技术总结
本实用新型提供一种集成电路直流测试探针基座，其特征在于：包括探针台，所述探针台上设置有紫外光灯丝、紫外灯开关、紫外线照射胶带和探针基座，所述探针基座上设置有探针和探针控制钮。通过上述方式，本实用新型实施例的集成电路直流测试探针基座不仅可以将探针基座固定在探针台上，防止测试过程中造成的探针移动，还可以通过UV照射，方便探针的移动，解决手动测试中时常出现测试探针易损坏的问题。
技术研发人员：陈一峰
受保护的技术使用者：成都海威华芯科技有限公司
文档号码：201621401921
技术研发日：2016.12.20
技术公布日：2017.07.14