测试rfid电子标签性能的方法及其装置制造方法
【专利摘要】本发明提出的一种测试RFID电子标签性能的方法及其装置，所述检测方法包括如下步骤：a.在测试距离S向电子标签发射激活信号，并接收电子标签反馈的应答信号并获取电子标签性能的判别数据；b.将判别数据与预置的用于确定电子标签性能的参考数据进行比较；c.根据判别数据与预置数据的比较结果确定电子标签的性能；通过本发明公开的测试RFID电子标签性能的方法及装置，能够对电子标签的性能进行检测，并准确判断电子标签的性能，防止安装在车辆上的电子标签的信息无法读取而出现的管理漏洞，并且测试方法简单高效。
【专利说明】测试RFID电子标签性能的方法及其装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种测试RFID电子标签性能的方法及其装置。
【背景技术】
[0002]在智能交通领域，利用智能无线射频识别(RFID)技术进行交通信息的采集已得到广泛运用，其基本的工作原理是:在车辆上安装利用无源标签输入车辆及驾驶人等相关交通管理信息后形成的电子标签(射频卡)，然后在各预先布置的路面点安装读写器，读写器生成电磁信号并通过读写天线以一定功率向无源电子标签发射，无源电子标签的标签天线接收该信号并被激活，电子标签(射频卡)被激活后将射频卡内存储的车辆信息以电磁信号的方式回馈给读写器，读写器通过解调等处理过程从而获取车辆信息；由于电子标签在出厂时，不同批次的标签的性能可能存在瑕疵，当电子标签被安装在车辆后，安装过程中经常出现挤压、折叠等因素，容易造成射频卡损坏，而目前，还没有能够对安装后的电子标签进行质量检测的方法，因此，容易造成车辆信息无法被识别，容易出现管理漏洞。
[0003]有鉴于此，需要提出一种对安装后的电子标签的性能进行检测的方法及装置，能够对电子标签的性能进行检测，并准确判断电子标签的性能，防止安装在车辆上的电子标签的信息无法读取而出现的管理漏洞，并且测试方法简单高效。
【发明内容】
[0004]有鉴于此，本发明提出的一种测试RFID电子标签性能的方法及装置，能够对电子标签的性能进行检测，并准确判断电子标签的性能，防止安装在车辆上的电子标签的信息无法读取而出现的管理漏洞，并且测试方法简单高效。
[0005]本发明公开的一种测试RFID电子标签性能的方法，所述检测方法包括如下步骤:
[0006]a.在测试距离S向电子标签发射激活信号，并接收电子标签反馈的应答信号并获取电子标签性能的判别数据；
[0007]b.将判别数据与预置的用于确定电子标签性能的参考数据进行比较；
[0008]c.根据判别数据与预置数据的比较结果确定电子标签的性能；
[0009]进一步，步骤a中，所述判别数据包括在不同距离的应答信号的接收成功率以及应答信号的能量值；
[0010]进一步，步骤b中，所述参考数据包括在不同距离的应答信号的接收成功率基准参数和应答信号的能量值基准参数；
[0011]进一步，步骤c中，确定电子标签的性能包括:
[0012]Cl.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率高于成功率基准参数，应答信号的能量值高于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常；
[0013]C2.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率高于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常，但应答信号受外界干扰。
[0014]C3.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值高于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常，但激活信号受外界干扰。
[0015]C4.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，则调整测试点与被测试射频卡的距离，返回步骤a继续测试；
[0016]进一步，步骤C4中进一步包括:当步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，在调整测试点与被测试电子标签的距离，返回步骤a继续测试时对返回步骤a的次数进行累加，当返回步骤a的次数累加到预置值N时，则确定RFID电子标签的性能为异常或损坏。
[0017]本发明提供的一种测试RFID电子标签性能的装置，包括:
[0018]射频信号收发单元，用于向被测试RFID电子标签发送激活信号并对RFID电子标签的应答信号进行接收；中央处理模块，用于接收射频信号收发单元输出的应答信号并进行接收应答信号的接收成功率及能量值进行计算，并根据计算结果与预置的应答信号的成功率基准参数和能量值基准参数进行比较并输出比较结果；
[0019]进一步，所述中央处理模块包括:
[0020]成功率计算单元，与所述射频信号收发单元电连接，用于计算接收应答信号的成功率并输出；
[0021]应答信号能量值测量单元，与所述射频信号收发电源电连接，用于计算应答信号的能量值并输出；
[0022]中央处理器，与所述成功率计算单元和应答信号能量值测试单元电连接并预置有应答信号的成功率基准参数和能量值基准参数，用于接收应答信号的接收成功率和应答信号的能量值并与预置的成功率基准参数和能量值基准参数进行比较，并输出比较结果；
[0023]进一步，所述中央处理模块还包括与所述中央处理器的电连接的用于对返回步骤a的次数进行计数的计数器，当计数器累加到大于等于预置值N时，累加器清零并向中央处理单元输出清零信号；
[0024]进一步，还包括用于测量当前测试距离S的距离传感器，所述距离传感器与所述中央处理器的电连接并向中央处理器输出距离信号；
[0025]进一步，还包括与所述中央处理器电连接的显示单元，用于对测试RFID电子标签性能的参数进行显示。本发明的有益效果:通过本发明公开的测试RFID电子标签性能的方法及装置，能够对电子标签的性能进行检测，并准确判断电子标签的性能，防止安装在车辆上的电子标签的信息无法读取而出现的管理漏洞，并且测试方法简单高效；本发明所提供相应的测试装置，便于携带，使用灵活，可手持到检测位置进行测试工作，节约了人力成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]下面结合附图和实施例对本发明作进一步描述:
[0027]图1为测试电子标签性能的方法的流程图。
[0028]图2为测试电子标签性能的装置的结构示意图。【具体实施方式】
[0029]图1为测试电子标签性能的方法的流程图，图2为测试电子标签性能的装置的结构示意图，如图所示，本发明公开的一种测试RFID电子标签性能的方法，所述检测方法包括如下步骤:
[0030]a.在测试距离S向电子标签发射激活信号，并接收电子标签反馈的应答信号并获取电子标签性能的判别数据；其中，测试距离S为测试点与被测的电子标签之间的距离，并且测试距离S可以根据测试需要进行调整；
[0031]b.将判别数据与预置的用于确定电子标签性能的参考数据进行比较；
[0032]c.根据判别数据与预置数据的比较结果确定电子标签的性能；
[0033]本实施例中，步骤a中，所述判别数据包括在不同距离的应答信号的接收成功率以及应答信号的能量值；其中，接收应答信号的成功率是指在同一时间间隔内接收到应答信号的总次数与发出激活信号总次数的比值；应答信号的能量值是指在当前测试距离S处的应答信号的能量值。
[0034]本实施例中，步骤b中，所述参考数据包括在不同距离的应答信号的接收成功率基准参数和应答信号的能量值基准参数；其中，接收成功率基准参数的在设置时应考虑到外界干扰的因素，由于不同距离的测试环境所受到的干扰程度不一样，即标签的性能受到距离因素的影响；因此，按照不同距离，所述成功率基准参数和能量值基准参数因距离不同而分别设置。例如，在本实施例中，选取3m范围进行测试，接收成功率基准参数应该不小于激活信号总发射次数的70% ;应答信号的能量值基准参数在设置时应考虑到由于电磁信号在传递过程中衰减、外界干扰以及测试距离的因素，比如，电子标签出厂时已经设定标签被激活后的发射功率，因此，在电子标签发射应答信号的能量值是确定的，那么应答信号的基准参数在设置时应小于电子标签发射应答信号时的能量值。
[0035]本实施例中，步骤c中，确定电子标签的性能包括:
[0036]Cl.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率高于成功率基准参数，应答信号的能量值高于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常；
[0037]C2.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率高于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常，但应答信号受外界干扰，由于接收成功率高于成功率基准参数，则可说明激活信号能够有效地对电子标签进行激活，并且电子标签在激活信号的作用下能够正常响应，应答信号在外界的干扰下衰减过大从而造成应答信号能量值低于能量值基准参数；
[0038]C3.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值高于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常，但激活信号受外界干扰，由于激活行行好收到外界干扰，并不是每次发射的激活信号都能够激活电子标签，但激活信号一旦能够激活电子标签，应答信号未受到干扰使其能量值均能高于能量值基准参数，因此，造成接收成功率低于成功率基准参数；
[0039]C4.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，则调整测试点与被测试电子标签的距离，返回步骤a继续测试，调整距离时，一般为缩短测试点与被测试电子标签的距离，步骤C4中进一步包括:当步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，在调整测试点与被测试射频卡的距离，返回步骤a继续测试时对返回步骤a的次数进行累加，对返回步骤a的次数通过计数器进行累加，当返回步骤a的次数累加到预置值N时，则确定RFID电子标签的性能为异常或损坏，其中，累加数的预置值N的设置，可以根据现场测试情况设定。
[0040]相应地，本发明提供的一种测试RFID电子标签性能的装置，包括:
[0041]射频信号收发单元，用于向被测试RFID电子标签发送激活信号并对RFID电子标签的应答信号进行接收；
[0042]中央处理模块，用于接收射频信号收发单元输出的应答信号并进行接收应答信号的接收成功率及能量值进行计算，并根据计算结果与预置的应答信号的成功率基准参数和能量值基准参数进行比较并输出比较结果，通过比较结果确定电子标签的性能。
[0043]本实施例中，所述中央处理模块包括:
[0044]成功率计算单元，与所述射频信号收发单元电连接，用于计算接收应答信号的成功率并输出，所述成功率计算单元通过对激活信号的发射总次数以及应答信号的接收总次数进行统计计算，并且将应答信号的接收总次数与激活信号发射的总次数的比值作为成功率信号输出；
[0045]应答信号能量值测量单元，与所述射频信号收发电源电连接，用于计算应答信号的能量值并输出，应答信号能量值测量单元对当前测试距离S处接收到的应答信号的能量值进行测量并输出能量值信号；
[0046]中央处理器，与所述成功率计算单元和应答信号能量值测试单元电连接并预置有应答信号的成功率基准参数和能量值基准参数，用于接收应答信号的接收成功率和应答信号的能量值并与预置的成功率基准参数和能量值基准参数进行比较，并输出比较结果。
[0047]本实施例中，所述中央处理模块还包括与所述中央处理器的电连接的用于对返回步骤a的次数进行计数的计数器，并且计数器将返回步骤a的次数传送到中央处理器，中央处理器将当前累加次数与预置值N进行比较，当计数器累加次数大于或等于预置值N时，中央处理器向计数器发送清零指令并使计数器清零，此时中央处理器输出电子标签性能的判定结果并判定电子标签的性能为异常或损坏，当计数器的计数累加值小于预置值N时，则调整当前测试点与被测试电子标签的距离，再次测试，并且计数器的技术加I。
[0048]本实施例中，还包括用于测量当前测试距离S的距离传感器，所述距离传感器与所述中央处理器的电连接并向中央处理器输出距离信号，距离传感器对当前检测点与被测试电子标签的距离进行测试并输出距离信号，当需要重新调整测试距离时，则距离传感器将调整后的距离进行测量并输出距离信号给中央处理器。本实施例中，还包括与所述中央处理器电连接的显示单元，用于对测试RFID电子标签性能的参数进行显示，便于测试者进行直观的观察以及结论的得出；本测试装置的还设置有供电单元以及存储单元，供电单元可以采用蓄电池，也可以采用通过市电转换为直流电供电，但是，为了便于携带以及移动，一般采用蓄电池供电，存储单元对测试过程中的参数进行记录备案。当然，本装置还可设置与所述中央处理器连接的键盘(图中未标出)，所述键盘用于在测试环境中对所述成功率基准参数和能量值基准参数进行设置，便于指令的输入和更改。
[0049]最后说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
【权利要求】
1.一种测试RFID电子标签性能的方法，其特征在于:所述检测方法包括如下步骤: a.在测试距离S向电子标签发射激活信号，并接收电子标签反馈的应答信号并获取电子标签性能的判别数据； b.将判别数据与预置的用于确定电子标签性能的参考数据进行比较； c.根据判别数据与预置数据的比较结果确定电子标签的性能。
2.根据权利要求1所述测试RFID电子标签性能的方法，其特征在于:步骤a中，所述判别数据包括在不同距离的应答信号的接收成功率以及应答信号的能量值。
3.根据权利要求2所述测试RFID电子标签性能的方法，其特征在于:步骤b中，所述参考数据包括在不同距离的应答信号的接收成功率基准参数和应答信号的能量值基准参数。
4.根据权利要求3所述测试RFID电子标签性能的方法，其特征在于:步骤c中，确定电子标签的性能包括: Cl.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率高于成功率基准参数，应答信号的能量值高于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常； C2.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率高于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常，但应答信号受外界干扰。 C3.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值高于能量值基准参数，则确定RFID电子标签的性能为正常，但激活信号受外界干扰。 C4.在步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，则调整测试点与被测试射频卡的距离，返回步骤a继续测试。
5.根据权利要求4所述测试RFID电子标签性能的方法，其特征在于:步骤C4中进一步包括:当步骤b中的比较结果为当前距离S的应答信号的接收成功率低于成功率基准参数，应答信号的能量值低于能量值基准参数，在调整测试点与被测试电子标签的距离，返回步骤a继续测试时对返回步骤a的次数进行累加，当返回步骤a的次数累加到预置值N时，则确定RFID电子标签的性能为异常或损坏。
6.一种测试RFID电子标签性能的装置，其特征在于:包括: 射频信号收发单元，用于向被测试RFID电子标签发送激活信号并对RFID电子标签的应答信号进行接收； 中央处理模块，用于接收射频信号收发单元输出的应答信号并进行接收应答信号的接收成功率及能量值进行计算，并根据计算结果与预置的应答信号的成功率基准参数和能量值基准参数进行比较并输出比较结果。
7.根据权利要求6所述测试RFID电子标签性能的装置，其特征在于:所述中央处理模块包括: 成功率计算单元，与所述射频信号收发单元电连接，用于计算接收应答信号的成功率并输出； 应答信号能量值测量单元，与所述射频信号收发电源电连接，用于计算应答信号的能量值并输出；中央处理器，与所述成功率计算单元和应答信号能量值测试单元电连接并预置有应答信号的成功率基准参数和能量值基准参数，用于接收应答信号的接收成功率和应答信号的能量值并与预置的成功率基准参数和能量值基准参数进行比较，并输出比较结果。
8.根据权利要求7所述测试RFID电子标签性能的装置，其特征在于:所述中央处理模块还包括与所述中央处理器的电连接的用于对返回步骤a的次数进行计数的计数器，当计数器累加到大于等于预置值N时，累加器清零并向中央处理单元输出清零信号。
9.根据权利要求8所述测试RFID电子标签性能的装置，其特征在于:还包括用于测量当前测试距离S的距离传感器，所述距离传感器与所述中央处理器的电连接并向中央处理器输出距离信号。
10.根据权利要求9所述测试RFID电子标签性能的装置，其特征在于:还包括与所述中央处理器电连接的显示单元，用于对测试RFID电子标签性能的参数进行显示。
【文档编号】G01R31/00GK103487676SQ201310285080
【公开日】2014年1月1日 申请日期:2013年7月8日 优先权日:2013年7月8日
【发明者】赵明 申请人:重庆市城投金卡信息产业股份有限公司