技术总结
本发明实施例提供了一种测试方法和芯片，其中的测试方法具体包括：通过芯片的固定电压接口向芯片输入电压；通过芯片的数据和指令接口向芯片输入控制指令，并在控制指令输入完成后，停止向芯片输入电压；在向芯片输入控制指令之后，通过数据和指令接口向芯片输入标识指令；在向芯片输入标识指令之后，通过数据和指令接口向芯片输入比特形式的数据内容；其中，数据内容包括如下类型中的至少一种：指令类型、地址类型及数据类型；在向芯片输入比特形式的数据内容之后，根据标识指令识别数据内容的类型；根据数据内容及识别得到的数据内容的类型对芯片进行测试，得到测试结果。本发明实施例能够提高测试的效率。
技术研发人员：苏志强;丁冲;陈立刚;谢瑞杰
受保护的技术使用者：北京兆易创新科技股份有限公司
文档号码：201510419716
技术研发日：2015.07.16
技术公布日：2017.01.25