技术总结
本实用新型公开了一种用于电子元件测试设备的传动装置，包括安装有下测针的第一传动机构、安装有上测针的第二传动机构、联动键、基板、固定板、动力设备和第三转轴，固定板固接于基板，固定板所在平面垂直于基板所在平面；第一传动机构和第二传动机构平行设置，均与固定板滑动连接；动力设备固接于第一传动机构底部，第三转轴固接于固定板，第三转轴位于第一传动机构和第二传动机构之间；联动键中部枢接于第三转轴，第一传动机构通过联动键与第二传动机构传动连接。本实用新型用于测试电子元件，性能稳定可靠，测量精度高，速度快，易于操作和维护，是电子元件生产厂家理想的测试装置。
技术研发人员：沈金友;孔祥坚;何鉴森;欧绍军
受保护的技术使用者：肇庆市众一自动化设备有限公司
文档号码：201621484476
技术研发日：2016.12.31
技术公布日：2017.08.08