一种用于固体粉末变温荧光测试的样品架的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于固体粉末变温荧光测试的样品架，包括金属样品槽片和底座，金属样品槽片安装在底座上；金属样品槽片包括弯曲成α度的第一槽片和第二槽片，其中90＜α＜180；所述第一槽片的对光面开设有样品槽，第一槽片的背光面与样品槽对应的位置设有一夹片，金属样品槽片通过第二槽片安装在底座上。本样品槽中的金属槽片设计成弯曲的115~125°而非原先的90°，可有效抑制杂散光的干扰，采用上述样品槽其样品用量相对较少，约需13~15mg。
【专利说明】—种用于固体粉末变温荧光测试的样品架
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及荧光测试样品领域，更具体地，涉及一种用于固体粉末变温荧光测试的样品架。
【背景技术】
[0002]现代单光子技术与电子技术的发展使得荧光光谱测试技术越来越成熟，固体荧光的变温测试也越来越广泛。稳态瞬态荧光光谱仪是用于表征物质的荧光、磷光特性及发光寿命的仪器设备，当其与低温测试系统连接时，可以测试在变温条件下，研究对象在不同温度下的精细信息。液氦闭循环控温系统可控温度范围4.2K?450K，通常用于固体样品或液滴样品(把液体样品滴在石英片上，挥发后测试)在稳态瞬态荧光光谱仪测试过程中的温度控制，如图4所示。该系统的样品架由两个空心不锈钢金属圆环和两片石英片组成，其中一个圆环下端为螺丝钉，可旋入液氦闭循环装置的支架中，便于温度控制。但是这样的设置存在如下弊端:一是光照射样品局限于垂直照射，导致散射光、杂散光很强，测试得不到真实的荧光谱，出射光过强，也不利荧光光谱仪检测器的安全使用；二是靠两片垂直的石英片夹住粉末样品即不易夹紧，又需要样品量较多，增加了样品合成的成本。
实用新型内容
[0003]本实用新型的目的在于针对现有的用于固体变温荧光测试的样品架存在光照射样品始终保持垂直不能调节和样品量过大的缺陷，提供一种结构简单、价格低廉、本底值低、易清洗，能有效防止杂散光，同时能真实探测样品时时温度的用于固体粉末变温荧光测试的样品架。
[0004]为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案如下:
[0005]一种用于固体粉末变温荧光测试的样品架，包括金属样品槽片和底座，所述金属样品槽片安装在底座上；
[0006]所述金属样品槽片包括弯曲成α度的第一槽片和第二槽片，其中90 < α < 180 ；所述第一槽片的对光面开设有样品槽，第一槽片的背光面与样品槽对应的位置设有一夹片，金属样品槽片通过第二槽片安装在底座上。
[0007]上述金属样品槽片包括弯曲成钝角的第一槽片和第二槽片，在本实用新型中最好将其弯曲成115?125°，而非原先的90°，可有效抑制杂散光的干扰，采用上述样品架，其需要测试的样品用量相对较少，约需13?15mg。上述第一槽片的对光面是指位于呈钝角的面，设置的夹片是用于夹住控温系统的传感器，以实时探测到样品的真实温度。
[0008]更进一步的,第一槽片的长为20?30 mm,宽为10?15mm,第二槽片的长为10?18mm,宽为;第一槽片和第二槽片的厚度为1.8?2.2mm。
[0009]更进一步的,所述样品槽的长为8?Ilmm,宽为5?7mm,深为0.3?0.7mm,在该样品槽内填压待测样品。
[0010]其夹片的具体安装方式为，在第一槽片上开设有两个孔，夹片通过孔安装在第一槽片的背光面。在具体安装时，其夹片对应位置必然开设有两个孔，通过将螺丝或其他类似的连接件贯穿第一槽片以及夹片上的孔以将两者安装起来。
[0011]更进一步的，所述第二槽片上开设有螺丝孔，金属样品槽片通过螺丝孔安装在底座上。
[0012]为了便于调节样品向前或向后移动对准光路焦点，所述第二槽片上开设的螺丝孔是长条形螺丝孔；通过前后移动金属槽片以实现调节样品的位置。
[0013]所述底座为圆柱底座，包括套台和螺纹芯，螺纹芯嵌入套台内；所述套台的台面上开设有用于安装金属样品槽片的螺孔。该套台上的螺孔与第二槽片上的螺丝孔配合，通过连接件或螺丝连接套台与第二槽片，以实现圆柱底座与金属样品槽片的连接。
[0014]所述套台的台面直径为2(T23mm，台面厚度为7?10mm，底面开设有用于嵌入螺纹芯的开口，套台的柱面开设用于固定套台与螺纹芯的螺丝孔。
[0015]所述螺纹芯的螺帽高为5?7mm，其螺帽的柱面上开设有线槽。
[0016]螺纹芯的钉可旋入控温系统支架上，其螺帽则嵌入到套台的内凹面，套台的柱面上设有螺丝孔，当将螺纹芯绕至套台合适位置时，通过螺丝孔和线槽用螺丝或连接件固紧螺纹芯。螺纹芯和套台组成圆柱底座，两体间可360°自由调整位置，是为了方便当螺纹芯固定后，调整套台位置，使样品对准光路。
[0017]所述金属样品槽片是紫铜样品槽片，套台是紫铜套台，螺纹芯是紫铜螺纹芯。上述部件均是由传热性能极佳的紫铜制成，且紫铜作为样品的衬底，能够使得荧光本底极低，可降低本底突光的干扰。
[0018]与现有技术相比，本实用新型的优点:金属样品槽片设计成弯曲的115?125°而非原先的90°，可有效抑制杂散光的干扰。样品用量相对较少，约需13?15mg。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型结构组成图。
[0020]图2为本实用新型金属样品槽片正反面图。
[0021]图3为本实用新型套台分解图。
[0022]图4为现有的样品槽结构爆炸示意图。
【具体实施方式】
[0023]附图仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；
[0024]为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；
[0025]对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
[0026]下面结合附图和实施例对本实用新型的技术方案做进一步的说明。
[0027]实施例1
[0028]参见附图f 3，本样品槽由金属样品槽片I和圆柱底座组成，金属样品槽片I安装在圆柱底座上，圆柱底座又包含套台2和螺纹芯3两部件。
[0029]如图1为本新型实施例金属槽片I和圆柱底座2、3组装后的效果图；图2 (a)为金属槽片的对光面图示，图2 Ca)金属槽片的背光面图示；图3为圆柱底座分解图，由套台2和螺纹芯3组成。
[0030]图2中金属样品槽片I是由上端30 X 1mm的第一槽片和下端1X 1mm的短边第二槽片弯曲成120°而成，金属样品槽片设计成弯曲的120°而非原先的90°，可有效抑制杂散光的干扰。
[0031]上述第一槽片的对光面开设有10X6X0.5mm样品槽4,该样品槽4可填涂粉末样品约15mg ;第一槽片上开设有两个孔5，通过小螺丝7与孔5配合将不锈钢片6安装在第一槽片的反面，与样品槽4的位置对应，通过不锈钢片6将液氦闭循环系统的温度传感器紧贴样品背面，实探样品的真实温度；第二槽片上开设有长条形螺丝孔8，金属样品槽片I通过第二槽片的长条形螺丝孔8安装在圆柱底座上，通过长条形螺丝孔8与小螺丝9配合将金属样品槽片I固定在套台2上，将第二槽片上的螺丝孔设置成长条形螺丝孔的目的是为了可让金属样品槽片I可以前后移动，便于调节光斑焦点刚好打在样品槽4的样品处。在本实施例中，长条形螺丝孔8是6X2.5mm的螺丝孔。
[0032]如图3，套台2的横截面呈圆形，台面的直径为20mm，底面开设有嵌入螺纹芯3的开口，从地面至高度为3mm处的开口内径为13.8mm,高于高度3mm处的开口内径大于13.8mm，将螺纹芯3通过开口嵌入到套台中，套台2的柱面上开有用于固定套台与螺纹芯的螺丝孔；螺纹芯的螺帽高度为4mm，该螺帽的柱面上开设有1.3X Imm的线槽，螺纹芯3嵌入套台2后，通过小螺丝10可将套台2和螺纹芯3定位固定。螺纹芯3螺帽上挖线槽的目的就是为了使套台可以自由360°转动，连带着金属样品槽片的定位，使样品准确对光。实用例中所述部件材料均为导热性能极佳的紫铜，由于紫铜的传热性能极佳，且紫铜作为样品的衬底，能够使得荧光本底极低，可降低本底荧光的干扰。
[0033]相同或相似的标号对应相同或相似的部件；
[0034]附图中描述位置关系仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；
[0035]显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，包括金属样品槽片和底座，所述金属样品槽片安装在底座上； 所述金属样品槽片包括弯曲成α度的第一槽片和第二槽片,其中90 < Ct < 180 ;所述第一槽片的对光面开设有样品槽，第一槽片的背光面与样品槽对应的位置设有一夹片，金属样品槽片通过第二槽片安装在底座上。
2.根据权利要求1所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述第一槽片的长为20~30 mm,宽为10~15mm,第二槽片的长为10~18mm,宽为10~15mm ;第一槽片和第二槽片的厚度为1.8^2.2mm。
3.根据权利要求2所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述样品槽的长为8~11謹，宽为5~7mm,深为0.3~0.7謹。
4.根据权利要求1至3任一项所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述第一槽片上开设有两个孔，夹片通过孔安装在第一槽片的背光面。
5.根据权利要求1所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述第二槽片上开设有螺丝孔，金属样品槽片通过螺丝孔安装在底座上。
6.根据权利要求5所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述第二槽片上开设有的螺丝孔为长条形螺丝孔。
7.根据权利要求1或5所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述底座为圆柱底座，包括套台和螺纹芯，螺纹芯嵌入套台内；所述套台的台面上开设有用于安装金属样品槽片的螺孔。
8.根据权利要求7所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述套台的台面直径为2(T23mm，台面厚度为疒10mm，底面开设有用于嵌入螺纹芯的开口，套台的柱面开设用于固定套台与螺纹芯的螺丝孔。
9.根据权利要求8所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述螺纹芯的螺帽高为5~7mm，其螺帽上开设有线槽。
10.根据权利要求7所述的用于固体粉末变温荧光测试的样品架，其特征在于，所述金属样品槽片是紫铜样品槽片，套台是紫铜套台，螺纹芯是紫铜螺纹芯。
【文档编号】G01N21/64GK203824898SQ201420248981
【公开日】2014年9月10日 申请日期:2014年5月15日 优先权日:2014年5月15日
【发明者】黄滨, 忻龙祥, 余小岚 申请人:中山大学