本发明涉及一种检测部件，具体涉及一种电子元件检测部件。
背景技术：
随着我国电子产业的不断发展，越来越多的半导体生产企业扩大生产规模，但是伴随着半导体企业的发展壮大，越来越多的半导体企业需要提升自身产品的质量，保证本企业生产的半导体产品的市场占有率，目前很多半导体生产企业都是依靠人工进行筛选半导体元器件，在人工作业的情况下很难保证半导体元器件的质量，一些质量较差的半导体元器件会应用到电子产品的生产过程中，这样生产出来的电子产品故障率很高，使得电子产品的质量得不到保证，从而会导致半导体生产企业的生产信誉，很难保证半导体生产企业的长期发展。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种检测快速，咬合紧的一种电子元件检测部件。
本发明的技术方案为：一种电子元件检测部件，检测块设置在支撑块上，支撑块为矩形状结构，所述矩形状支撑块上嵌套有检测块，检测块上设有活动检测板，活动检测板可以前后的移动，活动检测板为半悬空结构，活动检测板上端设有压合块，压合块上设有压合点，压合点为双排对称结构。
压合点为圆柱状细点，在压合点上设有压合凸起。
压合凸起为不锈钢或者硬质合金凸起块。
活动检测板的活动范围为0.3m-0.8m。
活动检测板上设有插边槽，插边槽为细长条状结构。
本发明的优点是：通过电机带动支撑块旋转，支撑块带动测试板做上下运动，能够快速将半导体元器件进行分拣，保证半导体元器件的质量，可以快速分拣出质量不合格的半导体元器件，节省了人力成本，提高了半导体元器件的测试速度，保证了半导体元器件的产品质量。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图中：1为检测块，2为支撑块，3为活动检测板，4为压合块，5为压合点。
具体实施方式
下面结合附图对本发明进一步说明。
实施例1
一种电子元件检测部件，检测块1设置在支撑块2上，支撑块2为矩形状结构，所述矩形状支撑块2上嵌套有检测块1，检测块1上设有活动检测板3，活动检测板3可以前后的移动，活动检测板3为半悬空结构，活动检测板3上端设有压合块4，压合块4上设有压合点5，压合点5为双排对称结构。
压合点5为圆柱状细点，在压合点5上设有压合凸起。
压合凸起为不锈钢或者硬质合金凸起块。
活动检测板3的活动范围为0.3m-0.8m，优选0.3m。
活动检测板3上设有插边槽，插边槽为细长条状结构。
实施例2
一种电子元件检测部件，检测块1设置在支撑块2上，支撑块2为矩形状结构，所述矩形状支撑块2上嵌套有检测块1，检测块1上设有活动检测板3，活动检测板3可以前后的移动，活动检测板3为半悬空结构，活动检测板3上端设有压合块4，压合块4上设有压合点5，压合点5为双排对称结构。
压合点5为圆柱状细点，在压合点5上设有压合凸起。
压合凸起为不锈钢或者硬质合金凸起块。
活动检测板3的活动范围为0.3m-0.8m，优选0.5m。
活动检测板3上设有插边槽，插边槽为细长条状结构。
实施例3
一种电子元件检测部件，检测块1设置在支撑块2上，支撑块2为矩形状结构，所述矩形状支撑块2上嵌套有检测块1，检测块1上设有活动检测板3，活动检测板3可以前后的移动，活动检测板3为半悬空结构，活动检测板3上端设有压合块4，压合块4上设有压合点5，压合点5为双排对称结构。
压合点5为圆柱状细点，在压合点5上设有压合凸起。
压合凸起为不锈钢或者硬质合金凸起块。
活动检测板3的活动范围为0.3m-0.8m，优选0.8m。
活动检测板3上设有插边槽，插边槽为细长条状结构。