一种电动汽车VCU综合智能测试系统的制作方法

本实用新型涉及电动汽车领域，特别是一种电动汽车VCU综合智能测试系统。

背景技术：

电动汽车VCU是电动汽车最重要的电子部件，为了能快速检测产品是否合格，有必要设计一种电动汽车VCU综合智能测试系统来满足工厂需求，电动汽车VCU综合智能测试系统通过计算机虚拟技术，产生电动汽车VCU正常工作所需的各种条件，是电动汽车VCU处于工作状态，并自动测试，评价其各项指标。

因此，需要一种电动汽车VCU综合智能测试系统。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提出电动汽车VCU综合智能测试系统。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

本实用新型提供的电动汽车VCU综合智能测试系统，包括与VCU相连接的用于产生VCU工作所需要的条件的测试设备工装和用于处理分析VCU的工作状态的上位机；所述上位PC机与测试设备工装连接；所述测试设备工装和VCU连接。

进一步，所述测试设备工装包括测试通道、用于采集测试通道的测试信号的信号采集装置、信号传输装置和信号处理器；

所述信号采集装置与测试通道连接，并将测试信号通过串口传输给信号处理器；所述信号传输装置将经过信号处理器处理后的数据传输到上位机中。

进一步，所述测试通道包括模拟输入通道和数字输入通道；

所述模拟输入通道通过上位机驱动测试设备工装输出模拟信号；所述模拟信号传输到VCU单个模拟输入端口，将下位机测试对应端口的电压并回传上位机；

所述数字输入通道通过上位机驱动测试设备工装向VCU的单个端口输入高低电平值及频率值，所述上位机将下发指令传输到VCU；所述VCU接收到指令后将采集到的数据上传给上位机。

由于采用了上述技术方案，本实用新型具有如下的优点：

本实用新型提供的电动汽车VCU综合智能测试系统能快速检测电动汽车VCU是否合格，通过不同的测试通道对电动汽车VCU进行快速检测。

本实用新型的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本实用新型的实践中得到教导。本实用新型的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。

附图说明

本实用新型的附图说明如下。

图1为本实用新型的电动汽车VCU综合智能测试系统原理示意图。

图2为本实用新型的电动汽车VCU综合智能测试方法流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

实施例1

如图1所示，本实施例提供的一种电动汽车VCU综合智能测试系统，包括与VCU相连接的测试设备工装和上位机；

所述测试设备工装用于产生VCU工作所需要的条件；所述上位PC机与测试设备工装和VCU连接；用于处理分析VCU的工作状态。

述测试设备工装包括测试通道、信号采集装置、信号传输装置、信号处理器；

所述信号采集装置与测试通道连接用于采集测试通道的测试信号，并将测试信号通过串口回传给上位机；

所述测试信号传输到处理器中；所述信号传输装置将经过处理器处理后的数据传输到上位机中。

所述测试通道包括模拟输入通道和数字输入通道；

所述模拟输入通道，用于通过上位机驱动测试设备工装输出模拟信号到VCU单个模拟输入端口，下位机测试对应端口的电压并回传上位机；

所述数字输入通道：用于通过上位机驱动测试设备工装向VCU的单个端口输入高低电平值及频率值，上位机下发指令，VCU接收到指令后采集所有数字输入通道的电平和频率信息，上传给上位机，上位机根据上传信息判断测试是否通过。

实施例2

本实施例提供的一种电动汽车VCU综合智能测试方法，测试装置包括测试设备工装和上位机(PC机)两个部分，所述测试设备工装与VCU相连，并产生VCU工作所需要的各种技术条件，使VCU处于工作状态；上位机用于控制整个系统工作。

所述VCU包括下线测试方法，具体过程如下：

上位机向下位机发送串口指令，下位机收到指令后，根据指令输出相应的模拟信号，数字信号，电阻信号，负载信号等到VCU中相关测试通道。

下位机对相关测试通道的电压等信号进行检测，并将数值通过串口回传给上位机。

上位机通过测试设备向VCU发送CAN指令，VCU接收到指令后，根据协议规定的具体含义，执行具体的测试任务，VCU把采集的信息根据约定的数据通信协议发给上位机。

上位机对下位机回传的数值与VCU返回的采集信息进行比较判断得出测试结果。

其中，包括模拟输入通道测试，是指VCU正常工作后，由上位机驱动下位机输出0V或5V模拟信号到VCU单个模拟输入端口，下位机测试对应端口的电压并回传上位机，上位机下发CAN指令，VCU接收到指令后采集主CPU控制的所有模拟输入通道的信号，然后通过CAN-A通道把采集的数据上传给上位机。上位机对比接收到的两组数值判断测试结果。

测试流程如图2所示，具体过程如下：

上位机测试电压点：先关闭钥匙开关上位机测试VCU内部的各个电压点，然后再打开钥匙开关，上位机测试VCU内部的各个电压点，上位机判断测试的电压是否合格。

VCU监控电压测试：上位机下发命令，VCU接收到指令后自己测试VCU内部的各个电压点，通过CAN-A通道上传给上位机，上位机判断测试是否通过。

工作功耗测试：上位机测试输入电源电压和电流，计算工作功耗。

EEPROM写入读取测试：上位机下发指令，VCU接收到指令后内部的EEPROM写入和读取数据，VCU反馈写入和读取的状态，并向上位机返回写入和读取的数据，上位机根据上传信息判断测试是否通过。

模拟输入通道测试：上位机驱动测试设备向VCU的单个端口输入模拟电压或电阻信号，上位机下发指令，VCU接收到指令后采集所有模拟输入通道的电压信息，上传给上位机，上位机根据上传信息判断测试是否通过。

数字输入通道测试：上位机驱动测试设备向VCU的单个端口输入高低电平值及频率值，上位机下发指令，VCU接收到指令后采集所有数字输入通道的电平和频率信息，上传给上位机，上位机根据上传信息判断测试是否通过。

低边驱动和高边驱动测试：上位机驱动测试设备给VCU单个低边驱动或高边驱动端口接通或关闭负载，上位机下发指令，VCU接收到指令后采集所有低边和高边驱动通道的电平值，上传给上位机，上位机测试负载的电压，上位机根据上传信息判断测试是否通过。

H桥驱动测试：上位机驱动测试设备给VCU中的H桥驱动端口接通或关闭负载，上位机下发指令，VCU接收到指令后根据指令打开或关闭H桥驱动正向通道，打开或关闭H桥驱动反向通道，VCU采集H桥电源电压及OUTB的电平值，上传给上位机，上位机测试负载的电压，上位机根据上传信息判断测试是否通过。

钥匙开关下电：上位机驱动测试设备关闭钥匙开关，延时300mS后上位机测试VCU中的各个电压点电压，上位机判断测试是否通过。

外部硬线控制上下电测试：上位机下发指令，上位机通过测试设备打开和关闭外部硬线控制信号，延时300mS后上位机测试VCU中的各个电压点电压，上位机判断测试是否通过。

CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通信测试：上位机通过CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向VCU发送指定数据，VCU通过CAN‐B、CAN‐C、CAN-S通道向上位机返回指定数据，上位机判断测试是否通过。

副CPU功能测试：包括模拟输入通道与低边驱动测试，与上相同。

强制下电测试：上位机通过CAN‐S通道下发指令，副CPU关闭电源下电管脚，延时300mS后上位机测试VCU中的各个电压点电压，上位机判断测试是否通过。

强制上电测试：上位机通过CAN‐S通道下发指令，副CPU打开电源上电管脚，延时300mS后上位机测试VCU中的各个电压点电压，上位机判断测试是否通过。

最后说明的是，以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本实用新型的保护范围当中。