USB通道损耗测试治具的制作方法

本实用新型涉及USB通道测试技术领域，特别是一种USB通道损耗测试治具。

背景技术：

USB，是英文Universal Serial Bus（通用串行总线）的缩写，而其中文简称为“通串线”，是一个外部总线标准，用于规范电脑与外部设备的连接和通讯。该总线标准是应用在PC领域的接口技术。USB接口支持设备的即插即用和热插拔功能。USB是在1994年底由英特尔、康柏、IBM、Microsoft等多家公司联合提出的。

现服务器上常用的为USB2.0接口和USB3.0接口，USB2.0的最大传输带宽为480Mbps（即60MB/s），而USB3.0的最大传输带宽高达5.0Gbps（500MB/s）。USB2.0基于半双工二线制总线，只能提供单向数据流传输，而USB3.0采用对偶单纯形四线制差分信号线，故而支持双向并发数据流传输，这也是新规范速度猛增的关键原因。

目前，USB测试领域中有标准的USB信号测试治具，但没有通道损耗测试治具，针对这一状况开发USB3.0/3.1标准接口通道损耗测试治具。将TX,RX通道测试放在同一测试板内，并将测试信号引出到高速探测点处。使USB信号得以实现通道损耗的测试。以便评估系统性能，分析系统信号问题点，为产品设计提供有效，有利数据。

技术实现要素：

鉴于此，本实用新型提供一种USB通道损耗测试治具，测试治具的一侧为标准USB 3.0 Standard-A接口，能够插入USB母头中，并进行去嵌入设计，将测试引出线的损耗完美去除，使测试得到的是被测通道的损耗。

为了达到上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种USB通道损耗测试治具，包括电路板、设备端接口、测试端接口和布线，设备端接口、测试端接口和布线均设置在电路板上，所述设备端接口连接被测设备的USB接口，并设有信号发送端和信号接收端，所述测试端接口连接测试仪器，测试端接口包括四个SMA探针，其中两个SMA探针通过布线连接至设备端接口的信号发送端，另外两个SMA探针通过布线连接至设备端接口的信号接收端。

进一步地，所述设备端接口用于对接被测设备的USB3.0/3.1接口。

进一步地，所述测试仪器为网络分析仪VNA。

进一步地，所述布线为THRU线。

进一步地，所述THRU线分别与信号接收端和信号发送端连接。

进一步地，所述THRU线的布线长度相等。

进一步地，所述THRU线长度为2inch。

进一步地，所述设备端接口为金手指。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型对于USB3.0通道损耗的测试是一种非标准的测试，测试治具的一侧为标准USB 3.0 Standard-A接口，能够插入USB母头中，并进行去嵌入设计，将测试引出线的损耗完美去除，使测试得到的是被测通道的损耗；同时该测试治具结构简单，成本低廉，通用性强，可以通过此测试治具测得任意通道的损耗参数。

附图说明

图1为本实用新型总体结构示意图；

图2为本实用新型电路板布线示意图；

图3为本实用新型设备端接口示意图。

具体实施方式

为了便于理解，对本实用新型中出现的部分名词作以下解释说明：

金手指是一种标准插卡接口，内存处理单元的所有数据流、电子流正是通过金手指与内存插槽的接触与PC系统进行交换，是内存的输出输入端口，因此其制作工艺对于内存连接显得相当重要。

VNA是网络分析仪，一种测试频域S参数的测试仪器。

USB3.0指一种电子产品接口总线，3.0为版本，也有1.0、2.0版本，随着数字升高，信号速率也提高。

USB 3.0 Standard-A是USB3.0的一种接口标准。

TX即Transmition，信号发送。

RX即Reception，信号接收。

SMA是一种高速测试接口探针，此接口可以兼容VNA测试仪器接口。

THRU线为直通线。

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

依照以下的附图详细说明关于本实用新型的示例性实施例。

图中序号所代表的含义为：1-电路板，2-设备端接口，3-测试端接口，4-SMA探针，5-布线，6-信号发送端，7-信号接收端。

以下结合具体情况说明本实用新型的示例性实施例：

请参考图1、图2和图3，本实用新型实施例提供一种USB通道损耗测试治具，包括电路板1、设备端接口2、测试端接口3和布线5，设备端接口2、测试端接口3和布线5均设置在电路板1上，所述设备端接口2连接被测设备的USB接口，设有信号发送端6和信号接收端7，所述测试端接口3连接测试仪器，测试端接口3包括四个SMA探针4，其中两个SMA探针通过布线5连接至设备端接口2的信号发送端6，另外两个SMA探针通过布线连接至设备端接口2的信号接收端7。

进一步地，所述设备端接口2用于对接被测设备的USB3.0/3.1接口。

进一步地，所述测试仪器为网络分析仪VNA。

进一步地，所述布线5为THRU线。

进一步地，所述THRU线分别与信号接收端和信号发送端连接，所述THRU线的布线长度相等。

进一步地，所述THRU线长度为2inch。

进一步地，所述设备端接口2为金手指。

在本实用新型的示例性实施例中，根据标准USB接口一对TX一对RX来设计一种损耗测试治具，USB发送接收信号通道按照USB 3.0 Standard-A设备端设计测试信号引出位置，如图1所示的本实用新型总体结构示意图中，右侧为USB 3.0 Standard-A设备端接口，左侧为4个卧式SMA测试探针，其中一对探针为发送信号，另一对为接收信号。

本实用新型的损耗测试治具需要将一对发送信号和一对接收信号引出到高速测试探针SMA接口处,频域测试仪器-网络分析仪（VNA）支持SMA测试接口。从USB 3.0 Standard-A到SMA所有引出线布线长度相等，都为2INCH。板面设计了去嵌入THRU线，如图2所示，设计方式等同于各测试点引出线，线长为2INCH，SMA另一侧为仿USB 3.0 Standard-A端设计，参考此接口设计规格书中接口的尺寸以及于PCB接触的管脚尺寸，如图3所示，可将该接口设计为金手指。其目的是为后期使用网络分析仪测试，利用THRU去嵌入设计做端口延伸，将测试界面移到USB 3.0 Standard-A下方即被测通道位置。这样测得的信号才是被测板的传输线损耗S参数。可以通过此测试板测得任意通道的S参数。

USB3.1通用此损耗测试治具,信号管脚同USB3.0相同，测试原理同USB3.0。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本实用新型所提供的一种高密服务器硬盘背板进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。