专利名称：Ftir分析检测仪光路保护装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种FIlR分析检测仪，尤其是一种FIlR分析检测仪光路保护装置。
背景技术：
对有机物质的分析检测经常用到FIlR分析检测仪。在对有机物质进行分析时，分析样品放置于样品固定台上，FTIR分析检测仪的光路位于显微主体与放置样品的固定台之间，通过透射法进行成分分析。由于光路的外部由胶性物质保护，密封性不佳，长期使用中容易引起灰尘进入，导致聚光镜被污染，影响聚光镜的照明作用，使仪器无法正常使用。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种能够有效的防止灰尘进入光路底部的聚光镜，避免对透射检测造成影响，提高了准确性及减少仪器故障的FTIR分析检测仪光路保护装置。为解决上述问题，本实用新型的一种FIlR分析检测仪光路保护装置，包括显微主体，聚光镜位于显微主体上，显微主体上方一定距离设置有放置样品的固定台，光路位于显微主体与固定台之间，其特征在于所述显微主体与固定台之间还设置有防尘罩，光路位于该防尘罩中。所述防尘罩通过螺栓固定在显微主体上。所述防尘罩与显微主体之间以及防尘罩与固定台之间的接触端部气密封。采用本实用新型结构的FIlR分析检测仪光路保护装置，能够更好地确保光路通透，有效地防止灰尘进入，使光路底部的聚光镜保持清洁，对透射样有良好的照明作用， 提高样品检测的准确性，减少因灰尘挡住聚光镜而引起的仪器故障。
图1为本实用新型FIlR分析检测仪光路保护装置的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型技术方案，
以下结合附图和实施方式对本实用新型作进一步的详细说明。如图1所示，本实用新型的FIlR分析检测仪光路保护装置，包括显微主体1，聚光镜(图中未示出)位于显微主体1上，显微主体1上方一定距离设置有放置样品的固定台 2，光路3位于显微主体1与固定台2之间。所述显微主体1与固定台2之间还设置有防尘罩4，光路3位于该防尘罩4中。所述防尘罩4通过螺栓固定在显微主体1上。所述防尘罩4与显微主体1之间以及防尘罩4与固定台2之间的接触端部气密封。
权利要求1.一种FIlR分析检测仪光路保护装置，包括显微主体，聚光镜位于显微主体上，显微主体上方一定距离设置有放置样品的固定台，光路位于显微主体与固定台之间，其特征在于所述显微主体与固定台之间还设置有防尘罩，光路位于该防尘罩中。
2.如权利要求1所述FIlR分析检测仪光路保护装置，其特征在于所述防尘罩通过螺栓固定在显微主体上。
3.如权利要求1或2所述FIlR分析检测仪光路保护装置，其特征在于所述防尘罩与显微主体之间以及防尘罩与固定台之间的接触端部气密封。
专利摘要本实用新型公开了一种能够有效的防止灰尘进入光路底部的聚光镜，避免对透射检测造成影响，提高了准确性及减少仪器故障的FTIR分析检测仪光路保护装置，包括显微主体，聚光镜位于显微主体上，显微主体上方一定距离设置有放置样品的固定台，光路位于显微主体与固定台之间，其特征在于所述显微主体与固定台之间还设置有防尘罩，光路位于该防尘罩中。采用本实用新型结构的FTIR分析检测仪光路保护装置，能够更好地确保光路通透，有效地防止灰尘进入，使光路底部的聚光镜保持清洁，对透射样品有良好的照明作用，提高样品检测的准确性，减少因灰尘挡住聚光镜而引起的仪器故障。
文档编号G01N21/15GK202204765SQ201120301350
公开日2012年4月25日 申请日期2011年8月18日 优先权日2011年8月18日
发明者宋津京, 郝俊胜 申请人:三星高新电机(天津)有限公司