专利名称：微型工件检测计量治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测计量治具，特别涉及一种微型工件检测计量治具。
背景技术：
目前，随着电路集成化程度的不断提高，用于电子元件中的各种零件的体 积也日趋减小，且同时该等零件的结构和规格还需符合一定的精密度要求。为 确保出厂的微型零件可达到预期的合格率，各生产厂家均需对生产的微型零件 进行检测或计量。以目前常用于数码摄像机镜头等设备中的矩形封口环为例， 生产厂家在完成一批次的封口环生产任务后，通常采用人工方式以放大镜或低 倍率显微镜逐个检测封口环两面的平整度，但该等封口环一般仅有数毫米大小， 即使对其进行单个拾取及翻转操作就较为不易，而若对其进行大批量检测操作 则更为繁瑣。又如，现有的用于集成电路中的电容的壳体通常为微型冲压件， 为控制次冲压件在出厂时的良率，厂家通常需要在各批次冲压件中通过手工方 式抽取几十乃至数百个冲压件进行重量计量，以计算该批次产品与标准品的偏 差，但因该等沖压件体积小，且通常为不规则形态，测试人员在捡取时操作繁 瑣，效率低下，且容易出现少取或多取等失误，最终导致计量结果偏离真实情 况。因此，现有的微型工件检测计量技术均不能满足现代化大规模工业生产的 需求。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提出一种结构筒单，可有效简化微型工件检测计量 工艺过程，提升检测计量效率和准确度的微型工件检测计量治具，以克服现有 技术中的不足。
为实现上述发明目的，本实用新型采用了如下技术方案
一种微型工件检测计量治具，其特征在于，该治具包括一底座，该底座上 端面分布复数个可容纳微型工件的容置槽。
进一步的，该治具还包括一盖板，盖板下端面为可与底座上端面配合的平
3整面。
所述容置槽为沿治具纵长方向平行分布的复数条长条形凹槽。 所述长条形凹槽的底部为平滑面。
所述底座上端面两端设置竖直限位部，两限位部之间的距离可供盖板水平 卡设。
当盖板水平卡设在底座上时，盖板下端面与底座上端面贴合，或盖板下端 面与底座上端面之间留有大于工件厚度的间隙。
所述容置槽为阵列分布在底座上端面的复数个凹槽。
针对现有技术中对微型工件进行计量和/或检测时操作繁瑣、效率低下，且 准确度较差的问题，本案发明人经长期研究和实践，提出了本实用新型微型工 件检测计量治具，利用该微型工件检测计量治具，检测计量人员可一次性定量 选取数个、数百个乃至更多的微型工件进行检测或计量，其不仅高效快捷，且 准确率高。
以利用该微型工件检测计量治具对封口环进行检测的过程为例，其操作方
法可以为
选用底座上端面分布复数条长条形凹槽的治具，并将待检测批次的封口环
铺设在底座上端面上；
振动底座，使封口环进入凹槽内，反复进行该操作，至各凹槽内均布满封 口环；
将底座水平设置，再以低倍率显微镜对封口环的一面进行检测； 检测完成后，将盖板卡设在底座上，然后对治具进行180。翻转，使封口环 脱离凹槽，并分布到盖板下端面上，再重新将盖板和底座分离；
将盖板设置在低倍率显微镜镜头下，从而对封口环另 一面进行检测； 重复上述4喿作，至待检测批次的封口环检测完毕。
相较于现有技术中逐个拾取和翻转封口环进行检测的方法相比，上述操作 过程可大幅度减少检测人员的工作量，缩短检测时间，从而有效提升工作效率。
同样，在利用该微型工件检测治具对微型沖压件等工件进行计量时，亦可 通过与上述过程相似的工艺进行，当然，该工艺中所用的治具可为底座上端面 阵列分布多个凹槽的结构。
另外，需要指出的是，该微型工件检测计量治具可选用树脂、塑料或发泡 材料等一次成型制备，生产工艺简单，成本低廉，且经久耐用。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果在 该微型工件检测计量治具结构筒单，成本低廉，可有效筒化微型工件的检测和计量工艺过程，减少检测 人员的工作量，提高检测计量效率和准确度，并为生产厂家带来良好经济效益。 本实用新型可被广泛应用于各种小型和微型元件的生产、检测、计量和存储等 工艺过程。
以下结合附图及具体实施方式
对本实用新型的内容作进一步说明。
图l是实施例1中微型工件检测计量治具的分解结构示意图； 图2是实施例2中微型工件检测计量治具的结构示意图。
具体实施方式
实施例1如
图1所示，该微型工件检测计量治具可应用于对矩形封口环等 微型工件进行检测，其包括一底座1和一盖板2，底座上端面分布多条沿治具纵 长方向平行分布的长条形凹槽11，且底座上端面两端设置竖直限位部12,两限 位部之间的距离可供盖板水平卡设，盖板下端面为可与底座上端面配合的平整 面。上述长条形凹槽的高度和宽度均略大于封口环的厚度和宽度，其底部为平 滑面。当盖板水平卡设在底座上时，盖板下端面与底座上端面贴合。
利用该微型工件检测计量治具对封口环进行检测的过程为
将待检测批次的封口环铺设在底座上端面上；
振动底座，使封口环进入凹槽内，反复进行该操作，至各凹槽内均布满封 口环；
将底座水平设置，再以低倍率显微镜对封口环的一面进行检测； 检测完成后，将盖板卡设在底座上，然后对治具进行180。翻转，使封口环 脱离凹槽，并分布到盖板下端面上，沿竖直方向将盖板和底座分离；
将盖板设置在低倍率显微镜镜头下，从而对封口环另一面进行检测； 重复上述操作，至待检测批次的封口环检测完毕。
需要指出的是，上述盖板下端面与底座上端面之间亦可留有大于工件厚度 的间隙，这样，当将治具进行180。翻转后，可沿水平方向将盖板从底座的两限 位部之间抽离，再对封口环另 一面进行才全测。
该微型工件检测计量治具结构简单，成本低廉，可有效简化微型工件的检 测工艺过程，减少检测人员的工作量，提高检测效率和准确度，并为生产厂家实施例2如图2所示，该微型工件检测计量治具可应用于对具有椭圓形截
面的微型冲压件等工件进行计量，其包括一底座，底座上端面阵列分布复数个 可容纳上述冲压件的椭圆形凹槽。
利用该微型工件检测计量治具对微型沖压件进行计量的过程为 首先将治具进行称量，得出其重量W"其后将待检测批次的沖压件铺设在
底座上端面上，再振动底座，使沖压件进入凹槽内，反复进行该:操作，至各凹
槽内均填充冲压件，再对治具进行称量，得出填充满沖压件的治具的重量w2，
然后，根据W均产(W2-/n得出该等冲压件的平均重量W均"反复进行上述过 程，得出该批次沖压件的多组平均重量值，最后根据统计学原理，衡量该批次 冲压件的合格率，上述n为底座上端面分布凹槽的数目。
上述实施例仅为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此 项技术的人士能够了解本实用新型的内容并据以实施，并不能以此限制本实用 新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作的等效变化或修饰，都应涵 盖在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种微型工件检测计量治具，其特征在于，该治具包括一底座，该底座上端面分布复数个可容纳微型工件的容置槽。
2. 根据权利要求1所述的微型工件计量治具，其特征在于，该治具还包括 一盖板，盖板下端面为可与底座上端面配合的平整面。
3. 根据权利要求1所述的微型工件检测计量治具，其特征在于，所述容置 槽为沿治具纵长方向平行分布的复数条长条形凹槽。
4. 根据权利要求3所述的微型工件检测计量治具，其特征在于，所述长条 形凹槽的底部为平滑面。
5. 根据权利要求1所述的微型工件检测计量治具，其特征在于，所述底座 上端面两端设置竖直限位部，两限位部之间的距离可供盖板水平卡设。
6. 根据权利要求5所述的微型工件检测计量治具，其特征在于，当盖板水 平卡设在底座上时，盖板下端面与底座上端面贴合，或盖板下端面与底座上端 面之间留有大于工件厚度的间隙。
7. 根据权利要求1所述的微型工件检测计量治具，其特征在于，所述容置 槽为阵列分布在底座上端面的复数个凹槽。
专利摘要本实用新型涉及一种微型工件检测计量治具，该治具包括一底座，该底座上端面分布复数个可容纳微型工件的容置槽。进一步的，该治具还包括一盖板，盖板下端面为可与底座上端面配合的平整面。且上述容置槽为沿治具纵长方向平行分布的复数条长条形凹槽或阵列分布在底座上端面的复数个凹槽。该微型工件检测计量治具结构简单，成本低廉，可有效简化微型工件的检测和计量工艺过程，减少检测人员的工作量，提高检测计量效率和准确度，并为生产厂家带来良好经济效益。本实用新型可被广泛应用于各种小型和微型元件的生产、检测、计量和存储等工艺过程。
文档编号G01B11/30GK201425472SQ20092015753
公开日2010年3月17日 申请日期2009年5月25日 优先权日2009年5月25日
发明者胡岂凡, 许锦华, 木 铃 申请人:华努迪克(苏州)电子有限公司