专利名称：电子元件检查设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子元件检查设备，更具体地说，涉及一种可快速且准确地检查电子元件的各种特性的电子元件检查设备。
背景技术：
为了降低电子元件的缺陷率并确保电子元件的性能稳定，需要检查安装在电子装置中的电子元件。对电子元件的检查 可分为目视检查和性能检查。目视检查通过检查电子元件的外观确定电子元件是否有缺陷，而性能检查检查电子元件的电特性(例如，电容、绝缘电阻
等。
一般来说，电子元件的目视检查可通过拍摄装置快速且准确地执行。然而，在电子元件的性能检查中，检查电子元件的电特性需要基本时间，这样可能难以快速且准确地检查多个电子元件。具体地说，由于在电子元件的电容检查时间和电子元件的绝缘电阻检查时间之间存在显著差别，所以难以在单个检查设备或单个检查线路中同时执行多种性能检查。
发明内容
本发明的一方面提供一种能够快速且准确地检查电子元件的电特性的电子元件检查设备。根据本发明的一方面，提供一种电子元件检查设备，该电子元件检查设备包括:第一旋转单元，能够基于第一旋转轴旋转；多个第二旋转单元，基于第二旋转轴可旋转地设置在第一旋转单元中；检查单元，检查安装在第二旋转单元中的电子元件的特性。第二旋转轴可基于第一旋转轴沿着第一旋转单元的圆周设置。第二旋转单元可包括多个安装单元，电子元件安装在所述多个安装单元上。所述多个安装单元可基于第二旋转轴沿着第二旋转单元的圆周设置。所述多个安装单元可沿着第二旋转单元的径向形成为多排。检查单元可包括第一检查单元和第二检查单元，第一检查单元检查电子元件的第一特性，第二检查单元检查电子元件的第二特性。第一检查单元可测量电子元件的电容，第二检查单元可测量电子元件的绝缘电阻。第一检查单元可以至少有一个，第二检查单元可以至少有两个。第一检查单元和第二检查单元可基于第一旋转轴沿着第一旋转单元的圆周设置。第一检查单元和第二检查单元可设置在第一旋转单元的边缘。
第一检查单元和第二检查单元可被设置为对应于第二旋转单元。
电子元件检查设备还可包括第三旋转单元，第三旋转单元设置在第一旋转单元中。
第一检查单元和第二检查单元可设置在第三旋转单元上。
第三旋转单元可相对于第一旋转单元相对地旋转。
根据本发明的另一方面，提供一种电子元件检查设备，该电子元件检查设备包括:第一旋转单元，能够基于第一旋转轴旋转；多个第二旋转单元，基于第二旋转轴可旋转地设置在第一旋转单元中，并包括多个安装单元，多个电子元件安装在所述多个安装单元中；第一检查单元，检查安装在所述多个安装单元中的多个电子元件的第一特性；第二检查单元，检查安装在所述多个安装单元中的多个电子元件的第二特性。
第二检查单元可沿着第二旋转轴竖直地运动。
第一检查单元可测量电子元件的电容，第二检查单元可测量电子元件的绝缘电阻。
电子元件检查设备还可包括:供应单元，将待检查的电子元件供应到第二旋转单元；排出单元，将完成了检查的电子元件从第二旋转单元排出。
安装单元可基于第二旋转轴沿着第二旋转单元的圆周设置。
安装单元可沿着第二旋转单元的径向形成为多排。
通过下面结合附图进行的详细描述，本发明的上述和其他方面、特点及其他优点将会被更加清楚地理解，在附图中:
图1和图2是示出根据本发明的第一实施例的电子元件检查设备的构造视图3和图4是示出根据本发明的第二实施例的电子元件检查设备的构造视图5是示出根据本发明的第三实施例的电子元件检查设备的构造视图6是示出根据本发明的第四实施例的电子元件检查设备的构造视图7是示出根据本发明的第五实施例的电子元件检查设备的构造视图8是示出在图7中示出的电子元件检查设备的侧视图9是在图7中示出的电子元件检查设备的变型示例。
具体实施方式
在下文中，将参照附图详细描述本发明的实施例。
在下面描述本发明的过程中，考虑到每个部件的功能来命名指示本发明的部件的术语。因此，所述术语不应该被理解为限制本发明的技术部件元素。
为了执行电子元件的性能检查，可能需要检查至少两种电特性。例如，为了多层陶瓷电容器(在下文中，被称为“MLCC”)的性能检查的目的，可执行电容检查和绝缘电阻检查。
然而，MLCC的电容检查可在相对短的时间段内执行，然而，MLCC的绝缘电阻检查可能需要相对长的时间段。
因此，当在单个检查线路中检查多个MLCC时，MLCC的性能检查速度可能延迟MLCC的绝缘电阻检查所需的时间。同时，可设置多个绝缘电阻检查设备，以提高MLCC的性能检查速度，但是，在这种情况下，可能难以在执行MLCC的绝缘电阻检查的同时连续地供应MLCC。为了解决上述缺陷，可提供根据本发明的实施例的能够连续地检查多个电子元件(具体地说，MLCC)的电子元件检查设备。图1和图2是示出根据本发明的第一实施例的电子元件检查设备的构造视图，图3和图4是示出根据本发明的第二实施例的电子元件检查设备的构造视图，图5是示出根据本发明的第三实施例的电子元件检查设备的构造视图，图6是示出根据本发明的第四实施例的电子元件检查设备的构造视图，图7是示出根据本发明的第五实施例的电子元件检查设备的构造视图，图8是示出在图7中示出的电子元件检查设备的侧视图，图9是在图7中示出的电子元件检查设备的变型示例。将参照图1和图2详细描述根据本发明的第一实施例的电子元件检查设备。根据本发明的第一实施例的电子元件检查设备10可包括第一旋转单元100、第二旋转单元200和210以及检查单元400和410。此外，电子元件检查设备10还可包括电子元件供应单元500和电子元件排出单元510。另外，电子元件检查设备10还可包括:第一输送头(未示出)，将电子元件供应单元500的电子元件输送到第二旋转单元200 ;第二输送头(未示出)，将第二旋转单元200的电子元件输送到电子元件排出单元510。这里，第一输送头和第二输送头可设置成单个装置，或者可一体地形成为一个装置。第一旋转单元100可具有第一旋转轴102，第一旋转单元100可形成为盘形，该盘形基于第一旋转轴102具有第一半径Rl。第一旋转单元100可基于第一旋转轴102旋转。这里，第一旋转单元100的旋转可通过控制单元(未示出)被间断地执行。例如，在图1中示出的第一旋转单元100可在每个指定时间内每次旋转180度。即，第一旋转单元100可通过控制单元的第一操作信号每次旋转180度。然而，第一旋转单元100的旋转角度可根据形成在第一旋转单元100中的第二旋转单元200和210的数量而不同。例如，当三个第二旋转单元形成在第一旋转单元100中时，由于第一旋转单元100的单次操作所导致的第一旋转单元100的旋转角度可以是120度。另外，当四个第二旋转单元形成在第一旋转单元100中时，由于第一旋转单元100的单次操作所导致的第一旋转单元100的旋转角度可以是90度。第二旋转单元200和210可分别具有第二旋转轴202和212，第二旋转单元200可形成为盘形，该盘形基于第二旋转轴202具有第二半径R2，第二旋转单元210可形成为盘形，该盘形基于第二旋转轴212具有第二半径R2。第二旋转单元200和210可与第一旋转单元100结合。具体地说，第二旋转单元200可通过第二旋转轴202与第一旋转单元100结合，且可基于第二旋转轴202在第一旋转单元100上旋转，第二旋转单元210可通过第二旋转轴212与第一旋转单元100结合，且可基于第二旋转轴212在第一旋转单元100上旋转。这里，第二旋转轴202和212中的每个与第一旋转轴102之间的距离L可小于第一半径Rl，即，第二旋转轴202和212基于第一旋转轴102沿着第一旋转单元100的圆周设置。
第二旋转单元200和210分别可包括安装单元204和214。安装单元204和214可以是安装电子元件的空间。例如，安装单元204和214可以是分别形成在第二旋转单元200和210中的凹入空间。可选地，安装单元204和214中的每个可以是能够与电子元件结合的单独构件。
如上所述形成的安装单元204可基于第二旋转轴202沿着第二旋转单元200的圆周设置在第一旋转单元100上，如上所述形成的安装单元214可基于第二旋转轴212沿着第二旋转单元200的圆周设置在第一旋转单元100上。例如，如图1所示，多个单独的安装单元204可基于第二旋转轴202以所述多个单独的安装单元204之间具有预定间隔的方式布置，多个单独的安装单元214可基于第二旋转轴212以所述多个单独的安装单元214之间具有预定间隔的方式布置。同时，在图1中，包括安装单元204的六个安装单元形成在第二旋转单元200中，包括安装单元214的六个安装单元形成在第二旋转单元210中，然而，包括安装单元204的安装单元的数量以及包括安装单元214的安装单元的数量可根据电子元件的类型减少或增加。
第二旋转单元200和210可分别基于第二旋转轴202和212旋转。这里，第二旋转单元200和210的旋转可通过控制单元(未示出)被间断地执行。例如，在图1中示出的第二旋转单元200和210可在每个指定时间内每次旋转60度。即，第二旋转单元200和210可通过控制单元的第二操作信号每次旋转60度。
然而，第二旋转单元200的旋转角度可根据包括形成在第二旋转单元200中的安装单元204的安装单元的数量而不同，第二旋转单元210的旋转角度可根据包括形成在第二旋转单元210中的安装单元214的安装单元的数量而不同。例如，当四个安装单元形成在第二旋转单元200中时，由于单次操作所导致的第二旋转单元200的旋转角度可以是90度，当四个安装单元形成在第二旋转单元210中时，由于单次操作所导致的第二旋转单元210的旋转角度可以是90度。当八个安装单元形成在第二旋转单元200中时，由于第二旋转单元200的单次操作所导致的第二旋转单元200的旋转角度可以是45度，当八个安装单元形成在第二旋转单元210中时，由于第二旋转单元210的单次操作所导致的第二旋转单兀210的旋转角度可以是45度。
检查单元400和410可以是检查电子元件的电特性的装置。例如，第一检查单元400可以是测量电子元件的第一特性(电容)的装置，第二检查单元410可以是测量电子元件的第二特性(绝缘电阻)的装置。
第一检查单元400可以是每次只检查单个电子元件的装置，第二检查单元410可以是每次检查至少两个电子元件的装置。可选地，可设置单个第一检查单元400，同时可设置多个第二检查单元410，从而每次检查多个电子元件。
这里，第二检查单元410的数量或者由第二检查单元410每次检查的电子元件的数量可与第一特性和第二特性之间的检查时间的比例值成比例地增加。例如，当第一特性检查时间是10秒，第二特性检查时间是20秒时，第二检查单元410的数量可以是第一检查单元400的数量的两倍。当第一特性检查时间是10秒，第二特性检查时间是30秒时，第二检查单元410的数量可以是第一检查单元400的数量的三倍。
上述构造可用于电子元件的绝缘电阻检查时间比电子元件的电容检查时间长的情况。然而，在通过第一检查单元400进行特性检查所需要的时间比通过第二检查单元410进行特性检查所需要的时间长的情况下，反过来也是一样的。检查单元400和410可设置在第一旋转单元100的边缘，即，第一检查单元400和第二检查单元410基于第一旋转轴102沿着第一旋转单元100的圆周设置。具体地说，彼此不同的第一检查单元400和第二检查单元410可被设置为分别检查第二旋转单元200的电子元件和第二旋转单元210的电子元件。例如，第一检查单元400可被设置为检查第二旋转单元200的电子元件，第二检查单元410可被设置为检查第二旋转单元210的电子元件。然而，这是基于图1的设置状态。因此，当第一旋转单元100旋转180度时，可改变检查单元400和410的检查对象。电子元件供应单元500可以是连续地或者间断地供应电子元件的装置。例如，电子元件供应单元500可以是输送器。电子元件供应单元500可将电子元件供应到第二旋转单元200和210。例如，电子元件供应单元500可与第二旋转单元200和210选择性地连接，以供应电子元件。可选地，电子元件供应单元500可通过第一输送头将电子元件供应到第二旋转单元200和210。电子元件排出单元510可以是连续地或者间断地排出电子元件的装置。例如，电子元件排出单元510可以是输送器。电子元件排出单元510可将第二旋转单元200的电子元件和第二旋转单元210的电子元件排出到外部。例如，电子元件排出单元510可与第二旋转单元200和210选择性地连接，以将电子元件排出到外部。可选地，电子元件排出单元510可通过第二输送头将电子元件从第二旋转单元200和210排出到外部。在下文中，将描述使用如上所述构造的电子元件检查设备的检查过程。根据本发明的实施例的电子元件检查设备的检查过程可包括电子元件供应、第一检查、位置改变、排出和第二检查。<电子元件供应>可执行电子元件供应，以供应电子元件。S卩，在该操作中，电子元件600、610、620、630,640和650可通过电子元件供应单元500供应到第二旋转单元200。电子元件可通过电子元件供应单元500被连续地或间断地供应到第二旋转单元200。这里，电子元件供应单元500的电子元件可通过单独的输送头被安装在第二旋转单元200的安装单元204中。同时，在该操作中，第二旋转单元200可以以恒定的速度旋转。例如，第二旋转单元200可每隔第一时间间隔旋转，以使新的安装单元204靠近电子元件供应单元500。这里，第一时间间隔可以是将电子元件供应单元500的电子元件安装在安装单元204中所需要的时间。然而，在该操作中，当第一输送头将电子元件供应单元500的电子元件自动地输送到每个安装单元204时，第二旋转单元200可以不旋转。<第一检查>可执行第一检查，以检查电子元件的单个特性。即，在该操作中，检查单元400和410可检查电子元件的第一特性和第二特性。具体地说，当电子元件安装在第二旋转单元200的所有安装单元204中时，第一检查单元400可检查安装单元204的电子元件600、610、620、630、640和650。例如，第一检查单元400可以每次检查单个电子元件，并测量电子元件的第一特性(例如，电容)。
第一检查单元400可将测量的第一检查值发送到控制单元。可选地，第一检查单元400可基于第一检查值确定相应的电子元件是否有缺陷。同时，通过第一检查单元400或控制单元被确定为有缺陷的电子元件可在该操作中或者在随后的操作中通过单独的输送头被去除。
第二旋转单元200可每隔第二时间间隔旋转。例如，当完成了通过第一检查单元400对电子元件600的第一特性检查时，第二旋转单元200可旋转第一角度(Θ I)。
这里，第二时间间隔可以是检查电子元件的第一特性所需要的时间。另外，第一角度(Θ1)可以是由两个相邻的安装单元204与第二旋转轴202形成的角度。例如，在图1中，第一角度(Θ I)可以是60度。然而，由于第一角度限于本实施例，所以第一角度(Θ I)可根据形成在第二旋转单元200中的安装单元204的数量而不同。
第一检查单元400可需要第一检查时间Tl，以检查电子元件600、610、620、630、640和650的第一特性。这里，第一检查时间Tl可由下面的等式I表示。
[等式I]
Tl = (El+Tr2) XPn
这里，Tl表示检查安装在第二旋转单元中的所有电子元件的第一特性所需要的时间，El表示检查一个电子元件的第一特性所需要的时间，Tr2表示第二旋转单元旋转第一角度所需要的时间，Pn表示安装在第二旋转单元中的电子元件的总数量。
同时，可在供应电子元件的同时执行通过第一检查单元400对电子元件的检查。
在该操作中，可同时执行通过第二检查单元410对电子元件的检查。即，当电子元件安装在第二旋转单元210中时，第二检查单元410可检查相应的电子元件700、710、720、730、740和750的第二特性。
例如，第二检查单元410可以每次检查至少两个电子元件，并测量电子元件的第二特性(例如，绝缘电阻)。
第二检查单元410可将测量的第二检查值发送到控制单元。可选地，第二检查单元410可基于第二检查值确定相应的电子元件是否有缺陷。同时，通过第二检查单元410或控制单元被确定为有缺陷的电子元件可在该操作中或者在随后的操作中通过单独的输送头被去除。
第二旋转单元210可每隔第三时间间隔旋转。例如，当完成了通过第二检查单元410对电子元件700和750的第二特性检查时，第二旋转单元210可旋转第二角度(Θ 2)。
这里，第三时间间隔可以是检查电子元件的第二特性所需要的时间。另外，第二角度(Θ 2)可以是由当前检查的电子元件、接下来检查的电子元件与第二旋转轴212形成的角度。具体地说，第二角度(Θ 2)可以是通过将第一角度(Θ I)乘以通过第二检查单元410每次检查的电子元件的数量而获得的值。例如，在图1中，第二角度(Θ2)可以是120度。然而，与第一角度类似，第二角度可根据形成在第二旋转单元210中的安装单元214的数量而不同。
第二检查单元410可需要第二检查时间T2，以检查电子元件700、710、720、730、740和750的第二特性。这里，第二检查时间T2可由下面的等式2表示。
[等式2]
T2 = (E2+Tr2) ΧΡη/Ε2η这里，Τ2表示检查安装在第二旋转单元中的所有电子元件的第二特性所需要的时间，Ε2表示检查一个电子元件的第二特性所需要的时间，Tr2表示第二旋转单元旋转第二角度所需要的时间，Pn表示安装在第二旋转单元中的电子元件的总数量，E2n表示能够通过第二检查单元410每次检查的电子元件的数量。作为参考，第二旋转单元210的电子元件700、710、720、730、740和750可以是通
过第一检查单元400完成了第一特性检查的元件。在如上所述的操作中，可同时检查电子元件的第一特性和第二特性，从而可快速地检查电子元件的电特性。<位置改变>可执行位置改变，以改变第二旋转单元相对于检查单元的位置。S卩，如图2所示,在该操作中，第二旋转单元200和210相对于检查单元400和410的相对位置可通过使第一旋转单元100旋转而改变。当第一检查单元400完成对第二旋转单元200的电子元件的第一特性检查，第二检查单元410完成对第二旋转单元210的电子元件的第二特性检查时，第一旋转单元100可旋转第三角度(Θ3)。这里，第三角度(Θ3)可以是由第二旋转单元200和210与第一旋转轴102形成的角度。例如，在图1中，第三角度(Θ 3)可以是180度。当第一旋转单元100旋转第三角度(θ 3)时，可改变第二旋转单元200和210相对于检查单元400和410的相对位置，从而可通过检查单元400和410检查新的电子元件的特性(见图2)。〈排出和第二检查〉可执行排出和第二检查，以排出一部分电子元件并检查其他电子元件的其他特性。即，在该操作中，第二检查单元410可检查第二旋转单元210的电子元件，第二输送头(未示出)可排出第二旋转单元210的电子元件。由于第二旋转单元200的电子元件600、610、620、630、640和650是仅仅通过第一
检查单元400完成了第一特性检查的元件，所以接下来可通过第二检查单元410执行对这些电子元件的第二特性检查。与电子元件600、610、620、630、640和650不同的是，第二旋转单元210的电子元件700、710、720、730、740和750可以全部是通过第一检查单元400和第二检查单元410完成了特性检查的元件，从而在该操作中排出这些电子元件。完成了检查的电子元件可通过电子元件排出单元510输送到其他处理。另外，从检查的电子元件中被确定为有缺陷的元件可通过单独的输送单元被去除。同时，当电子元件700、710、720、730、740和750从第二旋转单元210的安装单元214排出时，新的电子元件可安装在空的安装单元214中。即，可同时执行从安装单元214排出电子元件及将电子元件供应到安装单元214。由于同时执行如上所述的操作的电子元件检查设备执行电子元件的第一特性检查和第二特性检查，所以可显著地减少电子元件的检查时间。S卩，在本实施例中，电子元件的第一特性检查和电子元件的第二特性检查分别通过单独的旋转单元200和210执行，从而可显著地减少当在单个线路中检查不同的电特性时广生的等待时间。
例如，当在单个线路中执行电子元件的第一特性检查和电子元件的第二特性检查时，可由第一特性检查所需要的时间(例如，10秒)和第二特性检查所需要的时间(例如，20秒)之间的差产生等待时间(30秒-20秒=10秒)。
另一方面，在本实施例中，通过第二旋转单元200检查六个电子元件的第一特性所需要的时间是60秒10 = 60)，通过另一个第二旋转单元210检查六个电子元件的第二特性所需要的时间是60秒^/2X20 = 60，见等式2)，从而基本上可以以连续的方式检查六个电子元件的第一特性和第二特性，而不会产生等待时间。
在下文中，将参照图3至图9描述本发明的其他实施例。作为参考，在下面的实施例中，与第一实施例中的部件相同的部件可使用相同的标号来指示，并且将省略对这些部件的详细描述。
将参照图3和图4描述根据本发明的第二实施例的电子元件检查设备。
根据第二实施例的电子元件检查设备10与根据第一实施例的电子元件检查设备10可以在第二旋转单元的数量和检查单元的数量方面存在不同之处。
在图3中示出的电子元件检查设备10可包括三个第二旋转单元200、210和220以及三个检查单元400、410和420，在图4中示出的电子元件检查设备10可包括四个第二旋转单元200、210、220和230以及四个检查单元400、410、420和430。
第二旋转单元200、210、220和230可包括多个电子元件。第二旋转单元200、210、220和230中的每个可每隔第二时间间隔或第三时间间隔旋转。可选地，第二旋转单元200、210、220和230中的每个可每隔相同的时间间隔旋转，可每隔不同的时间间隔旋转。
检查单元400、410、420和430可检查电子元件的第一特性或第二特性，或者除了这些特性之外的特性。例如,第一检查单元400可检查电子元件的第一特性(例如，电容)，其余检查单元410、420和430可检查电子元件的第二特性(例如，绝缘电阻)。可选地，第一检查单元400可检查电子元件的第一特性，第二检查单元410和第三检查单元420可检查电子元件的第二特性，第四检查单元430可检查电子元`件的第三特性。
在如上所述构造的电子元件检查设备10中，多个第二旋转单元200、210、220和230可形成在第一旋转单元100中，从而相对更加快速地检查多个电子元件。
另外，如上所述构造的电子元件检查设备10包括多个检查单元，从而同时检查电子兀件的各种特性。
在下文中，将参照图5描述根据本发明的第三实施例的电子元件检查设备。
根据第三实施例的电子元件检查设备10与根据上述实施例的电子元件检查设备10可以在安装单元的形状方面存在不同之处。
S卩，如图5所示，第二旋转单元200、210、220和230可包括形成为多排的安装单元204、214、224和234。具体地说，安装单元204可基于作为中心的第二旋转轴202沿着第二旋转单元200的圆周设置，同时可沿着第二旋转单元200的径向布置成多排，安装单元214可基于作为中心的第二旋转轴212沿着第二旋转单元210的圆周设置，同时可沿着第二旋转单元210的径向布置成多排，安装单元224可基于作为中心的第二旋转轴222沿着第二旋转单元220的圆周设置，同时可沿着第二旋转单元220的径向布置成多排，安装单元234可基于作为中心的第二旋转轴232沿着第二旋转单元230的圆周设置，同时可沿着第二旋转单元230的径向布置成多排。在如上所述构造的电子元件检查设备10中，相对更大数量的电子元件可安装在第二旋转单元200、210、220和230中，从而相对更大地提高电子元件的检查速度。在下文中，将参照图6描述根据本发明的第四实施例的电子元件检查设备。根据第四实施例的电子元件检查设备10与根据上述实施例的电子元件检查设备10可以在检查单元400、410和420的布置结构方面存在不同之处。如图6所示，电子元件检查设备10还可包括第三旋转单元300。第三旋转单元300可结合到第一旋转单元100。具体地说，第三旋转单元300可与第一旋转单元100的第一旋转轴102结合。第三旋转单元300可相对于第一旋转单元100相对地旋转。具体地说，当第一旋转单元100旋转时，第三旋转单元300可以不旋转，并可保持其所处的当前位置。S卩，第三旋转单元300可不与第一旋转单元100 —起旋转。检查单元400、410和420可形成在第三旋转单元300上。检查单元400、410和420可设置在第三旋转单元300中，以分别对应于第一旋转单元100的第二旋转单元200、210 和 220。在如上所述构造的电子元件检查设备10中，检查单元400、410和420可设置在第一旋转单元100上，从而减小电子元件检查设备10的总体尺寸。在下文中，将参照图7至图9描述根据本发明的第五实施例的电子元件检查设备。根据第五实施例的电子元件检查设备10与根据上述实施例的电子元件检查设备10可以在第二检查单元410方面存在不同之处。即，在电子元件检查设备10中，第二检查单元410可具有用于同时检查安装在第二旋转单元210中的电子元件的特性的结构。另外，第二检查单元410可以是能够检查多种特性的装置。第二检查单元410可基于第二旋转单元210，沿着如图7所示的水平方向运动，或者沿着竖直方向(基于图8的方向)运动。另外，如图8所示，第二检查单元410可包括多个端子412，以与多个电子元件连接。所述多个端子412可根据第二检查单元410的竖直运动与第二旋转单元210的电子元件连接。具有上述结构的第二检查单元410可与第二旋转单元210的所有电子元件连接，从而同时检查这些电子元件的电特性。因此，在本实施例中，第二旋转单元210可以不旋转，这与由标号200指示的旋转单元不同。在如上所述构造的电子元件检查设备10中，第二检查单元410可以每次检查第二旋转单元210的所有电子元件，同时第一检查单元400单独地检查第二旋转单元200的电子元件，从而充分确保第二检查单元410的检查时间。因此，当通过第二检查单元410检查需要相当长的检查时间的电子元件的特性时，本实施例可以起作用。同时，如图9所示，根据第五实施例的电子元件检查设备10还可包括第二旋转单元220和检查单元420。
如上所述，根据本发明的实施例，电子元件的第一特性(例如，电容)和电子元件的第二特性(例如，绝缘电阻)可在单个装置中被检查，从而显著地减少电子元件的性能检查所需要的时间。
虽然已经结合实施例示出并描述了本发明，但是本领域的技术人员将清楚的是，在不脱离由权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下，可进行修改和变型。
权利要求
1.一种电子兀件检查设备,包括: 第一旋转单元，能够基于第一旋转轴旋转； 多个第二旋转单元，基于第二旋转轴可旋转地设置在第一旋转单元中； 检查单元，检查安装在第二旋转单元中的电子元件的特性。
2.根据权利要求1所述的电子元件检查设备，其中，第二旋转轴基于第一旋转轴沿着第一旋转单元的圆周设置。
3.根据权利要求1所述的电子元件检查设备，其中，第二旋转单元包括多个安装单元，电子元件安装在所述多个安装单元上。
4.根据权利要求3所述的电子元件检查设备，其中，所述多个安装单元基于第二旋转轴沿着第二旋转单元的圆周设置。
5.根据权利要求4所述的电子元件检查设备，其中，所述多个安装单元沿着第二旋转单元的径向形成为多排。
6.根据权利要求1所述的电子元件检查设备，其中，检查单元包括第一检查单元和第二检查单元，第一检查单元检查电子元件的第一特性，第二检查单元检查电子元件的第二特性。
7.根据权利要求6所述的电子元件检查设备，其中，第一检查单元测量电子元件的电容，第二检查单元测量电子元件的绝缘电阻。
8.根据权利要求6所述的电子元件检查设备，其中，至少有一个第一检查单元，至少有两个第二检查单元。
9.根据权利要求6所述的电子元件检查设备，其中，第一检查单元和第二检查单元基于第一旋转轴沿着第一旋转单元的圆周设置。
10.根据权利要求9所述的电子元件检查设备，其中，第一检查单元和第二检查单元设置在第一旋转单元的边缘。
11.根据权利要求10所述的电子元件检查设备，其中，第一检查单元和第二检查单元被设置为对应于第二旋转单元。
12.根据权利要求9所述的电子元件检查设备，所述电子元件检查设备还包括第三旋转单元，第三旋转单元设置在第一旋转单元中。
13.根据权利要求12所述的电子元件检查设备，其中，第一检查单元和第二检查单元设置在第三旋转单元上。
14.根据权利要求13所述的电子元件检查设备，其中，第三旋转单元能够相对于第一旋转单元相对地旋转。
15.—种电子元件检查设备,包括: 第一旋转单元，能够基于第一旋转轴旋转； 多个第二旋转单元，基于第二旋转轴可旋转地设置在第一旋转单元中，并包括多个安装单元，多个电子元件安装在所述多个安装单元中； 第一检查单元，检查安装在所述多个安装单元中的多个电子元件的第一特性； 第二检查单元，检查安装在所述多个安装单元中的多个电子元件的第二特性。
16.根据权利要求15所述的电子元件检查设备，其中，第二检查单元能够沿着第二旋转轴竖直地运动。
17.根据权利要求15所述的电子元件检查设备，其中，第一检查单元测量电子元件的电容，第二检查单元测量电子元件的绝缘电阻。
18.根据权利要求15所述的电子元件检查设备，所述电子元件检查设备还包括: 供应单元，将待检查的电子元件供应到第二旋转单元； 排出单元，将完成了检查的电子元件从第二旋转单元排出。
19.根据权利要求15所述的电子元件检查设备，其中，安装单元基于第二旋转轴沿着第二旋转单元的圆周设置。
20.根据权利要求19所述的电子元件检查设备，其中，安装单元沿着第二旋转单元的径向形成为多排。
全文摘要
本发明提供一种电子元件检查设备。该电子元件检查设备包括第一旋转单元，能够基于第一旋转轴旋转；多个第二旋转单元，基于第二旋转轴可旋转地设置在第一旋转单元中；检查单元，检查安装在第二旋转单元中的电子元件的特性。
文档编号G01R27/02GK103163385SQ20121027203
公开日2013年6月19日 申请日期2012年8月1日 优先权日2011年12月19日
发明者申正浩, 李海万, 申翊铉 申请人:三星电机株式会社