交换水50ml、试样0.2g放入烧杯，一边用磁力搅拌器搅拌、一边从滴定管滴下甲醇。随着烧杯内的甲醇浓度增加，粉体渐渐地沉降下来，将粉体的全量沉降后的终点的甲醇与离子交换水的混合溶液中的甲醇的％容量作为疏水化度(％ )。
[0043]关于经过上述表面处理的球形硅石微粉末向调色剂的配合量，通常，相对于调色剂100质量份,优选为0.1~10质量份,更优选为0.5~5质量份。若配合量过少,则在调色剂上的附着量少而不能够获得充分的间隔效果，而若过多，则存在对调色剂的带电性产生不良影响的担忧。
[0044]含有本发明的球形硅石微粉末的调色剂外部添加剂的硅石(silica)粉末不限于单独使用本发明的球形硅石微粉末，例如也可以与流动性赋予效果好的200~500m2/g左右的超微粉末硅石一起使用。
[0045]作为添加含有本发明的球形硅石微粉末的调色剂外部添加剂的静电图像显影用调色剂，可以使用以粘结树脂和着色剂为主要成分而构成的公知的材料。此外，也可根据需要添加带电控制剂。
[0046]添加含有本发明的球形硅石微粉末的调色剂外部添加剂的静电图像显影用调色剂可以作为单组分显影剂使用，另外，也可以将其与载体混合而作为双组分显影剂使用。在作为双组分显影剂使用的情况下，上述调色剂外部添加剂也可以不预先向调色剂颗粒中添加，而在调色剂与载体混合时添加并进行调色剂的表面被覆。作为载体，可以使用铁粉等、或者在它们的表面上涂覆了树脂的公知的材料。
[0047]实施例
[0048]以下，通过实施例以及比较例更详细地说明本发明。
[0049]实施例1~13比较例I~8
[0050]球形硅石微粉末采用在燃烧炉的顶部设置有能够形成内焰和外焰的双重管结构的LPG —氧气混合型燃烧器、在下部直接连接捕集线路的装置进行制造。在上述燃烧器的中心部还设置有浆料喷雾用的双流体喷嘴，从上述中心部以20.0kg/Hr的供给量，喷射由金属娃粉末(平均粒径为9.8μηι、Na+浓度:0.2ppm、Cl —浓度:0.4ppm)与水形成的衆料。从周围供给氧气。火焰的形成是通过在二重管燃烧器的出口设置数十个细孔并从细孔喷射LPG与氧气的混合气体来实现的。从双流体喷嘴喷射并通过火焰而生成的球形硅石微粉末在鼓风机的作用下在捕集线路中进行空气输送，并由袋式过滤器捕集。另外，球形硅石微粉末的球形度的调整是通过将金属硅粉末与水混合而成的金属硅粉末的水浆料浓度在30~70%质量的范围内调整来进行的。
[0051]捕集到的球形硅石微粉末使用异丙醇来进行了洗提分级。将上清液中的球形硅石微粉末或者沉淀的球形硅石微粉末回收，并在120°C干燥12小时。将它们适当配合，得到了所期望的球形娃石微粉末A~U。在表1及表2中不出球形娃石微粉末A~U的用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的平均粒径、粒径为0.150 μ m以上的颗粒含有率、粒径为
0.300 μ m以上的颗粒含有率、粒径为0.050 μ m以下的颗粒含有率、粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的颗粒含有率、基于显微镜法的投影面积圆当量直径为0.1OOym以上的颗粒的平均球形度、球形度为0.85以下的颗粒个数比例、以及球形度为0.80以下的颗粒个数比例。颗粒的投影面积圆当量直径、球形度的分析是将利用日本电子株式会社制扫描式显微镜JSM-6301F型拍摄到的倍率10000倍、分辨率2048Χ 1536的图像读入计算机，并利用Mountech公司制MacView Ver.4的图像分析装置来进行的。对于颗粒选择工具,利用简易读入工具进行了分析。另外，得到的球形硅石微粉末的Na+浓度均在5ppm以下、Cl 一浓度均在3ppm以下。
[0052]将球形硅石微粉末A~U各100g装入流动层(中央化工机株式会社制“振动流动层装置VUA-15型”)，在利用N2气体使其流动时将2g水进行喷雾并流动混合5分钟，之后将4g六甲基二硅氮烷(信越化学工业株式会社制“HMDS-3”)进行喷雾，并流动混合30分钟。流动混合之后，升温至130°C，一边通入氮气、一边除去生成的氨，得到了疏水性的球形硅石微粉末。得到的球形硅石微粉末的疏水化度均为70%以上。
[0053]为了评价利用六甲基二硅氮烷施加了表面处理的球形硅石微粉末的作为调色剂外部添加剂的特性，按照以下的方法测量了压缩度、压缩度变化率、外部添加剂被覆率。在表1以及表2中不出它们的结果。
[0054]( I)压缩度
[0055]将对球形硅石微粉末A~U施加了表面处理的粉末5g、平均粒径5 μ m的交联丙烯酸树脂粉(综研化学株式会社制商品名“MX-500”)500g、以及用于赋予流动性的市售的烟化娃石(fumed silica) 200m2/g制品5g放入亨舍尔混合机(Henschel mixer)(三井三池化工机株式会社制“FM-10B型”)，以1000rpm混合3分钟，制作了模拟调色剂。利用粉末测量机(细川密克朗株式会社制“PT-E型”)评价了上述模拟调色剂的压缩度。压缩度通过下述式子来计算。
[0056]压缩度=(振实堆积密度一松散堆积密度)/振实堆积密度X 100 (%)
[0057]其中，松散堆积密度是在100ml的杯子中放入模拟调色剂且在不敲打的状态下测量出的密度，振实堆积密度是在100ml的杯子中放入模拟调色剂且以每秒钟I次的速度敲打180次之后测量出的堆积密度。上述压缩度的值越小，则表示流动性越良好。
[0058](2)压缩度变化率
[0059]将亨舍尔混合机的混合时间从3分钟变更为30分钟来进行压缩度测量，根据下述式子来计算压缩度变化率。
`[0060]压缩度变化率=混合时间为30分钟时的压缩度/混合时间为3分钟时的压缩度[0061]上述压缩度变化率越接近于1，即压缩度的变化越小，则表示历时稳定性越良好。若历时稳定性良好，则能够制备在作为外部添加剂使用之际具有稳定的打印特性的调色剂。
[0062]( 3)外部添加剂被覆率
[0063]将对球形娃石微粉末A~U施加了表面处理的粉末15g和平均粒径为5 μ m的交联丙烯酸树脂粉(综研化学株式会社制，商品名“MX-500”)500g放入亨舍尔混合机(三井三池化工机株式会社制“FM-10B型”)，以1000rpm混合3分钟，制作了模拟调色剂。利用碳膏将该混合试样固定在试样台上之后，进行锇涂覆(Osmium Coating),并用电子显微镜(日本电子株式会社制“JSM-6301F型”)进行了观察。将倍率为15000倍、分辨率为2048X 1536的图像读入计算机，并利用图像分析装置(Mountech公司制“MacView Ver.4”)测量了交联丙烯酸树脂粉的投影面积和球形硅石微粉末的投影面积。另外，对于颗粒选择工具，使用简易读入工具来进行分析，基于下述式子求出了每个模拟调色剂的外部添加剂被覆率。
[0064]每个模拟调色剂的外部添加剂被覆率=(一个交联丙烯酸树脂粉表面所附着的球形硅石微粉末的合计投影面积/ 一个交联丙烯酸树脂粉的投影面积)XlOO (%)
[0065]针对20个模拟 调色剂计算外部添加剂被覆率，将其平均值作为平均外部添加剂被覆率。
[0066](表1)
【权利要求】
1.球形硅石微粉末，其特征在于，用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的平均粒径为0.090 μ m以上0.140 μ m以下，粒径为0.150 μ m以上的颗粒含有率在5.0%质量以上25.0%质量以下，粒径为0.300 μ m以上的颗粒含有率在1.0%质量以下。
2.根据权利要求1所述的球形硅石微粉末，其特征在于，用激光衍射散射式粒度分布测量仪测量出的粒径为0.050 μ m以下的颗粒含有率为0.5 %质量以下，粒径超过0.050 μ m且在0.080 μ m以下的颗粒含有率为1.0%质量以上15.0%质量以下。
3.根据权利要求1或2所述的球形硅石微粉末，其特征在于，在基于显微镜法的投影面积圆当量直径为0.1OOym以上的颗粒中，平均球形度为0.88以上，球形度为0.85以下的颗粒个数比例为15%以下，球形度为0.80以下的颗粒个数比例为8%以下。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的球形硅石微粉末，其特征在于，Na+浓度为IOppm以下，Cl —浓度为5ppm以下。
5.对权利要求1至4中任一项所述的球形娃石微粉末实施表面处理而获得的球形娃石微粉末。
6.根据权利要求5所述的球形娃石微粉末,其特征在于，使用六甲基二娃氮烧作为表面处理剂。
7.静电图像显影用调色剂外部添加剂，其特征在于，含有权利要求5或6所述的球形硅石微粉末。
【文档编号】G03G9/08GK103732536SQ201280035809
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2012年7月27日 优先权日:2011年7月29日
【发明者】佐佐木修治, 秀岛正章, 园田英明, 水本贵久 申请人:电气化学工业株式会社