专利名称：缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法
技术领域：
本发明专利涉及的是缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法，尤其是一种通过光能变化和光形变化进行缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法。
背景技术：
缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法是以折射、反射、全反射缩聚镜(申请号201010028057. 4)，折射、反射、全反射缩聚镜为主体的集成聚光方法(申请号201010134349. 6)，折射、反射缩聚镜(申请号201010028058. 9)，折射、反射缩聚镜为主体的集成聚光方法(申请号201010134358. 5)为基础。
发明内容
本发明的目的是以光能和光形，提供一种通过光能变化和光形变化进行缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法。本发明缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法，包括发光装置、 光转电装置、光线接收装置、固定装置，其特征在于通过发光装置将电能转为光能，光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，对输出光线及输出光线的光能和光形进行检测，进而达到对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元进行检测的目的；发光装置分为两类，第一类是普通光，光线的频率处于一定范围，光线的方向处于一定的范围内，进入缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面的光线具有不确定性，对缩聚镜、 缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测只能达到粗略的水平，第二类是极光，光线的频率达到能发生光电效应的频率，光线的方向性好，对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测达到高精度的水平；固定装置的作用有两个，第一个作用是固定缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元，第二个作用是避光，发光装置发出的光线，在缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的入射面之外的区域，固定装置以吸收和反射的方式进行处理，排除干扰因素；光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的出射面输出，在缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的出射面平行的平面上，对光能和光形进行检测， 对光能检测是对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的聚光效果进行检测，对光能的检测方式分为四种，第一种是将光能转为电能，对电流进行检测，第二种是将光能转为电能，对电压进行检测，第三种是将光能转为电能，电能转为动能，对动能进行检测，第四种是将光能转为电能，电能转为磁能，对磁能进行检测；对光形进行检测，是对光线的传输方向进行检测，在同等条件下，光形的边缘光线离缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的中心对称轴越近，光线传输方向有利于全反射，反之，对光线的全反射不利。本发明缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法由以下附图和实施例详细给出。
图1是缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法的面光源检测的截面示意图；图2是缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法的线光源检测的截面示意图。
具体实施例方式实施例对缩聚镜的检测是对缩聚镜的制造品质进行鉴定，对缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测是对缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的制造品质进行鉴定。图1是缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法的面光源检测的截面示意图，(1)表示中心对称轴，(2)表示发光装置，(3)表示光线，(4)表示缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元，( 表示光能检测装置；光线从发光装置( 产生，光线从缩聚镜的光线入射面进入、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜的光线出射面输出、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，输出的光线通过光能检测装置( 进行检测，光能检测装置( 对光能的检测方式分为四种，第一种是将光能转为电能，对电流进行检测，第二种是将光能转为电能，对电压进行检测，第三种是将光能转为电能，电能转为动能，对动能进行检测，第四种是将光能转为电能，电能转为磁能，对磁能进行检测；光能检测装置(5)对光形的检测，是在检测光能的基础上，以中心对称轴(1)为坐标系统，在光能检测装置(5)的具体坐标对应具体光能，通过光能的分布，判断光形。图2是缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法的线光源检测的截面示意图，(6)表示中心对称轴，(7)表示发光装置，(8)表示光线，(9)表示缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元，(10)表示光能检测装置；光线从发光装置(7)产生，光线从缩聚镜的光线入射面进入、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜的光线出射面输出、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，输出的光线通过光能检测装置(10)进行检测，光能检测装置(10)对光能的检测方式分为四种，第一种是将光能转为电能，对电流进行检测，第二种是将光能转为电能，对电压进行检测，第三种是将光能转为电能，电能转为动能，对动能进行检测，第四种是将光能转为电能，电能转为磁能，对磁能进行检测；光线(8)是线性光束，通过角度和位置变化，检测缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元缩聚光线的临界角度和临界区域。
权利要求
1.本发明缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法，包括发光装置、 光转电装置、光线接收装置、固定装置，其特征在于通过发光装置将电能转为光能，光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，对输出光线及输出光线的光能和光形进行检测，进而达到对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元进行检测的目的；发光装置分为两类，第一类是普通光，光线的频率处于一定范围，光线的方向处于一定的范围内，进入缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面的光线具有不确定性，对缩聚镜、 缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测只能达到粗略的水平，第二类是极光，光线的频率达到能发生光电效应的频率，光线的方向性好，对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测达到高精度的水平；固定装置的作用有两个，第一个作用是固定缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元，第二个作用是避光，发光装置发出的光线，在缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的入射面之外的区域，固定装置以吸收和反射的方式进行处理，排除干扰因素；光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的出射面输出，在缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的出射面平行的平面上，对光能和光形进行检测， 对光能检测是对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的聚光效果进行检测，对光能的检测方式分为四种，第一种是将光能转为电能，对电流进行检测，第二种是将光能转为电能，对电压进行检测，第三种是将光能转为电能，电能转为动能，对动能进行检测，第四种是将光能转为电能，电能转为磁能，对磁能进行检测；对光形进行检测，是对光线的传输方向进行检测，在同等条件下，光形的边缘光线离缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的中心对称轴越近，光线传输方向有利于全反射，反之，对光线的全反射不利。
2.根据权利要求1所述缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法，其特征在于(1)表示中心对称轴，(2)表示发光装置，(3)表示光线，(4)表示缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元，( 表示光能检测装置；光线从发光装置( 产生，光线从缩聚镜的光线入射面进入、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜的光线出射面输出、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，输出的光线通过光能检测装置( 进行检测，光能检测装置( 对光能的检测方式分为四种，第一种是将光能转为电能，对电流进行检测，第二种是将光能转为电能，对电压进行检测，第三种是将光能转为电能，电能转为动能，对动能进行检测，第四种是将光能转为电能，电能转为磁能，对磁能进行检测；光能检测装置(5)对光形的检测，是在检测光能的基础上，以中心对称轴(1)为坐标系统，在光能检测装置(5)的具体坐标对应具体光能，通过光能的分布，判断光形。
3.根据权利要求1所述缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法，其特征在于(6)表示中心对称轴，(7)表示发光装置，(8)表示光线，(9)表示缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元，(10)表示光能检测装置；光线从发光装置(7)产生，光线从缩聚镜的光线入射面进入、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜的光线出射面输出、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，输出的光线通过光能检测装置(10)进行检测，光能检测装置(10)对光能的检测方式分为四种，第一种是将光能转为电能，对电流进行检测，第二种是将光能转为电能，对电压进行检测，第三种是将光能转为电能，电能转为动能，对动能进行检测，第四种是将光能转为电能，电能转为磁能，对磁能进行检测；光线(8)是线性光束，通过角度和位置变化，检测缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元缩聚光线的临界角度和临界区域。
全文摘要
本发明缩聚镜及缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的检测方法，包括发光装置、光转电装置、光线接收装置、固定装置，其特征在于通过发光装置将电能转为光能，光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线入射面进入，光线从缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元的光线出射面输出，对输出光线及输出光线的光能和光形进行检测，进而达到对缩聚镜、缩聚镜为主体的集成缩聚功能单元进行检测的目的。
文档编号G01M11/02GK102384837SQ201010268958
公开日2012年3月21日 申请日期2010年8月31日 优先权日2010年8月31日
发明者王玄极 申请人:成都易生玄科技有限公司