一种显示面板膜层剥离位置的测试装置及其方法与流程

本发明实施例涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板膜层剥离位置的测试装置及其方法。

背景技术：

在液晶显示技术领域中，显示面板的密封性会影响到显示面板内液晶存储与旋转，因此，为了保证显示效果，需要确保显示面板的密封性较好，而显示面板中封框胶及其上下膜层起着隔绝液晶与外部空间的作用。

目前，造成显示面板密封性失效的主要原因是封框胶及其上下膜层发生剥离。而现有技术中主要通过墨水渗透法确认封框胶及其上下膜层的发生剥离的位置，以测试显示面板的密封性。

经发明人研究发现，墨水渗透法需要将上下基板分离后通过显微镜确认，在确认过程中会对显示面板造成不可逆的损坏，而且结果会因为分析者观察水平而产生差异，因此，现有的显示面板膜层剥离测试方法，不仅对显示面板损伤较大，而且测量精度也不高。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板膜层剥离位置的测试装置及其方法，不仅能够减小对显示面板的损伤，而且能够确保测量精度。

一个方面，本发明实施例提供了一种显示面板膜层剥离位置的测试装置，包括用于设置待测试的显示面板的测试槽、设置在显示面板上方阵列排布的多个测量电极、导电液注入装置、电容测量装置和数据处理装置；所述显示面板的位置与所述阵列排布的多个测量电极相对应，其中，

导电液注入装置，用于向所述测试槽中注入导电液，所述导电液的液面低于所述显示面板的上表面；

电容测量装置，用于在向所述导电液和多个测量电极加电后，测量所述多个测量电极的感应电容值；

数据处理装置，用于根据所述多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置。

可选地，所述数据处理装置还用于根据测量得到的感应电容值确定显示面板发生剥离的膜层。

可选地，还包括：电极板；

所述电极板，通过导线与所述多个测量电极连接。

可选地，还包括：电源装置和设置在所述测试槽中的供电电极；

所述电源装置，与所述电极板和所述供电电极连接，用于通过所述供电电极向导电液加电，还用于通过所述电极板向多个测量电极加电。

可选地，还包括：高度测量装置；

所述高度测量装置设置在所述测试槽中，用于测量注入到所述测试槽中的导电液的高度。

可选地，还包括：吸附装置；

所述吸附装置，用于将所述显示面板固定在所述测试槽的底端。

另一方面，本发明实施例提供了一种显示面板膜层剥离位置的测试方法，应用上述显示面板膜层剥离位置的测试装置中，所述方法包括：

向测试槽内注入导电液，所述导电液的液面低于显示面板的上表面；

向所述导电液和多个测量电极加电；

测量所述多个测量电极的感应电容值；

根据所述多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置。

可选地，根据所述多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置包括：

根据所述多个测量电极的感应电容值确定产生感应电容的测量电极的位置；

根据产生感应电容的测量电极的位置确定显示面板发生剥离的位置。

可选地，还包括：根据测量得到的感应电容值，确定显示面板发生剥离的膜层。

可选地，所述根据测量得到的感应电容值，确定显示面板发生剥离的膜层包括：

根据测量得到的感应电容值，采用公式确定显示面板发生剥离的膜层；

其中，C为测量得到的感应电容值；ε0为真空介电常数，S为所述测量电极的响应面积，d为所述测量电极与所述显示面板的上表面之间的距离，ε为所述显示面板的上表面与所述显示面板的剥离膜层之间的介电常数，D为所述显示面板的上表面与所述显示面板的剥离膜层之间的距离。

本发明实施例公开了一种显示面板膜层剥离位置的测试装置及其方法，该装置包括用于设置待测试的显示面板的测试槽、设置在显示面板上方阵列排布的多个测量电极、导电液注入装置、电容测量装置和数据处理装置；显示面板的位置与阵列排布的多个测量电极相对应，其中，导电液注入装置，用于向测试槽中注入导电液，导电液的液面低于显示面板的上表面；电容测量装置，用于在向导电液和多个测量电极加电后，测量多个测量电极的感应电容值；数据处理装置，用于根据多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置，本发明实施例通过采用电容测量显示面板发生剥离的位置，整个测量过程无需人员接触，不仅能够减小对显示面板的损伤，而且能够确保测量精度。

当然，实施本发明的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。本发明的其它特征和优点将在随后的说明书实施例中阐述，并且，部分地从说明书实施例中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明实施例技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明实施例的技术方案，并不构成对本发明实施例技术方案的限制。

图1为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的结构示意图一；

图2为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的结构示意图二；

图3为本发明实施例提供的测量电极的平面图；

图4为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的结构示意图三；

图5为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的仰视图；

图6为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试方法的流程图。

附图标记说明：

100：显示面板；

10：测试槽；

11：注入孔；

12：吸附孔；

20：测量电极；

21：电极板；

22：导线；

30：导电液注入装置；

31：导电液注入管道；

32：导电液泵；

40：电容测量装置；

50：数据处理装置；

60：电源装置；

61：供电电极；

70：高度测量装置；

81：吸附管道；

82：真空吸附泵；

110～140：步骤。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明实施例的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

除非另外定义，本发明实施例公开使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明实施例中使用的“包括”或者“包含”等类似的词语一直出该词前面的元件或误检涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述的对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。

实施例一

图1为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的结构示意图一，如图1所示，本发明实施例提供的显示面板剥离位置的测试装置包括用于设置待测试的显示面板100的测试槽10、设置在显示面板100上方阵列排布的多个测量电极20、导电液注入装置30、电容测量装置40和数据处理装置50，显示面板100的位置与阵列排布的多个测量电极20相对应。

在本实施例中，导电液注入装置30，用于向测试槽10中注入导电液。电容测量装置40，用于在向导电液和多个测量电极20加电后，测量多个测量电极20的感应电容值。数据处理装置50，用于根据多个测量电极20的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置。

需要说明的是，为了避免影响测量到的感应电容值的准确性，设置在测试槽中的显示面板100需要将显示面板100上的裸露的电路元件用绝缘涂胶覆盖。

可选地，测试槽10可以封闭，也可以不封闭，可以为方形，或者还可以为其他形状，本发明实施例对此不作任何限定，具体的，图1是以测试槽为封闭的方形为例进行说明的。

可选地，导电液为能够导电的液体，包括：液态汞。

在本实施例中，导电液的液面低于显示面板的上表面，还需要高于显示面板的膜层，具体的，导电液的高度大于等于显示面板的高度与阈值距离的差值，且小于显示面板的高度。

需要说明的是，一般来说显示面板的上基板的厚度大于0.25mm，当导电液的高度大于等于显示面板的高度与阈值距离的差值时，导电液覆盖显示面板所有膜层的接触点。

可选地，测量电极20的材料为导电材料包括金属，测量电极20的形状可以为圆形，也可以方形，三角形或者其他形状，本发明实施例并不对测量电极的形状进行限定，如图1是以测量电极为圆形为例进行说明的。

可选地，多个测量电极20与测试槽10的底部平行。

可选地，当测量电极20为圆片时，圆片的直径为1mm。

在本实施例中，为了能够精确的测试显示面板膜层剥离位置，需要阵列排布的多个测量电极20与显示面板100的位置相对应。

可选地，测量电极20的数量为多个，测试电极20的数量与显示面板的尺寸相关，本发明实施例并不具体限定测试电极20的数量。

具体的，当显示面板不存在膜层剥离时，多个测量电极的感应电容值均为0，当显示面板存在膜层剥离时，由于导电液的流动性、导电性和均一性，导电液就会填充在膜层缝隙中，填充在膜层缝隙中的导电液就会与多个测量电极形成平行电容板，从而能够测量得到多个测量电极的感应电容值。

可选地，数据处理装置可以为微处理器等，具体的，数据处理装置根据多个测量电极的感应电容值确定产生膜层剥离的测试电极的位置，根据产生膜层剥离的测试电极的位置确定显示面板发生剥离的位置。

本发明实施例公开了的显示面板膜层剥离位置的测试装置包括用于设置待测试的显示面板的测试槽、设置在显示面板上方阵列排布的多个测量电极、导电液注入装置、电容测量装置和数据处理装置；显示面板的位置与阵列排布的多个测量电极相对应，其中，导电液注入装置，用于向测试槽中注入导电液，导电液的液面低于显示面板的上表面；电容测量装置，用于在向导电液和多个测量电极加电后，测量多个测量电极的感应电容值；数据处理装置，用于根据多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置，本发明实施例通过采用导电液注入装置向测试槽注入导电液，当显示面板存在膜层剥离时，导电液就会填充至剥离缝隙内，并与多个测量电极形成电容板，根据测量得到的多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置，整个测试过程无需人员接触，不仅能够减小对显示面板的损伤，而且能够确保测量精度。

可选地，数据处理装置50还用于根据测量得到的感应电容值确定显示面板发生剥离的膜层。

具体的，数据处理装置50根据测量得到的感应电容值，采用公式确定显示面板发生剥离的膜层。

具体的，C为测量得到的感应电容值；ε0为真空介电常数，S为测量电极的响应面积，d为测量电极与显示面板的上表面之间的距离，ε为显示面板的上表面与显示面板的剥离膜层之间的介电常数，D为显示面板的上表面与显示面板的剥离膜层之间的距离。

其中，D＝D1+D2+D3+…；Di为显示面板各膜层厚度。

其中，ε＝ε1+ε2+ε3+…；εi为显示面板各膜层的介电常数。

数据处理装置根据显示面板中各膜层厚度和各膜层的介电常数，根据上述公式，采用代入法推算出显示面板发生剥离的膜层。

图2为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的结构示意图二，图3为本发明实施例提供的测量电极的平面图，如图2和图3所示，可选地，为了减少布线的数量，本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置还包括：电极板21。

在本实施例中，电极板21，通过导线22与多个测量电极20连接。

具体的，电极板21设置在测试槽10中，且电极板的材料为导电材料，例如金属等，本发明实施例对此不作任何限定，所有导线22的长度完全相同。

本发明实施例通过设置电极板只要对电极板加电，就能实现对多个测量电极供电，减少了布线，简化了装置结构。

可选地，如图2所示，本发明实施例提供的测试装置还包括：电源装置60和设置在测试槽10中的供电电极61。

电源装置60，与电极板21和供电电极61连接，用于通过供电电极向导电液加电，还用于通过电极板向多个测量电极加电。

可选地，供电电极61可以固定设置在测试槽的侧壁上，也可以嵌在测试槽的侧壁上，只要能够与导电液接触，能够为导电液加电即可，本发明实施例并不具体限定供电电极的位置，需要说明的是，如图2是以供电电极设置嵌在测试槽的侧壁上为例进行说明的。

可选地，如图2所示，本发明实施例提供的导电液注入装置30包括：导电液注入管道31和导电液泵32。

具体的，导电液注入管道31通过设置在测试槽10上的注入孔11与测试槽10连通。导电液泵32通过导电液注入管道31向测试槽10注入导电液。

可选地，测试槽10上的注入孔11的数量为多个，注入孔11可以设置在测试槽的底部，也可以设置在测试槽的侧面，还可以设置在测试槽的顶部，本发明实施例并不具体限定注入孔11的数量和位置，注入孔11的数量越多，显示面板膜层剥离位置的测试装置的效率越高。需要说明的是，图2是以注入孔11设置在测试槽10的底部为例进行说明的。

图4为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的结构示意图三，图5为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的仰视图，如图4和图5所示，可选地，为了能够精确测量导电液的高度，本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置还包括：高度测量装置70。

在本实施例中，高度测量装置70设置在测试槽10中，用于测量注入到测试槽10中的导电液的高度。

可选地，高度测量装置包括：高度传感器。

可选地，高度测量装置70的数量为多个，图5是以4个高度测量装置为例进行说明的。

可选地，高度测量装置70可以设置在测量槽中，还可以设置在测量槽的四个角落中，图5是以高度测量装置设置在测量槽的四个角落中为例进行说明的。

可选地，如图4所示，本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置还包括：吸附装置。

在本实施例中，吸附装置，用于将显示面板100固定在测试槽10的底端。

可选地，吸附装置包括：吸附管道81和真空吸附泵82，吸附管道81铜鼓设置在测试槽的底端的吸附孔12与测试槽连通，真空吸附泵82通过吸附管道81将显示面板100固定在测试槽10的底端。

可选地，测试槽10上的吸附孔12的数量为多个，吸附孔12设置在测试槽的底部，本发明实施例并不具体限定吸附孔12的数量和位置，吸附孔12的数量越多，显示面板100固定的越牢固。

下面进一步说明本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试装置的工作原理。

将显示面板放置在测试槽中，通过吸附装置将显示面板固定在测试槽10的底端，导电液注入装置向测试槽中注入导电液，直至导电液的高度大于或者等于显示面板的高度与阈值距离的差值，且小于显示面板的高度，电源装置分别通过供电电极和电极板向导电液和测量电极加电，电容测量装置测量多个测量电极的感应电容，数据处理装置多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置和显示面板发生剥离的膜层。

实施例二

基于上述实施例的发明构思，本发明实施例还提供一种显示面板膜层剥离位置的测试方法，应用实施例一显示面板膜层剥离位置的测试装置中，图6为本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试方法的流程图，如图6所示，该方法具体包括以下步骤：

步骤110、向测试槽内注入导电液。

可选地，测试槽可以封闭，也可以不封闭，可以为方形，或者还可以为其他形状，本发明实施例对此不作任何限定。

可选地，导电液为能够导电的液体，包括：液态汞。

在本实施例中，导电液的液面低于显示面板的上表面，还需要高于显示面板的膜层，具体的，导电液的高度大于等于显示面板的高度与阈值距离的差值，且小于显示面板的高度。

具体的，将显示面板放置在测试槽中可以发生在步骤110之前，也可以发生在步骤110之后，本发明实施例对此并不做任何限定。

需要说明的是，为了避免影响测量到的感应电容值的准确性，设置在测试槽中的显示面板需要将显示面板上的裸露的电路元件用绝缘涂胶覆盖。

步骤120、向导电液和多个测量电极加电。

可选地，测量电极的材料为导电材料包括金属，测量电极的形状可以为圆形，也可以方形，三角形或者其他形状，本发明实施例并不对测量电极的形状进行限定。

可选地，当测量电极为圆片时，圆片的直径为1mm。

可选地，测量电极的数量为多个，测试电极的数量与显示面板的尺寸相关，本发明实施例并不具体限定测试电极的数量。

步骤130、测量多个测量电极的感应电容值。

步骤140、根据多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置。

具体的，步骤140具体包括：根据所述多个测量电极的感应电容值确定产生感应电容的测量电极的位置；根据产生感应电容的测量电极的位置确定显示面板发生剥离的位置。

本发明实施例公开的显示面板膜层剥离位置的测试方法，应用显示面板膜层剥离位置的测试装置中，包括：向测试槽内注入导电液，所述导电液的液面低于显示面板的上表面；向所述导电液和多个测量电极加电；测量所述多个测量电极的感应电容值；根据所述多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置。本发明实施例通过向测试槽注入导电液，当显示面板存在膜层剥离时，导电液就会填充至剥离缝隙内，并与多个测量电极形成电容板，根据测量得到的多个测量电极的感应电容值确定显示面板发生剥离的位置，整个测试过程无需人员接触，不仅能够减小对显示面板的损伤，而且能够确保测量精度。

可选地，本发明实施例提供的显示面板膜层剥离位置的测试方法还包括：根据测量得到的感应电容值，确定显示面板发生剥离的膜层。

可选地，根据测量得到的感应电容值，确定显示面板发生剥离的膜层包括：

根据测量得到的感应电容值，采用公式确定显示面板发生剥离的膜层；

其中，C为测量得到的感应电容值；ε0为真空介电常数，S为所述测量电极的响应面积，d为所述测量电极与所述显示面板的上表面之间的距离，ε为所述显示面板的上表面与所述显示面板的剥离膜层之间的介电常数，D为所述显示面板的上表面与所述显示面板的剥离膜层之间的距离。

其中，D＝D1+D2+D3+…；Di为显示面板各膜层厚度。

其中，ε＝ε1+ε2+ε3+…；εi为显示面板各膜层的介电常数。

数据处理装置根据显示面板中各膜层厚度和各膜层的介电常数，根据上述公式，采用代入法推算出显示面板发生剥离的膜层。

有以下几点需要说明：

本发明实施例附图只涉及本发明实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。

为了清晰起见，在用于描述本发明的实施例的附图中，层或微结构的厚度和尺寸被放大。可以理解，当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时，该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”，或者可以存在中间元件。

在不冲突的情况下，本发明的实施例即实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。

虽然本发明实施例所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明实施例而采用的实施方式，并非用以限定本发明实施例。任何本发明实施例所属领域内的技术人员，在不脱离本发明实施例所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明实施例的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。