1.复合膜的缺陷判别方法，其包含：
(S1)从对偏光器接合于透明基材膜的一面的复合膜的指定区域摄影的图像分选缺陷候补群区域的阶段；
(S2)从上述缺陷候补群区域取得缺陷位于中央的四边形的缺陷候补群的图像，测定上述缺陷候补群的图像的4个顶点部分的各自的平均亮度的阶段；
(S3)上述4个顶点的平均亮度中的至少一个为基准亮度范围内的情况下，从缺陷检查对象中排除的阶段。
2.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述顶点在将缺陷候补群的图像的最外边框部分除去的剩余的部分中被确定。
3.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述基准亮度范围为透明基材膜的正常亮度范围。
4.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个比基准亮度的值大的情况下，从缺陷检查对象中排除。
5.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述4个顶点的平均亮度中的至少一个比基准亮度的值小的情况下，从缺陷检查对象中排除。
6.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，在上述(S2)阶段之前或(S3)阶段之后，还包含缺陷检测确定阶段。
7.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述偏光器的大小比上述透明基材膜小。
8.根据权利要求7所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述偏光器为多边形的形状。
9.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，在将偏光器接合于透明基材膜的在线工序中进行。
10.根据权利要求1所述的复合膜的缺陷判别方法，其中，上述透明基材膜选自脱模膜、保护膜、和相位差膜。