技术总结
本发明提供光学膜的不良检测装置及方法。本发明涉及的光学膜的不良检测装置包含：接收部，其从至少一个检查装置接收光学膜卷(roll)的不良信息；不良位置决定部，其基于所述不良信息来决定与所述光学膜卷对应的二维平面上的不良的位置；探索部，其基于所述不良的位置来探索所述平面上已被设定的数以上的不良存在的区域；不良检测部，其基于所述被探索的区域中所含的不良的数及不良间的间隔来检测周期性不良。
技术研发人员：金种佑;朴真用;
受保护的技术使用者：东友精细化工有限公司;
文档号码：201610102536
技术研发日：2016.02.24
技术公布日：2016.08.31