热致相变材料测试仪的制作方法

本发明涉及一种测试红外温控相变薄膜的装置，所述测试装置可以用于测量温控相变薄膜、玻璃、有机材料等物质的相变温度点及在不同温度下的红外透过率。

背景技术：

目前热致相变材料在节能减排领域越来越受到重视，并开始得到应用，但由于热致相变材料的性能测试较为复杂，过去主要采用四探针测试仪；全波段分光光度计或X射线衍射等方法进行测试，测试设备昂贵，操作复杂，在一定程度上影响了热致相变材料的应用和推广。本发明具有结构小巧，测量方便，价格便宜的特点，对热致相变材料的研发；检测；推广和展示都带来有益的效果。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种热致相变材料测试仪，采用自主升温和降温，改变薄膜表面温度，经过温度探头和红外辐照度探头在温度探测及显示单元和红外辐照度及透过率探测及显示单元上，分别显示薄膜温度数值和红外透过率。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：由于红外温控相变薄膜具有在相变温度点以下对红外线具有高透过的特性，而在相变温度点上又对红外线有高阻隔的特性，通过调节红外辐照源的功率大小，使被测试的红外温控相变薄膜产生不同的加热温度，或通过对红外温控相变薄膜喷淋制冷剂迅速降低红外温控相变薄膜的温度。温度探头感知被测试的红外温控相变薄膜的温度变化并实时显示在温度显示单元上，同时通过红外辐照度探头感知红外线透过的功率，并实时显示在红外辐照度及透过率探测及显示单元上。据此可测试到未知相变温度点的红外温控相变薄膜的相变温度点。也可测试到已知相变温度点的红外温控相变薄膜的在不同温度下的红外透过功率及透过率。

本发明由可调功率红外辐照源、红外辐照度探头、测试样品插槽、红外辐照度及透过率探测及显示单元、温度探头、温度探测及显示单元、制冷剂喷嘴、制冷剂输送管道及接口、电源开关、红外辐照功率调节开关、温度显示开关、红外辐照度及透过率显示开关、红外辐照度及透过率测试键、箱体组成。

本发明优点在于具有加温和降温功能，可实时显示红外透过功率和温度数值，测量速度快、精度高、读数方便，简单、轻巧、价格便宜。

附图说明

图1是本发明的俯视外观图。

图2是本发明的俯视剖视图。

图中，1.红外辐照度探头, 2.温度探头, 3.测试样品插槽, 4.可调功率红外辐照源，5.红外辐照度及透过率探测及显示单元, 6.温度探测及显示单元, 7.红外辐照功率调节开关, 8.制冷剂喷嘴，9.制冷剂输送管道及接口，10.电源开关，11.温度显示开关，12.红外辐照度及透过率显示开关，13.红外辐照度及透过率测试键，14.箱体。

具体实施方式

下面结合附图并通过测试相变温度为35℃的温控相变贴膜玻璃具体实施例对本发明进一步说明。

如图1所示，打开箱体14上的电源开关10，开启温度显示开关11和红外辐照度及透过率显示开关12，仪器会自检进入待机状态，打开红外辐照功率调节开关7，可调功率红外辐照源4开始发射红外线，调节红外发射功率为800W/m2，温度显示单元6显示温度逐渐上升，然后将温控相变贴膜玻璃插入测试样品插槽3，将温控相变贴膜玻璃贴近红外辐照度探头1和温度探头2，在温度低于35℃前，按下红外辐照度及透过率测试键13，红外辐照度及透过率显示单元5自动测量和记录相变前的红外透过率数值，随着温度上升，红外透过率数值发生变化，当温控相变贴膜玻璃界面温度达到35℃后，随着温度升高红外透过率逐渐下降。当温度达到60℃时，再次按下红外辐照度及透过率测试键13，红外辐照度及透过率显示单元5自动测量和记录相变后的红外透过率数值。

重复上述过程，在温度达到60℃前，通过制冷剂输送管道及接口9和制冷剂喷嘴8向温控相变贴膜玻璃喷洒制冷剂降温，温度显示单元6开始温度实时下降，红外辐照度及透过率显示单元5同步显示红外透过率上升。

对于未知相变温度的材料，重复上述操作，可通过在升温或降温过程中红外线透过率下降或上升的拐点确定该材料的相变温度点。