技术特征：
技术总结
本发明涉及一种集成电路测试设备，尤其涉及一种对于集成电路板电子元件的检测设备。本发明要解决的技术问题是提供采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的一种对于集成电路板电子元件的检测设备。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种对于集成电路板电子元件的检测设备。本发明达到了采用高度检测法能够对集成电路板密密麻麻大小不一的电子元件进行准确的检测、在检测过程中电子元件的引脚和焊点不会对质检员的手造成伤害的效果。
技术研发人员：周晓东;张健;刘超群;郑世珍
受保护的技术使用者：郑世珍
技术研发日：2017.12.08
技术公布日：2018.05.15