一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法

文档序号:5288963阅读:475来源:国知局
专利名称:一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法
技术领域
本发明涉及半导体薄膜的制备,尤其涉及一种均勻致密碘化亚铜半导体薄膜的电 化学制备方法。
背景技术
碘化亚铜是一种直接带隙达3. leV的p型半导体。由于其诸多独特的性质(如大 的能带间隙、负自旋轨道分裂、不寻常的强烈温敏特性和类似反磁性行为),碘化亚铜被广 泛用于制造半导体器件当中。随着碘化亚铜的应用越来越广,对其的研究也越来越多。迄今为止,人们已经研究出了很多种关于碘化亚铜的制备方法。激光脉冲沉积、磁 控溅射和真空蒸发等方法都被用来制备碘化亚铜薄膜,但是这些物理方法普遍存在着反应 温度高、设备操作复杂、反应时间长等缺点。当然也有许多人用化学的方法制备碘化亚铜, 如水热法、微乳法和溶胶凝胶法等。这些方法虽然操作及设备要求上有所简化,但是不能得 到很好的薄膜材料。

发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种致密碘化亚铜薄膜的电化学制备方法。均勻致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法包括如下步骤1)用丙酮冲洗IT0导电玻璃或硅片2 3次,再用去离子水将IT0导电玻璃或硅 片放在超声波清洗器里清洗,接着将IT0导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最 后用去离子水反复冲洗;2)将 0.002 2mol/L 的 Cu (N03) 2、0. 002 2mol/L 的 KI、3.4X1(T6 1. 7X l(T3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HN03或0. lmol/L的NaOH溶 液调节PH值至1 5,得到电解液;3) IT0导电玻璃或硅片作为工作电极,钼片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为 参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞 电极的电沉积电压为o. IV -o. 4V,电沉积时间为1分钟 30分钟,电沉积温度为25 80 °C。本发明的突出优点有(1)制得的碘化亚铜有薄膜具有很好的致密性。(2)设备简 单、成本低廉,可在常温下操作。(3)制备条件温和,反应过程清洁无污染,反应效率高。


图1是实施例1的碘化亚铜产品的扫描电镜图;图2是实施例2的碘化亚铜产品的X射线衍射图;图3是实施例3的碘化亚铜产品的室温荧光吸收光谱图;图4是实施例4的碘化亚铜产品的紫外可见光谱图。
具体实施例方式实施例11)用丙酮冲洗IT0导电玻璃或硅片2次,再用去离子水将IT0导电玻璃或硅片放 在超声波清洗器里清洗,接着将IT0导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用 去离子水反复冲洗;2)将 0. 002mol/L 的 Cu(N03)2、0. 002mol/L 的 KI、3. 4X l(T6mol/L 的 K30 聚乙烯吡 咯烷酮进行混合,用2mol/L的HN03或0. lmol/L的NaOH溶液调节pH值至5,得到电解液;3) IT0导电玻璃或硅片作为工作电极,钼片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参 比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电 极的电沉积电压为0. IV,电沉积时间为30分钟,电沉积温度为25°C。经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在IT0导电玻璃上的 Cul薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该 薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。场发射扫描电镜图1表明Cul薄膜具有很好的致密性。实施例21)用丙酮冲洗IT0导电玻璃或硅片2次,再用去离子水将IT0导电玻璃或硅片放 在超声波清洗器里清洗,接着将IT0导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用 去离子水反复冲洗;2)将 0. 02mol/L 的 Cu(N03)2、0. 02mol/L 的 KI、3. 4X l(T5mol/L 的 K30 聚乙烯吡咯 烷酮进行混合,用2mol/L的HN03或0. lmol/L的NaOH溶液调节pH值至4,得到电解液;3) IT0导电玻璃或硅片作为工作电极,钼片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参 比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电 极的电沉积电压为-0. IV,电沉积时间为20分钟,电沉积温度为45°C。经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在IT0导电玻璃上的 Cul薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该 薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。X射线衍射图2表明Cul薄膜具有一定的取向性。实施例31)用丙酮冲洗IT0导电玻璃或硅片3次,再用去离子水将IT0导电玻璃或硅片放 在超声波清洗器里清洗,接着将IT0导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用 去离子水反复冲洗;2)将 0. 2mol/L 的 Cu(N03)2、0. 2mol/L 的 KI、3. 4X l(T4mol/L 的 K30 聚乙烯吡咯烧 酮进行混合,用2mol/L的HN03或0. lmol/L的NaOH溶液调节pH值至2,得到电解液;3) IT0导电玻璃或硅片作为工作电极,钼片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参 比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电 极的电沉积电压为-0. 3V,电沉积时间为15分钟,电沉积温度为65°C。经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在IT0导电玻璃上的 Cul薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。荧光吸收光谱图3表明Cul的特征吸收。实施例41)用丙酮冲洗IT0导电玻璃或硅片3次,再用去离子水将IT0导电玻璃或硅片放 在超声波清洗器里清洗,接着将IT0导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用 去离子水反复冲洗;2)将 2mol/L 的 Cu (N03) 2、2mol/L 的 KI、1. 7X l(T3mol/L 的 K30 聚乙烯吡咯烷酮进 行混合,用2mol/L的HN03或0. lmol/L的NaOH溶液调节pH值至1,得到电解液;3) IT0导电玻璃或硅片作为工作电极,钼片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参 比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电 极的电沉积电压为-0. 4V,电沉积时间为1分钟,电沉积温度为80°C。经场发射扫描电镜(FE-SEM)和X射线衍射(XRD)等对沉积在IT0导电玻璃上的 Cul薄膜的结构表征,用荧光吸收光谱和紫外可见吸收光谱对其性质进行表征。结果表明该 薄膜具有很好的致密性和一定的取向性。紫外可见吸收光谱图4表明Cul的特征吸收。
权利要求
一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法,其特征在于包括如下步骤1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2~3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;2)将0.002~2mol/L的Cu(NO3)2、0.002~2mol/L的KI、3.4×10-6~1.7×10-3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮进行混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH值至1~5,得到电解液;3)ITO导电玻璃或硅片作为工作电极,铂片电极作为对电极,饱和甘汞电极作为参比电极一起放入电解液中进行电沉积,得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对于饱和甘汞电极的电沉积电压为0.1V~-0.4V,电沉积时间为1分钟~30分钟,电沉积温度为25~80℃。
全文摘要
本发明公开了一种均匀致密碘化亚铜半导体薄膜的电化学制备方法。包括如下步骤1)用丙酮冲洗ITO导电玻璃或硅片2~3次,再用去离子水将ITO导电玻璃或硅片放在超声波清洗器里清洗,接着将ITO导电玻璃或硅片放在10%的硝酸溶液中活化,最后用去离子水反复冲洗;2)将0.002~2mol/L的Cu(NO3)2、0.002~2mol/L的KI、3.4×10-6~1.7×10-3mol/L的K30聚乙烯吡咯烷酮混合,用2mol/L的HNO3或0.1mol/L的NaOH溶液调节pH至1~5,得到电解液;3)ITO导电玻璃或硅片作工作电极,铂片电极作对电极,饱和甘汞电极作参比电极电沉积得到致密碘化亚铜半导体薄膜,相对饱和甘汞电极的电沉积电压为0.1~-0.4V,电沉积时间为1~30分钟,电沉积温度为25~80℃。本发明优势在于设备简单、成本低廉,反应条件要求较低等。
文档编号C25D7/12GK101871111SQ20101018875
公开日2010年10月27日 申请日期2010年6月1日 优先权日2010年6月1日
发明者刘润, 徐铸德, 王辉, 陈科立 申请人:浙江大学
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