专利名称：电子元件检查分类设备的制作方法
技术领域：
本实用新型是提供一种于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，并搭配具多个移料器的搬移装置，而提升3 D取像器的使用效能，以及易于分类收置电子元件，进而节省设备成本及增加检查产能的电子元件检查分类设备。
背景技术：
在现今，电子元件于制作完成后，业者是以检查设备对电子元件进行接点、外观、真圆度或型号等检查作业，请参阅图1，为现有电子元件检查设备的示意图，其是于机台11上配置有一具供料区121及载台122的供料器12，其供料区121是容置有盛装待检查电子元件14的料盘13，并以载台122将具待检查电子元件14的料盘13作第一方向(如X方向)位移载送至移料器15的下方，移料器15是作第二、三方向(如Y、Z方向)位移于载台122上的料盘13取出待检查的电子元件14，并移载至3 D取像器16处，3 D取像器16即对料盘13上的电子元件14进行3 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置(图未示出)，中央控制装置即对电子元件14进行接点、外观、脚位或真圆度等检查作业，移料器15再将3 D取像完毕的电子元件14放回料盘13，进而依序取出下一批待检查的电子元件14，于各电子元件14完成3 D取像作业后，检查设备是以移盘器17将料盘14移载至一具载台181及收料区182的收料器18处，收料器18是以载台181将料盘13载送至2 D取像器19的下方，2 D取像器19是作第二方向位移对料盘13上的电子元件14进行2 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置即对电子元件14进行型号、商标等检查作业，于各电子元件14完成2 D取像作业后，载台181是将具已检查电子元件14的料盘13载送至收料区182收置；但是，所述检查设备是于一供料器12的侧方配置一 3 D取像器16，以对电子元件14进行3 D取像作业，但3 D取像器16的购置成本相当昂贵，若于增设的各供料器12侧方均增配一 3 D取像器16，对于整体检查设备而言，势必大幅增加成本，又移料器15是将电子元件14移载至3 D取像器16取像后，再放回料盘13收置，并待料盘13作第一方向位移，方可于料盘13上取出下一电子兀件，但却导致3 D取像器16于移料器15执行取放电子元件14作业时，必须待机空等下一取像的电子元件14，不仅无法发挥3 D取像器16的使用效能，更降低检查设备的生产效能。
发明内容本实用新型的目之一，是提供一种电子元件检查分类设备，其包含多个置料装置、取像装置、分类装置、搬移装置及中央控制装置，多个置料装置分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，取像装置于多个置料装置间设有共用且取像电子元件的3 D取像器，并设有至少一可位移动作且取像电子元件的2 D取像器，搬移装置设有多个移料器，用以将多个置料装置处的待检查电子元件移载至共用的3 D取像器进行取像作业，使得检查分类设备可利用各装置的时序搭配动作，毋须于各置料装置的侧方相对增设3 D取像器，达到大幅节省设备成本的实用效益。[0004]本实用新型的目之二，是提供一种电子元件检查分类设备，其中，所述搬移装置设有多个移料器，用以将多个置料装置处的待检查电子元件移载至共用的3 D取像器进行取像作业，进而缩减3 D取像器的空等待机时间，以充分发挥3 D取像器的使用效能，达到提升设备生产效能的实用效益。本实用新型的目之三，是提供一种电子元件检查分类设备，其中，所述分类装置设有至少一盛装良品电子元件的良品区、至少一盛装不良品电子元件的不良品区及至少一盛装次级品电子元件的次级品区，所述搬移装置设有至少一换料器，用以于多个置料装置及分类装置间补换电子元件，当各置料装置的料盘上的各电子元件执行3 D / 2 D取像作业完毕后，中央控制装置控制搬移装置的换料器将置料装置的料盘上的不良品电子元件移载至分类装置的不良品区，并将良品区的良品电子元件补置于置料装置的料盘上，使各置料装置的料盘收置整盘良品电子元件，达到易于分类收料的实用效益。为了达到上述目的，本实用新型提供一种电子元件检查分类设备，包含:机台；多个置料装置:其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘；取像装置:其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，用以对电子元件进行3 D取像作业，另设有至少一 2 D取像器，用以对电子元件进行2 D取像作业；分类装置:其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区；搬移装置:其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3 D取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业；中央控制装置:是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。其中，多个置料装置是分别设有供料区及收料区，所述供料区容置至少一盛装待检查电子元件的料盘，所述收料区容置至少一盛装已检查电子元件的料盘。其中，多个置料装置分别设有至少一于供料区及收料区间载送料盘的载台。其中，多个置料装置设有驱动源，用以驱动载台于供料区及收料区间位移。其中，所述取像装置设有至少一机械手臂，用以驱动2 D取像器位移。其中，所述分类装置于机台上设有至少一承置台，并于承置台上配置有盛装良品电子元件的良品区。其中，所述分类装置的承置台是由动力机构驱动位移。其中，所述分类装置设有具至少一空料盘的不良品区，用以收置不良品电子元件，以及设有具至少一空料盘的次级品区，用以收置次级品电子元件。其中，所述搬移装置设有至少一动力源，用以驱动移料器于置料装置及3 D取像器间移载电子元件。其中，所述搬移装置设有另一动力源，用以驱动换料器于置料装置与分类装置间进行补换料作业。本实用新型可达到节省设备成本及增加检查产能的实用效益。
[0023]图1:现有电子元件检查设备的示意图。图2:本实用新型电子元件检查分类设备的示意图。图3:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(一)。图4:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(二)。图5:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(三)。图6:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(四)。图7:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(五)。图8:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(六)。图9:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(七)。图10:本实用新型电子元件检查分类设备的使用示意图(八)。附图标记说明:〔现有〕11-机台；12-供料器；121-供料区；122-载台；13_料盘；14_电子元件；15_移料器；16-3 D取像器；17-移盘器；18-收料器；181-载台；182-收料区；19_2 D取像器。〔本实用新型〕20-机台；30_第一置料装置；31_第一供料区；311_第一承置器；32_第一收料区；321_第二承置器；331_第一载台；332_第二载台；341_第一驱动源；342_第二驱动源；40-第二置料装置；41_第二供料区；411_第三承置器；42_第二收料区；421_第四承置器；431-第三载台；432_第四载台；441_第三驱动源；442_第四驱动源；50_取像装置；51_3 D取像器；52_第一机械手臂；53_第一 2 D取像器；54_第二机械手臂；55_第二 2 D取像器；60-分类装置；61_承置台；62_动力机构；63_良品区；64_不良品区；65_次级品区；70_搬移装置；71_第一移料器；72_第二移料器；73_第一动力源；74_第二动力源；75_第一换料器；76_第二换料器；77_第三动力源；78_第四动力源；81_料盘；811、811 A -电子元件；82-料盘；821-电子元件；83_料盘；831-电子元件；84、85_料盘。
具体实施方式
为对本实用新型作更进一步的了解，兹举一较佳实施例并配合图式，详述如后:请参阅图2，本实用新型电子元件检查分类设备包含机台20、多个置料装置、取像装置50、分类装置60、搬移装置70及中央控制装置(图未示出)，多个置料装置是配置于机台20上，并分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，于本实施例中，检查分类设备设有第一置料装置30及第二置料装置40，其中，所述第一置料装置30是设有第一供料区31及第一收料区32，第一供料区31设有多个第一承置器311，用以承置至少一盛装待检查电子元件811的料盘81，第一收料区32设有多个第二承置器321，用以承置至少一盛装已检查电子元件的料盘，另设有至少一于第一供料区31及第一收料区32间载送料盘81的载台，于本实施例中，设有第一载台331及第二载台332，第一、二载台331、332分别由第一、二驱动源341、342驱动作第一、三方向位移，以交替于第一供料区31载出盛装待检查电子元件811的料盘81，并将料盘81载送至第一收料区32收置；所述第二置料装置40设有第二供料区41及第二收料区42，第二供料区41设有多个第三承置器411，用以承置至少一盛装待检查电子元件821的料盘82，第二收料区42设有多个第四承置器421，用以承置至少一盛装已检查电子元件的料盘，另设有至少一于第二供料区41及第二收料区42间载送料盘82的载台，于本实施例中，设有第三载台431及第四载台432，第三、四载台431、432分别由第三、四驱动源441、442驱动作第一、三方向位移，以交替于第二供料区41载出盛装待检查电子元件821的料盘82，并将料盘82载送至第二收料区42收置；所述取像装置50装配于机台20，并于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，用以取像电子元件，取像装置50另设有至少一可位移动作的2 D取像器，用以取像电子元件，取像装置50是将3 D / 2 D的取像资料传输至中央控制装置，于本实施例中，所述取像装置50是于第一、二置料装置30、40间设有3 D取像器51，并于第一置料装置30的上方设有至少一由第一机械手臂52带动作第二方向位移的第一 2 D取像器53，用以取像电子元件，以及于第二置料装置40的上方设有至少一由第二机械手臂54带动作第二方向位移的第二 2 D取像器55，用以取像电子元件；所述分类装置60是装配于机台20，并设有至少一盛装良品电子元件的良品区，以供换料，更进一步，是于固定式的承置台或活动式的承置台上配置有至少一盛装良品电子元件的良品区，于本实施例中，是设有至少一由动力机构62驱动作至少一第一方向位移的承置台61，并于承置台61上配置有良品区63、不良品区64及次级品区65，良品区63是容置至少一盛装良品电子元件831的料盘83，不良品区64是容置至少一空的料盘84，用以盛装不良品电子元件，次级品区65是容置至少一空的料盘85，用以盛装次级品电子元件；所述搬移装置70是装配于机台20，并设有多个移料器，以分别将至少一置料装置处的电子元件移载至3 D取像器51进行取像作业，另设有至少一换料器，用以于至少一置料装置与分类装置60间进行补换料作业，于本实施例中，设有第一、二移料器71、72，第一移料器71是由第一动力源73驱动作第二、三方向位移，以于第一置料装置30及3 D取像器51间移载电子元件811，第二移料器72是由第二动力源74驱动作第二、三方向位移，以于第二置料装置40及3 D取像器51间移载电子元件821，另搬移装置70设有第一、二换料器75、76，第一换料器75是由第三动力源77驱动作第二、三方向位移，用以将第一置料装置30的料盘81上的不良品电子元件或次级品电子元件移载至分类装置60的不良品区64的料盘84或次级品区65的料盘85，并将良品区63的料盘83上的良品电子元件831补置于第一置料装置30的料盘81上，使第一置料装置30的料盘81收置整盘良品的电子元件，第二换料器76是由第四动力源78驱动作第二、三方向位移，用以将第二置料装置40的料盘82上的不良品电子元件或次级品电子元件移载至分类装置60的不良品区64的料盘84或次级品区65的料盘85，并将良品区63的料盘83上的良品电子元件831补置于第二置料装置40的料盘82上，使第二置料装置40的料盘82收置整盘良品的电子元件，所述中央控制装置是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。请参阅图3，第一置料装置30是以第一驱动源341驱动第一载台331作第三方向位移，而于第一供料区31的第一承置器311处移载具待检查电子元件811的料盘81，于第一载台331承载料盘81后，第一驱动源341是驱动第一载台331作第一方向位移将料盘81载送至搬移装置70的第一移料器71处，第一移料器71是由第一动力源73驱动作第二、三方向位移，而于料盘81上取出待检查的电子元件811 ;请参阅图4，第一移料器71是由第一动力源73驱动作第二方向位移，将待检查的电子元件811移载至3 D取像器51处，3 D取像器51即对待检查的电子元件811进行3 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置是检查电子元件811的接点、外观、脚位或真圆度等，另第二置料装置40是以第三驱动源441驱动第三载台431作第三方向位移，而于第二供料区41的第三承置器411处移载具待检查电子元件821的料盘82，于第三载台431承载料盘82后，第三驱动源441是驱动第三载台431作第一方向位移将料盘82载送至搬移装置70的第二移料器72处，第二移料器72是由第二动力源74驱动作第二、三方向位移，而于料盘82上取出待检查的电子元件821 ;请参阅图5，于3 D取像器51取像电子元件811完毕后，第一移料器71是作第二方向位移将电子元件811移载至第一置料装置30处，并放回料盘81，第二移料器72是由第二动力源74驱动作第二方向位移，将待检查的电子元件821接续移载至3 D取像器51处，3 D取像器51即对待检查的电子元件821进行3 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置是检查电子元件821的接点、外观、脚位或真圆度等；请参阅图6，于料盘81上的各电子元件811执行3 D取像作业完毕后，第一置料装置30是以第一驱动源341驱动第一载台331作第一方向位移，将料盘81载送至取像装置50的第一 2 D取像器53处，第一 2 D取像器53是由第一机械手臂52驱动作第二方向位移，而对料盘81上待检查的电子元件811进行2 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置是检查电子元件811的型号、商标等；请参阅图7，于料盘81上的各电子元件811执行3 D / 2 D取像作业完毕后，第一置料装置30是以第一驱动源341驱动第一载台331作第一方向位移，将料盘81载送至第一换料器75处，所述分类装置60是以动力机构62驱动承置台61作第一方向位移,使良品区63、不良品区64及次级品区65位于料盘81的侧方，中央控制装置是依检查结果，而控制第一换料器75作第二、三方向位移将料盘81上的不良品电子元件811 A取出，另料盘82上的各电子元件821执行3 D取像作业完毕后，第二置料装置40是以第三驱动源441驱动第三载台431作第一方向位移，将料盘82载送至取像装置50的第二 2 D取像器55处，第二 2 D取像器55是由第二机械手臂54驱动作第二方向位移，而对料盘82上的电子元件821进行2 D取像作业，并将取像资料传输至中央控制装置，中央控制装置检查电子元件821的型号、商标等；请参阅图8，第一换料器75作第二、三方向位移将不良品电子元件811 A移载至分类装置60的不良品区64的空料盘84分类收置；请参阅图9，中央控制装置是控制第一换料器75作第二、三方向位移，于分类装置60的良品区63的料盘83取出良品电子元件831，并移载补置于第一置料装置30的料盘81上；请参阅图10，于第一置料装置30的料盘81执行换补料作业完毕后，所述料盘81是盛装整盘均为良品的电子兀件811、831，第一置料装置30是以第一驱动源341驱动第一载台331作第一、三方向位移，将整盘具良品电子元件811、831的料盘81载送至第一收料区32处，并置放于第二承置器321上收置。
权利要求1.一种电子元件检查分类设备，其特征在于，包含: 机台； 多个置料装置:其配置于机台，是分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘； 取像装置:其配置于机台，是于多个置料装置间设有共用的3 D取像器，用以对电子元件进行3 D取像作业，另设有至少一 2 D取像器，用以对电子元件进行2 D取像作业； 分类装置:其配置于机台，是设有至少一盛装良品电子元件的良品区； 搬移装置:其配置于机台，设有多个移料器，以分别于至少一置料装置与取像装置的3D取像器间移载电子元件，另设有至少一换料器，以于置料装置与分类装置的良品区间进行补换料作业； 中央控制装置:是用以控制及整合各装置动作，以执行自动化作业。
2.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置是分别设有供料区及收料区，所述供料区容置至少一盛装待检查电子元件的料盘，所述收料区容置至少一盛装已检查电子元件的料盘。
3.根据权利要求2所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置分别设有至少一于供料区及收料区间载送料盘的载台。
4.根据权利要求3所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，多个置料装置设有驱动源，用以驱动载台于供料区及收料区间位移。
5.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，所述取像装置设有至少一机械手臂，用以驱动2 D取像器位移。
6.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，所述分类装置于机台上设有至少一承置台，并于承置台上配置有盛装良品电子元件的良品区。
7.根据权利要求6所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，所述分类装置的承置台是由动力机构驱动位移。
8.根据权利要求1或6所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，所述分类装置设有具至少一空料盘的不良品区，用以收置不良品电子元件，以及设有具至少一空料盘的次级品区，用以收置次级品电子元件。
9.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，所述搬移装置设有至少一动力源，用以驱动移料器于置料装置及3 D取像器间移载电子元件。
10.根据权利要求1所述的电子元件检查分类设备，其特征在于，所述搬移装置设有另一动力源，用以驱动换料器于置料装置与分类装置间进行补换料作业。
专利摘要本实用新型公开一种电子元件检查分类设备，其包含多个置料装置、取像装置、分类装置、搬移装置及中央控制装置，多个置料装置分别设有至少一盛装待检查电子元件的料盘，取像装置于多个置料装置间设有共用的3Ｄ取像器，并设有至少一可位移动作的2Ｄ取像器，搬移装置设有多个移料器，于3Ｄ取像完毕后，取像装置是以2Ｄ取像器对各置料装置上的电子元件进行2Ｄ取像作业，分类装置设有盛装良品电子元件的良品区及盛装不良品电子元件的不良品区，中央控制装置是控制搬移装置的换料器将各置料装置的料盘上的不良品电子元件移载至分类装置的不良品区，并将良品区的良品电子元件补置于料盘上，达到节省设备成本及增加检查产能的实用效益。
文档编号B07C5/36GK202921577SQ20122061350
公开日2013年5月8日 申请日期2012年11月19日 优先权日2012年11月19日
发明者郑炜彦, 陈奂维, 赖正鑫, 曹允杰 申请人:台湾暹劲股份有限公司