28]本实施例中步骤2中的冷热冲击测试中包括高温测试步骤和低温测试步骤。高温测试步骤的测试温度条件为65°C，测试时间为30分钟；低温测试步骤的测试温度条件为-25° C，测试时间为30分钟。一次高温测试步骤和一次低温测试步骤组成一次循环，冷热冲击测试总共执行100次高温测试步骤和低温测试步骤组成的循环。通过对LCD进行温度应力测试，可以加速LCD缺陷的暴露。
[0029]该步骤中的冷热冲击测试测试是在冷热冲击机台中进行的，将待测试的LCD放置于冷热冲击机台里面，在冷热冲击机台上设置测试温度条件、测试时间和循环次数等参数。
[0030]在实际应用中，高温测试温度条件、低温测试温度条件以及测试时间可以根据待测试IXD的设定使用环境条件进行调整，例如高温测试步骤的测试温度条件可以在60° C至70° C进行调整，低温测试步骤的测试温度条件可以在-30° C至-20° C之间调整，而高温测试步骤和低温测试步骤的测试时间可以在30分钟至60分钟之间调整。但测试时应当注意，测试温度不宜超过LCD中各个元器件的耐温级别。
[0031]此外，需要注意的是，应尽量以低温测试步骤开始冷热冲击测试，以高温测试步骤结束冷热冲击测试。如果相反，以高温测试步骤开始冷热冲击测试，以低温测试步骤结束冷热冲击测试的话，在低温测试步骤完成取出LCD时，LCD易出现结露现象。
[0032]步骤3，将步骤2冷热冲击测试结束后的LCD取出冷热冲击机台，放置在常温下静置最少2个小时，然后进行电性和外观质量检查，检查LCD是否出现FPC与连接件连接异常，并记录下来。通过该步骤可以了解经过冷热冲击测试后待测试的LCD的符合性，即确认LCD是否满足该环境下耐高低温冲击性能要求。
[0033]经过步骤2冷热冲击测试后的LCD的导光板可能会变形，变形的导光板会顶到FPC的连接件，导致FPC与连接件出现接触不良或者剥离等异常，这些都可以在电性和外观质量检查中被发现。若经步骤3后未发现异常LCD产品则继续进行测试。
[0034]步骤4，对经步骤3后未检查出FPC与连接件连接异常的IXD，接通电源及讯号后放入恒温恒湿箱中并设置测试条件:测试温度为70°C，、测试湿度为80%RH，测试时间为240小时，开启恒温恒湿箱进行高温高湿测试。通过这种加速老化的方式模拟高温高湿的恶劣环境下LCD中PCB以及玻璃基板之间的接触性能，暴露存在的设计缺陷的LCD产品出现画面异常。
[0035]根据待测试IXD的设定使用环境条件，可以对高温高湿测试的测试条件进行适当的调整。
[0036]步骤5，将步骤4高温高湿测试结束后的IXD取出恒温恒湿箱，放置在常温下静置最少2个小时，然后进行电性和外观质量检查，检查IXD是否出现FPC与连接件连接异常，并记录下来。
[0037]通过以上步骤可以知道所测试的IXD是否存在PCB连接缺陷，引起IXD长期使用后出现PCB接触不良或者脱落等异常，导致LCD产品性能降低甚至无法正常工作。
[0038]经过上述步骤获取了其生产的IXD存在的缺陷后，该生产厂还进行了以下步骤以改进其IXD产品:
步骤6，在分析步骤3和步骤5所得到的FPC与连接件连接异常的信息后，对IXD产品进行设计更改，纠正设计中存在的缺陷。
[0039]步骤7，将根据步骤6调整设计后重新生产制造的IXD重新进行前述步骤I至5的测试。
[0040]如果经过步骤I至5未发现IXD连接件存在接触不良和剥离等异常，则该款IXD产品符合产品长期使用的要求，可靠。
[0041]从而对潜在画面异常缺陷的产品要求设计部门进行整改，确保存在画面异常缺陷的LCD产品在设计阶段就得到解决。
[0042]采用本发明发现IXD画面异常缺陷的测试方法，可以有效地检测出IXD的连接件在经过期使用后可能产生接触不良或者脱落异常，产生LCD性能降低或者产品无法正常工作等问题产品，为市场提供优质LCD提供依据，使产品能在经过长期使用后，LCD仍具有较高的品质水准，满足客户长期使用的需求，同时也有益于提高产品的可靠度，制造出可靠的可供客户长期使用的产品，提高品牌的知名度，使产品具有更高的市场竞争力。
[0043]以上仅为本发明的较佳可行实施例，并非限制本发明的保护范围，凡运用本发明说明书及附图内容所作出的等效结构变化，均包含在本发明的保护范围内。
【主权项】
1.一种IXD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，包括以下步骤: 步骤1，将待测试的LCD接通电源及讯号并进行常规的画面品质检测； 步骤2，对经步骤I检测后的待测试的LCD进行冷热冲击测试； 步骤3，调整经步骤2冷热冲击测试后的LCD温度至常温，然后进行电性和外观质量检查，检查LCD是否出现FPC与连接件连接异常，并记录； 步骤4，对经步骤3后未检查出FPC与连接件连接异常的IXD，接通电源及讯号后对其进行高温高湿测试； 步骤5，调整经步骤4高温高湿测试后的IXD至常温，然后进行电性和外观质量检查，检查LCD是否出现FPC与连接件连接异常，并记录下来。
2.如权利要求1所述的IXD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，还包括:步骤6，根据步骤3和步骤5检查得到的FPC与连接件连接异常，调整LCD的设计； 步骤7，将根据步骤6调整设计后制造的LCD重新进行步骤I至步骤5的测试。
3.如权利要求1所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤I中的进行常规的画面品质检测的环境照度为:200±10 Lux0
4.如权利要求1所述的IXD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤2包括执行以下两个步骤的循环:高温测试步骤和低温测试步骤。
5.如权利要求4所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述高温测试步骤的测试温度条件为60° C至70° C，测试时间为30分钟至60分钟；所述低温测试步骤的测试温度条件为-30°C至-20°C，测试时间为30分钟至60分钟。
6.如权利要求4所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤5中执行100次所述高温测试步骤和所述低温测试步骤的循环。
7.如权利要求4所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤2由所述高温测试步骤开始，由所述低温测试步骤结束。
8.如权利要求4所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤2的冷热冲击测试在冷热冲击机台中进行。
9.如权利要求1所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤3和所述步骤5中通过将IXD防止在常温下静置最少2小时，以将IXD温度调整至常温。
10.如权利要求1所述的LCD画面异常缺陷的测试方法，其特征在于，所述步骤4中高温高湿测试在恒温恒湿箱中进行，测试温度为70° C、测试湿度为80%RH，测试时间为240小时。
【专利摘要】一种LCD画面异常缺陷的测试方法，对待测试的LCD进行冷热冲击测试和高温高湿测试并检查LCD是否出现FPC与连接件连接异常，以暴露LCD潜在的画面异常缺陷，便于通过设计整改，最终根除存在画面异常隐患的LCD连接设计缺陷，降低存在LCD画面异常隐患的产品流入市场，提高产品可靠性。
【IPC分类】G02F1-13
【公开号】CN104678600
【申请号】CN201310611313
【发明人】周明杰, 王永清
【申请人】海洋王（东莞）照明科技有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司, 深圳市海洋王照明工程有限公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2013年11月26日