冷阴极管异常测试方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种冷阴极管异常测试方法。
【背景技术】
[0002]液晶显示器(Liquid Crystal Display, LCD)以其机身薄,功耗低,福射少和画面效果柔和等优点备受人们青睐。作为液晶显示器的重要组成部分，背光源是IXD性能优劣的重要指标，冷阴极荧光灯管作为LCD背景光源，其具有结构简单、亮度高、易加工成形以及使用寿命长等特点。然而，由于冷阴极管本身为易脆物品，在冷阴极管装配至LCD后，如果LCD的结构设计不当，冷阴极管在生产和搬运过程中很容易因为外力作用而受到挤压，从而导致冷阴极管灯管破裂或者灯管两端电极松脱异常，使得LCD不能正常工作。因此，在生产过程中，对冷阴极管进行性能测试是非常必要的。
[0003]目前大多采用单纯的包装跌落来测试冷阴极管的受挤压度，然而，当冷阴极管在包装跌落测试中只受到轻微破损，而破损并不会影响冷阴极管正常工作的情况下，则现有的测试方法往往无法检测出来已存在的破损，使得产品出厂后存在较大的隐患。
【发明内容】
[0004]本发明实施例提供一种冷阴极管异常测试方法，可用于快速检测出LCD样品内冷阴极管的受挤压情况，从而发现LCD样品在设计中存在的缺陷。
[0005]为了解决上述技术问题，本发明公开了一种冷阴极管异常测试方法，用于检测安装于LCD样品中的冷阴极管所述方法包括:
[0006]第一次品质检查，对LCD样品进行电性检测并对安装于其内的冷阴极管进行外观检查以确定所述冷阴极管在测试前的状态；
[0007]对LCD样品进行包装跌落测试及画面检测，将装有LCD样品的包装箱放置于预定高度的平台后让其跌落并通过画面检测观察跌落后的LCD样品以确定所述冷阴极管的状态；
[0008]温度冲击测试，其中，将LCD样品置于冷热冲击机内用两个预定的温度交替冲击该LCD样品；及
[0009]常温下静置预定时间后进行第二次品质检查，其中，将IXD样品在常温下静置预定时间至所述LCD样品回复常态机理后，再次对LCD样品进行电性检测并对安装于其内的冷阴极管进行外观检查以确定所述冷阴极管在经过温度冲击测试后的状态。
[0010]其中，所述第一次品质检查或所述第二次品质检查，包括:
[0011]将IXD样品逐一放在照度为200勒克司(Iux)的环境下，以电性检查IXD样品的工作状态 '及
[0012]分别拆开各个IXD样品，检查冷阴极管的外观状况。
[0013]其中，在所述第一次品质检查的步骤之后，还包括:
[0014]判断冷阴极管是否出现异常；
[0015]若是，则停止测试并对IXD样品进行改进；及
[0016]若否，则执行所述对IXD样品进行包装跌落测试及画面检测。
[0017]其中，所述对IXD样品进行包装跌落测试及画面检测，包括:
[0018]将装有LCD样品的包装箱放置跌落测试平台，根据包装箱重量选择相应的跌落高度；
[0019]选择IXD包装箱最薄弱一角，依照一角三棱六面顺序依次进行包装跌落测试；及
[0020]每完成一次包装跌落测试通过画面检测来检查包装箱内的IXD样品后再更换不同的跌落部位进行下一次跌落测试。
[0021]其中，在所述对IXD样品进行包装跌落测试及画面检测的步骤之后，还包括:
[0022]判断冷阴极管是否出现异常；
[0023]若是，则执行所述停止测试并对LCD样品进行改进；及
[0024]若否，则执行所述温度冲击测试。
[0025]其中，所述温度冲击测试通过所述冷热冲击机完成，所述冷热冲击机根据需要设置预定的机内温度和预定的时间。
[0026]其中，所述温度冲击测试，包括:
[0027]调节冷热冲击机的温度，使样品在一预定的温度下持续冲击预定的时间；
[0028]升高冷热冲击机的温度，使样品在另一预定的温度下持续冲击预定的时间；
[0029]及
[0030]交替冲击若干循环。
[0031]其中，在所述常温下静置预定时间后进行第二次品质检查的步骤之后，还包括:
[0032]判断冷阴极管是否出现异常；
[0033]若是，则执行所述停止测试并对LCD样品进行改进；及
[0034]若否，则结束测试。
[0035]其中，在所述停止测试并对IXD样品进行改进的步骤之后，还包括:
[0036]返回步骤:第一次品质检查。
[0037]本发明实施例提供的冷阴极管异常测试方法中，将包装跌落测试与温度冲击测试相结合，以检测LCD样品内冷阴极管的受挤压情况。冷阴极管在包装跌落测试中可能会受到轻微碰伤或裂痕，而这些碰伤和裂痕在画面检测中往往无法被检测出，利用冷热温度交替冲击，使得这些轻微碰伤和裂痕进一步显现，最终使得损坏的冷阴极管在第二次品质检查中显现出来，找出LCD产品在结构和设计中存在的缺陷，通过对产品进行及时的改进，从而提闻了广品的可罪性。
【附图说明】
[0038]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图；
[0039]图1是本发明的冷阴极管异常测试方法的第一实施例的流程示意图。
[0040]图2是本发明的冷阴极管异常测试方法的第二实施例的流程示意图。
【具体实施方式】
[0041]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0042]请参考图1，图1是本发明的冷阴极管异常测试方法的第一实施例的流程示意图，该方法至少包括如下步骤。
[0043]SlOl:第一次品质检查。
[0044]对IXD (Liquid Crystal Display,液晶显示器)样品进行品质检查,确认IXD样品内冷阴极管在测试前的状态，保证后续测试结果的有效性和可靠性。所述第一次品质检查具体可为:确认所述LCD样品能否正常启动，LCD样品内冷阴极管的灯管是否出现破裂及冷阴极管两端的电极是否出现脱落等检测。在本实施例中，所述第一次品质检查至少可包括如下步骤:
[0045]将IXD样品逐一放在照度为200勒克司(Iux)的环境下，以电性检查IXD样品的启动状态；及
[0046]分别拆开各个IXD样品，检查冷阴极管的外观状况。
[0047]S102:对IXD样品进行包装跌落测试及画面检测。
[0048]具体为，将若干IXD样品放入包装箱并将所述包装箱放在测试平台上，根据包装箱的重量选择合适的测试平台的高度，该平台高度即为包装箱的跌落高度。让所述测试平台上的包装箱的不同部位依次摔落在缓冲作用较小的平面，如水泥地面上。通过让包装箱撞击所述平面来检查LCD样品是否对冷阴极管存在挤压。若存在挤压，则可能导致冷阴极管出现异常，如灯管破裂或电极脱落等。对每次跌落后的LCD样品进行画面检测，即，利用画面检测来观察所述LCD样品的背光模组中是否出现异物，其中，所述异物为冷阴极管的灯管碎片或冷阴极管脱落的电极。所述将LCD样品进行包装跌落测试及画面检测至少可包括如下步骤: