一种电子产品按键自动测试系统的制作方法

本实用新型涉及吊装连接件，具体涉及一种电子产品按键自动测试系统。

背景技术：

目前，带有按键的电子产品测试时，一般采用人工测试的方法，这种方法具有测试速度慢、效率低等缺点，尤其是需要检测按键数量多的电子产品，人工测试更大大增加了测试时间和出错、漏测概率。

技术实现要素：

本实用新型的目的是提供一种电子产品按键自动测试系统，实现按键自动化测试的电子产品按键自动测试系统。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现：

一种电子产品按键自动测试系统，包括固定在平面上的固定架、设置在所述固定架上的按键装置及与所述按键装置电连接的控制器，所述按键装置包括外壳体及设置在所述外壳体内的线圈，所述线圈的中心处设有沿其磁场方向设置的金属杆，所述金属杆贯穿所述外壳体，所述金属杆与外壳体之间通过弹性元件连接，所述线圈电连接所述控制器。

在优选的实施方案中，所述控制器包括微处理器、导通开关及电源，所述导通开关的导通两端分别连接所述线圈与电源，所述导通开关的控制端电连接所述微处理器。

在优选的实施方案中，所述线圈与金属杆之间设有绝缘的线圈支撑架，线圈支撑架用于将线圈缠绕，并固定在外壳体内，同时其具有绝缘性能，可解决线圈与金属杆的接触问题。

在优选的实施方案中，所述金属杆上位于磁场南极的一端设有缓冲体，用于金属杆与待检测按键之间的缓冲，避免了金属杆对待检测按键的重复性冲击造成按键接触面损坏的问题。

在优选的实施方案中，所述金属杆上设有抵住所述弹性元件的挡块，所述弹性元件位于挡块与外壳体之间，弹性元件用于复位金属杆。

在优选的实施方案中，所述固定架包括水平设置的固定板及设置在其四周的支架，所述固定板上设有安装所述按键装置的安装孔，实现按键装置的可拆卸，可根据待检测案件排版布局的不同，将外壳体安装到相对应的安装孔上。

在优选的实施方案中，所述安装孔为内螺纹孔，所述外壳体的一端设有与所述内螺纹孔相配合的外螺纹；可选择的，所述安装孔为通孔，所述外壳体的一端设有与所述内螺纹孔相配合的螺柱结构。

在优选的实施方案中，所述弹性元件为弹簧。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型根据待测电子产品的按键布局，将对应数量的按键装置安装到固定板上，使按键装置与待测电子产品的按键一一对应，打开待测电子产品，微处理器发出测试启动信号，控制相对应的导通开关打开，与该导通开关相连接的按键装置按下按键，待测电子产品探测到按键事件后，即可在自身显示屏显示出相应按键名称，同时将该按键信息反馈到微处理器，微处理器探测到待测电子产品发送来的按键信息后，比对自己发出的按键值，如果匹配，则认为完成了一次正确的按键过程，否则判断为按键失败。经过一次完整的按键过程，控制器即可正确判断出所有按键是否正确按下，得到测试结果。实现了按键的自动化测试，大大降低了人工成本和测试效率。

附图说明

下面根据附图对本实用新型作进一步详细说明。

图1是本实用新型实施例所述的电子产品按键自动测试系统的外部结构图；

图2是图1中按键装置2的内部结构图；

图3是图1中固定板1的俯视图。

图中：

1、固定板；2、按键装置；3、控制器；4、外壳体；5、线圈；6、金属杆；7、弹簧；8、硅胶体；9、微处理器；10、导通开关；11、电源；12、挡块；13、支架；14、安装孔；15、待测电子产品；16、线圈支撑架。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下面将参照附图和具体实施例对本实用新型作进一步的说明。

如图1、2所示，本实用新型实施例的一种电子产品按键自动测试系统，包括固定在平面上的固定架、设置在所述固定架上的按键装置2及与所述按键装置2电连接的控制器3，所述按键装置2包括外壳体4，所述外壳体4内设有横向缠绕的线圈5，线圈5通电后产生磁场，线圈5的底部为磁场南极(N)，线圈5的顶部为磁场北极(S)，线圈5内的磁场方向是从南极到北极，线圈5外的磁场方向是从北极到南极，所述线圈5的中心处设有沿其磁场方向设置的金属杆6(即从北极到南极)，所述金属杆6贯穿所述外壳体4，所述金属杆6与外壳体4之间通过弹簧7(弹性元件)连接，所述金属杆6上位于磁场南极的一端设有硅胶体8(缓冲体)，用于金属杆6与待检测按键之间的缓冲，所述线圈5电连接用于控制线圈5控制器3。

具体使用时，控制器3打开导通开关10后线圈5充电，使线圈5产生磁场，产生的磁场力推动金属杆6向磁场南极移动，金属杆6压缩弹簧7，金属杆6按下待检测按键；控制器3切断导通开关10后线圈5断电，磁场消失，弹簧7恢复形态，推动金属杆6复位。

所述控制器3包括微处理器9、导通开关10及电源11，导通开关10的数量与按键装置2的数量相同，所述导通开关10的导通两端分别连接所述线圈5与电源11，所述导通开关10的控制端电连接所述微处理器9，微处理器9控制导通开关10的启闭。

所述金属杆6上设有抵住弹簧7的挡块12，弹簧7位于挡块12与外壳体4之间，弹性元件用于复位金属杆6，挡块12的位置可设置在金属杆6上位于磁场北极的一侧，或者设置在壳体内金属杆6。

所述外壳体4的一端可拆卸的安装在固定板1上，所述固定板1上设有呈矩阵分布的安装孔14，如3x3(如图3所示，)、6x6、8x8等，安装为可为螺纹孔(螺纹连接)或通孔(螺柱连接)，所述固定板1的四周均设有支架13，实现执行机构的可拆卸，可根据待检测案件排版布局的不同，将外壳体4安装到相对应的安装孔14上。

测试时，根据待测电子产品15的按键布局，将对应数量的按键装置2安装到固定板1上，使按键装置2与待测电子产品15的按键一一对应，打开待测电子产品15，微处理器9发出测试启动信号，控制相对应的导通开关10打开，与该导通开关10相连接的按键装置2按下按键，待测电子产品15探测到按键事件后，即可在自身显示屏显示出相应按键名称，同时将该按键信息反馈到微处理器9，微处理器9探测到待测电子产品15发送来的按键信息后，比对自己发出的按键值，如果匹配，则认为完成了一次正确的按键过程，否则判断为按键失败。经过一次完整的按键过程，控制器3即可正确判断出所有按键是否正确按下，得到测试结果。

最后应说明的是：以上所述的各实施例仅用于说明本实用新型的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或全部技术特征进行等同替换；而这些修改或替换，并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型各实施例技术方案的范围。