一种探针测试装置的制作方法

文档序号:13699939阅读:180来源:国知局
一种探针测试装置的制作方法

本实用新型涉及线路板领域,尤其涉及一种探针测试装置。



背景技术:

目前,对于极细线路,业界最细探针为40um,由40um探针制作的测试装置,对极细线路进行检测,以检测产品是否合格。

但是,现有的最细探针存在以下缺陷:

虽然现有的最细探针的直径已达到40um,但其测试稳定性较差,测试失误率较高,无法满足工厂需求。



技术实现要素:

为了克服现有技术的不足,本实用新型的目的之一在于提供一种探针测试装置,其能解决测试稳定性较差的问题。

本实用新型的目的之一采用如下技术方案实现:

一种探针测试装置,包括固定件、至少一探针、接线板及导线,所述至少一探针固定并凸出于所述固定件,所述至少一探针与所述接线板抵触,所述固定件固定于所述接线板,所述导线固定于所述接线板并与所述至少一探针连接,所述至少一探针直径为28-32um。

进一步地,所述至少一探针直径为30um,所述固定件包括上固定板及下固定板,所述上固定板固定于所述下固定板,所述下固定板固定于所述接线板,所述至少一探针固定于所述上固定板及下固定板。

进一步地,所述下固定板设有通孔,所述下固定板通过所述通孔固定于所述接线板。

进一步地,所述探针测试装置还包括防静电固定板,所述接线板固定于所述防静电固定板。

进一步地,所述防静电固定板设有出线槽,所述导线收容于所述出线槽。

进一步地,所述防静电固定板还设有固定孔,产品固定于所述固定孔。

进一步地,所述接线板两端分别抵触于所述下固定板和所述防静电固定板。

进一步地,所述至少一探针与所述固定件垂直。

进一步地,所述固定件平行与所述接线板。

进一步地,所述接线板平行于所述防静电固定板。

相比现有技术,本实用新型的有益效果在于:

使用探针测试装置时,线路板与探针接触,导线与测试装置连通,检测线路板是否合格,采用30um探针,减小探针之间的间距,使之更好地接触测试线路,测试稳定性大幅提高,降低失误率,结构新颖,设计巧妙。

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述,为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。

附图说明

图1为本实用新型一种探针测试装置中一较佳实施例的立体图;

图2为图1所示探针测试装置中A处的放大图。

图中:100、探针测试装置;10、固定件;11、上固定板;12、下固定板;121、通孔;20、探针;30、接线板;40、防静电固定板;41、出线槽;42、固定孔。

具体实施方式

下面,结合附图以及具体实施方式,对本实用新型做进一步描述,需要说明的是,在不相冲突的前提下,以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。

需要说明的是,当组件被称为“固定于”另一个组件,它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件,它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件,它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的,不是旨在于限制本实用新型。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。

请参阅图1-2为本实用新型探针测试装置100中一较佳实施例,包括固定件10、至少一探针20、接线板30、防静电固定板40及导线(图未示)。

固定件10包括上固定板11及下固定板12,上固定板11固定于下固定板12,下固定板12设有通孔121,用于固定,组装方便,上固定板11与下固定板12贴合。

探针20直径为28-32um,用于测试线路,优选的为30um,探针20之间的距离减小,与测试线路接触良好,提高了测试稳定性,降低不良率。

接线板30呈长方形。

防静电固定板40设有出线槽41及固定孔42,用于放置测试时产生的静电产生影响。

组装探针测试装置100时,下固定板12通过通孔121固定并贴合于接线板30,探针20固定于上固定板11及下固定板12并与接线板30抵触,接线板30两端分别抵触于下固定板12和防静电固定板40,导线固定于接线板30,导线与探针20连接并收容于出线槽41,探针20与固定件10垂直,固定件10平行与接线板30,接线板30平行于防静电固定板40。

使用探针测试装置100时,线路板与探针20接触,导线与测试装置连通,检测线路板是否合格,采用30um探针20,减小探针20之间的间距,使之更好地接触测试线路,测试稳定性大幅提高,降低失误率,结构新颖,设计巧妙。

上述实施方式仅为本实用新型的优选实施方式,不能以此来限定本实用新型保护的范围,本领域的技术人员在本实用新型的基础上所做的任何非实质性的变化及替换均属于本实用新型所要求保护的范围。

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