技术特征：
技术总结
本发明公开了一种偏振拉曼光谱的测定方法，用于测定六方晶体的偏振拉曼光谱，该方法包括：沿预定方向旋转六方晶体依次至第一采样点、……、第n+1采样点，其由初始位置旋转至第一采样点、……、第n+1采样点时的旋转角分别记作γ1、……、γn+1；直至旋转角γn+1的角度不少于180°；分别采集其在第一采样点～第n+1采样点时的偏振拉曼光谱并绘制偏振拉曼光谱图，提取各偏振拉曼光谱图中的偏振散射强度，并绘制偏振散射强度‑旋转角的趋势图。本发明还公开了偏振拉曼光谱的测定仪器。根据本发明的测定方法和测定仪器使用较少数量的光学元件，且无需频繁变动光路中的光学元件，即可简单方便地获得强度强、信噪比好的偏振拉曼光谱。
技术研发人员：胡匀匀;周桃飞;郑树楠;王建峰;徐科
受保护的技术使用者：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
技术研发日：2016.03.11
技术公布日：2017.09.19