一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本实用新型属于材料检测技术领域，具体涉及一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置。
【背景技术】
[0002]随着钢铁工业的迅速发展，企业对产品质量提出了更高的要求，其中氧氮的含量是影响产品质量的主要原因，钢中氧氮含量过高会降低产品的机械性能，因此在钢铁产品的质量研究开发和生产过程中氧氮的分析就显得特别重要。氧氮分析所需气体样的制备方法大体有两种，一种为用线切割切制样品，该方法切出的样品表面易被氧化；另一种方法为用车床切出样品，该方法易浪费原材料，所以通常采用线切割的方法切制样品，在检测分析之前需要去除样品表面的氧化膜。通常采用的方法为人工磨制，这种方法劳动强度高，效率低，不能够把样品表面氧化膜处理的均匀干净，影响检测精度。中国专利CN103481169A公布的圆棒料表面处理机，尽管其在一定程度上能够处理圆棒料的表面，但其装置设备较大，不易移动携带，构造复杂不易操作，并且不能够处理直径较小的圆棒；中国专利CN202403961U公布的一种用于具有弧形表面的试样的磨样装置，虽然简单易操作，但其未考虑试样夹持不便，并且在磨制过程中容易使弧形表面被磨成平面。
【发明内容】
[0003]为解决现有存在的问题，本实用新型提出一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，可提高工作效率，确保检测精度。
[0004]为实现以上目的，本实用新型采用以下技术方案:一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，包括手柄和夹持端两部分成，所述手柄形状为圆柱形，手柄一端具有螺纹，靠近螺纹端的手柄上设置一凹槽，凹槽内有一硬质合金质点；所述夹持端包括两部分，一部分为固定端，另一部分为移动端，固定端与移动端内均包括限位棒、弹簧、固定锥，移动端内还包括棘轮、棘轮中心轴、移动齿，通过转动棘轮可以移动移动端，调节夹持间距。
[0005]所述手柄上有一凹槽且凹槽内有一硬质合金质点，凹槽直径为4 mm,凹槽深度为，硬质合金点高度为3 mm。
[0006]所述固定端、移动端内均由弹簧连接固定锥，弹簧内套有一限位棒，其中限位棒长度小于弹簧长度。
[0007]所述固定锥底面直径为3~6mm,锥顶到底面圆心距离为4~7mm,固定端与移动端两部分的内侧开口直径为2~5 mm。
[0008]本实用新型有益效果:装置简便、易操作，减轻劳动强度，能够高效去除气体样样品表面的氧化膜，确保检测精确。
【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的结构意图
[0010]其中1-夹持端，2-弹簧，3-限位棒，4-移动端，5-待磨试样，6-固定锥，7_移动端，8移动齿，9-棘轮中心轴，10-棘轮，11-螺纹，12-凹槽，13-硬质合金，14-手柄。
【具体实施方式】
[0011]下面结合附图与具体实施例对本实用新型做进一步详细说明，如图1所示，一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，包括手柄14和夹持端2两部分构成。手柄和夹持端采用螺纹11连接。将待磨试样5的两端分别插入到手柄上凹槽12内，并用力挤压，在试样断面上挤压出一圆形凹坑。滚动夹持端上棘轮10，使移动端在棘轮中心轴9上滑行，调整夹持间距略小于试样距离。按压固定夹持端上的固定锥6，扩大夹持间距，将待磨试样安装在装置上。试样在砂纸上滚动，可均匀高效去除试样表面的氧化膜。
【主权项】
1.一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，其特征在于:包括手柄和夹持端两部分，所述手柄形状为圆柱形，手柄一端具有螺纹，靠近螺纹端的手柄上设置一凹槽，凹槽内有一硬质合金点；所述夹持端包括两部分，一部分为固定端，另一部分为移动端，固定端与移动端内均包括限位棒、弹簧、固定锥，移动端内还包括棘轮、棘轮中心轴、移动齿，通过转动棘轮可以移动移动端，调节夹持间距。2.根据权利要求1所述的一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，其特征在于:所述手柄上有一凹槽且凹槽内有一硬质合金质点，凹槽直径为4mm，凹槽深度为，硬质合金点高度为3mm。3.根据权利要求1所述的一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，其特征在于:所述固定端、移动端内均由弹簧连接固定锥，弹簧内套有一限位棒，其中限位棒长度小于弹簧长度。4.根据权利要求1所述的一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，其特征在于:所述固定锥底面直径为3~6mm，锥顶到底面圆心距离为4~7mm，固定端与移动端两部分的内侧开口直径为2~5mm0
【专利摘要】一种去除金属气体样样品表面氧化膜的装置，属于材料检测技术领域。包括手柄和夹持端两部分组成，所述手柄形状为圆柱形，手柄一端具有螺纹，靠近螺纹端设置一凹槽，凹槽内有一硬质合金质点；所述夹持端包括两部分，一部分为固定端，另一部分为移动端，固定端与移动端内均包括限位棒、弹簧、固定锥，移动端内还包括棘轮、棘轮中心轴、移动齿，通过转动棘轮可以移动移动端，调节夹持间距。本实用新型：装置简便、易操作，劳动强度低，并且可以高效去除气体样样品表面的氧化膜，确保检测精确。
【IPC分类】B24B27/033, B24B23/00, G01N1/28
【公开号】CN204868472
【申请号】CN201520543311
【发明人】战东平, 周永欣, 牛奔, 邱国兴, 王伟名, 郑瑶, 张洋鹏, 张慧书, 姜周华, 蔡南
【申请人】东北大学
【公开日】2015年12月16日
【申请日】2015年7月25日