专利名称：磁传感器测试方法及其系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种磁传感器测试方法及其系统。
背景技术：
随着消费类电子功能的日益扩展，传感器的应用逐步普及，并且磁传感器已经成为一些手持类电子产品的标配。由于磁传感器的特殊性，一般的生产商都采用特制的测试系统进行生产、测试。这样不仅大大提高了磁传感器的成本，而且不利于磁传感器的推广与运用。例如，在一个现有磁传感器的测试方式中，其是利用线圈来产生一个均匀的磁场，通过改变流过线圈的电流来控制磁场的大小，从而进行测试。在这种测试方式中，其中线圈 的大小，线圈的安装精度，以及电流的大小都会直接影响到磁场的均匀度，进而影响到产品的性能指标。而且与此同时，线圈能够产生的均匀磁场的面积非常有限，这样又进一步的提高了测试系统的复杂度，降低了测试系统的效率，提高了产品的测试成本。因此，确有必要提供一种新型的磁传感器测试方法来克服现有技术中的缺陷。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是，现有磁传感器测试方式成本高、效率低。本发明提供一种磁传感器的测试方法，其利用地球磁场来进行磁传感器的测试，有效的降低了测试成本,并且还极大的提高了测试效率。为了解决上述技术问题，本发明所提出的技术方案是一种磁传感器测试方法，包括将测试装置的X轴与当地磁场的磁力线平行；使用标准电路校准测试装置的接口 X轴的磁场参数；将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时X轴与地磁场的磁力线平行，读出待测传感器的输出Xi ；旋转待测磁传感器180度，读出待测磁传感器的输出X2 ；根据待测磁传感器的输出Xl和X2，计算待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度。进一步的，在不同实施方式中，本发明涉及的测试方法，还可以扩展应用到测试多轴磁传感器，例如，2轴磁传感器,3轴磁传感器上。进一步的，在一个测试2轴磁传感器的实施方式中，本发明涉及的磁传感器测试方法，包括有以下步骤将测试装置的X轴与当地磁场的磁力线平行，Y轴则与磁力线垂直；使用标准电路校准测试装置接口的X、Y轴的磁场参数；将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时X轴与地磁场的磁力线平行，读出此时待测传感器的输出Xl ；
将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时Y轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Yl ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时X轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出X2 ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时Y轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Y2 ；根据待测磁传感器的输出XI、X2和Yl、Y2，计算待测磁传感器X、Y轴的偏置输出和/或灵敏度。进一步的，在一个测试3轴磁传感器的实施方式中，本发明涉及的磁传感器测试方法，包括有以下步骤将测试装置的X轴与当地磁场的磁力线平行，Y、Z轴则与磁力线垂直； 使用标准电路校准测试装置接口的X、Y及Z轴的磁场参数；将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时X轴与地磁场的磁力线平行，读出此时待测传感器的输出Xl ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时Y轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Yl ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时X轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出X2 ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时Y轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Y2 ；将待测磁传感器的Z轴顺时针旋转90度，此时Z轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Zl。将待测磁传感器的Z轴逆时针旋转180度，此时Z轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Z2。根据待测磁传感器的输出X1、X2、Y1、Y2以及Zl、Z2，计算待测磁传感器X、Y及Z轴的偏置输出和/或灵敏度。进一步的，本发明涉及的测试方法中，所涉及使用的测试装置可以是业界已知的磁传感器测试装置。进一步的，本发明涉及的测试方法中，所涉及使用的计算磁传感器各轴偏置输出的公式为X偏置输出=(Xl+X2)/2 ;Y偏置输出=(Yl+Y2)/2 ;以及Z偏置输出=(Zl+Z2)/2。进一步的，本发明涉及的测试方法中，所涉及使用的计算磁传感器各轴灵敏度的公式为X灵敏度=(Xl-X2)/2/该位置X补偿系数；Y灵敏度=(Yl-Y2)/2/该位置Y补偿系数；以及Z灵敏度=(Zl-Z2)/2/该位置Z补偿系数。进一步的，本发明的又一个方面还提供了一种磁传感器测试系统，其可操作实施本发明涉及的磁传感器测试方法。其所使用的技术方案为一种磁传感器测试系统，包括磁传感器测试装置、数据处理装置以及转轴；其中测试装置设置有用于连接待测磁传感器的接口，且接口与标准电路连接并由其校准其磁场参数；转轴与接口连接并可带动接口进行枢轴旋转；而数据处理装置则用于处理测试装置接口连接的待测磁传感器在测试过程中，读出的磁场输出数据，进而得出待测磁传感器的偏置输出和/或灵敏度信息。进一步的，在不同实施方式中，其中磁传感器测试系统还包括有驱动马达，其与转轴连接，并驱动转轴枢轴旋转。进一步的，在不同实施方式中，其中磁传感器测试系统还包括有数据输出装置，其与数据处理装置连接。例如，其可以是显示器、打印机、传真机等等。其用于输出数据处理装置的数据处理结果，以供操作人员获得待测磁传感器的测试结果。与现有技术相比，本发明的有益效果是本发明涉及的单轴或多轴磁传感器测试方法及其系统，基于地球磁场进行待测磁传感器的测试，极大地降低了磁传感器的生产成本，同时还提高了测试效率，有利于磁传感器的大规模生产和普及。
图I为本发明涉及的磁传感器测试系统的逻辑结构图。
具体实施例方式下面结合附图详细说明本发明的具体实施方式
。在一个本发明涉及的磁传感器测试方法的实施方式中，待测磁传感器为一个3轴磁传感器，其包括有以下步骤将测试装置的X轴与当地磁场的磁力线平行，Y、Z轴则与磁力线垂直；使用标准电路校准测试装置接口的X、Y及Z轴的磁场参数；将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时X轴与地磁场的磁力线平行，读出此时待测传感器的输出Xl ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时Y轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Yl ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时X轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出X2 ；将待测磁传感器的XY平面顺时针旋转90度，此时Y轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Y2 ；将待测磁传感器的Z轴顺时针旋转90度，此时Z轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Zl。将待测磁传感器的Z轴逆时针旋转180度，此时Z轴与地磁场方向平行，读出此时待测传感器的输出Z2。 根据待测磁传感器的输出Xl、X2、Yl、Y2、Zl、Z2，计算待测磁传感器X、Y及Z轴的
偏置输出与灵敏度。其中所涉及使用的计算磁传感器各轴偏置输出的公式为X偏置输出=(Xl+X2)/2 ;丫偏置输出=(Y1+Y2)/2;Z 偏置输出=(Zl+Z2)/2。所涉及使用的计算磁传感器各轴灵敏度的公式为X灵敏度=(Xl_X2)/2/该位置X补偿系数；Y灵敏度=(Yl-Y2)/2/该位置Y补偿系数；Z灵敏度=(Z1-Z2)/2/该位置Z补偿系数。
进一步的，以上涉及的测试方法中，所涉及使用的测试装置可以是业界已知的磁传感器测试装置。进一步的，本发明的又一个方面还提供了一种磁传感器测试系统，其可操作实施本发明涉及的磁传感器测试方法。如图I所示，一种磁传感器测试系统，包括有磁传感器测试装置、数据处理装置、数据输出装置、转轴以及马达；其中测试装置设置有用于连接待测磁传感器的接口，且接口与标准电路连接并由其校准其磁场参数；转轴与接口连接并在马达的驱动下可带动接口进行枢轴旋转；而数据处理装置则用于处理测试装置接口连接的待测磁传感器在测试过程中，读出的磁场输出数据，进而得出待测磁传感器的偏置输出或灵敏度信息；而数据输出装置则用于输出数据处理装置的数据处理结果，以供操作人员获得待测磁传感器的测试数据。进一步的，其中涉及的数据处理装置可以是基于现代计算机系统硬件及其软件的 数据处理装置。数据输出装置可以是显示器、打印机、传真机等等。本发明涉及的单轴或多轴磁传感器测试方法及其系统，利用地球磁场代替磁场线圈，通过改变待测磁传感器在地球磁场中的位置，实现了对磁传感器的测试。同时采用基于计算机系统的数据处理装置，大大降低了测试成本，提高了测试效率，有利于磁传感器的大规模生产和普及。以上所述仅为本发明的较佳实施方式，本发明的保护范围并不以上述实施方式为限，但凡本领域普通技术人员根据本发明揭示内容所作的等效修饰或变化，皆应纳入权利要求书中记载的保护范围内。
权利要求
1.一种磁传感器测试方法，其特征在于其包括有以下步骤 将测试装置的X轴与当地磁场的磁力线平行； 使用标准电路校准测试装置的接口 X轴的磁场参数； 将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时X轴与地磁场的磁力线平行，读出待测传感器的输出Xl ； 旋转待测磁传感器180度，读出待测磁传感器的输出X2 ； 根据待测磁传感器的输出Xl和X2，计算待测磁传感器X轴的偏置输出和/或灵敏度。
2.如权利要求I所述的方法，其特征在于，其还包括有测试待测磁传感器Y轴的步骤，其包括有 使用标准电路校准测试装置的接口 Y轴的磁场参数； 将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时其Y轴与地磁场的磁力线平行，读出待测传感器的输出Yl ； 旋转待测磁传感器180度，读出待测磁传感器的输出Y2 ； 根据待测磁传感器的输出Yl和Y2，计算待测磁传感器Y轴的偏置输出和/或灵敏度。
3.如权利要求I所述的方法，其特征在于，其还包括有测试待测磁传感器Z轴的步骤，其包括有 使用标准电路校准测试装置的接口 Z轴的磁场参数； 将待测磁传感器接入测试装置的接口上，此时其Z轴与地磁场的磁力线平行，读出待测传感器的输出Zl ； 旋转待测磁传感器180度，读出待测磁传感器的输出Z2 ； 根据待测磁传感器的输出Zl和Z2，计算待测磁传感器Y轴的偏置输出和/或灵敏度。
4.如权利要求I所述的方法，其特征在于，其中涉及使用的计算待测磁传感器各轴偏置输出的公式包括有以下公式中的至少一个X偏置输出=(X1+X2)/2 ；Y偏置输出=(Yl+Y2)/2 ;以及 Z 偏置输出=(Zl+Z2)/2。
5.如权利要求I所述的方法，其特征在于，其中涉及使用的计算待测磁传感器各轴灵敏度的公式包括有以下公式中的至少一个Χ灵敏度=(Χ1_Χ2)/2/该位置X补偿系数；￥灵敏度=(Υ1_Υ2)/2/该位置Y补偿系数；以及Z灵敏度=(Zl-Z2)/2/该位置Z补偿系数。
6.一种用于实施如权利要求I所述磁传感器测试方法的磁传感器测试系统，其特征在于，其包括有磁传感器测试装置、数据处理装置以及转轴；其中测试装置设置有用于连接待测磁传感器的接口，且接口与标准电路连接并由其校准其磁场参数；转轴与接口连接并可带动接口进行枢轴旋转；而数据处理装置则用于处理测试装置接口连接的待测磁传感器在测试过程中，读出的磁场输出数据，进而得出待测磁传感器的偏置输出和/或灵敏度信肩、O
7.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，其还包括有驱动马达，其与转轴连接，并驱动转轴枢轴旋转。
8.如权利要求6所述的测试系统，其特征在于，其还包括有数据输出装置，其与数据处理装置连接。
全文摘要
本发明涉及一种磁传感器测试方法及其系统，其为将待测磁传感器的X轴与地磁场方向平行，使用校准过的磁传感器测试装置读出待测磁传感器的X轴的输出，然后根据测试获得的输出数据计算得出待测磁传感器X轴的偏置输出和灵敏度。本发明涉及的磁传感器测试方法及其系统，利用地球磁场进行测试，极大地降低了磁传感器的生产成本，同时还提高了测试效率，有利于磁传感器的大规模生产和普及。
文档编号G01R35/00GK102798832SQ20111013984
公开日2012年11月28日 申请日期2011年5月27日 优先权日2011年5月27日
发明者刘海东, 顾浩琦, 李皓, 丁雪龙 申请人:美新半导体(无锡)有限公司