一种测试针装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及电子测试领域，特别涉及一种测试针装置。该测试针装置包括插针、顶针、大电流接触母套、测试弹簧，所述插针与大电流接触母套连接，所述插针设有弹簧腔，所述大电流接触母套设有接触腔，所述弹簧腔与接触腔相贯通，所述测试弹簧位于弹簧腔内，所述顶针的底部位于弹簧腔内并与测试弹簧连接，所述顶针位于接触腔内。该测试针装置在传统的检测针上增设了检测外壳，检测时仅需将被测针插入检测外壳的接触腔中即可完成测试工作，接触腔也起到了位置引导的作用，同时，使得测试针的接触面积大大增加，点接触变为环面接触，减少了接触电阻，减少发热量，降低能耗，增加了测试针及设备的使用寿命，加强的产品的测试范围。
【专利说明】一种测试针装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子测试领域，特别涉及一种测试针装置。
【背景技术】
[0002]传统的测试针在检测时，要求检测针与被测针通过点对点接触来产生电流进行检测，检测针与被测针之间要进行接触的点面积不大，如果用被测针与接触检测针的检测点时，对准的过程就需要比较谨慎的操作才能完成，所以点对点接触操作起来不方便，需要将检测针的检测点对着被测针的检测点才能检测成功，操作复杂而且容易出错，如果有一种可以起到引导作用的并完成对准工作的装置，则能解决操作不方便的问题。
实用新型内容
[0003]本实用新型提供一种方便操作，而且有多个检测点的测试针装置。
[0004]一种测试针装置包括插针、顶针、大电流接触母套、测试弹簧，所述插针与大电流接触母套连接，所述插针设有弹簧腔，所述大电流接触母套设有接触腔，所述弹簧腔与接触腔相贯通，所述测试弹簧位于弹簧腔内，所述顶针的底部位于弹簧腔内并与测试弹簧连接，所述顶针位于接触腔内。顶针配合测试弹簧的使用、接触腔的设计起到了一种定位的作用，在被测针伸入接触腔后，根据接触腔的形状将被测针引导到与顶针最合适的接触位置，配合顶针和测试弹簧，可以使顶针一直与被测针处于接触状态，这样省去了进行对准的操作，使操作更加方便。
[0005]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置还包括卡扣环，所述接触腔包括卡扣环槽，所述卡扣环位于卡扣环槽中并与大电流接触母套连接，所述顶针的顶部穿过卡扣环。卡扣环用于增加该测试针装置与被测针的接触点，卡扣环围成的腔体与被测针的侧面接触，实现了顶针、卡扣环的多点接触检测，在一个接触点发生故障不能进行检测时，可以通过其他完好的接触点来完成检测工作，使检测过程更可靠。
[0006]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置的卡扣环为由两端等宽并向中间渐而变窄的环状结构。卡扣环两端宽是为了方便被测针的插入，中间窄是为了使卡扣环能与被测针牢固地接触。
[0007]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置的卡扣环的中间部分设有间隙孔和弹片，所述间隙孔位于每两个弹片之间，所述卡扣环的两端与卡扣环槽的腔壁连接。卡扣环弹片和间隙孔的设计可是使卡扣环牢固的固定在卡扣环槽内，同时又能根据被测针的大小随意的伸缩，调节松紧度，保持有足够的接触面积，保证了测试的准确性。
[0008]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置还包括被测针，所述接触腔设有被测针卡位槽，所述被测针卡位槽顶部与卡扣环槽连接，所述被测针卡位槽底部与弹簧腔连接，所述被测针卡位槽的宽度大于被测针的宽度，所述弹簧腔的宽度小于被测针的宽度。被测针卡位槽用于限制被测针的检测深度，使被测针与顶针、卡扣环能保持在合适的接触位点上。
[0009]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置的卡扣环的内径大于顶针的宽度，所述卡扣环的内径小于被测针的宽度。卡扣环内径大小的设计，首先避免了卡扣环与顶针的相互接触，以免电流在卡扣环和顶针之间流通，造成短路，影响到该测试针装置的质量，其次卡扣环可以与被测针实现接触，防止卡扣环与被测针接触时发生松动。
[0010]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置的顶针底部设有凸出部，所述凸出部的宽度大于顶针顶部的宽度，所述弹簧腔顶部设有卡位片，所述卡位片与弹簧腔的弹簧腔壁垂直连接，所述卡位片的长度大于凸出部离弹簧腔壁的距离，所述卡位片的长度小于顶针顶部离弹簧腔壁的距离。凸出部和卡位片的设计可以防止顶针滑出弹簧腔，以便在检测时顶针能保持和检测弹簧的连接位置，以免发生偏移。
[0011]作为本实用新型的进一步改进，该测试针装置的插针与大电流接触母套为可导电连接。此设计可以使顶针和卡扣环分别对被测针进行接触检测，即顶针对被测针检测时为一个检测位点，卡扣环对被测针检测时为另一个检测位点，实现多点分别进行检测的效果。
[0012]该测试针装置的有益效果是:在传统的检测针上增设了检测外壳，检测时仅需将被测针插入检测外壳的接触腔中即可完成测试工作，接触腔也起到了位置引导的作用，使被测针能准确地与顶针对准，使检测的位点更容易把握，而且操作简单，不需刻意地进行对准操作。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为本实用新型一种测试针装置的结构图；
[0014]图2为本实用新型一种测试针装置中卡扣环的结构图。
[0015]附图中各序号表示的意义如下:
[0016]插针1、弹簧腔11、顶针2、凸出部21、大电流接触母套3、接触腔31、卡扣环槽32、被测针卡位槽33、测试弹簧4、卡扣环5、间隙孔51、弹片52、被测针6。
【具体实施方式】
[0017]结合图1所示，该测试针装置包括插针1、顶针2、大电流接触母套3、测试弹簧4、卡扣环5，插针I的顶部与大电流接触母套3为可导电连接，插针I设有弹簧腔31，测试弹簧4位于弹簧腔31内，所述顶针2的底部设有凸出部21，顶针2通过凸出部21连接在弹簧腔31的顶部，凸出部21与测试弹簧4的顶部连接，同时弹簧腔11顶部设有卡位片，所述卡位片与弹簧腔11的弹簧腔壁垂直连接，所述卡位片的长度大于凸出部21离弹簧腔壁的距离，所述卡位片的长度小于顶针2顶部离弹簧腔壁的距离，此设计防止了顶针2滑出弹簧腔4。所述大电流接触母套3设有接触腔31，接触腔31包括卡扣环槽32和被测针卡位槽33，所述被测针卡位槽33与弹簧腔11相贯通连接，卡扣环槽32与被测针卡位槽33连接。该测试针装置还包括卡扣环5,所述卡扣环5连接在卡扣环槽32内，顶针2顶部贯穿接触腔31并位于卡扣环5的围成的腔体内。该测试针装置还包括被测针6，被测针卡位槽33的宽度大于被测针6的宽度，所述弹簧腔11的宽度小于被测针6的宽度，所述被测针6与卡扣环5拔插连接。
[0018]结合图2所示，该卡扣环5为两端等宽并向中间渐而变窄的环状结构，卡扣环5的内径大于顶针2的宽度，所述卡扣环5的内径小于被测针6的宽度，卡扣环5中间设有间隙孔51和弹片52，每两个弹片52之间设有一个间隙孔51，间隙孔51和弹片52的配合可以方便被测针6在插入时根据被测针6的大小随意的伸缩，调节松紧度，保证被测针6能后卡在卡扣环5上，但又不影响被测针6的拔出。
[0019]在进行检测时，被测针6朝着接触腔31的方向插入，在被测针6与顶针2接触后继续顺着接触腔31的形状将被测针6压入到被测针卡位槽33内，此时顶针2往下运动，并在测试弹簧4的作用下向上顶住被测针6，完成顶针2与被测针6的点对点接触，同时被测针6与卡扣环5拔插连接，卡扣环5受到被测针6相外张开的作用力，卡扣环5发生弹性形变，反作用于被测针6，从侧面与被测针6接触，实现了对被测针6侧面的接触检测，顶针2和卡扣环5的配合使用，实现了对被测针6的多点接触检测，同时该操作过程无需刻意的进行对准，简化了操作过程，使检测过程更加便捷。
[0020]该测试针装置整体的有益效果是:该测试针装置在传统的检测针上增设了大电流接触母套3，检测时仅需将被测针6插入大电流接触母套的接触腔中即可完成测试工作，接触腔31也起到了位置引导的作用，同时，使得测试针装置的接触面积大大增加，点接触变为环面接触，减少了接触电阻，减少发热量，降低能耗，增加了测试针及设备的使用寿命，力口强的产品的测试范围。接触腔31不限于为冠簧结构和片簧结构，可用所有利于接触的结构。
[0021]以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所做的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属【技术领域】的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
【权利要求】
1.一种测试针装置，其特征在于，包括插针(1)、顶针(2)、大电流接触母套(3)、测试弹簧(4 )，所述插针(1)与大电流接触母套(3 )连接，所述插针(1)设有弹簧腔(11)，所述大电流接触母套(3)设有接触腔(31)，所述弹簧腔(11)与接触腔(31)相贯通，所述测试弹簧(4)位于弹簧腔(31)内，所述顶针(2)的底部位于弹簧腔(11)内并与测试弹簧(4)连接，所述顶针(2)位于接触腔(31)内。
2.根据权利要求1所述的一种测试针装置，其特征在于，所述测试针装置还包括卡扣环(5)，所述接触腔(31)包括卡扣环槽(32)，所述卡扣环(5)位于卡扣环槽(32)中并与大电流接触母套(3 )连接，所述顶针(2 )的顶部穿过卡扣环(5 )。
3.根据权利要求2所述的一种测试针装置，其特征在于，所述卡扣环(5)为由两端等宽并向中间渐而变窄的环状结构。
4.根据权利要求3所述的一种测试针装置，其特征在于，所述卡扣环(5)的中间部分设有间隙孔(51)和弹片(52)，所述间隙孔(51)位于每两个弹片(52)之间，所述卡扣环(5)的两端与卡扣环槽(32)的腔壁连接。
5.根据权利要求2所述的一种测试针装置，其特征在于，所述测试针装置还包括被测针(6)，所述接触腔(31)设有被测针卡位槽(33)，所述被测针卡位槽(33)顶部与卡扣环槽(31)连接，所述被测针卡位槽(33)底部与弹簧腔(11)连接，所述被测针卡位槽(33)的宽度大于被测针(6)的宽度，所述弹簧腔(11)的宽度小于被测针(6)的宽度。
6.根据权利要求5所述的一种测试针装置，其特征在于，所述卡扣环(5)的内径大于顶针(2)的宽度，所述卡扣环(5)的内径小于被测针(6)的宽度。
7.根据权利要求1所述的一种测试针装置，其特征在于，所述顶针(2)底部设有凸出部(21)，所述凸出部(21)的宽度大于顶针(2)顶部的宽度，所述弹簧腔(11)顶部设有卡位片，所述卡位片与弹簧腔(11)的弹簧腔壁垂直连接，所述卡位片的长度大于凸出部(21)离弹簧腔壁的距离，所述卡位片的长度小于顶针(2)顶部离弹簧腔壁的距离。
8.根据权利要求1所述的一种测试针装置，其特征在于，所述插针(1)与大电流接触母套(3)为可导电连接。
【文档编号】G01R1/067GK204065174SQ201420464704
【公开日】2014年12月31日 申请日期:2014年8月15日 优先权日:2014年8月15日
【发明者】许国纯 申请人:深圳市易能拓科技有限公司