技术总结
本实用新型提供了一种基于双向光耦的编码器信号故障检测电路，解决了现有技术断线检测电路结构复杂的缺点，其包括依次设置的A相光耦单元、B相光耦单元和Z相光耦单元，的A相光耦单元、B相光耦单元和Z相光耦单元分别连接能使A相光耦单元、B相光耦单元和Z相光耦单元导通的编码器，且A相光耦单元、B相光耦单元和Z相光耦单元的输出侧相互串联，A相光耦单元的输出侧的一端与电源单元的上拉电阻相连，且A相光耦单元与上拉电阻之间设置有信号检测位，Z相光耦单元的输出侧的一端连接于接地单元，且上拉电阻通过电容连接于接地单元。本实用新型具有结构简单，检测方便等优点。
技术研发人员：王刚志;孙锋源
受保护的技术使用者：杭州之山智控技术有限公司
文档号码：201621433153
技术研发日：2016.12.26
技术公布日：2017.08.04