一种阵列基板检测设备的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种阵列基板检测设备，其包括信号输入单元和信号检测单元，信号输入单元与多个阵列基板连接，用以向多个阵列基板输入检测信号，信号检测单元用于采集阵列基板中各像素的电学波形信号，并确定阵列基板上的像素是否存在缺陷，每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间均连接有通断开关。上述阵列基板检测设备可以独立地仅向某一个需要进行检测的阵列基板输入检测信号，从而，在信号检测单元检测到阵列基板中的像素存在缺陷时，上述阵列基板检测设备可以准确地区分出像素存在缺陷的阵列基板。
【专利说明】一种阵列基板检测设备
【技术领域】
[0001] 本发明涉及液晶显示【技术领域】，具体地，涉及一种阵列基板检测设备。
【背景技术】
[0002] 在薄膜晶体管液晶显不器（Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，以 下简称为TFT-LCD)的制备工艺中，在玻璃基板上制备出多个阵列基板后，为保证产品的质 量，需要采用检测设备对阵列基板中的像素进行检测，以避免在后续生产流程中，生产出存 在缺陷的广品。
[0003] 图1为现有的对阵列基板进行检测的示意图。如图1所示，在检测阵列基板1时， 信号输入单元（图中未示出）运动至需要检测的阵列基板1上方，与设于玻璃基板2上，且 分别与该阵列基板1的数据线和栅极线连接的多个检测端子3连接，并向该阵列基板1的 数据线和栅极线输出数据信号和栅极信号等检测信号；同时，信号检测单元（图中未示出） 运动至该阵列基板1上方，采集该阵列基板1上各像素的电学波形信号，确定该阵列基板1 上的像素是否存在缺陷。
[0004] 在实际应用中，由于对阵列基板1进行检测时，信号输入单元和信号检测单元均 位于阵列基板1的上方，因此，信号检测单元采集阵列基板1上像素的电学波形信号时会受 到信号输入单元的部分遮挡，导致其无法采集阵列基板1上被遮挡区域的电学波形信号， 从而对于上述被遮挡区域，检测设备无法检测该区域内的像素是否存在缺陷，在此情况下， 若上述区域的像素存在缺陷，则会导致产品的不良率提高。
[0005] 此外，随着技术的发展，玻璃基板2的利用率越来越高，相邻的阵列基板1之间的 间距越来越小，使相邻两个阵列基板1之间的间距不足以设置检测端子，如图2所示，在此 情况下，将与多个阵列基板1对应的多组检测端子设置在位于一行的多个阵列基板1的左 侧（或右侧）；在对阵列基板1进行检测的过程中，信号输入单元同时与多组检测端子3连 接，向多个阵列基板1同时输入检测信号，从而实现对多个阵列基板1的同时检测。在实际 应用中，若同时检测的多个阵列基板1中的像素均不存在缺陷，上述检测方法可以大幅提 高对阵列基板1的检测效率，但在任意一个或多个阵列基板1中的像素存在缺陷时，检测设 备无法在多个阵列基板1中准确地识别和区分出存在缺陷的像素所属的阵列基板1。
【发明内容】
[0006] 本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种阵列基板检测 设备，其信号输入单元与多个阵列基板连接的线路上设有通断开关，使其可以单独地对其 中任意一个阵列基板进行检测，使阵列基板检测设备可以准确地区分出像素存在缺陷的阵 列基板。
[0007] 为实现本发明的目的而提供一种阵列基板检测设备，包括信号输入单元和信号检 测单元，所述信号输入单元与多个阵列基板连接，用以向多个所述阵列基板输入检测信号， 所述信号检测单元用于采集所述阵列基板中各像素的电学波形信号，并确定阵列基板上的 像素是否存在缺陷，每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间均连接有通断开关。
[0008] 其中，连接于多个所述阵列基板和所述信号输入单元之间的多个通断开关依次开 启，以分别对多个所述阵列基板进行检测。
[0009] 其中，所述信号输入单元包括与所述阵列基板的数据线连接的数据信号子单元和 与所述阵列基板的栅极线连接的栅极信号子单元；所述数据信号子单元用于向所述阵列基 板的数据线输入数据信号；所述栅极信号子单元用于向所述阵列基板的栅极线输入栅极信 号；所述通断开关包括第一通断开关和第二通断开关，所述第一通断开关连接于所述数据 信号子单元和所述阵列基板的数据线之间，所述第二通断开关连接于所述栅极信号子单元 和所述阵列基板的栅极线之间。
[0010] 其中，所述第一通断开关和所述第二通断开关均为薄膜晶体管；所述第一通断开 关的源极与所述数据信号子单元连接，所述第一通断开关的漏极与所述阵列基板的数据线 连接，所述第一通断开关的栅极与控制器连接，所述控制器通过向所述第一通断开关的栅 极加载正电压或负电压，控制所述第一通断开关开启或关闭；所述第二通断开关的源极与 所述栅极信号子单元连接，所述第二通断开关的漏极与所述阵列基板的栅极线连接，所述 第二通断开关的栅极与所述控制器连接，所述控制器通过向所述第二通断开关的栅极加载 正电压或负电压，控制所述第二通断开关开启或关闭。
[0011] 其中，所述第一通断开关和第二通断开关的栅极形成为一体，且与所述控制器连 接。
[0012] 其中，多个所述阵列基板所在的玻璃基板上设有多组检测端子，多组所述检测端 子与多个所述阵列基板一一对应地连接，且多组所述检测端子与所述信号输入单元连接。
[0013] 其中，每组所述检测端子包括至少一个与其对应的阵列基板的数据线连接的检测 端子，和/或，至少一个与其对应的阵列基板的栅极线连接的检测端子。
[0014] 其中，所述通断开关连接于每个阵列基板和与其对应的一组检测端子之间。
[0015] 其中，所述通断开关连接于每组所述检测端子和信号输入单元之间。
[0016] 其中，多组所述检测端子位于多个所述阵列基板的左侧或右侧。
[0017] 本发明具有以下有益效果：
[0018] 本发明提供的阵列基板检测设备，其信号输入单元和每个阵列基板之间连接有通 断开关，使在对阵列基板的检测过程中，阵列基板检测设备可以独立地仅向某一个需要进 行检测的阵列基板输入检测信号，从而，在信号检测单元检测到阵列基板中的像素存在缺 陷时，本发明提供的阵列基板检测设备可以准确地区分出像素存在缺陷的阵列基板。
【专利附图】
【附图说明】
[0019] 附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具 体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中：
[0020] 图1为现有的对阵列基板进行检测的示意图；
[0021] 图2为多组检测端子均位于多个阵列基板的左侧的示意图；
[0022] 图3为本发明实施例提供的阵列基板检测设备检测阵列基板的示意图；
[0023] 图4为数据信号子单元和阵列基板的数据线之间的电路示意图；以及
[0024] 图5为栅极信号子单元和阵列基板的栅极线之间的电路示意图。
[0025] 附图标记说明
[0026] 1 :阵列基板；2 :玻璃基板；3 :检测端子；
[0027] 10、10A、10B、10C :阵列基板；11通断开关；11a :第一通断开关；lib :第二通断开 关；12:控制器；13:检测端子。
【具体实施方式】
[0028] 以下结合附图对本发明的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是，此处所描 述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
[0029] 请参看图3,图3为本发明实施例提供的阵列基板检测设备检测阵列基板的示意 图。在本实施例中，阵列基板检测设备包括信号输入单元（图中未示出）和信号检测单元 (图中未示出）。其中，信号输入单元与多个阵列基板10连接，用以向多个阵列基板10输 入检测信号；并且，每个阵列基板10和信号输入单元之间连接有通断开关11，通断开关11 用于控制信号输入单元与相应的阵列基板10之间的连接，使其处于连通或断开状态。信号 检测单元用于采集阵列基板10中各像素的电学波形信号，并确定阵列基板10上的像素是 否存在缺陷；具体地，信号采集单元首先运动至需要检测的阵列基板10的上方，而后采集 该阵列基板10中各像素的电学波形信号。
[0030] 在本实施例中，信号输入单元包括与阵列基板10的数据线连接的数据信号子单 元和与阵列基板10的栅极线连接的栅极信号子单元；其中，数据信号子单元用于向阵列基 板10的数据线输入数据信号；栅极信号子单元用于向阵列基板10的栅极线输入栅极信号。
[0031] 通断开关11包括第一通断开关11a和第二通断开关11b，第一通断开关11a连接 于数据信号子单元和阵列基板10的数据线之间，第二通断开关lib连接于栅极信号子单元 和阵列基板10的栅极线之间。具体地，如图4所示，第一通断开关11a和第二通断开关lib 均为薄膜晶体管；第一通断开关11a的源极与数据信号子单元连接，第一通断开关11a的漏 极与阵列基板10的数据线连接，第一通断开关11a的栅极与控制器12连接，控制器12用 于通过向第一通断开关11a的栅极加载正电压或负电压，控制第一通断开关11a开启或关 闭。如图5所示，第二通断开关lib的源极与栅极信号子单元连接，第二通断开关lib的漏 极与阵列基板10的栅极线连接，第二通断开关lib的栅极与控制器12连接，控制器12用 于通过向第二通断开关lib的栅极加载正电压或负电压，控制第二通断开关lib开启或关 闭。
[0032] 在对多个阵列基板10进行检测时，使控制器12向连接于某一个需要检测的阵列 基板10与信号输入单元之间的薄膜晶体管的栅极加载正电压，同时向连接于其他阵列基 板10和信号输入单元之间的薄膜晶体管的栅极加载负电压，从而，仅使多个阵列基板10中 的一个与信号输入单元之间的连接处于连通状态，在此情况下，信号输入单元向该阵列基 板10输入检测信号，信号检测单元对该阵列基板10中的像素是否存在缺陷进行检测，从 而，在检测到像素存在缺陷时，阵列基板检测设备可以准确地判定该阵列基板10中存在有 缺陷的像素。
[0033] 优选地，在本实施例中，连接于多个阵列基板10和信号输入单元之间的多个通断 开关11依次开启，以实现阵列基板检测设备分别对多个阵列基板10进行检测。例如，如图 3所示，信号输入单元与三个阵列基板（10A、10B和10C)连接，在对上述三个阵列基板10进 行检测时，首先，控制器12向连接于阵列基板10A与信号输入单元之间的薄膜晶体管的栅 极加载正电压，使信号输入单元与阵列基板10A之间的连接处于连通状态，以及，控制器12 向连接于阵列基板10B和信号输入单元之间，以及阵列基板10C和信号输入单元之间的薄 膜晶体管的栅极加载负电压，使信号输入单元与阵列基板10B、10C之间的连接处于断开状 态；在此情况下，数据信号子单元和栅极信号子单元分别向阵列基板10A的数据线和栅极 线发送数据信号和栅极信号；同时，信号检测单元运动至阵列基板10A上方，采集阵列基板 10A中各像素的电学波形信号，并根据该电学波形信号，确定阵列基板10A中的像素是否存 在缺陷，以及存在缺陷的像素所在的位置。在完成对阵列基板10A的检测后，控制器12向 连接于信号输入单元和阵列基板10A、10C之间的薄膜晶体管的栅极加载负电压，同时向连 接于信号输入单元和阵列基板10B之间的薄膜晶体管的栅极加载正电压，从而使信号输入 单元与阵列基板10B之间的连接处于连通状态，与阵列基板10A和10C之间的连接处于断 开状态；在此情况下，与上述过程类似，数据信号子单元和栅极信号子单元分别向阵列基板 10B的数据线和栅极线输入数据信号和栅极信号；信号检测单元运动至阵列基板10B上方， 检测阵列基板10B中是否存在有缺陷的像素。在完成对阵列基板10B的检测后，阵列基板 检测设备对阵列基板10C进行检测，其过程与上述过程类似，在此不再赘述。
[0034] 根据上述可知，本实施例提供的阵列基板检测设备，其信号输入单元和每个阵列 基板之间均连接有通断开关，使在对阵列基板10的检测过程中，阵列基板检测设备可以独 立地仅向某一个需要进行检测的阵列基板10输入检测信号，从而，在信号检测单元检测到 阵列基板10中的像素存在缺陷时，本实施例提供的阵列基板检测设备可以准确地区分出 像素存在缺陷的阵列基板10。
[0035] 在本实施例中，多个阵列基板10所在的玻璃基板上设有多组检测端子13,多组检 测端子13与多个阵列基板10 -一对应地连接，且多组检测端子13与信号输入单元连接； 具体地，每组检测端子13包括至少一个与其对应的阵列基板10的数据线连接的检测端子， 和/或，至少一个与其对应的阵列基板10的栅极线连接的检测端子。
[0036] 优选地，多组检测端子13位于多个阵列基板10的同一侧（例如，图3中，多组检 测端子13位于多个阵列基板10的左侧），而不位于多个阵列基板10之间；这样可以减少 相邻的阵列基板之间的间距，从而提高玻璃基板的利用率；同时，这样还使信号输入单元无 需在检测阵列基板的过程中移动至阵列基板10上方，从而可以避免信号输入单元对阵列 基板上的像素产生屏蔽，使信号检测单元可以对整个阵列基板上的所有像素进行检测。
[0037] 具体地，在本实施例中，通断开关11连接于每个阵列基板10和与其对应的一组检 测端子13之间；或者，通断开关11连接于每组检测端子13和信号输入单元之间。
[0038] 需要说明的是，在本实施例中，第一通断开关11a和第二通断开关lib的栅极分别 与控制器12连接，但本发明并不限于此，在实际应用中，第一通断开关1 la的栅极和第二通 断开关lib的栅极还可以形成为一体，且使形成为一体的栅极与控制器12连接。此外，在 实际应用中，第一通断开关1 la和第二通断开关1 lb不限于薄膜晶体管，其还可以采用其他 的开关装置。
[0039] 可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施 方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精 神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
【权利要求】
1. 一种阵列基板检测设备，包括信号输入单元和信号检测单元，所述信号输入单元与 多个阵列基板连接，用以向多个所述阵列基板输入检测信号，所述信号检测单元用于采集 所述阵列基板中各像素的电学波形信号，并确定阵列基板上的像素是否存在缺陷，其特征 在于，每个所述阵列基板和所述信号输入单元之间连接有通断开关。
2. 根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，连接于多个所述阵列基板 和所述信号输入单元之间的多个通断开关依次开启，以分别对多个所述阵列基板进行检 测。
3. 根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述信号输入单元包括与 所述阵列基板的数据线连接的数据信号子单元和与所述阵列基板的栅极线连接的栅极信 号子单元；所述数据信号子单元用于向所述阵列基板的数据线输入数据信号；所述栅极信 号子单元用于向所述阵列基板的栅极线输入栅极信号； 所述通断开关包括第一通断开关和第二通断开关，所述第一通断开关连接于所述数据 信号子单元和所述阵列基板的数据线之间，所述第二通断开关连接于所述栅极信号子单元 和所述阵列基板的栅极线之间。
4. 根据权利要求3所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述第一通断开关和所述 第二通断开关均为薄膜晶体管； 所述第一通断开关的源极与所述数据信号子单元连接，所述第一通断开关的漏极与所 述阵列基板的数据线连接，所述第一通断开关的栅极与控制器连接，所述控制器通过向所 述第一通断开关的栅极加载正电压或负电压，控制所述第一通断开关开启或关闭； 所述第二通断开关的源极与所述栅极信号子单元连接，所述第二通断开关的漏极与所 述阵列基板的栅极线连接，所述第二通断开关的栅极与所述控制器连接，所述控制器通过 向所述第二通断开关的栅极加载正电压或负电压，控制所述第二通断开关开启或关闭。
5. 根据权利要求4所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述第一通断开关和第二 通断开关的栅极形成为一体，且与所述控制器连接。
6. 根据权利要求1所述的阵列基板检测设备，其特征在于，多个所述阵列基板所在的 玻璃基板上设有多组检测端子，多组所述检测端子与多个所述阵列基板一一对应地连接， 且多组所述检测端子与所述信号输入单元连接。
7. 根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，每组所述检测端子包括至 少一个与其对应的阵列基板的数据线连接的检测端子，和/或，至少一个与其对应的阵列 基板的栅极线连接的检测端子。
8. 根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述通断开关连接于每个 阵列基板和与其对应的一组检测端子之间。
9. 根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，所述通断开关连接于每组 所述检测端子和信号输入单元之间。
10. 根据权利要求6所述的阵列基板检测设备，其特征在于，多组所述检测端子位于多 个所述阵列基板的同一侧。
【文档编号】G01R31/02GK104090387SQ201410273951
【公开日】2014年10月8日 申请日期:2014年6月18日 优先权日:2014年6月18日
【发明者】马禹 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 北京京东方显示技术有限公司