一种基于对射遮挡原理的纠偏装置的制作方法

文档序号:32951286发布日期:2023-01-14 13:41阅读:105来源:国知局
一种基于对射遮挡原理的纠偏装置的制作方法

1.本发明涉及工业技术领域,特别涉及一种基于对射遮挡原理的纠偏装置。


背景技术:

2.在一些工业制造系统,纠偏是其中的关键技术环节之一,需要通过纠偏技术的应用保持产品在生产过程中保持平整一致。特别是在卷材类产品的制造系统中,卷材边缘的平整性是体现产品生产质量的核心要素,生产过程中卷材位置的细微偏差都会被累积放大,从而导致产品不合格的问题。现有技术中有多种类型的纠偏技术,较为常用的有采用视觉传感器、超声波传感器或者红外传感器等的纠偏技术,其中采用视觉传感器如ccd传感器等或者超声波传感器的纠偏技术虽然在实现效果上有较大的优势,但其价格较为昂贵。采用红外传感器的纠偏技术不仅价格较低,且电路设计及程序设计方案更为简单,因此目前采用红外传感器的纠偏技术仍然是人们的首选。当前比较常见的红外纠偏方案是使用红外二极管和光敏二极管分别作为红外信号发射器和红外信号接收器组成对射光路的方式来实现遮挡纠偏,检测精度的提高依赖于二极管的安装密度的提高,但由于红外二极管自身的体积难以压缩,同时对于非贴边式的检测装置,过度密集的二极管容易对相邻位置的光敏二极管造成干扰从而导致检测精度降低。


技术实现要素:

3.本发明正是基于上述问题,提出了一种基于对射遮挡原理的纠偏装置,能够低成本实现高精度纠偏。
4.有鉴于此,本发明提出了一种基于对射遮挡原理的纠偏装置,包括设置于绕圈设备进料口两侧的第一红外检测单元和第二红外检测单元、设置于所述第一红外检测单元和/或所述第二红外检测单元一侧的纠偏单元以及控制单元,所述第一红外检测单元和所述所述第二红外检测单元分别包括用于发射红外光的第一红外二极管和第一红外二极管、用于检测所述红外光的第一光电二极管和第二光电二极管,所述第一红外二极管的中心点与所述第一光电二极管的中心点的第一连线、所述第二红外二极管的中心点与所述第二光电二极管的中心点的第二连线垂直于所述绕圈设备的进料方向,所述第一连线与所述第二连线分别与进入进料口的卷材两侧边缘对齐,所述控制单元根据所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的辐射功率控制所述纠偏单元对所述卷材的位置进行微调。
5.进一步的,在上述的纠偏装置中,所述第一红外检测单元还包括一侧焦点与所述第一红外二极管中心点重合的用于将所述第一红外二极管发射的红外光汇聚为平行光柱的第一光源侧汇聚透镜以及一侧焦点与所述第一光电二极管中心电重合的用于将所述平行光柱汇聚到所述第一光电二极管的第一接收侧汇聚透镜,所述第二红外检测单元还包括一侧焦点与所述第二红外二极管中心点重合的用于将所述第二红外二极管发射的红外光汇聚为平行光柱的第二光源侧汇聚透镜以及一侧焦点与所述第二光电二极管中心电重合的用于将所述平行光柱汇聚到所述第二光电二极管的第二接收侧汇聚透镜。
6.进一步的,在上述的纠偏装置中,所述第一红外检测单元与所述第二红外检测单元的中心点连线的方向垂直于所述卷材的进料方向且所述第一红外检测单元与所述第二红外检测单元的中心点连线的长度等于所述卷材的宽度,所述第一光源侧汇聚透镜、所述第一接收侧汇聚透镜、所述第二光源侧汇聚透镜以及所述第二接收侧汇聚透镜的半径与所述卷材在所述第一红外检测单元和所述第二红外检测单元处的最大偏移距离大致相等,所述卷材发生的偏移等于所述最大偏移距离时,所述卷材完全遮挡所述第一光源侧汇聚透镜到所述第一接收侧汇聚透镜的光路或者所述第二光源侧汇聚透镜到所述第二接收侧汇聚透镜的光路。
7.进一步的,在上述的纠偏装置中,所述纠偏单元包括长度大于所述卷材的宽度的转轴以及用于控制所述转轴整体沿所述转轴的轴向方向移动的第一运动控制器,所述转轴的表面为粗糙表面,所述卷材在进入所述进料口前表面与所述转轴的表面充分接触并带动所述转轴转动,所述控制单元用于:
8.控制所述卷材以预设的移动速度进入所述进料口;
9.获取所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的第一辐射功率和第二辐射功率;
10.判断所述第一辐射功率和所述第二辐射功率是否相等;
11.当第一辐射功率和所述第二辐射功率不相等时,计算所述第一辐射功率和所述第二辐射功率的差值;
12.根据所述第一辐射功率和所述第二辐射功率的差值确定所述卷材的偏移方向;
13.根据所述第一辐射功率和所述第二辐射功率的差值计算所述卷材的偏移距离;
14.通过所述第一运动控制器控制所述转轴整体沿所述偏移方向的反方向移动所述偏移距离。
15.进一步的,在上述的纠偏装置中,所述纠偏单元还包用于检测所述转轴转速的转速检测器以及用于控制所述转轴整体沿预设的径向方向移动的第二运动控制器,所述预设的径向方向为经过所述转轴与所述卷材接触区域的中心线的径向方向,所述控制单元还用于:
16.获取进料速度,所述进料速度为所述卷材的移动速度;
17.通过所述转速检测器实时检测所述转轴的转动速度;
18.判断所述转轴的转动速度与所述进料速度是否匹配;
19.当所述转轴的转动速度与所述进料速度不匹配时,通过所述第二运动控制器控制所述转轴整体以预设的步长沿所述预设的方向移动;
20.对所述转轴的径向移动次数进行累加;
21.循环执行检测所述转轴的转动速度以及控制所述转轴整体以预设的步长沿所述预设的方向移动的步骤直至所述转轴的转动速度与所述进料速度相匹配或者所述转轴的径向移动次数超过预设的阈值;
22.当所述转轴的径向移动次数超过预设的阈值时,发出所述转轴需要更换的提醒信息。
23.进一步的,在上述的纠偏装置中,在控制所述卷材以预设的移动速度进入所述进料口的步骤之前,所述控制单元还用于:
24.将所述卷材两侧边缘与所述第一红外检测单元、所述第二红外检测单元的中心点重合的位置确定为标准位置;
25.通过所述第一运动控制器控制所述转轴带动所述卷材往所述第一红外检测单元的方向偏移达到所述最大偏移距离以使所述卷材完全遮挡所述第一光源侧汇聚透镜到所述第一接收侧汇聚透镜的光路并完全露出所述第二光源侧汇聚透镜到所述第二接收侧汇聚透镜的光路;
26.点亮所述第一红外二极管以及所述第二红外二极管;
27.通过所述第一运动控制器控制所述转轴带动所述卷材往所述第二红外检测单元的方向缓慢偏移;
28.实时获取所述卷材相对于所述标准位置的偏移距离以及所述第一光电二极管、所述第二光电二极管检测到的第一辐射功率和第二辐射功率;
29.当所述卷材往所述第二红外检测单元的方向偏移达到所述最大偏移距离以使所述卷材完全遮挡所述第二光源侧汇聚透镜到所述第二接收侧汇聚透镜的光路并完全露出所述第一光源侧汇聚透镜到所述第一接收侧汇聚透镜的光路时,通过所述第一运动控制器控制所述转轴停止移动;
30.拟合所述第一辐射功率与所述相对距离的第一映射函数p1
t
=f1(d
t
)、所述第二辐射功率与所述相对距离的第二映射函数p2
t
=f2(d
t
)。
31.进一步的,在上述的纠偏装置中,在实时获取所述卷材相对于所述标准位置的偏移距离的步骤中,所述控制单元还用于:
32.获取所述最大偏移距离d
max

33.获取所述转轴的移动速度v以及移动时间t;
34.计算所述卷材相对于所述标准位置的偏移距离d
t
=d
max-v
·
t。
35.进一步的,在上述的纠偏装置中,在拟合所述第一辐射功率与所述相对距离的第一映射函数p1
t
=f1(d
t
)、所述第二辐射功率与所述相对距离的第二映射函数p2
t
=f2(d
t
)的步骤之后,所述控制单元还用于:
36.获取偏移距离d
t
=0时的时间点tm;
37.获取tm时刻的第一辐射功率和第二辐射功率
38.计算得到tm时刻的辐射功率差值
39.获取任意时刻t的第一辐射功率p1
t
和第二辐射功率p2
t

40.根据所述tm时刻的辐射功率差值以及任意时刻t的第一辐射功率p1
t
和第二辐射功率p2
t
计算任意时刻t的第一校准参数δp1
t
和第二校准参数δp2
t

41.建立所述相对距离与所述第一辐射功率p1
t
、所述第二辐射功率p2
t
、所述第一校准参数δp1
t
和所述第二校准参数δp2
t
的对应关系。
42.进一步的,在上述的纠偏装置中,在根据所述tm时刻的辐射功率差值以及任意时刻t的第一辐射功率p1
t
和第二辐射功率p2
t
计算任意时刻t的第一校准参数δp1
t
和第二校准参数δp2
t
的步骤中,所述控制单元还用于:
43.获取所述第一辐射功率、所述第二辐射功率的最大值和最小值p1
max
、p1
min
、p2
max
和p2
min

44.计算所述第一校准参数
45.计算所述第二校准参数
46.进一步的,在上述的纠偏装置中,在判断所述第一辐射功率和所述第二辐射功率是否相等的步骤之前,所述控制单元还用于:
47.获取所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的第一辐射功率p1和第二辐射功率p2;
48.获取所述第一辐射功率的第一校准参数δp1和所述第二辐射功率的第二校准参数δp2;
49.利用所述第一校准参数δp1和所述第二校准参数δp2校准所述第一辐射功率和所述第二辐射功率。
50.本发明提出了一种基于对射遮挡原理的纠偏装置,包括设置于绕圈设备进料口两侧的第一红外检测单元和第二红外检测单元、设置于所述第一红外检测单元和/或所述第二红外检测单元一侧的纠偏单元以及控制单元,所述第一红外检测单元和所述所述第二红外检测单元分别包括用于发射红外光的第一红外二极管和第一红外二极管、用于检测所述红外光的第一光电二极管和第二光电二极管,所述第一红外二极管的中心点与所述第一光电二极管的中心点的第一连线、所述第二红外二极管的中心点与所述第二光电二极管的中心点的第二连线垂直于所述绕圈设备的进料方向,所述第一连线与所述第二连线分别与进入进料口的卷材两侧边缘对齐,所述控制单元根据所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的辐射功率控制所述纠偏单元对所述卷材的位置进行微调,能够低成本实现高精度纠偏。
附图说明
51.图1是本发明一个实施例提供的第一红外检测单元和第二红外检测单元的结构图;
52.图2(a)是本发明一个实施例提供的纠偏装置的在垂直于卷材表面方向上的示意图;
53.图2(b)是本发明一个实施例提供的纠偏装置的在平行于卷材表面方向上的示意图.
具体实施方式
54.为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点,下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是,在不冲突的情况下,本技术的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
55.在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明,但是,本发明还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施,因此,本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。
56.在本发明的描述中,术语“多个”则指两个或两个以上,除非另有明确的限定,术语“上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。术语“连接”、“安装”、“固定”等均应做广义理解,例如,“连接”可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
57.在本说明书的描述中,术语“一个实施例”、“一些实施方式”、“具体实施例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或实例。而且,描述的具体特征、结构、材料或特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
58.下面参照附图来描述根据本发明一些实施方式提供的一种基于对射遮挡原理的纠偏装置。
59.本发明提出了一种基于对射遮挡原理的纠偏装置,包括设置于绕圈设备进料口两侧的第一红外检测单元和第二红外检测单元、设置于所述第一红外检测单元和/或所述第二红外检测单元一侧的纠偏单元以及控制单元,所述第一红外检测单元和所述所述第二红外检测单元分别包括用于发射红外光的第一红外二极管和第一红外二极管、用于检测所述红外光的第一光电二极管和第二光电二极管,所述第一红外二极管的中心点与所述第一光电二极管的中心点的第一连线、所述第二红外二极管的中心点与所述第二光电二极管的中心点的第二连线垂直于所述绕圈设备的进料方向,所述第一连线与所述第二连线分别与进入进料口的卷材两侧边缘对齐,所述控制单元根据所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的辐射功率控制所述纠偏单元对所述卷材的位置进行微调。
60.在上述的纠偏装置中,所述第一红外检测单元还包括一侧焦点与所述第一红外二极管中心点重合的用于将所述第一红外二极管发射的红外光汇聚为平行光柱的第一光源侧汇聚透镜以及一侧焦点与所述第一光电二极管中心电重合的用于将所述平行光柱汇聚到所述第一光电二极管的第一接收侧汇聚透镜,所述第二红外检测单元还包括一侧焦点与所述第二红外二极管中心点重合的用于将所述第二红外二极管发射的红外光汇聚为平行光柱的第二光源侧汇聚透镜以及一侧焦点与所述第二光电二极管中心电重合的用于将所述平行光柱汇聚到所述第二光电二极管的第二接收侧汇聚透镜。
61.图1示出了本发明一些实施方式提出的纠偏装置中的第一红外检测单元和第二红外检测单元的具体结构图,所述第一红外检测单元和所述第二红外检测单元均包括一个红外二极管、一个光电二极管以及两个透镜,其中靠近所述红外二极管的透镜为光源侧汇聚透镜,与所述红外二极管一起组成红外发射器,该红外发射器设置有壳体(图中未示出),使得红外二极管发射的红外光只能通过该光源侧汇聚透镜射出。靠近所述光电二极管的透镜为接收侧汇聚透镜,与所述光电二极管一起组成红外接收器,该红外接收器设置有壳体(图中未示出),从而减少来自于其它方向的红外光对光电二极管的干扰。
62.图2(a)和图2(b)示出了本发明一些实施方式提出的纠偏装置的在垂直于卷材表面方向上以及在平行于卷材表面方向上的示意图,在图2(a)中的箭头方向为所述卷材的进料方向。在上述的纠偏装置中,所述第一红外检测单元与所述第二红外检测单元的中心点连线的方向垂直于所述卷材的进料方向且所述第一红外检测单元与所述第二红外检测单元的中心点连线的长度等于所述卷材的宽度,所述第一光源侧汇聚透镜、所述第一接收侧汇聚透镜、所述第二光源侧汇聚透镜以及所述第二接收侧汇聚透镜的半径与所述卷材在所述第一红外检测单元和所述第二红外检测单元处的最大偏移距离大致相等,所述卷材发生的偏移等于所述最大偏移距离时,所述卷材完全遮挡所述第一光源侧汇聚透镜到所述第一接收侧汇聚透镜的光路或者所述第二光源侧汇聚透镜到所述第二接收侧汇聚透镜的光路。
63.在上述的纠偏装置中,所述纠偏单元包括长度大于所述卷材的宽度的转轴以及用于控制所述转轴整体沿所述转轴的轴向方向移动的第一运动控制器,所述转轴的表面为粗糙表面,所述卷材在进入所述进料口前表面与所述转轴的表面充分接触并带动所述转轴转动,所述控制单元用于:
64.控制所述卷材以预设的移动速度进入所述进料口;
65.获取所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的第一辐射功率和第二辐射功率;
66.判断所述第一辐射功率和所述第二辐射功率是否相等;
67.当第一辐射功率和所述第二辐射功率不相等时,计算所述第一辐射功率和所述第二辐射功率的差值;
68.根据所述第一辐射功率和所述第二辐射功率的差值确定所述卷材的偏移方向;
69.根据所述第一辐射功率和所述第二辐射功率的差值计算所述卷材的偏移距离;
70.通过所述第一运动控制器控制所述转轴整体沿所述偏移方向的反方向移动所述偏移距离。
71.具体的,在上述实施方式的技术方案中,控制所述第一红外二极管与所述第二红外二极管以相同的辐射强度i0发出红外光,在本发明实施方式的技术方案中,所述第一光源侧汇聚透镜以及所述第二光源侧汇聚透镜的半径相等,所述红外二极管的半径远小于所述第一光源侧汇聚透镜以及所述第二光源侧汇聚透镜的半径,从所述第一光源侧汇聚透镜以及所述第二光源侧汇聚透镜发出的光柱的功率为所述第一光源侧汇聚透镜与所述第一接收侧汇聚透镜的距离、所述第二光源侧汇聚透镜与所述第二接收侧汇聚透镜的距离相等且略大于所述卷材的厚度,使得光柱到达所述第一接收侧汇聚透镜、所述第二接收侧汇聚透镜处的衰减小到可以忽略不计,因此所述第一接收侧汇聚透镜、所述第二接收侧汇聚透镜接收到的光柱的功率同样为即在所述第一红外检测单元或所述第二红外检测单元没有被所述卷材遮挡的情况下,所述第一光电二极管或所述第二光电二极管所检测到的第一辐射功率和第二辐射功率应当为p0。在初始状态下,当所述卷材的位置没有发生偏移时,所述第一红外检测单元和所述第二红外检测单元的光柱均被所述卷材遮挡了一半的光通量,此时所述第一光电二极管和所述第二光电二极管所检测到的第一辐射功率和第二辐射功率应当为当所述卷材的位置发生偏移时,所述第一红外检测单元
和所述第二红外检测单元的光通量发生变化,其中一个光通量增加,另一个光通量减少,因此在所述卷材的位置发生偏移时,所述第一辐射功率和所述第二辐射功率必然不会相同,根据所述第一辐射功率和所述第二辐射功率可以计算得到所述卷材的偏移距离,从而控制所述纠偏单元对所述卷材的位置进行纠正。
72.在上述的纠偏装置中,所述纠偏单元还包用于检测所述转轴转速的转速检测器以及用于控制所述转轴整体沿预设的径向方向移动的第二运动控制器,所述预设的径向方向为经过所述转轴与所述卷材接触区域的中心线的径向方向,所述控制单元还用于:
73.获取进料速度,所述进料速度为所述卷材的移动速度;
74.通过所述转速检测器实时检测所述转轴的转动速度;
75.判断所述转轴的转动速度与所述进料速度是否匹配;
76.当所述转轴的转动速度与所述进料速度不匹配时,通过所述第二运动控制器控制所述转轴整体以预设的步长沿所述预设的方向移动;
77.对所述转轴的径向移动次数进行累加;
78.循环执行检测所述转轴的转动速度以及控制所述转轴整体以预设的步长沿所述预设的方向移动的步骤直至所述转轴的转动速度与所述进料速度相匹配或者所述转轴的径向移动次数超过预设的阈值;
79.当所述转轴的径向移动次数超过预设的阈值时,发出所述转轴需要更换的提醒信息。
80.在本发明一些实施方式的技术方案中,所述转轴表面与所述卷材接触的一侧还设置有若干个压电传感器,所述控制单元通过所述压电传感器检测所述卷材对所述转轴表面施加的压力大小,当所述卷材对所述转轴表面施加的压力小于预设的阈值时,通过所述第二运动控制器控制所述转轴整体以预设的步长沿所述预设的方向移动以使所述卷材与所述转轴的表面充分接触。进一步的,所述控制单元还通过所述压电传感器检测所述卷材与所述转轴表面接触位置的宽度,从而判断所述卷材与所述转轴接触的表面是否发生隆起或者折叠等变形的情况,并在检测到所述卷材发生变形时发出提醒信息。
81.在上述的纠偏装置中,在控制所述卷材以预设的移动速度进入所述进料口的步骤之前,所述控制单元还用于:
82.将所述卷材两侧边缘与所述第一红外检测单元、所述第二红外检测单元的中心点重合的位置确定为标准位置;
83.通过所述第一运动控制器控制所述转轴带动所述卷材往所述第一红外检测单元的方向偏移达到所述最大偏移距离以使所述卷材完全遮挡所述第一光源侧汇聚透镜到所述第一接收侧汇聚透镜的光路并完全露出所述第二光源侧汇聚透镜到所述第二接收侧汇聚透镜的光路;
84.点亮所述第一红外二极管以及所述第二红外二极管;
85.通过所述第一运动控制器控制所述转轴带动所述卷材往所述第二红外检测单元的方向缓慢偏移;
86.实时获取所述卷材相对于所述标准位置的偏移距离以及所述第一光电二极管、所述第二光电二极管检测到的第一辐射功率和第二辐射功率;
87.当所述卷材往所述第二红外检测单元的方向偏移达到所述最大偏移距离以使所
述卷材完全遮挡所述第二光源侧汇聚透镜到所述第二接收侧汇聚透镜的光路并完全露出所述第一光源侧汇聚透镜到所述第一接收侧汇聚透镜的光路时,通过所述第一运动控制器控制所述转轴停止移动;
88.拟合所述第一辐射功率与所述相对距离的第一映射函数p1
t
=f1(d
t
)、所述第二辐射功率与所述相对距离的第二映射函数p2
t
=f2(d
t
)。
89.在上述的纠偏装置中,在实时获取所述卷材相对于所述标准位置的偏移距离的步骤中,所述控制单元还用于:
90.获取所述最大偏移距离d
max

91.获取所述转轴的移动速度v以及移动时间t;
92.计算所述卷材相对于所述标准位置的偏移距离d
t
=d
max-v
·
t。
93.对于不同材料类型的卷材对红外光具有不同的透射率,采用上述实施方式的技术方案,在生产工序开始之前,使用所述第一红外检测单元与所述第二红外检测单元针对所述卷材执行初始化,拟合所述卷材不同遮挡情况即不同偏移距离与辐射功率的映射函数,从而可以在不需要人工介入的情况下,自适应不同卷材的偏移距离检测和计算。
94.在上述的纠偏装置中,在拟合所述第一辐射功率与所述相对距离的第一映射函数p1
t
=f1(d
t
)、所述第二辐射功率与所述相对距离的第二映射函数p2
t
=f2(d
t
)的步骤之后,所述控制单元还用于:
95.获取偏移距离d
t
=0时的时间点tm;
96.获取tm时刻的第一辐射功率和第二辐射功率
97.计算得到tm时刻的辐射功率差值
98.获取任意时刻t的第一辐射功率p1
t
和第二辐射功率p2
t

99.根据所述tm时刻的辐射功率差值以及任意时刻t的第一辐射功率p1
t
和第二辐射功率p2
t
计算任意时刻t的第一校准参数δp1
t
和第二校准参数δp2
t

100.建立所述相对距离与所述第一辐射功率p1
t
、所述第二辐射功率p2
t
、所述第一校准参数δp1
t
和所述第二校准参数δp2
t
的对应关系。
101.在上述的纠偏装置中,在根据所述tm时刻的辐射功率差值以及任意时刻t的第一辐射功率p1
t
和第二辐射功率p2
t
计算任意时刻t的第一校准参数δp1
t
和第二校准参数δp2
t
的步骤中,所述控制单元还用于:
102.获取所述第一辐射功率、所述第二辐射功率的最大值和最小值p1
max
、p1
min
、p2
max
和p2
min

103.计算所述第一校准参数
104.计算所述第二校准参数
105.在上述的纠偏装置中,在判断所述第一辐射功率和所述第二辐射功率是否相等的步骤之前,所述控制单元还用于:
106.获取所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的第一辐射功率p1和第二辐射功率p2;
107.获取所述第一辐射功率的第一校准参数δp1和所述第二辐射功率的第二校准参数δp2;
108.利用所述第一校准参数δp1和所述第二校准参数δp2校准所述第一辐射功率和所述第二辐射功率。
109.在本发明的技术方案中,在理想情况下,同等遮挡面积时两个红外检测单元的光电二极管检测到相同的辐射功率,而由于红外二极管、光电二极光以及汇聚透镜之间的个体差异,以及在使用过程中这些器件自身的衰减情况不同,即便在遮挡面积完全相同的情况下,两者输出的光生电流大小也会有所差异。为了避免这些情况引起的纠偏精度降低,上述实施方式的技术方案中,通过初始化数据分别计算两个红外检测单元的校准参数,从而根据这些校准在参在生产过程中对检测到的辐射功率进行校准。
110.本发明提出了一种基于对射遮挡原理的纠偏装置,包括设置于绕圈设备进料口两侧的第一红外检测单元和第二红外检测单元、设置于所述第一红外检测单元和/或所述第二红外检测单元一侧的纠偏单元以及控制单元,所述第一红外检测单元和所述所述第二红外检测单元分别包括用于发射红外光的第一红外二极管和第一红外二极管、用于检测所述红外光的第一光电二极管和第二光电二极管,所述第一红外二极管的中心点与所述第一光电二极管的中心点的第一连线、所述第二红外二极管的中心点与所述第二光电二极管的中心点的第二连线垂直于所述绕圈设备的进料方向,所述第一连线与所述第二连线分别与进入进料口的卷材两侧边缘对齐,所述控制单元根据所述第一光电二极管以及所述第二光电二极管检测到的辐射功率控制所述纠偏单元对所述卷材的位置进行微调,能够低成本实现高精度纠偏。
111.应当说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
112.依照本发明的实施例如上文所述,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
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