专利名称：三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及公安刑侦鉴识领域，特别是涉及一种在三维形貌痕迹比对测量仪上使用的标定夹具。
背景技术：
目前我国对枪弹的弹头、弹壳及工具线条痕迹等方面的比对和检测，尚处在以实物样本存储来分析的状况，对痕迹信息的检测仍停留在借助单一仪器直接观察二维图像比对的技术层面上，无法解决在三维空间物体形貌技术和痕迹比对技术中存在的精确定位测量难题。随着科技进步，现在出现了三维形貌痕迹比对测量仪，可以解决上述难题，但使用缺乏一种精确的标定夹具
实用新型内容
·[0003]本实用新型的目的就是为了解决现有技术中存在的缺点，提供了一种用于三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具。为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案一种三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具，其特征在于包括a、底盘，底盘上固定有滑槽，滑槽中间设有上斜面、斜面两侧设有侧板；b、滑槽的上斜面上设置一个滑块，滑块下面设置的下斜面与滑槽的上斜面滑动配合，滑块中部设有螺孔；C、滑槽的前后侧分别设有前挡板、后挡板，滑槽的左右侧分别设有左护板、右护板，前挡板、后挡板与左护板、右护板互相固定联接构成一个框架，框架顶部连接一个底座；d、前挡板上连接一个分厘卡，分厘卡设有一段螺杆与滑块中的螺纹联接配合。进一步的技术方案是将所述的左护板、右护板与滑槽两侧的侧板呈导向滑动配
八
口 ο上述技术方案中采用的分厘卡是公知的产品，可以达到精确的旋转量和进给量。使用时，将该标定夹具放置在比对测量仪的旋转台上，通过旋转调节分厘卡使得滑块在滑槽的斜面上前后移动，由于滑槽四侧面的限制，前后挡板及左右护板带动夹具底座仅能做上下移动，实现了夹具底座的精密上下升降功能。采用本实用新型的优点是通过采用分厘卡调节，实现了夹具底座的精密升降移动，满足了对测量仪的标定工作的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便，可用于微电子微机械精密件质量检测，从而提高质量检验技术水平和工作效率。
图I是本实用新型的立体结构示意图；图2是图I的分解示意图；[0016]图3是图I的A— A剖视图；图4是图I的B— B剖视图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作详细说明如图I、图2所示，为本实用 新型提供的一种三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具，包括以下几个组成部分a、底盘I,底盘I上固定有滑槽8，滑槽8中间设有上斜面8a、斜面两侧设有侧板8b ；b、滑槽8的上斜面上设置一个滑块4，滑块4下面设置的下斜面4b与滑槽8的上斜面8a滑动配合，滑块4中部设有螺孔4a ；C、滑槽8的前后侧分别设有前挡板3、后挡板7，滑槽8的左右侧分别设有左护板
5、右护板9，前挡板3、后挡板7与左护板5、右护板9互相固定联接构成一个框架，框架顶部连接一个底座6 ；d、前挡板3上连接一个分厘卡2，分厘卡2设有一段螺杆2a与滑块4中的螺纹4a联接配合。如图3所示的是滑块4与滑槽8的上斜面8a滑动配合情况，当转动分厘卡2时，滑块4在螺杆2a上水平移动的同时，又沿着滑槽8的上斜面8a滑动，从而带动框架及其底座6上下移动。如图4所示的是左护板5、右护板9与滑槽8两侧的侧板8b呈导向滑动配合。以上所述的仅是本实用新型的优选实施方式。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干变型和改进，这些也应视为属于本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具，其特征在于包括 a、底盘(1)，底盘(I)上固定有滑槽(8)，滑槽(8)中间设有上斜面(8a)、上斜面两侧设有侧板(8b)； b、滑槽(8)的上斜面上设置一个滑块(4)，滑块(4)下面设置的下斜面(4b)与滑槽(8)的上斜面(8a)滑动配合，滑块(4)中部设有螺孔(4a)； C、滑槽(8)的前后侧分别设有前挡板(3)、后挡板(7)，滑槽(8)的左右侧分别设有左护板(5)、右护板(9)，前挡板(3)、后挡板(7)与左护板(5)、右护板(9)互相固定联接构成一个框架,框架顶部连接一个底座(6)； d、前挡板(3)上连接一个分厘卡(2)，分厘卡(2)设有一段螺杆(2a)与滑块(4)中的螺纹(4a)联接配合。
2.根据权利要求I所述的三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具，其特征在于所述的左护板(5)、右护板(9)与滑槽(8)两侧的侧板(8b)呈导向滑动配合。
专利摘要本实用新型涉及一种三维形貌痕迹比对测量仪的标定夹具，包括底盘(1)、前后挡板(3)、左右护板(5、9)、夹具底座(6)和分厘卡(2)，所述底盘上固定有滑槽，滑槽的斜面上放置有滑块，滑块前后设有挡板，滑块左右设有护板，前后挡板顶部设有夹具底座，挡板、护板、底座互相固定联接为一整体，前挡板上固定有分厘卡，分厘卡轴端穿过前挡板与滑块前端螺纹联接。采用本实用新型的优点是通过采用分厘卡调节，实现了夹具底座的精密升降移动，满足了对测量仪的标定工作的需要，其结构合理、性能稳定、操作简便，可用于微电子微机械精密件质量检测，从而提高质量检验技术水平和工作效率。
文档编号G01B21/20GK202599394SQ20122024003
公开日2012年12月12日 申请日期2012年5月26日 优先权日2012年5月26日
发明者严继华, 路振涛, 孟凡忠, 梁玉清 申请人:安徽国盾三维高科技有限公司