一种易于对准的激光测试系统的制作方法

本实用新型属于激光参数测量领域，涉及一种易于对准的激光测试系统。

背景技术：

频率分辨光学开关（FROG）是一种测试超快脉冲激光的技术，通过该技术，可以测试出超快脉冲激光器的波形，相位的分布。目前已经有多种频率分辨光学开关的形式以及实现方式，比如CN 102169021A公布的“频率分辨光学开关法则量装置”。然而，对于用户的调整，没有光学指示对准部件，使得这类仪器很难调整，因为测试超快激光器，需要用到自相关原理，即两束光线必须同时打到倍频晶体的同一个点，因为倍频晶体的厚度很低，几百微米数量级，人眼很难进行观察与调整，因此需要用到对准元件。

技术实现要素：

为了克服上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种易于对准的激光测试系统。

本实用新型所采用的技术方案是：

一种易于对准的激光测试系统，包括并排设立的倍频晶体以及折射镜，折射镜设在倍频晶体前方，所述倍频晶体与折射镜之间设有对激光具有指示作用且可拆卸的对准指示卡，采用了对准元件，实现了光线严格意义上的对准。

作为上述技术方案的进一步改进，所述对准指示卡包括能够反映激光落点光斑位置的发光层，以实现对准指示卡对激光的指示作用。

作为上述技术方案的进一步改进，所述发光层为对激光具有指示作用的上转换发光材料，上转换材料的发光效果更加明显，加强对准指示卡的指示效果。

作为上述技术方案的进一步改进，所述发光层上设有光斑参考点，所述光斑参考点位于折射镜的出射光点与激光已对准情况下在倍频晶体上的聚焦点的连线上，以实现倍频晶体上的光线对准。

作为上述技术方案的进一步改进，所述易于对准的激光测试系统还包括基板、设在基板上的激光分束与变向装置以及设在倍频晶体后方的光谱仪，所述光谱仪位于倍频晶体出射光线的光路上，使得激光变成两道并最终射入折射镜以及完成最终的信号采集。

作为上述技术方案的进一步改进，所述激光分束与变相装置与基板活动连接，所述激光分束与变相装置包括多个光学部件，各光学部件与基板转动连接，以方便调节激光的出射角度。

作为上述技术方案的进一步改进，所述光谱仪入射光阑前方设有可拆卸的次级对准指示卡，所述次级对准指示卡包括能够反映激光落点光斑位置的次级发光层，所述次级发光层上设有次级光斑参考点，所述次级光斑参考点位于激光已对准情况下的光谱仪入射光阑的入射光线上，以保证激光射入光谱仪的准确性。

本实用新型的有益效果是：本实用新型通过在倍频晶体与折射镜之间设有一个对激光具有指示作用的可拆卸的对准指示卡，通过对准指示卡，可以实现光路的高效对准，提高操作过程的简易度，并当激光进行测试后，可以移开对准元件，使激光无遮挡射入倍频晶体。

附图说明

下面结合附图和实施方式对本实用新型进一步说明

图1是本实用新型实施例的测试系统结构示意图；

图2是对准指示卡结构示意图；

图3是图2的A-A剖视图。

具体实施方式

如图1所示一种易于对准的激光测试系统，包括金属基板6、激光分束与变向装置7、折射镜2、对准指示卡3、倍频晶体1以及光谱仪8。其中金属基板6上设有至少一排的贯穿孔，激光分束与变向装置7中的光学部件包括分束镜12、第一反射镜13、第二反射镜14、第三反射镜15、第四反射镜16、第五反射镜17，上述各部件均通过贯穿孔与金属基板6转动连接。

其中折射镜2并排设在倍频晶体1前方，对准指示卡3设在折射镜2与倍频晶体1之间，折射镜2前方交错设有第一反射镜13与第四反射镜16，第四反射镜16上方设有第三反射镜15，第三反射镜15后方设有第二反射镜14，第二反射镜14前方与第一反射镜13上方相交位置设有分束镜12。光谱仪8设在倍频晶体1后方。

如图2和图3所示，对准指示卡3表层为上转换发光材料制成的发光层4，上述上转换发光材料能受到波长长频率低的光激发，放出波长短频率高的光，即红外光可激发出可见光，因此当超短脉冲激光射在发光层4上会形成落点光斑，发光层4上设有光斑参考点5，当激光产生的落点光斑对准光斑参考点5时即可完成激光的快速对准。

如图1~3所示，当超短脉冲激光入射进系统后，被分束镜12分成两条光束，其中一条延原来方向射向第一反射镜13，通过第一反射镜13反射到折射镜2上；另一条延垂直原射向方向射向第二反射镜14，再通过第二反射镜14射向第三反射镜15，然后经过第三反射镜15与第四反射镜16反射到折射镜2上；两条光束通过折射镜2射向对准指示卡3，并在发光层4上形成落点光斑，通过转动分束镜12或第一反射镜13或第二反射镜14或第三反射镜15或第四反射镜16的角度，使得两条光束的落点光斑落在发光层4上的光斑参考点5上；然后再延箭头18方向移开对准指示卡3，两束激光就可以聚焦在倍频晶体1上，由于光斑参考点5位于折射镜2的出射光点与激光已对准情况下的倍频晶体1上的聚焦点的连线上。所以确定好激光落点光斑落在光斑参考点5上，就可实现倍频晶体1上的光线对准。两束激光在倍频晶体1聚焦后，会产生一束相乘的信号光，信号光通过第五反射镜17射入光谱仪8，最后经过光谱仪8的信号采集，计算机处理实现超短脉冲激光的测量。

作为上述方案的优选方案，可以在第五反射镜17与光谱仪8之间增设对激光具有指示作用且可拆卸的次级对准指示卡9。所述次级对准指示卡9包括能够反映激光落点光斑位置的次级发光层10，信号光经过第五反射镜17后射到次级对准指示卡9上，并在次级发光层10上形成落点光斑，通过转动第五反射镜17，使得光束的落点光斑落在次级发光层10上的次级光斑参考点11上，由于次级光斑参考点11位于激光已对准情况下的入射光线上，因此如果信号光落点光斑对准了次级光斑参考点11，即可判定信号光是对准了光谱仪8的入射光阑；之后延图中箭头19方向移开次级对准指示9，信号光对准射入光谱仪8，最后经过光谱仪的信号采集，计算机处理实现超短脉冲激光的测量。

实施例中的对准指示卡与次级对准指示卡可以是上转换片。

上述实施例具有以下优点：

1.上转换发光材料能在红外光的激发下发出可见光，能够直观的表现激光在上转换片上的光斑落点，易于完成激光的快速对准。

2.可拆卸移动的上转换片能够在完成激光对准后直接进行激光测试，且操作过程简便。

3.上转换片结构简单，易于加工制造，成本低。

以上对本实用新型进行了说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可作出种种的等同变形或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围。