光学镜片镀膜层用检测装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种光学镜片镀膜层用检测装置，包括：壳体，设置于壳体内的光源，用于支撑待测工件的支撑架，用于探测待测工件反射光的探测器；其中，壳体内壁上设置有容纳光源的装夹槽，光源与壳体可拆卸连接；壳体内部具有更换光源的更换空间。本实用新型提供的光学镜片镀膜层用检测装置，通过在壳体内壁上设置容纳光源的装夹槽，实现了光源与壳体的可拆卸连接，同时壳体内部具有更换光源所需的更换空间，则实现了光源能够更换，当需要测试其他光源波段时，只更换光源即可，无需选择其他类型的检测装置，更换光源较更换整个检测装置相比，有效降低了检测成本。
【专利说明】光学镜片镀膜层用检测装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及光学镜片镀膜层质量检测【技术领域】，更具体地说，涉及一种光学镜片镀膜层用检测装置。
【背景技术】
[0002]为了使光学镜片具有一定的优点(抗污、耐磨和减少辐射等)，通常需要在光学镜片上进行镀膜。完成镀膜后，需要对光学镜片镀膜层的质量进行检测。检测镀膜层的质量通过检测镀膜层的反射率和透射率实现，即若该镀膜层的反射率和投射率满足要求，则该镀膜层的质量满足要求。
[0003]传统检测装置主要包括:壳体，位于壳体内部的光源，位于壳体内部且支撑工件的支撑架,位于壳体内部且位于工件上方的探测器。其中，光源位于支撑架的一侧。传统检测装置的工作原理为:光源发出的光照射到工件上，工件将光发射，探测器探测工件反射的光，根据探测器探测的数据来获得镀膜层的反射率和透射率。
[0004]目前，为了保证测量的准确性，光源固定设置，导致更换光源较困难，使得该检测装置的光源波段较窄且单一，当需要测试其它波段时需要选择新类型的检测装置，导致检测成本较高。
[0005]另外，支撑架的支撑角度固定，不能进行调节，当需要测试其他角度时，需要更换支撑架，操作较繁琐，导致检测效率较低；同时，配套工装也较昂贵，导致检测成本较高。
[0006]综上所述，如何检测光学镜片镀膜层，以降低检测成本，是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
实用新型内容
[0007]本实用新型的目的是提供一种光学镜片镀膜层用检测装置，以降低检测成本。
[0008]为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:
[0009]一种光学镜片镀膜层用检测装置，包括:壳体，设置于所述壳体内的光源，用于支撑待测工件的支撑架，用于探测所述待测工件反射光的探测器；其中，所述壳体内壁上设置有容纳所述光源的装夹槽，所述光源与所述壳体可拆卸连接；所述壳体内部具有更换所述光源的更换空间。
[0010]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述光源与所述壳体通过螺纹连接件相连。
[0011]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述壳体包括:壳体本体，与所述壳体本体可拆卸连接的侧盖；其中，所述壳体本体包括设置有所述装夹槽的光源盖。
[0012]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述光源为激光光源，且所述光源具有狭缝。
[0013]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置，还包括位于所述光源和所述支撑架之间的偏振光输出组件；其中，所述偏振光输出组件位于光路中。
[0014]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述支撑架设置有用于放置所述待测工件的放置槽。
[0015]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述支撑架包括:用于承载所述待测工件的支撑板，承载所述支撑板且能够调节所述支撑板支撑角度的调整架。
[0016]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述调整架为:能够分别沿X向、Y向和Z向调节所述支撑板的三维调整架；其中，所述X向、所述Y向和所述Z向两两垂直。
[0017]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，所述三维调整架包括:设置于所述壳体内且两两垂直的X向导轨、Y向导轨、Z向导轨；承载支撑板的承载台；驱动所述承载台沿所述X向导轨移动的第一蜗轮蜗杆组件；驱动所述承载台沿所述Y向导轨移动的第二蜗轮蜗杆组件；驱动所述承载台沿所述Z向导轨移动的第三蜗轮蜗杆组件。
[0018]优选的，上述光学镜片镀膜层用检测装置，还包括:位于所述支撑架和所述探测器之间的滤光片组件，所述滤光片组件设置于所述壳体的内壁上；其中，所述滤光片组件位于光路中。
[0019]本实用新型提供的光学镜片镀膜层用检测装置，通过在壳体内壁上设置容纳光源的装夹槽，实现了光源与壳体的可拆卸连接，同时壳体内部具有更换光源所需的更换空间，则实现了光源能够更换，当需要测试其他光源波段时，只更换光源即可，无需选择其他类型的检测装置，更换光源较更换整个检测装置相比，有效降低了检测成本。
【专利附图】
【附图说明】
[0020]为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本实用新型实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置的结构示意图；
[0022]图2为本实用新型实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中调整架的部分结构示意图。
[0023]上图1-图2中:
[0024]I为壳体本体、数据接口 101、2为光源盖、3为光源、4为偏振光输出组件、5为定位座、6为待测工件、7为调整架、701为Z向调节手轮、702为Y向调节手轮、703为X向调节手轮、704为承载台、705为Y向导轨、706为X向导轨、8为支撑板、9为滤光片组件、10为探测器。
【具体实施方式】
[0025]本实用新型实施例提供了一种光学镜片镀膜层用检测装置，降低了检测成本。
[0026]下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[0027]本实用新型实施例提供的壳体，设置于壳体内的光源3，用于支撑待测工件6的支撑架，用于探测待测工件6反射光的探测器10 ;其中，壳体内壁上设置有容纳光源3的装夹槽，光源3与壳体可拆卸连接；壳体内部具有更换光源3的更换空间。
[0028]本实用新型实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置，通过在壳体内壁上设置容纳光源3的装夹槽，实现了光源3与壳体的可拆卸连接，同时壳体内部具有更换光源3所需的更换空间，则实现了光源3能够更换，当需要测试其他光谱波段时，只更换光源3 S阿，无需选择其他类型的检测装置，更换光源3较更换整个检测装置相比，有效降低了检测成本。
[0029]需要说明的是，装夹槽根据光源3的外形结构进行设置，本实用新型实施例对装夹槽的结构和形状不做具体地限定。光源3为多个，即具有多个光谱波段的光源3，以便于更换。通常，光源3包括由红外到紫外的多个光谱波段的光源。在实际测量过程中，可根据实际测量的需要选择该光谱波段的光源3，即更换光源3即可，无需更换整个检测装置。
[0030]本实用新型实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置的检测原理:在准直测量光路中，通过比较待测工件6在光路中和不在光路中时探测器10的探测数值，得出不同入射角和出射角时待测工件6镀膜层的反射率值和透射率值。具体的，光源3照射到待测工件6上，待测工件6反射后，探投射到探测器10上，这时探测器10测得的数值与不放置工件时探测器10测得的光源辐射照度值之比，即为待测工件6的镀膜层的反射率。根据待测工件6的镀膜层的反射率可获得该待测工件6的镀膜层的透射率。
[0031]本实用新型实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置，实现了对待测工件6的实时直接测量，与以往只能通过测量比较测试片的方式间接反映镀膜层质量的方式，检测较方便，测量结果较精准；同时，便于使用者掌握最详实准确的数据，方便使用者进行选配和分类。
[0032]上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，光源3与壳体的可拆卸连接存在多种实现方式，例如螺纹连接或者卡接。为了便于实现光源3的更换，上述光学镜片镀膜层用检测装置中，光源3与壳体通过螺纹连接件相连。
[0033]优选的，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，壳体包括:壳体本体1，与壳体本体I可拆卸连接的侧盖；其中，壳体本体I包括设置有装夹槽的光源盖2。当需要待测工件6时取下侧盖，放入待测工件6，待安装好后连接侧盖，然后进行检测。为了有效减小该光学镜片镀膜层用检测装置的体积，尽可能的减小光路两侧的空间。优选的，侧盖与探测器10紧挨设置，有效减小了光路一侧的多余空间，进而有效减小了整个检测装置的体积，便于该光学镜片镀膜层用检测装置的使用。
[0034]为了准确检测，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，光源3为激光光源，且光源3具有狭缝。由于激光光源准直性较好且发散角较小，这样，能够提高检测的准确性；同时通过设置狭缝，使光源3的面积达到可控。具体的，光源3包括:激光器，与激光器相连的扩束镜，位于扩束镜前端的滤光片组，位于滤光片组前端的狭缝，支撑激光器、扩束镜、滤光片组和狭缝的支架。需要说明的是，前端是指沿光路方向的前端。针对大孔径光源的测试要求，配合使用激光扩束镜，以满足使用要求。在实际应用过程中，根据待测工件6的尺寸和测试点数目、面积大小的要求，可制作特殊规格形式狭缝。
[0035]优选的，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置，还包括位于光源3和支撑架之间的偏振光输出组件4 ;其中，偏振光输出组件4位于光路中。这样，通过设置偏振光组件，可扩大该光学镜片镀膜层用检测装置的检测范围，提高了其使用性能。需要说明的是，偏振光输出组件4主要包括:起偏组和检偏组。在实际应用过程中，偏振光输出组件4能够根据测量需提供圆偏振光者线偏振光。具体的，通过起偏组、检偏组的空间滤波，包括圆偏振光，线偏振光，S-偏振光，P-偏振光等偏振光分量都可以准确产生，光的偏振纯度高，强度通过光源3进行调节。
[0036]为了位于待测工件6的安装和拆卸，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，支撑架设置有用于放置待测工件6的放置槽。优选的，放置槽为通槽。
[0037]为了能够进行多入射角度的测量，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，支撑架包括:用于承载待测工件6的支撑板8，承载支撑板8且能够调节支撑板8支撑角度的调整架7。这样，通过调整架7调整支撑板8的支撑角度，进而改变待测工件6在光路中的偏转角度。则当需要测试其他出射角度时，无需更换支撑架，调整调整架7即可，简化了操作，有效提高了检测效率；同时也无需配套工装，降低了检测成本。
[0038]上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置的使用方法为:准直性好的光线垂直入射待测工件6的镀膜层，调节调整架7，使待测工件6的主截面与光源3轴向垂直，即可使光线无漂移散射的射向探测器10。根据待测工件6的测试要求，调整调整架7，使光源3射向待测工件6的特定区域，即可测量不同区域的反射率和透射率。调节调整架7还可以实现光线对待测工件6的镀膜层的不同入射角度辐射，满足各种测试要求。
[0039]优选的，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，调整架7为:能够分别沿X向、Y向和Z向调节支撑板8的三维调整架；其中，X向、Y向和Z向两两垂直，即X向和Y向分别垂直于Z向，X向垂直于Y向。具体的，三维调整架包括:设置于壳体内且两两垂直的X向导轨706、γ向导轨705、Ζ向导轨；承载支撑板8的承载台704 ;驱动承载台704沿X向导轨706移动的第一蜗轮蜗杆组件；驱动承载台704沿Y向导轨705移动的第二蜗轮蜗杆组件；驱动承载台704沿Z向导轨移动的第三蜗轮蜗杆组件。需要说明的是，第一蜗轮蜗杆组件包括:与承载台704相连的第一蜗杆，与第一蜗杆啮合的第一蜗轮；与第一蜗轮同轴设置且驱动第一蜗轮转动的X向调节手轮703。第二蜗轮蜗杆组件包括:与承载台704相连的第二蜗杆，与第二蜗杆啮合的第二蜗轮；与第二蜗轮同轴设置且驱动第二蜗轮转动的Y向调节手轮702。第三蜗轮蜗杆组件包括:与承载台704相连的第三蜗杆，与第三蜗杆啮合的第三蜗轮；与第三蜗轮同轴设置且驱动第三蜗轮转动的Z向调节手轮701。当然，调整架7还可为其他结构，本实用新型实施例对此不做具体地限定。
[0040]上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，通过蜗轮蜗杆组件实现了支撑板的移动，由于蜗轮蜗杆组件能够实现精密传动，则该三维调整架能够实现支撑板8沿X向、Y向和Z向的精密调整；同时，设置X向调节手轮703、Y向调节手轮702和Z向调节手轮701，手感舒适，精度较高，无空回漂移缺陷，为准直光路提供最大的调节便利。
[0041]为了节省空间，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，X向调节手轮703和Y向调节手轮702同轴设置。
[0042]为了便于设置X向导轨706和Y向导轨705，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置，还包括:设置于壳体内的定位座5，X向导轨706和Y向导轨705设置于定位座5上。
[0043]由于待测工件6的表面平整度等问题，从待测工件6表面反射出的光线可能出现发散角放大、散射等缺陷，为了保证待测工件6的出射光线的均匀性，上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置，还包括:位于支撑架和探测器10之间的滤光片组件9，滤光片组件9设置于壳体的内壁上；其中，滤光片组件9位于光路中。滤光片组件9使待测工件6的出射光线更加均匀地到达探测器10，且使待测工件6的出射光线严格位于准直光路中，避免了光线散射损失，便于探测器10收集辐射光线，提高了整个光学镜片镀膜层用检测装置的测量精度。需要说明的是，滤光片组件9包括支架和设置于支架上的滤光片。滤光片组件9位于光路中，是指待测工件6的出射光经过滤光片组件9后由探测器10收集。
[0044]上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，探测器10测得的数据通过信号转换输出装置输出，通常壳体本体I上设置有数据接口 101，以保证数据的输出。信号输出传递给计算机，计算机的数据处理软件，可生成各种常用数据图表和曲线，并可生成各种文件格式，例如WORD、EXCEL、PPT、DOT、TXT等。优选的，探测器10具有存储器。计算机采集数据时，探测器10测得的数据传输给计算机时同步存储于存储器内，实现备份，以方便随时调取。
[0045]需要说明的是，计算机的数据处理软件，可自动分类编辑接收到的数据，计算平均值、方均根、不良率等要求的测量值；同时可将数据以各种图表、曲线的方式在计算机中生成或输出。
[0046]上述实施例提供的光学镜片镀膜层用检测装置中，探测器10为高灵敏度全波段覆盖工作的进口探测器，探测器10能够定点测定某一单一波长光线辐射，还可以测试某一特定带宽波段的光线辐射，测试精度高，无频谱漂移缺陷。
[0047]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所述的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
【权利要求】
1.一种光学镜片镀膜层用检测装置，包括:壳体，设置于所述壳体内的光源(3)，用于支撑待测工件(6)的支撑架，用于探测所述待测工件(6)反射光的探测器(10);其特征在于，所述壳体内壁上设置有容纳所述光源(3)的装夹槽，所述光源(3)与所述壳体可拆卸连接；所述壳体内部具有更换所述光源(3)的更换空间。
2.根据权利要求1所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述光源(3)与所述壳体通过螺纹连接件相连。
3.根据权利要求1所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述壳体包括:壳体本体(I )，与所述壳体本体(I)可拆卸连接的侧盖；其中，所述壳体本体(I)包括设置有所述装夹槽的光源盖(2)。
4.根据权利要求1所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述光源(3)为激光光源，且所述光源(3 )具有狭缝。
5.根据权利要求4所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，还包括位于所述光源(3)和所述支撑架之间的偏振光输出组件(4);其中,所述偏振光输出组件(4)位于光路中。
6.根据权利要求1所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述支撑架设置有用于放置所述待测工件(6)的放置槽。
7.根据权利要求1所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述支撑架包括:用于承载所述待测工件(6)的支撑板(8)，承载所述支撑板(8)且能够调节所述支撑板(8)支撑角度的调整架(7)。
8.根据权利要求7所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述调整架(7)为:能够分别沿X向、Y向和Z向调节所述支撑板(8)的三维调整架；其中，所述X向、所述Y向和所述Z向两两垂直。
9.根据权利要求8所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，所述三维调整架包括:设置于所述壳体内且两两垂直的X向导轨(706)、Y向导轨(705)、Z向导轨；承载支撑板(8)的承载台(704);驱动所述承载台(704)沿所述X向导轨(706)移动的第一蜗轮蜗杆组件；驱动所述承载台(704)沿所述Y向导轨(705)移动的第二蜗轮蜗杆组件；驱动所述承载台(704)沿所述Z向导轨移动的第三蜗轮蜗杆组件。
10.根据权利要求1-9中任意一项所述的光学镜片镀膜层用检测装置，其特征在于，还包括:位于所述支撑架和所述探测器(10)之间的滤光片组件(9)，所述滤光片组件(9)设置于所述壳体的内壁上；其中，所述滤光片组件(9)位于光路中。
【文档编号】G01N21/59GK203965318SQ201320833794
【公开日】2014年11月26日 申请日期:2013年12月17日 优先权日:2013年12月17日
【发明者】胡天佐, 单明星, 周浩 申请人:长春博信光电子有限公司