技术特征：
技术总结
本申请提供一种BIST逻辑电路、低功耗芯片、存储器的测试方法及电子设备，该用于对低功耗芯片中的存储器进行测试的BIST逻辑电路包括控制单元、测试单元，控制单元在接收到测试激励信号时生成用于表征待测试步骤的测试状态信号，输出至测试单元；测试单元用于在上电后根据测试状态信号生成用于表征待测试步骤时序的时序状态信息，并根据时序状态信息对存储器执行所述待测试步骤。由设置在常开区域的控制单元处理测试状态信号，在低功耗模式下，控制单元持续处于上电状态、测试单元不耗电，能够保存测试状态信号，测试单元能够根据测试状态信号继续执行测试，在保证能够进行低功耗测试的同时，极大的降低了芯片在低功耗模式下的功耗。
技术研发人员：滕立伟;于岗
受保护的技术使用者：青岛海信电器股份有限公司
技术研发日：2017.07.17
技术公布日：2017.10.24