一种单层多点ito的电气性能测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种单层多点ITO的电气性能测试装置，包括内部设置有测试电路板的主控箱；主控箱上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具；ITO夹具的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板，且FPC转接板上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚；FPC转接板的上方设置有CCD对位装置；主控箱上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构。本实用新型通过在内部设有测试电路板的主控箱上设置ITO夹具，然后在调整机构和CCD对位装置相配合的情况下对电容触摸屏功能片进行测试；本实用新型能方便调节ITO精确位置，其定位精度可达±0.03mm，准确度可达99%；本实用新型提高了电容触摸屏功能片测试效率，同时降低了周边金属材料寄生电容对其影响。
【专利说明】—种单层多点ITO的电气性能测试装置
【技术领域】
[0001]本实用新型属于ITO性能测试领域，涉及一种电容触摸屏功能片的检测装置，特别涉及一种单层多点ITO的电气性能测试装置。
【背景技术】
[0002]在电容触摸屏功能片(ΙΤ0 sensor)的产品检验过程中，功能的要求，尤其是电性能的要求是最为关键的环节之一，在这个检验过程中需对ITO sensor电容触摸屏功能片进行客制化对位，并通过探针或FPC柔性电路板进行假压接触，利用检测驱动板对sensor传感器加载探测信号并接受反馈信息，以达到测试的目的。而ITO sensor电容触摸屏功能片常见因mask赃物等黄光工艺不良造成ITO本身断短路情况较多，如不加测试就直接上线，会导致TP不良，物料及人工浪费较大。
[0003]所以ITO sensor电容触摸屏功能片的产品检验至关重要，测试装置必须保证测试的稳定性。另外，单层多点因工艺所限，其线宽较窄，因此对此类ITO sensor电容触摸屏功能片的产品检验更需要精确对位(0.03_)，并能精确测试其各通道电气性能，准确度达99.9%。目前业界常见ITO sensor的测试一般能测试0.1mm精度ΙΤ0，且因为是目视对位，准确度只能达到98%，误判比例较大，直接导致后续TP生产良率下降。
【发明内容】
[0004]本实用新型的目的在于克服传统电容触摸屏功能片测试架的缺点，提供一种单层多点ITO的电气性能测试装置。
[0005]为达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案是:包括内部设置有测试电路板的主控箱；主控箱上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具；ΙΤ0夹具的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板，且FPC转接板上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚；FPC转接板的上方设置有C⑶对位装置；主控箱上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构。
[0006]上述的测试电路板为采用FR材料制作的基于自电容测试的单片机系统
[0007]上述的ITO夹具上设置有用于放置电容触摸屏功能片的凹槽。
[0008]上述的主控箱上还设置有显示屏以及控制按钮。
[0009]上述的控制按钮包括开关按钮、开始按钮以及停止按钮。
[0010]上述的显示屏和调整装置均安装在主控箱上，且分布于ITO夹具的两侧。
[0011]与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果:
[0012]本实用新型通过在内部设有测试电路板的主控箱上设置ITO夹具，通过将FPC转接板的每个引脚与述电容触摸屏功能片对齐，然后在调整机构和CCD对位装置相配合的情况下对电容触摸屏功能片进行测试；本实用新型能够精确修正XYZ方向，方便调节ITO精确位置，并适应各种尺寸，其定位精度可达±0.03mm,提高了电容触摸屏功能片测试效率，同时降低了周边金属材料寄生电容对其影响。【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型的整体结构示意图。
[0014]其中，I为主控箱；2为ITO夹具；3为FPC转接板；4为CXD对位装置；5为调整机构；6为显示屏。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本实用新型做进一步说明:
[0016]参见图1，本实用新型包括内部设置有测试电路板的主控箱1，测试电路板由基于自电容测试的单片机系统组成，采用FR4材料制作，是整个装置的电气及软件核心；主控箱I上设置有ITO夹具2，ITO夹具2上设置有用于放置电容触摸屏功能片的凹槽，ITO夹具2采用PMMA材料，大小可根据电容触摸屏功能片的大小进行修正；ΙΤ0夹具2的凹槽上方设置有FPC转接板3，且FPC转接板的每个引脚与电容触摸屏功能片对齐，FPC转接板3根据所测试电容触摸屏功能片进行设计，与测试电路板配套；FPC转接板3的上方设置有CCD对位装置4，CXD对位装置4主要作为ITO走线于FPC转接板的对位用。主控箱I上还设置有用于对工作台相对FPC转接板位置进行微调的调整机构5，调整机构5是XY轴方向可修正的千分尺；主控箱I上还设置有显示屏6、开关按钮、开始按钮以及停止按钮；显示屏6和调整装置5均安装在主控箱I上，且分布于ITO夹具的两侧。
[0017]本实用新型在工作状态时C⑶对位装置4常开。电容触摸屏功能片投入时，ITO夹具2打开，调整机构5根据CCD对位装置4的指示进行微调，直到电容触摸屏功能片与FPC转接板3每个引脚对齐，其中，电容触摸屏功能片插入和取出时装置能自动判断并修正对位坐标。电容触摸屏功能片与FPC转接板3每个引脚对齐后，即可开始测试，遇不良小片会报警提示，正常测试数据自动保存。电容触摸屏功能片取出作业时，ITO夹具2打开，电容触摸屏功能片完全取出后，ITO夹具2关闭。本实用新型一个单层多点ITO的电气性能测试装置每分钟测试电容触摸屏功能片的最大数量为60pcs。
[0018]本实用新型采用精确对位设计，ITO夹具上方采用CDD做对位用，下部采用平面千分尺对位结构，精确修正XYZ方向，方便调节ITO精确位置，并适应各种尺寸，其定位精度可达±0.03mm，针对单层多点高密度引脚进行精确对位，并结合高精度测试板探测各引脚通道参数。另外，本实用新型配合测试软件能精确查询各sensor通道线阻及容值，不受方案的ITO图形限制，兼容市场上常见图形。此外，本实用新型测试机构和电容触摸屏功能片接触部位采用PMMA材料。
【权利要求】
1.一种单层多点ITO的电气性能测试装置，其特征在于:包括内部设置有测试电路板的主控箱(I);主控箱(I)上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具(2);IT0夹具(2)的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板(3)，且FPC转接板(3)上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚；FPC转接板(3 )的上方设置有CXD对位装置(4 );主控箱(I)上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构(5)。
2.如权利要求1所述的单层多点ITO的电气性能测试装置，其特征在于:所述的测试电路板为采用FR4材料制作的基于自电容测试的单片机系统。
3.如权利要求1所述的单层多点ITO的电气性能测试装置，其特征在于:所述的ITO夹具(2)上设置有用于放置电容触摸屏功能片的凹槽。
4.如权利要求1所述的单层多点ITO的电气性能测试装置，其特征在于:所述的主控箱(I)上还设置有显示屏(6)以及控制按钮。
5.如权利要求4所述的单层多点ITO的电气性能测试装置，其特征在于:所述的控制按钮包括开关按钮、开始按钮以及停止按钮。
6.如权利要求4所述的单层多点ITO的电气性能测试装置，其特征在于:所述的显示屏(6 )和调整装置(5 )均安装在主控箱(I)上，且分布于ITO夹具的两侧。
【文档编号】G01R1/04GK203385802SQ201320368751
【公开日】2014年1月8日 申请日期:2013年6月25日 优先权日:2013年6月25日
【发明者】涂宁涛 申请人:彩虹（佛山）平板显示有限公司