专利名称：镀层厚度测量仪标定装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，尤其涉及一种调试、测试类的工装型装置，特别是一种镀层厚度测量仪标定装置。
背景技术：
现有技术中，在生产镀层厚度测量仪时采用试片为中间介质对仪器进行调试，其中有许多缺点(1)试片的规格不全，在实际工作中不可能配齐多种规格的试片，比如小于20μm的试片。(2)试片的精度不高，测试用的试片一般采用PC薄膜或酚醛类的层压板。由于生产的局限，这类薄膜层压板的厚薄、均匀度不理想。在25×45mm大的试片中可用范围只有Φ15的面积。薄膜试片精度不高的原因是经多次测试后厚度变化。以上的不足给涂层测试仪的生产调试和标定带来极大的不便，产品调试的重复性不好，往往一台仪器要经过多次的标定才能符合技术标准。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种镀层厚度测量仪标定装置，所述的这种镀层厚度测量仪标定装置要解决现有技术中利用试片调试镀层厚度测量仪器效果不理想的技术问题。
本实用新型的这种镀层厚度测量仪标定装置由底座、传感器、基块和数显千分表构成，其中，所述的数显千分表和所述的传感器分别设置在所述的底座的上部的两端，所述的传感器的前端设置有螺杆，所述的螺杆上设置有细牙螺纹，所述的基块一端与所述的传感器接触设置，所述的基块的另一端与所述的数显千分表接触设置，所述的基块的内侧设置有压簧。
进一步的，所述的螺杆顶部设置有旋钮。
进一步的，所述的数显千分表的轴向与所述的底座的平面平行。
进一步的，所述的数显千分表轴向与所述的基块呈90度角。
本实用新型与已有技术相对照，效果是积极且明显的。本实用新型以空气为介质，通过变更传感器与基块的距离来标定产品的刻度值，从根本上改变了用试片标定仪器的方法，本实用新型的优点如下所述(1)传感器与基块的距离变化是以旋转M40X0.5的细牙螺纹来完成，它可以以1μm的变化单位在0～5mm之间变更传感器与基块间的距离，使标定值可连续变化。(2)基块有弹性补偿装置可减小传动机构的回程误差。(3)测量传感器与基块距离的是数显式千分表，其测量精度为0.001mm。千分表的示值误差为0.006mm，可满足生产的要求。
图1是本实用新型的镀层厚度测量仪标定装置的一个较佳实施例的原理示意图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型的镀层厚度测量仪标定装置，由底座1、传感器2、基块3和数显千分表4构成，其特征在于所述的数显千分表4和所述的传感器2分别设置在所述的底座1的上部的两端，所述的传感器2的前端设置有螺杆5，所述的螺杆5上设置有细牙螺纹6，所述的基块3一端与所述的传感器2接触设置，所述的基块3的另一端与所述的数显千分表4接触设置，所述的基块1的内侧连接设置有压簧7，具体的，所述的螺杆5顶部设置有旋钮8，所述的数显千分表4的轴向与所述的底座1的平面平行，所述的数显千分表4的轴向与所述的基块3呈90度角。
权利要求1.一种镀层厚度测量仪标定装置，由底座、传感器、基块和数显千分表构成，其特征在于所述的数显千分表和所述的传感器分别设置在所述的底座的上部的两端，所述的传感器的前端设置有螺杆，所述的螺杆上设置有细牙螺纹，所述的基块一端与所述的传感器接触设置，所述的基块的另一端与所述的数显千分表接触设置，所述的基块的内侧设置有压簧。
2.根据权利要求1所述的镀层厚度测量仪标定装置，其特征在于所述的螺杆顶部设置有旋钮。
3.根据权利要求1所述的镀层厚度测量仪标定装置，其特征在于所述的数显千分表的轴向与所述的底座的平面平行。
4.根据权利要求1所述的镀层厚度测量仪标定装置，其特征在于所述的数显千分表轴向与所述的基块呈90度角。
专利摘要一种镀层厚度测量仪标定装置，由底座、传感器、基块和数显千分表构成，数显千分表和传感器分别设置在所述的底座的上部的两端，传感器的前端设置有螺杆，螺杆上设置有细牙螺纹，基块一端与传感器接触设置，基块的另一端与数显千分表接触设置，基块的内侧设置有压簧。本实用新型以空气为介质，通过变更传感器与基块的距离来标定产品的刻度值，从根本上改变了用试片标定仪器的方法。
文档编号G01B5/06GK2869766SQ20062003942
公开日2007年2月14日 申请日期2006年2月10日 优先权日2006年2月10日
发明者庄琴芳 申请人:上海华阳检测仪器有限公司