专利名称：光学膜用检查部件以及光学膜的检查方法
技术领域：
本发明涉及光学膜用检查部件以及光学膜的检查方法。
背景技术：
近年，在组装于液晶显示器等的最前面的偏振光片表面使用光学膜。所述光学膜为防眩膜、防反射膜，用于防止对液晶画面造成的损伤，抑制太阳光、外光、荧光灯等光的映入或眩目，从而使液晶画面容易观看。另外，PDP(Plasma Display Panel)的最表面也在玻璃表面使用PDP用防反射膜作为光学膜。
由此，将光学膜用于液晶显示器等的情况下，当偏光膜的内部存在气泡、异物时，将对显示特性产生不良影响。因此，公开了检查光学膜有无异常的方法(例如参见专利文献1)。所述专利文献1中记载的检查方法为在黑色板上载置膜等待检物，对待检物进行光照射。然后用照相装置拍摄照射光的反射光，从而检出待检物的不良部位。
另外也公开了在光学膜的一侧表面涂布黑色墨水，从光学膜另一侧表面进行光照射，观察反射光的方法。进一步公开了下述方法将偏光膜重合，使偏光轴的方向垂直相交，制备正交尼科耳棱镜，将其贴合在光学膜的一侧表面上，同样地进行光照射并观察反射光。
特开平6-288927号公报发明内容但是，采用上述专利文献1中记载的膜的检查方法时，在膜与黑色板之间形成有空气层，该空气层产生多余的干扰光，从而使检查精度变差。另外，涂布黑色墨水时，发生涂布不均，从而难以判断其为光学膜内部的缺陷还是涂布不均。另外，由于光学膜中浸入了黑色墨水的溶剂，使其不能长期保存。而且还存在因黑色墨水而污染工作现场的问题。
将偏光膜重合并贴合在光学膜的一侧表面时，难以贴合成为尼科耳棱镜，因此引起质量不稳定。另外由于贴合成尼科耳棱镜的偏光膜通常成为单片，因此难以在较大程度上控制尺寸，从而增加了检查的成本。
本发明是为了解决上述问题而完成的，目的为提供一种能够精确判断光学膜优劣的光学膜用检查部件以及光学膜的检查方法。
为了达到上述目的，本发明提供以下的方案。
本发明的光学膜用检查部件是在基材上层合粘接部件而制成的检查部件，其特征为，所述基材与所述粘接部件的至少一方为遮光性部件。
本发明的光学膜用检查部件中，优选使所述粘接部件为遮光性部件、并且含有着色成分。
本发明的光学膜用检查部件中，优选使所述基材为遮光性部件、并且具有金属箔。
本发明的检查光学膜的方法是使用前述光学膜用检查部件来检查光学膜的方法，其特征为包含下述步骤，即，将光学膜粘接在所述粘接部件上的步骤，在所述光学膜的表面上进行光照射的步骤，观察所述光学膜的反射光的步骤，以及根据观察到的反射光来判断所述光学膜的优劣的步骤。
由于本发明的光学膜用检查部件具有阻挡光透过的遮光部件，和配置在所述遮光部件的一侧表面、用于粘接光学膜和遮光部件的粘接部件，因此能够通过粘接部件使光学膜和遮光部件密合，从而可以抑制多余的干扰光。因此可以仅检查出光学膜反射的光。另外使用遮光部件不会发生前述涂布不均，可以将光完全阻挡后进行检查，因而提高了检查精度。另外，由于结构简单因此可以降低检查成本。
本发明的其它光学膜用检查部件具有基材，和设置在所述基材的一侧表面、具有能够粘接光学膜和基材的粘合性的遮光部件，因此能使遮光部件和光学膜密合，从而可以抑制多余的干扰光。因而可以仅检查出由光学膜反射的光。
由于本发明的光学膜用检查方法包括将光学膜粘接在粘接部件上的步骤，对光学膜的表面进行光照射的步骤，观察从光学膜反射的光的步骤，以及根据观察到的反射光来判断光学膜的优劣的步骤，因此能够精确地检查光学膜的优劣，并且检查步骤简单，从而也可以提高光学膜的检查效率。
图1为示出将本发明的一种实施方式中的检查部件粘接在光学膜上的状态之一例的剖面图。
图2为示出使用本发明的一种实施方式中的检查部件检查光学膜的方法的模式图。
附图标记10 检查部件11 遮光部件11a遮光部件11的一侧表面12 粘接部件20 光学膜具体实施方式
下面参照图1及图2说明本发明的一种实施方式。
如图1所示，本实施方式的光学膜20用检查部件10具有阻挡光透过的遮光部件11，及设置在遮光部件11的一侧表面11a上、粘接光学膜20和遮光部件11的粘接部件12。
遮光部件11为树脂膜，由黑色聚对苯二甲酸乙二醇酯(以下简写为黑PET)材料形成，由此模拟地制成了正交尼科耳棱镜状态。需要说明的是，由于最优选正交科尼耳棱镜状态，因此遮光部件11优选为黑色且能够遮光的部件。所以遮光部件11为树脂膜，但不限于此，也可以为铁板等黑色板状物。
粘接部件12优选由黑色染料将丙烯酸树脂着色而得到。并且由于将粘接部件12着色的着色剂为炭黑等颜料类物质时，颜料粒子可能反射光而使检查光学膜时难以观察到异物等缺陷，因此优选黑色染料类着色剂。由此着色的粘接部件可以抑制光学膜表面的散射光，从而可以提高检查精度，因此优选使用。
粘接部件12并不限于丙烯酸树脂，例如可以举出EVA类、烯烃类、聚酯类、有机硅类、聚氨酯类等粘接材料。其中，从与基体22具有相同折射率、透明性优良方面考虑，优选丙烯酸树脂。
利用本发明的检查部件10检查的光学膜20具有下述结构由透明树脂层21和基体22层合而构成，所述基体22与配置于其一端22a侧的透明树脂层21抵接。并且，基体22的另一端22b侧表面被粘接在粘接部件12上。
构成上述透明树脂层21的树脂为光学透明的树脂，如果是可以透过光的树脂，则也可以使用非透明状物质。所述树脂的透明性通常越高越好，优选使用透光率(JIS C6714)为80％或80％以上、更优选为85％或85％以上的树脂。需要说明的是，如果所述透明树脂的透光性较高，则即使采用树脂本身着色或者用染料、颜料着色后的光学膜也可以进行检查。
作为满足上述特性的材料，首先可以举出始终具有粘合性的所谓粘合剂，除此之外可以使用加热时具有粘合性的物质、通过使其含有溶剂而具有粘合性的物质、利用光或热进行固化的材料处于固化前状态的物质。
上述树脂可以举出例如聚酯、聚酰胺、聚乙烯醇、聚氨酯、聚苯乙烯、聚缩醛、聚碳酸酯、丙烯酸酯、环氧树脂、有机硅树脂、纤维素等树脂以及它们的各种衍生物，但并不限定于此。
另外，为了得到较高的透光性，优选使透明树脂层21的折射率在1.40～1.70的范围内。
作为基体22，通常可以使用透明膜。但如果是光可以透过的物质，则也可以使用非透明状物质，一般而言，所述透光性基体的透明性越高越好，优选使用满足下述特性的物质，即透光率(JIS C6714)为80％或80％以上、更优选为85％或85％以上，浊度值(JIS K7105)为3.0或3.0以下、更优选为1.0或1.0以下、最优选为0.5或0.5以下，折射率为1.40～1.80。具体可以使用由下述材料形成的各种树脂膜，所述材料为聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚萘二甲酸乙二醇酯(PEN)、三乙酰基纤维素(TAC)、聚芳酯树脂、聚酰亚胺、聚醚、聚碳酸酯、聚砜、聚醚砜、玻璃纸、聚酰胺、聚乙烯、聚丙烯、聚乙烯醇等。
另外，为了防止基体22和粘接部件12的界面反射，粘接部件12的折射率优选与基体22相同。
如图2所示，检查光学膜20的检查装置30由以下部分构成较为平直并可载置光学膜20的基台31，和对光学膜20进行光照射的光照射部32。所述光照射部32通常使用三波长的荧光灯，根据其用途，可以使用钨灯光、绿光灯、日光灯等。
以下利用由上述结构形成的本实施方式的检查部件10来说明光学膜20的检查方法。
首先，将光学膜20的基体22的另一端22b侧表面粘接在粘接部件12上。
然后如图2所示，将粘接有检查部件10的光学膜20载置于基台31上，并使检查部件10位于基台31一侧。从光照射部32对光学膜20的表面进行光照射，用肉眼观察光学膜20的反射光。然后根据肉眼观察到的反射光的浊度不均或色调判断光学膜20的优劣。
需要说明的是，本实施方式并不局限于肉眼观察，也可以利用分光光度计或者浊度计等，根据分光光谱或者浊度值的不均等判断光学膜20的优劣。
本实施方式的光学膜20用检查部件10中，由于粘接部件12用黑色染料将丙烯酸树脂着色，因此粘接部件12内部的折射率变得均匀，从而可以抑制内部的漫反射。另外，由于遮光部件11为树脂膜，因此可以将检查部件10制成卷绕状，在光学膜20为卷绕状时非常便于使用。
实施例以下对将本发明进一步具体化的实施例加以说明。
制备包含条纹、颜色不均、层不均以及疵点的低水平防反射膜(光学膜)20。所述低水平防反射膜20的制备方法采用涂漆装置(图示略)进行制备。
检查部件10的制造方法为首先在光学用丙烯酸类粘合剂中相对于100质量份粘合剂固体成分添加4.5质量份的黑色染料，用摇动器搅拌20分钟。然后利用涂布辊(图示略)将制备的黑色粘合剂涂布在剥离PET(图示略)上，在80℃恒温箱中(图示略)放置2分钟。用恒温箱加热之后，将剥离PET从黑色粘合剂片(粘接部件)12上剥离。将黑色粘合剂片12贴合在黑PET11上，制备检查部件10。
在基台31上铺设黑布(MIYUKITEX M700)，在其上载置低水平防反射膜20，对低水平防反射膜的表面进行检查。
在低水平防反射膜20的反面滴加黑色墨水，用专用毛刷涂抹墨，制备评价样品。将低水平防反射膜20载置于基台31上，对低水平防反射膜20的表面进行检查。
贴合偏振光片(HLC2-5618)，使其处于正交尼科尔棱镜的状态后，使用层压机将偏振光片和低水平防反射膜20贴合。将低水平防反射膜20载置于基台31上，对低水平防反射膜20的表面进行检查。
使用层压机将低水平防反射膜20和制造例2中制备的检查部件10贴合，并制成如图1所示的评价样品。将低水平防反射膜20载置于基台31上，对低水平防反射膜20的表面进行检查。
对于上述比较例1～3以及实施例1的各种低水平防反射膜20，如图2所示，将低水平防反射膜20在三波长的荧光灯下进行肉眼观察，并按下述标准对低水平防反射膜20的外观水平进行评价。
评价的结果如表1所示。
判定标准条纹 ○可观察到条纹 ×未观察到条纹颜色不均 ○可观察到颜色不均 ×未观察到颜色不均层不均 ○可观察到层不均 ×未观察到层不均疵点 ○可观察到疵点 ×未观察到疵点由表1可知，如果使用比较例1～3的检查方法，则条纹，颜色不均、及层不均中的任一种均未能被观察到，不能够确实地将次品判断为不良，因此其测定精度差。即，使用本发明检查部件10的检查方法能够全部确认条纹、颜色不均、层不均以及疵点，从而能够精确地判断低水平防反射膜20的优劣。
需要说明的是，本发明的技术范围不受上述实施方式的局限，在不脱离本发明主旨的范围内，可以进行各种改变。
权利要求
1.一种光学膜用检查部件，是在基材上层合粘接部件而制成的检查部件，其特征为，所述基材与所述粘接部件中的至少一方为遮光性部件。
2.如权利要求1所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述粘接部件为遮光性部件，含有着色成分。
3.如权利要求2所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述着色成分为黑色。
4.如权利要求3所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述黑色由染料着色而成。
5.如权利要求1所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述粘接部件的主要成分为丙烯酸树脂。
6.如权利要求1所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述基材为树脂膜。
7.如权利要求1所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述树脂膜由聚对苯二甲酸乙二醇酯膜形成。
8.一种光学膜用检查部件，其特征为，在构成权利要求1所述的检查部件的粘接部件表面形成有保护层。
9.如权利要求1或6所述的光学膜用检查部件，其特征为，所述基材为遮光性部件，具有金属箔。
10.一种检查光学膜的方法，是使用权利要求1所述的光学膜用检查部件来检查光学膜的方法，该方法的特征为包含以下步骤将光学膜粘接在所述粘接部件上的步骤；在所述光学膜的表面上照射光的步骤；观察由所述光学膜发出的反射光的步骤；以及基于观察到的反射光来判断所述光学膜优劣的步骤。
全文摘要
本发明提供一种能够精确地判断光学膜优劣的光学膜用检查部件，是在基材上层合粘接部件而制成的检查部件，其特征为，所述基材与所述粘接部件的至少一方为遮光性部件。
文档编号G01N21/88GK1737545SQ20051008992
公开日2006年2月22日 申请日期2005年8月4日 优先权日2004年8月6日
发明者作本征则, 土师圭一朗, 黑越努 申请人:株式会社巴川制纸所