专利名称：电路板特性阻抗测量方法及系统的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种电子测量技术，特别是关于一种电路板特性阻抗测量方法及系统，应用在对电路板，特别是一微波线路电路板，进行一特性阻抗测量程序，检验出该电路板的特性阻抗(characteristicimpedance)是否符合预定的要求值。
背景技术：
由于目前无线网络、移动电话以及全球定位系统(Global PositioningSystem，GPS)等无线通信技术的快速发展及广大的需求，微波电路的设计及制造已成为电子业界的一项极为热门的电子技术。基本上微波线路专用的电路板上布置一种称为微线路(microstrips)的导电线路，由此微线路传递超高频率的微波信号，例如为1GHz至3GHz(gigahertz)的微波信号。
由于微波电路是用来传递超高频率的微波信号，因此电路板的特性阻抗(characteristic impedance)便成为微波电路的设计上所需考量的一项极为重要的参数；也因此在微波线路电路板的制造上，对特性阻抗也必须要求能精确地符合客户规格指定的要求值。
然而目前于电子业界，微波线路电路板的客户与制造厂商之间仍缺乏一种客观标准的特性阻抗测量方法，因此使得制造出的微波线路电路板的实际特性阻抗值与预定的要求值之间常存在偏差。若微波线路电路板的特性阻抗产生偏差，将导致整体的微波电路的操作特性产生偏移，无法正常处理微波信号。
发明内容
为克服上述现有技术的缺点，本发明的主要目的在于提供一种电路板特性阻抗测量方法及系统，可对制造厂商制造的微波线路电路板进行一自动化的特性阻抗测量程序，检验出制成的微波线路电路板的特性阻抗是否符合客户规格指定的要求值。
本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统是应用在对电路板，特别是微波线路电路板，进行一特性阻抗测量程序，检验该电路板的特性阻抗(characteristic impedance)是否符合预定的要求值。在具体实施上，本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统例如可整合到一自动化的电路板生产线，对制成后的成批的微波线路电路板进行自动化的特性阻抗测量程序。
本发明的电路板特性阻抗测量方法至少包括该电路板特性阻抗测量方法至少包括将该电路板定位到一测量位置上；将一组探针接触到该电路板上的导电线路的测量触点和接地端；将一频率信号通过该组探针施加到该电路板，测量出该电路板的特性阻抗值；以及将测量到的特性阻抗值与一预定的特性阻抗值作比较；若大致相符合，则发出一品管通过信息；反之，若不相符合，则发出一品管不通过信息。
本发明的电路板特性阻抗测量系统至少包括一电路板定位模块，可将该电路板定位到一测量位置上；一探针模块，可在该电路板定位模块将该电路板定位在该测量位置上后，将一组探针接触到该电路板上的导电线路的测量触点和接地端；一阻抗测量仪器模块，在该探针模块的探针接触到该电路板上的导电线路的测量触点之后，将一频率信号通过该探针模块施加到该电路板，测量出该电路板的特性阻抗值；以及一品管判别模块，可将该阻抗测量仪器模块测量到的特性阻抗值与一预定的特性阻抗值作比较；若大致相符合，则发出一品管通过信息；反之，若不相符合，则发出一品管不通过信息。
本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统预先在待测的电路板上设定一组测量触点；并在实际进行测量时，将一组探针接触到这些测量触点上，令阻抗测量仪器自动测量出该电路板的特性阻抗值，并将实际测量到的特性阻抗值与客户规格所要求的特性阻抗值作比较；若不相符合，则即将该电路板退回给制造部门。在微波线路电路板的制造上，本发明可快速检验出制成的微波线路电路板的特性阻抗是否符合客户所要求的值，确保制成的电路板的品质性及可用性。
图1是本发明所适用的微波线路电路板的外观结构形态；图2是本发明的电路板特性阻抗测量系统的结构示意图；图3是本发明的电路板特性阻抗测量系统在实际对电路板进行特性阻抗测量程序时的应用示意图。
具体实施例方式
实施例以下即配合附图，详细说明本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统的实施例。
图1显示本发明所适用的一种电路板10(例如为一微波线路电路板)的外观结构形态。如图所示，此电路板10是建构在一基板20，且在该基板20上设置有一条或多条导电线路，例如用来传递微波信号的微线路(microstrips)，包括一单线式(single end)的微线路31和一对差分式(differential)的微线路32；并进而设置有一接地端33。(注图1是简化的示意图，仅以示意方式显示一单线式微线路和一对差分式微线路；但该电路板10在具体实施上可能包括其它的电路组件，且其线路布局形态可能更为复杂)。此外，为了配合本发明提供的特性阻抗测量程序，此电路板10上的各条微线路31、32的一端须预先设定一测量触点，例如是在单线式微线路31的一端预先设定一测量触点41，且在差分式微线路32的一端分别预先设定一对测量触点42。
图2显示本发明的电路板特性阻抗测量系统(如标号100所指的虚线框包括的部分)的系统结构图。如图所示，本发明的电路板特性阻抗测量系统100在实际应用上是对上述电路板10进行一阻抗测量程序，测量出该电路板10的特性阻抗(characteristic impedance)。在具体实施上，本发明的电路板特性阻抗测量系统100例如可整合到一自动化的电路板生产线(附图中未标出)，对制成后的成批的微波线路电路板进行一自动化的特性阻抗测量程序。
如图2所示，本发明的电路板特性阻抗测量系统100的系统结构至少包括(a)一电路板定位模块110；(b)一探针模块120；(c)一阻抗测量仪器模块130；以及(d)一品管判别模块140。
电路板定位模块110可将该电路板10如图3所示安置及固定到一测量位置111上。在具体实施上，此电路板定位模块110可例如整合到一自动化的电路板生产线的传输带(未标出)，将制成后的成批的微波线路电路板依序安置及固定在测量位置111上。
探针模块120可于上述电路板定位模块110将该电路板10安置在该测量位置上后，将一组探针121接触到该电路板10上的各条微线路31、32分别所属的测量触点41、42以及接地端33。
阻抗测量仪器模块130可在上述探针模块120的探针121接触到该电路板10上的各个测量触点41、42及接地端33后，将一频率信号通过该探针模块120施加到该电路板10上的各条微线路31、32，借此测量出该电路板10的特性阻抗值(以下以Z1来代表此实际测量到的特性阻抗值)。由于此阻抗测量仪器模块130是采用一常用的阻抗测量仪器测量特性阻抗，因此在说明书中不对其细节作进一步说明。
品管判别模块140可将上述阻抗测量仪器模块130测量到的特性阻抗值Z1，与一客户规格所指定的要求值(以下以Z0表示)作比较；若大致相符合(即Z1＝Z0，或其间的误差小于一预定的百分比，例如3％)，则发出一品管通过信息；反之，若不相符合(即Z1≠Z0，或其间的误差大于3％)，则发出一品管不通过信息。
以下即利用一应用实例说明本发明的电路板特性阻抗测量系统100在实际应用时的操作方式。
请同时参阅图1至图3，在实际应用时，每当制造厂商制造完成一成批的电路板10后，即可将此批电路板10例如以一输送带(未标出)依序通过本发明的电路板特性阻抗测量系统100所在的测试平台。每当有一个电路板10进入此测试平台时，本发明的电路板特性阻抗测量系统100中的电路板定位模块110，即可将该电路板10固定到一测量位置111上。当该电路板10被固定在该测量位置111上后，探针模块120即被激活，将一组探针121接触到该电路板10上的各条微线路31、32的测量触点41、42和其接地端33，接着令阻抗测量仪器模块130即被激活，将一频率信号通过该探针模块120施加到该电路板10上的各条微线路31、32，并借由其响应信号测量出该电路板10的特性阻抗值Z1。接着阻抗测量仪器模块130即将其测量出的特性阻抗值Z1传送给品管判别模块140，令品管判别模块140将此实际测量到的特性阻抗值Z1与一客户的规格所要求特性阻抗值Z0作比较；若为品管不通过信息，则测试人员即会将该电路板10退回给制造部门；反之，若为品管通过信息，则制造厂商即可将该电路板10交货给客户。
本发明的电路板特性阻抗测量方法至少包括以下步骤首先，将该电路板10定位到一测量位置111上，随后，将一组探针121接触到该电路板10上各条微线路31、32分别所属的测量触点41、42和接地端33；接着，将一频率信号通过该组探针121施加到该电路板10上的测量触点41、42和接地端33，测量出该电路板10的特性阻抗值，最后，将测量到的特性阻抗值Z1与一预定的特性阻抗值Z0作比较，若大致相符合(即Z1＝Z0或其间的误差小于一预定的百分比，例如3％)，则发出一品管通过信息；反之，若不相符合(即Z1≠Z0或其间的误差大于3％)，则发出一品管不通过信息。
总而言之，本发明提供了一种新颖的电路板特性阻抗测量方法及系统，应用在对一电路板进行一特性阻抗测量程序；本发明预先在待测的电路板上设定一组测量触点，并在实际进行测量时，将一组探针接触到这些测量触点上，即可令阻抗测量仪器自动测量出该电路板的特性阻抗值，并将实际测量到的特性阻抗值与一客户的规格所要求的特性阻抗值作比较；若不相符合，则将该电路板退回给制造部门。在微波线路电路板的制造上，本发明可快速检验出制成的微波线路电路板的特性阻抗是否符合客户所要求的值，确保制成的电路板的品质性及可用性。
权利要求
1.一种电路板特性阻抗测量方法，应用在对一电路板进行一特性阻抗测量程序，测量出该电路板的特性阻抗，其中该电路板上是预先制出至少一导电线路和一接地端，且该导电线路上预先设置至少一测量触点，其特征在于，该电路板特性阻抗测量方法至少包括将该电路板定位到一测量位置上；将一组探针接触到该电路板上的导电线路的测量触点和接地端；将一频率信号通过该组探针施加到该电路板，测量出该电路板的特性阻抗值；以及将测量到的特性阻抗值与一预定的特性阻抗值作比较；若大致相符合，则发出一品管通过信息；反之，若不相符合，则发出一品管不通过信息。
2.如权利要求1所述的电路板特性阻抗测量方法，其特征在于，该电路板为一微波线路电路板。
3.如权利要求1所述的电路板特性阻抗测量方法，其特征在于，该导电线路包括单线式微线路。
4.如权利要求1所述的电路板特性阻抗测量方法，其特征在于，该导电线路包括差分式微线路。
5.一种电路板特性阻抗测量系统，可应用在对一电路板进行一特性阻抗测量程序，测量出该电路板的特性阻抗，其中该电路板上是预先制出有至少一导电线路和一接地端，且该导电线路上预先设置有至少一测量触点，其特征在于，该电路板特性阻抗测量系统至少包括一电路板定位模块，可将该电路板定位到一测量位置上；一探针模块，可在该电路板定位模块将该电路板定位在该测量位置上后，将一组探针接触到该电路板上的导电线路的测量触点和接地端；一阻抗测量仪器模块，在该探针模块的探针接触到该电路板上的导电线路的测量触点之后，将一频率信号通过该探针模块施加到该电路板，测量出该电路板的特性阻抗值；以及一品管判别模块，可将该阻抗测量仪器模块测量到的特性阻抗值与一预定的特性阻抗值作比较；若大致相符合，则发出一品管通过信息；反之，若不相符合，则发出一品管不通过信息。
6.如权利要求5所述的电路板特性阻抗测量系统，其特征在于，该电路板为一微波线路电路板。
7.如权利要求5所述的电路板特性阻抗测量系统，其特征在于，该导电线路包括单线式微线路。
8.如权利要求5所述的电路板特性阻抗测量系统，其特征在于，该导电线路包括差分式微线路。
全文摘要
一种电路板特性阻抗测量方法及系统，应用在对一电路板进行一特性阻抗测量程序，该电路板特性阻抗测量系统至少包括一电路板定位模块、一探针模块、一阻抗测量仪器模块以及一品管判别模块；本发明的电路板特性阻抗测量方法及系统预先在待测的电路板上设定一组测量触点；并在实际进行测量时，将一组探针接触到这些测量触点上，令阻抗测量仪器自动测量出该电路板的特性阻抗值，并将实际测量到的特性阻抗值与客户规格所要求的特性阻抗值作比较；若不相符合，则即将该电路板退回给制造部门；在微波线路电路板的制造上，本发明可快速检验出制成的微波线路电路板的特性阻抗是否符合客户所要求的值，确保制成的电路板的品质性及可用性。
文档编号G01R31/00GK1940580SQ20051010799
公开日2007年4月4日 申请日期2005年9月30日 优先权日2005年9月30日
发明者金新国, 范文纲 申请人:英业达股份有限公司