一种短路棒治具的压头结构的制作方法

本实用新型涉及液晶面板测试用治具领域，尤其涉及一种短路棒治具的压头结构。

背景技术：

LCD厂通常会有生产裸CELL(没有IC的液晶屏)出货的要求，但由于裸CELL上没有焊IC(集成电路)以及FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)等，而又需要对裸CELL进行测试。通常采用的办法是在裸CELL上设计相应的信号测试点，将短路棒治具的一端扎到裸CELL上的测试点上，短路棒治具的另一端通过导线连接到测试信号源上，对裸CELL进行测试。

如图1所示，现有短路棒治具的压头包括Pin针30，针套20，OK线10以及基板40组成。在使用时由于OK线10需要频繁的连接测试信号源，而Pin针30需要频繁的接触测试点，通常会造成Pin针30被折弯、针套20被损坏以及OK线10脱落等问题。其中任何一个部件出现问题都需要更换整个压头结构，其维修成本较高，且存在更换不方便的问题。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种短路棒治具的压头结构，以便于实现压头结构的快速更换，降低维修成本。

为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种短路棒治具的压头结构，包括上基板和下基板；所述上基板包括设有放置槽的外壳，设于所述放置槽一侧内壁的至少一个具有导电性能的弹性部件，以及连接于所述弹性部件的导线；所述下基板包括置于所述放置槽内的固定块，至少一个设于所述固定块上与所述弹性部件对应位置的触点，以及一端插入所述固定块内且连接于所述触点的探针；将所述触点抵压于与其对应的所述弹性部件使所述固定块卡设于所述放置槽内。

进一步地，所述探针包括一端通过OK线连接于所述触点的针套，以及连接于所述针套另一端的Pin针，所述固定块的一侧设有放置所述Pin针和所述针套的卡槽，所述Pin针未连接所述针套的一端伸出卡槽。

进一步地，所述固定块的纵截面呈倒“凸”形，所述放置槽的纵截面形状与所述固定块的纵截面形状相适配。

进一步地，所述触点设于所述固定块宽度较大一侧，所述Pin针从所述固定块宽度较小的一侧伸出所述卡槽。

进一步地，所述放置槽与所述固定块过盈配合。

进一步地，所述放置槽上设有用于所述Pin针穿出的开口。

进一步地，所述放置槽的高度大于所述固定块的高度。

进一步地，所述卡槽包括用于放置所述针套的第一卡槽，以及用于放置Pin针且与所述第一卡槽连通的第二卡槽，所述第二卡槽的开口宽度沿远离所述第一卡槽的方向逐渐变小，所述Pin针从所述第二卡槽的开口宽度较小的一侧伸出。

进一步地，所述弹性部件为金属弹片。

进一步地，所述外壳和所述固定块由绝缘材料制成。

本实用新型的有益效果：将接触测试点的探针与连接测试信号源的导线分离开，采用触点与弹性部件接触的方式连接探针与导线，分离出来的探针和导线分别做成一个单独的模块，通过弹性部件将下基板卡设于上基板上的放置槽内。使用过程中如果出现问题，便于将上基板和下基板分离，快速更换上基板或下基板，而无需更换整个压头结构，降低了维修成本。

每个所述下基板上可设置不同数量的探针，因此可以根据待测裸CELL上的测试点数量的不同选择相应的下基板，以满足测试需求。

附图说明

图1是现有短路棒治具的压头结构的结构示意图；

图2是本实用新型所述短路棒治具的压头结构的结构示意图；

图3是本实用新型所述上基板的结构示意图；

图4是本实用新型所述下基板的结构示意图；

图5是图2中I处的局部放大示意图。

图中：

1、上基板；11、外壳；111、放置槽；112、开口；113、卡台；12、弹性部件；13、导线；2、下基板；21、固定块；22、Pin针；23、针套；24、OK线；25、触点；10、OK线；20、针套；30、Pin针；40、基板。

具体实施方式

下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本实用新型的技术方案。

如图2至5所示，本实施例提供了一种短路棒治具的压头结构，包括上基板1和下基板2；所述上基板1包括设有放置槽111的外壳11，设于放置槽111一侧内壁的至少一个具有导电性能的弹性部件12，以及连接于弹性部件12的导线13；所述下基板2包括置于放置槽111内的固定块21，至少一个设于固定块21上与弹性部件12对应位置的触点25，以及一端插入固定块21内且连接于触点25的探针；参照图5，将触点25抵压于与其对应的弹性部件12使固定块21卡设于放置槽111内。

本实施例将接触测试点的探针与连接测试信号源的导线13分离开，采用触点25与弹性部件12接触的方式连接探针与导线13，分离出来的探针和导线13分别做成一个单独的模块，通过弹性部件12将下基板2卡设于上基板1上的放置槽111内。使用过程中如果出现问题，便于将上基板1和下基板2分离，快速更换上基板1或下基板2，而无需更换整个压头结构，降低了维修成本。

每个所述下基板2上可设置不同数量的探针，因此可以根据待测裸CELL上的测试点数量的不同选择相应的下基板2，以满足测试需求。

本实施例中，参照图3和图4，所述固定块21的纵截面呈倒“凸”形，所述放置槽111的纵截面形状与固定块21的纵截面形状相适配。所述放置槽111上设有用于探针穿出的开口112，所述触点25设于固定块21宽度较大一侧，所述探针从固定块21宽度较小的一侧伸出开口112。由于放置槽111靠近开口112的一侧形成两个卡台113。在安装下基板2时，先将下基板2一端插入放置槽111内，使触点25抵压于相应的弹性部件12上，弹性部件12被压缩，而后将下基板2的另一端压入放置槽111内，在弹性部件12的作用下，将固定块21的内壁抵压于放置槽111内壁上，使所述放置槽111与固定块21过盈配合；通过卡台113以及弹性部件12防止固定块21从放置槽111脱出。

由于弹性部件12和触点25的设置，要求所述放置槽111的高度大于固定块21的高度，高度方向为图3中所示H方向。

参照图4，本实施例中，所述探针包括一端通过OK线24连接于触点25的针套23，以及连接于针套23另一端的Pin针22，所述固定块21的一侧设有放置Pin针22和针套23的卡槽，所述Pin针22未连接针套23的一端伸出卡槽。具体的，所述卡槽包括用于放置针套23的第一卡槽，以及用于放置Pin针22且与第一卡槽连通的第二卡槽，所述第二卡槽的开口宽度沿远离第一卡槽的方向逐渐变小，所述Pin针22从第二卡槽的开口宽度较小的一侧伸出。

本实施例中，所述弹性部件12为金属弹片，以保证弹性部件12具有变形能力的同时具有导电能力。

本实施例中，所述外壳11和固定块21由绝缘材料制成。降低操作人员触电的可能性。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。