1.一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：包括通道运输单元及视觉检测单元；
2.根据权利要求1所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述剔料工位处的通道主体(1)上的一侧面开设有剔料缺口，所述剔料工位处的通道主体(1)上的另一侧面上安装有与所述剔料缺口相对的剔料气吹接头(11)，所述剔料气吹接头(11)分别与物料运输通道及外接气源相连通，所述剔料机构(8)包括剔料伸缩气缸(12)及剔料缺口挡块(13)，所述剔料伸缩气缸(12)安装于所述通道主体(1)上，所述剔料缺口挡块(13)安装于所述剔料伸缩气缸(12)的伸缩端上；
3.根据权利要求2所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述通道主体(1)外侧与所述剔料缺口相对应处设有废料箱(14)。
4.根据权利要求1所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述侧面照相工位处的通道主体(1)上还设有用于将物料压在所述物料运输通道的侧面照相工位处的侧面拍照工位压料机构(5)。
5.根据权利要求4所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述侧面拍照工位压料机构(5)与所述入料阻挡机构(3)之间的所述通道主体(1)上设有用于检测所述物料运输通道中物料有无的物料有无检测传感器(9)及用于检测所述物料运输通道中物料通过数量的计数传感器(10)；所述通道主体(1)外侧靠近所述物料运输通道的物料输出口处设有出料检测传感器(29)；所述剔料工位处的通道主体(1)上设有剔料工位物料检测传感器(30)。
6.根据权利要求1所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：还包括辅助入料传输单元，所述辅助入料传输单元包括主体支架(16)、步进电机(17)、同步带轮组(18)、同步带(19)、同步带压板(20)、同步带驱动板(21)、探杆伸缩气缸安装板(22)、探杆伸缩气缸(23)及探杆(24)；
7.根据权利要求6所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述主体支架(16)上设有导轨a(25)，所述导轨a(25)的长度方向平行于所述通道主体(1)长度方向，所述同步带驱动板(21)上安装有与所述导轨a(25)滑动连接的滑块a；所述探杆伸缩气缸安装板(22)上设有导轨b(26)，所述导轨b(26)的长度方向垂直于所述通道主体(1)长度方向，所述探杆(24)上安装有与所述导轨b(26)滑动连接的滑块b；所述通道主体(1)上设有探杆位置检测传感器(28)。
8.根据权利要求6所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述主体支架(16)上安装有用于连接并支撑所述通道主体(1)的通道主体连接板(27)。
9.根据权利要求1所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：所述通道主体(1)分为下底板(101)、中间层板(102)、侧导向块(103)及上盖板(104)，所述下底板(101)的顶面中部开设有正压空气输入槽a(106)，各所述正压空气输入接头(2)分别安装于所述下底板(101)长度方向的侧面上、并与所述正压空气输入槽a(106)相连通，所述中间层板(102)安装于所述下底板(101)的顶面上，所述中间层板(102)底面形成有与所述正压空气输入槽a(106)相连通的正压空气输入槽b(107)，所述中间层板(102)顶面上开设有两个对称设置的侧导向块安装槽，每个所述侧导向块安装槽分别对应安装一个所述侧导向块(103)，两个所述侧导向块(103)的顶面上均凸设有用于对物料的侧面进行限位的侧向挡沿，所述上盖板(104)安装于所述中间层板(102)的顶面上，所述上盖板(104)、中间层板(102)与两个凸设有侧向挡沿的侧导向块(103)所围成的空间形成所述物料运输通道，两个所述侧导向块(103)之间的中间层板(102)顶面上沿中间层板(102)长度方向开设有若干个所述正压空气输入孔(108)，各所述正压空气输入孔(108)均分别与所述正压空气输入槽b(107)与物料运输通道相连通，所述正压空气输入槽a(106)、所述正压空气输入槽b(107)与各所述正压空气输入孔(108)形成所述正压空气流道。
10.根据权利要求9所述的一种半导体三极管及二极管外观缺陷检测平台，其特征在于：各所述正压空气输入孔(108)的长度方向均相互平行、且与所述物料运输通道的长度方向形成固定倾斜角，各所述正压空气输入孔(108)与所述正压空气输入槽b(107)相连通的一端位于靠近所述物料运输通道的物料输入口的一侧，各所述正压空气输入孔(108)与所述物料运输通道相连通的一端位于远离所述物料运输通道的物料输入口的一侧。