孔检查装置的制作方法

文档序号:12267965阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种孔检查装置(2),用于对位于工件(6)中的孔(4)进行检查,该孔检查装置(2)

具有测量头(8),该测量头被设计成能够被插入待检查的所述孔(4)中并且能够相对于所述孔(4)被移动到不同轴向位置中的内窥镜,所述测量头具有用于使所述孔(4)的内表面成像且具有全景视角的成像光学装置(10),其中,所述成像光学装置(10)与数字图像传感器(12)处于图像传送连接;

具有用于对在所述测量头(8)的不同轴向位置上拍摄的图像进行储存的储存器(14)以及

具有用于对储存在所述储存器中的图像进行分析的分析装置(16),

其特征在于,为了获得所述孔(4)的内表面的表面深度信息,所述分析装置(16)被设计并设置成用于利用3D重建方法对关于相应的表面位置在成像光学装置(10)的不同观察角度下拍摄的图像进行分析。

2.如权利要求1所述的孔检查装置,其特征在于,所述分析装置(16)被设计并设置成用于通过立体三角测量方法对关于表面位置在不同观察角度下拍摄的图像进行分析。

3.如权利要求1或2所述的孔检查装置,其特征在于,关于相应表面位置的不同观察角度对应于所述测量头(8)的不同轴向位置。

4.如权利要求1、2或3所述的孔检查装置,其特征在于,所述测量头(8)配有能够由控制装置(20)控制的进给装置(22),以设定不同的轴向位置并且优选由此设置所述成像光学装置(12)的关于内壁的一个表面位置的不同观察角度。

5.如权利要求4所述的孔检查装置,其特征在于,所述控制装置(20)向所述分析装置(16)传送代表所述测量头(8)的相应轴向位置的位置数据,以将所述测量头(8)的轴向位置与在该位置上拍摄的图像相关联。

6.如前述权利要求中任一项所述的孔检查装置,其特征在于,设有用于以明场和/或暗场照明对在所述孔(4)的内表面上的由所述成像光学装置(10)捕获的成像区域进行照亮的照明装置(24)。

7.一种用于对位于工件中的孔进行检查的孔检查方法,在该方法中:

使用被设计成内窥镜的测量头,该测量头具有用于使所述孔的内表面成像且具有全景视角的成像光学装置,其中,将所述测量头插入所述孔中并且移动到不同轴向位置中;

在所述测量头的不同轴向位置上通过所述数字图像传感器对所述内表面进行拍摄;

将在所述测量头的不同轴向位置上拍摄的图像储存在储存器中以及

通过分析装置对储存在所述储存器中的图像进行分析,

其特征在于,

利用3D重建方法对关于所述内壁的一个表面位置在所述成像光学装置的不同观察角度下拍摄的图像进行分析以获得相应表面位置的表面深度信息。

8.如权利要求6所述的孔检查方法,其特征在于,为了获得所述孔的内表面的表面深度信息,通过立体三角测量方法对在不同观察角度下拍摄的图像进行分析。

9.如权利要求7或8所述的孔检查方法,其特征在于,关于相应的表面位置的不同观察角度对应于所述测量头的不同轴向位置。

10.如权利要求7、8或9所述的孔检查方法,其特征在于,通过能够由控制装置控制的进给装置使所述测量头移动,以设定不同轴向位置并且优选借此设定所述成像光学装置的关于内壁的一个表面位置的不同观察角度。

11.如权利要求10所述的孔检查方法,其特征在于,由所述控制装置将代表所述测量头的相应轴向位置的位置数据传送到所述分析装置,以将所述测量头的相应轴向位置与在该位置上拍摄的图像相关联。

12.如前述权利要求7至11中任一项所述的孔检查方法,其特征在于,通过照明装置以明场和/或暗场照明对在所述孔的内表面上的由所述成像光学装置捕获的成像区域进行照亮。

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