技术领域本发明涉及铝电解技术领域，具体涉及一种铝电解质的初晶温度检测方法及装置。
背景技术：
目前铝电解生产工艺需要将冰晶石及氧化铝的混合物通电加热至熔融态形成液态的铝电解质(铝电解液)，然后再通过电解生产铝。生产运行时电解槽中铝电解液的实际温度称为槽温，而铝电解液冷却至出现结晶时的温度称为铝电解质的初晶温度，槽温与初晶温度之间的温度差称为过热度。铝电解液温度通常处于910℃至980℃之间，过热度过高时，会消耗许多不必要的电能，造成能源浪费；如果过热度太小，则电解槽中的铝电解质会出现结晶现象，导致电解槽运行异常，降低生产质量，甚至破坏电解槽，造成重大损失。由于电解铝生产规模庞大，合理的降低槽温，将使得电能的效率有所提高，节省大量的电能，而为了控制过热度处于合适的范围，槽温的调整又需要以铝电解质的初晶温度为前提，因此检测铝电解质的初晶温度显得尤为必要。现有检测铝电解质的初晶温度的方式主要是基于热分析法实现，其原理是基于铝电解质降温过程中物理变化所伴随的热量变化来实现初晶温度的检测；具体的，该热分析法需将铝电解质加热至熔融态，然后使其自然冷却，通过热电偶采集温度数据并绘制为步冷曲线，由于铝电解质结晶是放热过程，因此在步冷曲线上会出现一个暂时的平台或转折区域，平台或转折区域的起始处所对应的温度就是铝电解质的初晶温度。本发明的发明人在研究过程中发现，热分析法是基于步冷曲线的拐点斜率实现初晶温度的检测，然而在一些情况下，步冷曲线的拐点斜率会趋向于甚至达到0，或者步冷曲线的拐点斜率的变化不是很明显，则将对识别步冷曲线上出现的平台或转折区域带来困难，使得铝电解质的初晶温度检测结果的准确性并不理想，甚至无法检测出铝电解质的初晶温度。
技术实现要素：
有鉴于此，本发明实施例提供一种铝电解质的初晶温度检测方法及装置，以提升铝电解质的初晶温度检测结果的准确性。为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种铝电解质的初晶温度检测方法，包括：在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；剔除所述多个温度数据的干扰温度数据，确定若干分析温度数据，并以所述若干分析温度数据的确定顺序，依序对各分析温度数据进行舍入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成舍入温度数据集；将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组；确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。可选的，所述剔除所述多个温度数据的干扰温度数据，确定若干分析温度数据包括：建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据。可选的，以所述若干分析温度数据的确定顺序，依序对各分析温度数据进行舍入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成舍入温度数据集包括：每确定一个分析温度数据，将该分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到该分析温度数据对应的舍入温度数据，并送入舍入温度数据集，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集；或，在得到由若干个分析温度数据按照确定顺序排序形成的分析温度数据集后，对所述分析温度数据集中的各分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集。可选的，所述将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组包括：将所述舍入温度数据集中连续相同的多个舍入温度数据归为一组，及将所述舍入温度数据集中与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据独自归为一组。可选的，所述方法还包括：对于各舍入温度数据组，在舍入温度数据组加入一个舍入温度数据时，将记数加1，以在得到各舍入温度数据组后，记数出各舍入温度数据组中的舍入温度数据的数量。本发明实施例还提供一种铝电解质的初晶温度检测装置，包括：温度采集模块，用于在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；剔除干扰模块，用于剔除所述多个温度数据的干扰温度数据，确定若干分析温度数据；舍入处理模块，用于以所述若干分析温度数据的确定顺序，依序对各分析温度数据进行舍入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成舍入温度数据集；归组模块，用于将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组；初晶温度确定模块，用于确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。可选的，所述剔除干扰模块包括：滑动窗口单元，用于建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；滑动后取值单元，用于每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据。可选的，所述舍入处理模块包括：第一舍入处理单元，用于每确定一个分析温度数据，将该分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到该分析温度数据对应的舍入温度数据，并送入舍入温度数据集，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集；或，第二舍入处理单元，用于在得到由若干个分析温度数据按照确定顺序排序形成的分析温度数据集后，对所述分析温度数据集中的各分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集。可选的，所述归组模块包括：第一归组单元，用于将所述舍入温度数据集中连续相同的多个舍入温度数据归为一组；第二归组单元，用于将所述舍入温度数据集中与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据独自归为一组。可选的，所述装置还包括：计数模块，用于对于各舍入温度数据组，在舍入温度数据组加入一个舍入温度数据时，将记数加1，以在得到各舍入温度数据组后，记数出各舍入温度数据组中的舍入温度数据的数量。基于上述技术方案，本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法，基于铝电解质在初晶温度附近的采样温度的温度数据密度要比其他温度区间的温度数据密度具有更加明显聚集的特征，通过对采集的多个温度数据，进行剔除干扰温度数据、舍入处理、及归组处理，可确定出温度数据密度最大的目标舍入温度数据组，从而寻找到铝电解质在初晶温度附近的温度数据密度最大采样温度数据区间，进而将目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度，实现对铝电解质的初晶温度的检测。本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法，基于温度数据密度算法寻找铝电解质在初晶温度附近的温度数据密度最大的采样温度区间，从而将该采样温度区间中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据作为初晶温度，可在步冷曲线的拐点斜率趋向于甚至达到0，或者步冷曲线的拐点斜率的变化不是很明显的情况下，实现铝电解质的初晶温度的检测，提升铝电解质的初晶温度检测结果的准确性。附图说明为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的流程图；图2为本发明实施例提供的剔除干扰温度数据，确定分析温度数据的方法流程图；图3为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的另一流程图；图4为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的再一流程图；图5为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的又一流程图；图6为现有采用步冷曲线检测铝电解质的初晶温度，和本发明实施例基于温度数据密度算法检测铝电解质的初晶温度的示意对比图；图7为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测装置的结构框图；图8为本发明实施例提供的剔除干扰模块的结构框图；图9为本发明实施例提供的舍入处理模块的结构框图；图10为本发明实施例提供的舍入处理模块的另一结构框图；图11为本发明实施例提供的归组模块的结构框图；图12为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测装置的另一结构框图。具体实施方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。图1为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的流程图，该方法可应用于具有数据处理能力的电子设备，参照图1，该方法可以包括：步骤S100、在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；可选的，本发明实施例可将铝电解质加热至熔融态，然后使其自然冷却，通过热电偶在熔融态的铝电解质的冷却过程中采集温度数据，从而得到按照采集时间排序的多个温度数据。步骤S110、剔除所述多个温度数据的干扰温度数据，确定若干分析温度数据，并以所述若干分析温度数据的确定顺序，依序对各分析温度数据进行舍入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成舍入温度数据集；可选的，由于通过硬件(热电偶)采集到的温度数据的数据量比较大，为了从采集到的温度数据中剔除干扰，本发明实施例可以中值滤波算法对采集到的多个温度数据进行过滤处理，从而剔除其中的干扰温度数据，得到若干分析温度数据；具体的，本发明实施例可以中值滤波算法对采集到的多个温度数据以数值大小进行排序，从而选取排序后处于中间位置的若干温度数据，作为若干分析温度数据，进而实现从多个温度数据中剔除干扰温度数据，减小后续数据处理的工作量；可选的，在得到若干分析温度数据后，本发明实施例可以若干分析温度数据的确定顺序，依序对各分析温度数据进行舍入处理，如将分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，并保留整数，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，进而以若干分析温度数据的确定顺序，对各分析温度数据对应的舍入温度数据进行排序，得到舍入温度数据集。步骤S120、将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组；能够归为一组的舍入温度数据应满足如下任一条件：在舍入温度数据集中是连续相同的多个舍入温度数据，即该多个舍入温度数据在舍入温度数据集中位置是连续的，且数值是相同的；或者，舍入温度数据集中与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据可独自归为一组；例如：舍入温度数据集具有舍入温度数据：(A1，A1，A1，A2，A3，A3，A1，A2)；基于连续相同的多个舍入温度数据归为一组的原则，第一位的A1，第二位的A1，和第三位的A1归为一组，第五位的A3和第六位的A3归为一组；基于与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据独自归为一组的原则，第四位的A2独自归为一组，第七位的A1独自归为一组，第八位的A2独自归为一组；因此，得到舍入温度数据组：(A1，A1，A1)，(A2)，(A3，A3)，(A1)，(A2)。步骤S130、确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。在确定至少一个舍入温度数据组后，本发明实施例可计数各舍入温度数据组中的舍入温度数据的数量，并将舍入温度数据的数量最大的舍入温度数据组作为目标舍入温度数据组；如上述举例中，(A1，A1，A1)的舍入温度数据的数量最大，因此(A1，A1，A1)为目标舍入温度数据组；可选的，在计数各舍入温度数据组中的舍入温度数据的数量时，对于各舍入温度数据组，本发明实施例可在舍入温度数据组加入一个舍入温度数据时，将计数加1，从而在得到各舍入温度数据组后，记数出各舍入温度数据组中的舍入温度数据的数量；在确定目标舍入温度数据组后，本发明实施例可将目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度；如将目标舍入温度数据组(A1，A1，A1)中第一位的A1对应的采集的温度数据(第一位的A1对应的铝电解质在冷却过程中采集的温度数据)，作为铝电解质的初晶温度。本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法，基于铝电解质在初晶温度附近的采样温度的温度数据密度要比其他温度区间的温度数据密度具有更加明显聚集的特征，通过对采集的多个温度数据，进行剔除干扰温度数据、舍入处理、及归组处理，可确定出温度数据密度最大的目标舍入温度数据组，从而寻找到铝电解质在初晶温度附近的温度数据密度最大采样温度区间，进而将目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度，实现对铝电解质的初晶温度的检测。本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法，基于温度数据密度算法寻找铝电解质在初晶温度附近的温度数据密度最大的采样温度区间，从而将该采样温度区间中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据作为初晶温度，可在步冷曲线的拐点斜率趋向于甚至达到0，或者步冷曲线的拐点斜率的变化不是很明显的情况下，实现铝电解质的初晶温度的检测，提升铝电解质的初晶温度检测结果的准确性。可选的，本发明实施例可通过设置滑动窗口，由滑动窗口从采集的多个温度数据的第一个温度数据开始，按温度数据的采集顺序以设定步进值向前滑动，并在每次滑动滑动窗口后，取滑动窗口中按数值大小排序的中间值，实现在每次滑动滑动窗口后，剔除干扰温度数据的分析温度数据的确定；相应的，图2示出了本发明实施例提供的剔除干扰温度数据，确定分析温度数据的方法流程图，参照图2，该方法可以包括：步骤S200、建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；步骤S210、每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据。可选的，本发明实施例可在采用中值滤波算法对采集到的多个温度数据进行过滤处理时，设置一个滑动窗口，并设定滑动窗口大小，滑动窗口按照设定步进值从多个温度数据的第一个温度数据开始滑动，将滑动后的滑动窗口内的温度数据按大小排序，取窗口中心点的值来代表窗口中所有点的值；然后以该步进值再次向前滑动窗口，再次按大小排序窗口内的温度数据，取窗口中心点的值，如此循环，直至最后一个温度数据进入滑动窗口内；从而在每次滑动窗口并按大小排序窗口内的温度数据后，取窗口中心点的值，将各选取的值按确定(选取)顺序排列成若干分析温度数据；在具体实现过程中，本发明实施例可建立一个长度为m的滑动窗口，并按步进值n以按采集时间顺序，从多个温度数据的第一个开始向前滑动；每次滑动窗口后，对窗口内的数据进行大小排序；将排序后的窗口中心点的值代表窗口中所有点的值，作为一个分析温度数据。本发明实施例可通过选取并设定合适的窗口大小m和窗口滑动步进值n，以保证中值滤波输出波形中杂波较少，最大程度的保留采集的多个温度数据的曲线原始特性。可选的，在每得到一个分析温度数据时，本发明实施例可对该分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到该分析温度数据对应的舍入温度数据，从而通过分别对多个分析温度数据进行舍入处理，形成按照分析温度数据的确定顺序排序的舍入温度数据集；相应的，图3示出了本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的另一流程图，参照图3，该方法可以包括：步骤S300、在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；步骤S310、建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；步骤S320、每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据；步骤S330、每确定一个分析温度数据，将该分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到该分析温度数据对应的舍入温度数据，并送入舍入温度数据集，形成按照分析温度数据的确定顺序排序的舍入温度数据集；步骤S340、将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组；步骤S350、确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。可选的，本发明实施例也可在滑动窗口进行若干次滑动并滑动结束，形成由若干个分析温度数据按照确定顺序排序形成的分析温度数据集后，对分析温度数据集中的各分析温度数据进行舍入处理，确定出舍入温度数据集；相应的，图4示出了本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的再一流程图，参照图4，该方法可以包括：步骤S400、在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；步骤S410、建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；步骤S420、每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据；步骤S430、在得到由若干个分析温度数据按照确定顺序排序形成的分析温度数据集后，对所述分析温度数据集中的各分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集；步骤S440、将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组；步骤S450、确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。可选的，本发明实施例所提供的铝电解质的初晶温度检测方法基于温度数据密度算法，其第一步是以中值滤波方式对采集的多个温度数据剔除干扰数据，得到若干分析温度数据；其第二步是进行如图3或图4所示的舍入处理，显示出各个分析温度数据的数据特征，具体的，本发明实施例可对分析温度数据的小数点后第一位进行四舍五入，然后保留整数；在具体实现过程中，本发明实施例可将中值滤波处理后的若干分析温度数据存储于向量dvec当中，然后对dvec中的每个分析温度数据进行舍入处理，所有的分析温度数据进行舍入处理后，将形成按照分析温度数据的确定顺序排序的舍入温度数据集，舍入温度数据集中的温度数据已经进行了原始数据的特征值提取，因此这些数据的数据特征将更加明显地体现出来，下面可基于特征值进行舍入温度数据集中的温度数据的归组处理，以便于找到铝电解质的初晶温度附近温度数据密度最大的温度区间。上文介绍了将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组的两个原则：即将所述舍入温度数据集中连续相同的多个舍入温度数据归为一组，及将所述舍入温度数据集中与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据独自归为一组；在具体实现时，本发明实施例可以舍入温度数据集中的数据数值大小及连续性为依据进行归组，在温度数据密度算法中，数据特征相同是指数据在经过舍入处理之后，数值的大小相同；本发明实施例可将舍入温度数据集中的数据记为cset，对其进行归组处理的过程可以如下：1、从cset中的第一个数据开始直到最后一个数据结束，依次进行，不能进行跳跃；2、如果舍入后的相邻的温度数据值相等，那么就归为一组，同时将该组的数据数量加1，直到遇到数据值与该组的数据不相等时，该组处理完毕，记录此时的数据量计数，并记录这组数据起始数据的位置；3、然后进行下一组归类，将计数清零，从与上组不相等的数据开始，重复2步骤，依次分组直到cset中的所有数据都完成分组，得到多个舍入温度数据组。需要注意的是不相邻的组与组之间即使温度数据的数值相同，也不能够归为一组。因为本发明实施例所指的温度数据密度算法强调的是基于位置的数据分类，而不是单纯的数据的分类，即连续相同的多个舍入温度数据才归为一组；通过所得到的多个舍入温度数据组，可分析出体现原始数据的特征值的舍入温度数据集中的数据位置和占比。在得到至少一个舍入温度数据组后，本发明实施例可确定温度数据密度最大的目标舍入温度数据组(即舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组)，从而寻找到铝电解质在初晶温度附近的温度数据密度最大的采样温度区间，进而将目标舍入温度数据组中第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，作为铝电解质的初晶温度，确定出温度数据密度最大的采样温度区间附近的初晶温度，实现铝电解质的初晶温度的检测。优选的，图5示出了本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法的又一流程图，参照图5，该方法可以包括：步骤S500、在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；步骤S510、建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；步骤S520、每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据；步骤S530、在得到由若干个分析温度数据按照确定顺序排序形成的分析温度数据集后，对所述分析温度数据集中的各分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集；步骤S540、将所述舍入温度数据集中连续相同的多个舍入温度数据归为一组，及将所述舍入温度数据集中与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据独自归为一组；步骤S550、确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。图6示出了现有采用步冷曲线检测铝电解质的初晶温度，和本发明实施例基于温度数据密度算法检测铝电解质的初晶温度的示意对比图；图6是通过对从现场采集到的大量原始数据进行处理，用步冷曲线方式和本发明实施例方式分别绘制了数据集对应的温度变化曲线；通过对比两种方式标定的初晶温度点，可以看到本发明实施例方式即使在步冷曲线拐点式微或没有的情况下，也能检测出铝电解质初晶温度，而步冷差分方式则无法作出正确的判断。通过图6，可以看到在步冷曲线拐点式微或没有的情况下，本发明实施例检测铝电解质的初晶温度的准确度明显优于步冷差分方式；而在铝电解生产中，由于或多或少都要添加不同类型的添加剂，因此在大多数情况下，步冷曲线拐点式微或没有，在这种情况下，步冷差分算法通常是无能为力的，无法正确的检测出铝电解质初晶温度，而此时采用本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测方法就能够实时在线检测出铝电解质初晶温度，提升铝电解质的初晶温度检测结果的准确性。下面对本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测装置进行介绍，下文描述的铝电解质的初晶温度检测装置可与上文描述的铝电解质的初晶温度检测方法相互对应参照。图7为本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测装置的结构框图，该铝电解质的初晶温度检测装置可应用于具有数据处理能力的电子设备，参照图7，该装置可以包括：温度采集模块100，用于在熔融态的铝电解质的冷却过程中，采集铝电解质的多个温度数据，所述多个温度数据按照采集时间排序；剔除干扰模块200，用于剔除所述多个温度数据的干扰温度数据，确定若干分析温度数据；舍入处理模块300，用于以所述若干分析温度数据的确定顺序，依序对各分析温度数据进行舍入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成舍入温度数据集；归组模块400，用于将所述舍入温度数据集中连续相同的至少一个舍入温度数据归为一组，得到至少一个舍入温度数据组；初晶温度确定模块500，用于确定所述至少一个舍入温度数据组中，舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组，将所述目标舍入温度数据组中的第一个舍入温度数据对应的采集的温度数据，确定为铝电解质的初晶温度。可选的，图8示出了本发明实施例提供的剔除干扰模块200的可选结构，参照图8，剔除干扰模块200可以包括：滑动窗口单元210，用于建立设定长度的滑动窗口，以所述滑动窗口按照设定步进值，从所述多个温度数据中的第一个温度数据开始，按照采集时间顺序向前滑动，直至滑动到最后一个温度数据进入滑动窗口内；滑动后取值单元220，用于每次滑动后，以温度大小对所述滑动窗口内的温度数据进行排序，并取所述滑动窗口内中间位置的温度数据作为分析温度数据，以在若干次滑动后，得到若干个分析温度数据。可选的，图9示出了舍入处理模块300的一种可选结构，参照图9，舍入处理模块300可以包括：第一舍入处理单元310，用于每确定一个分析温度数据，将该分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到该分析温度数据对应的舍入温度数据，并送入舍入温度数据集，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集。可选的，图10示出了舍入处理模块300的另一种可选结构，参照图10，舍入处理模块300可以包括：第二舍入处理单元320，用于在得到由若干个分析温度数据按照确定顺序排序形成的分析温度数据集后，对所述分析温度数据集中的各分析温度数据的第一位小数点进行四舍五入处理，得到各分析温度数据对应的舍入温度数据，形成按照所述确定顺序排序的舍入温度数据集。可选的，图11示出了本发明实施例提供的归组模块400的可选结构，参照图11，归组模块400可以包括：第一归组单元410，用于将所述舍入温度数据集中连续相同的多个舍入温度数据归为一组；第二归组单元420，用于将所述舍入温度数据集中与相邻的舍入温度数据不同的舍入温度数据独自归为一组。可选的，图12示出了本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测装置的另一结构框图，结合图7和图12所示，该装置还可以包括：计数模块600，用于对于各舍入温度数据组，在舍入温度数据组加入一个舍入温度数据时，将记数加1，以在得到各舍入温度数据组后，记数出各舍入温度数据组中的舍入温度数据的数量。初晶温度确定模块500可通过计数模块600确定各舍入温度数据组的舍入温度数据的数量，从而确定出舍入温度数据的数量最大的目标舍入温度数据组。本发明实施例提供的铝电解质的初晶温度检测装置，可以步冷曲线拐点式微或没有的情况下，检测出铝电解质初晶温度，并且能够实时在线检测出铝电解质初晶温度，提升铝电解质的初晶温度检测结果的准确性。本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。