制备方法所制备得到的彩色滤光板，参见图5，该实施例包括:
[0040]501、PS工序完成时，测量第一亚像素开口区域和对位标识，所述第一亚像素开口区域的尺寸小于基板上的第二亚像素开口区域，亚像素开口区域用于放置亚像素显示单
J L.ο
[0041]502、计算所述第一亚像素开口区域和对位标识之间的位置差异；
[0042]503、根据所述位置差异，计算柱状隔垫物的位置精度。
[0043]具体地，根据所述位置差异和预设设计位置差，计算所述柱状隔垫物的位置精度。
[0044]在上述过程中，通过测量第一亚像素开口区域(BM工序制作)及对位标识，并计算两个标识之间的位置差异，根据经过多个工序后的位置差异以及理想的设计位置差之间的数值关系或比例关系，表征柱状隔垫物PS位置精度(相对于BM层)，从而实现对层间位置精度的精确管控，防止相关不良发生并提尚超大尺寸广品画面显不品质。
[0045]上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本发明的可选实施例，在此不再--赘述。
[0046]可选地，所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
[0047]可选地，所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
[0048]可选地，PS对位标识的形状为方形、圆形或其他形状。
[0049]可选地，计算第一亚像素开口区域和对位标识之间的位置差异包括:
[0050]根据测量得到的所述第一亚像素开口区域的顶点位置，确定所述第一亚像素开口区域的中心位置；
[0051]根据测量得到的所述对位标识的顶点位置，确定所述对位标识的中心位置；
[0052]计算所述第一亚像素开口区域的中心位置和所述对位标识的中心位置之间的位置差异。
[0053]本发明实施例提供了一种彩色滤光片，该彩色滤光片包括:基板、黑矩阵、彩色膜层、平坦层和柱状隔垫物膜层，
[0054]其中，所述基板的第一亚像素开口区域的尺寸小于第二亚像素开口区域的尺寸；
[0055]所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸；
[0056]在所述平坦层上所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置上，制备有对位标识。
[0057]可选地，所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
[0058]可选地，所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
[0059]可选地，所述对位标识的形状为方形、圆形或其他形状。
[0060]上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本发明的可选实施例，在此不再
--赘述。
[0061]本发明实施例还提供了一种液晶面板，所述液晶面板包括上述彩色滤光片。
[0062]上述所有可选技术方案，可以采用任意结合形成本发明的可选实施例，在此不再
--赘述。
[0063]本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
[0064]以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种柱状隔垫物的对位标识的制备方法，其特征在于，所述方法包括: 制备彩色滤光片的过程中，在制作黑矩阵层时，在基板上制备至少一个第一亚像素开口区域和多个第二亚像素开口区域，其中，所述第一亚像素开口区域的尺寸小于所述第二亚像素开口区域； 在制作彩色膜层RGB层时，将所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸制作成小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸； 在所述RGB层上制备平坦层； 在所述平坦层上制作柱状隔垫物层时，在所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置，制作对位标识。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对位标识的形状为方形、圆形或其他形状。
5.一种精度检测方法，其特征在于，包括: PS工序完成时，测量第一亚像素开口区域和对位标识，所述第一亚像素开口区域的尺寸小于基板上的第二亚像素开口区域，亚像素开口区域用于放置亚像素显示单元； 计算所述第一亚像素开口区域和对位标识之间的位置差异； 根据所述位置差异，计算柱状隔垫物的位置精度。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，PS对位标识的形状为方形、圆形或其他形状。
9.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，计算第一亚像素开口区域和对位标识之间的位置差异包括: 根据测量得到的所述第一亚像素开口区域的顶点位置，确定所述第一亚像素开口区域的中心位置； 根据测量得到的所述对位标识的顶点位置，确定所述对位标识的中心位置； 计算所述第一亚像素开口区域的中心位置和所述对位标识的中心位置之间的位置差升。
10.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，根据所述位置差异，计算柱状隔垫物的位置精度包括: 根据所述位置差异和预设设计位置差，计算所述柱状隔垫物的位置精度。
11.一种彩色滤光片，其特征在于，包括:基板、黑矩阵、彩色膜层、平坦层和柱状隔垫物膜层， 其中，所述基板的第一亚像素开口区域的尺寸小于第二亚像素开口区域的尺寸； 所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸； 在所述平坦层上所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置上，制备有对位标识。
12.根据权利要求11所述的彩色滤光片，其特征在于，所述第一亚像素开口区域上的彩色膜层为R、G或B膜层中任一种。
13.根据权利要求11所述的彩色滤光片，其特征在于，所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置为所述至少一个第一亚像素开口区域的上方预设距离处或下方预设距离处。
14.根据权利要求11所述的彩色滤光片，其特征在于， 所述对位标识的形状为方形、圆形或其他形状。
15.—种液晶面板，其特征在于，所述液晶面板包括上述权利要求11-14中任一项所述的彩色滤光片。
【专利摘要】本发明公开了一种柱状隔垫物的对位标识的制备方法和精度检测方法，属于液晶技术领域。所述方法包括：制备彩色滤光片的过程中，在制作黑矩阵层时，在基板上制备至少一个第一亚像素开口区域和多个第二亚像素开口区域，其中，所述第一亚像素开口区域的尺寸小于所述第二亚像素开口区域；在制作彩色膜层RGB层时，将所述至少一个第一亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸制作成小于所述多个第二亚像素开口区域上彩色膜层的尺寸；在所述RGB层上制备平坦层；在所述平坦层上制作柱状隔垫物层时，在所述至少一个第一亚像素开口区域周围的指定位置，制作对位标识。本发明可以实现对柱状隔垫物位置精度的检测，从而实现对层间位置精度的精确管控。
【IPC分类】G02F1-1335, G02F1-1333, G02F1-1339, G02F1-13
【公开号】CN104849901
【申请号】CN201510303502
【发明人】黎敏, 姜晶晶, 肖宇, 李晓光, 杨同华
【申请人】京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司
【公开日】2015年8月19日
【申请日】2015年6月5日