1.一种易于对准的激光测试系统，包括并排设立的倍频晶体（1）以及折射镜（2），折射镜（2）设在倍频晶体（1）前方，其特征在于：所述倍频晶体（1）与折射镜（2）之间设有对激光具有指示作用且可拆卸的对准指示卡（3）。
2.根据权利要求1所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述对准指示卡（3）包括能够反映激光落点光斑位置的发光层（4）。
3.根据权利要求2所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述发光层（4）为对激光具有指示作用的上转换发光材料。
4.根据权利要求2所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述发光层（4）上设有光斑参考点（5）。
5.根据权利要求4所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述光斑参考点（5）位于折射镜（2）的出射光点与激光已对准情况下在倍频晶体（1）上的聚焦点的连线上。
6.根据权利要求1或2或3或4或5所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：还包括基板（6）、设在基板（6）上的激光分束与变向装置（7）以及设在倍频晶体（1）后方的光谱仪（8），所述光谱仪（8）位于倍频晶体（1）出射光线的光路上。
7.根据权利要求6所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述激光分束与变向装置（7）与基板（6）活动连接，所述激光分束与变向装置（7）包括多个光学部件。
8.根据权利要求7所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述各光学部件与基板（6）转动连接。
9.根据权利要求6所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述光谱仪（8）入射光阑前方设有可拆卸的次级对准指示卡（9），所述次级对准指示卡（9）包括能够反映激光落点光斑位置的次级发光层（10）。
10.根据权利要求9所述易于对准的激光测试系统，其特征在于：所述次级发光层（10）上设有次级光斑参考点（11），所述次级光斑参考点（11）位于激光已对准情况下的光谱仪（8）入射光阑的入射光线上。