一种半导体激光器测试装置的制作方法

本实用新型涉及一种半导体激光器测试装置，属于半导体激光器测试的生产技术领域。

背景技术：

二十世纪七十年代，半导体激光器室温连续震荡的成功和低损耗光纤的实现拉开了光电子时代的序幕。半导体激光器具有体积小、重量轻、效率高、寿命长、易于调制及价格低廉等优点，在工业、医学和军事领域得到了广泛的应用。这也促进半导体激光器的产业化，由于生产工艺等技术问题，半导体激光器在生产完成后，需要对半导体激光器的电流、电压、波长和功率进行一系列的测试。

现有的测试手段是利用人工一个一个的拔插来实现半导体激光器的测试，这种利用人工测试的方法，对后道的自动化生产影响特别大，不利于产品质量等问题，利用人工拔插半导体激光器的方法效率也是非常的低，由此造成半导体激光器测试过程中操作人员较多，成本非常高，不利于批量化生产。

中国专利文献CN1461083A公开了一种激光二极管管芯测试工作台的光探测器调整架，它包括支承杆(3)，支承杆(3)的两端分别设有销钉(1、4)，销钉(1、4)插在工作台座(6)上的对应的孔中，其中，一端的销钉(4)上设有调节杆(8)，调节杆(8)的轴(7)偏心设置在销钉(4)上；光探测器(2)设置在支承杆(3)上。但是，该专利存在以下缺陷：1、不能连续的进行测试；2、需要人工协助工作较多，不能实现自动化要求。

技术实现要素：

针对现有的利用人工测试的方法即利用人工一个一个的拔插来实现半导体激光器的测试，对后道的自动化生产影响特别大，不利于产品质量统一性等问题，本实用新型提供了一种实现360°旋转拔插定位测试的装置。

本实用新型具有操作简单、效率高、成本低廉、制造出的产品一致性高等优点。

本实用新型的技术方案为：

一种半导体激光器测试装置，包括可旋转固定盘、测试插头、可伸缩旋转的支臂、拨插头、测试感应头，所述可旋转固定盘上设置有测试插头，所述可伸缩旋转的支臂上设置有所述拔插头，通过所述可旋转固定盘的旋转以及所述可伸缩旋转的支臂的伸缩、旋转，利用所述拔插头将需要测试的半导体激光器拔插到对应的所述测试插头上，所述测试感应头对对应位置的所述测试插头上的所述半导体激光器进行测试。

此处设计的优势在于，本实用新型实现了半导体激光器的测试阶段的自动化的操作，当批量生产时，产品避免了手动操作而导致的误判，从而实现检测标准一致性的目标，也可以避免人工操作时，碰到产品而污染等现象。

根据本实用新型优选的，所述可旋转固定盘通过可旋转固定底座设置在工作固定台上。

此处设计的优势在于，可旋转固定底座用于实现可旋转固定盘的旋转，通过旋转调整拔插头的位置与测试感应头对应匹配。

根据本实用新型优选的，所述测试装置还包括测试感应头支臂，所述测试感应头支臂一端固定在所述工作固定台上，所述测试感应支臂另一端设置所述测试感应头。

根据本实用新型优选的，所述可伸缩旋转的支臂为T字形，所述可伸缩旋转的支臂的底端固定在所述工作固定台上，所述可伸缩旋转的支臂的顶部左、右两端各设置有一个所述拔插头。

根据本实用新型优选的，所述测试感应头支臂为L形。

工作固定台起到固定作用，将可旋转固定底座、可360°旋转和伸缩的可伸缩旋转的支臂、测试感应头支臂等固定在工作固定台上。可伸缩旋转的支臂为T字形，测试感应头支臂为L形，垂直设置在工作固定台上，比较稳固，不易动摇。

根据本实用新型优选的，所述可旋转固定盘上靠近边缘内的一周均匀设置有若干所述测试插头，所述可旋转固定盘的盘体侧面，与若干所述测试插头的对应位置均匀设置有若干开关控制器。

当可旋转固定盘上测试感应头正下方正对拔插头，位置匹配时，开关控制器自动开开启，进行测试，否则，开关控制器自动关闭，停止测试。

测试感应头为现有的起到感应作用的现有设备，开关控制器为现有的起到开关作用的现有设备。

上述半导体激光器测试装置的工作方法，包括步骤如下：

(1)将需要测试的半导体激光器放入不朝向可旋转固定盘的拔插头上；

(2)旋转可伸缩旋转的支臂，使放入需要测试的半导体激光器的拔插头朝向可旋转固定盘；

(3)旋转可旋转固定盘，使可旋转固定盘上的测试插头对准放入需要测试的半导体激光器的拔插头；

(4)不断缩短可伸缩旋转的支臂，使需要测试的半导体激光器逐个插入到测试插头上；

(5)旋转可旋转固定盘，使插入需要测试的半导体激光器的测试插头在测试感应头的正下方，此时自动开启开关控制器，开始测试；

(6)测试完毕后，开关控制器自动停止，旋转可旋转固定盘，使插入测试完毕的半导体激光器的测试插头对准拔插头；

(7)拔插头将测试完毕的半导体激光器从测试插头上拔出。

通过上述方法循环测试半导体激光器，实现对半导体激光器产品的电流、电压、波长和功率的检测。

本发明的有益效果为：

1、本实用新型实现了半导体激光器的测试阶段的自动化的操作，当批量生产时，产品避免了手动操作而导致的误判，从而实现检测标准一致性的目标，也可以避免人工操作时，碰到产品而污染等现象。

2、本实用新型能实现可循环测试，大大提高了工作效率方面，对半导体激光器测试时，需要人为动手操作的几率明显降低，减少了人为对管芯的污染几率，提高了产量，减少了大量人工，减少了生产成本。

附图说明

图1为本实用新型半导体激光器测试装置的俯视示意图；

图2为本实用新型半导体激光器测试装置的立体示意图；

1、测试感应头，2、测试感应头支臂，3、开关控制器，4、工作固定台，5、测试插头，6、拨插头，7、可伸缩旋转的支臂，8、可旋转固定底座，9、可旋转固定盘。

具体实施方式

下面结合说明书附图和实施例对本实用新型作进一步限定，但不限于此。

实施例1

一种半导体激光器测试装置，包括可旋转固定盘9、测试插头5、可伸缩旋转的支臂7、拨插头6、测试感应头1，可旋转固定盘9上设置有测试插头5，可伸缩旋转的支臂7上设置有拔插头6，通过可旋转固定盘9的旋转以及可伸缩旋转的支臂7的伸缩、旋转，利用拔插头6将需要测试的半导体激光器拔插到对应的测试插头5上，测试感应头1对对应位置的测试插头5上的半导体激光器进行测试。

此次设计的优势在于，本实用新型实现了半导体激光器的测试阶段的自动化的操作，当批量生产时，产品避免了手动操作而导致的误判，从而实现检测标准一致性的目标，也可以避免人工操作时，碰到产品而污染等现象。

实施例2

根据实施例1所述的一种半导体激光器测试装置，如图1、图2所示，其区别在于，可旋转固定盘9通过可旋转固定底座8设置在工作固定台4上。此处设计的优势在于，可旋转固定底座8用于实现可旋转固定盘9的旋转，通过旋转调整拔插头6的位置与测试感应头1对应匹配。

测试装置还包括测试感应头支臂2，测试感应支臂2一端通过可调位置螺丝固定在工作固定台4上，测试感应支臂2另一端设置测试感应头1。

可伸缩旋转的支臂2为T字形，可伸缩旋转的支臂2的底端通过可调位置螺丝固定在工作固定台4上，可伸缩旋转的支臂2的顶部左、右两端各设置有一个拔插头6。测试感应头支臂2为L形。

工作固定台4起到固定作用，将测试感应支臂2、可旋转固定底座8、可360°旋转和伸缩的可伸缩旋转的支臂7、测试感应头支臂2等固定在工作固定台4上。可伸缩旋转的支臂7为T字形，测试感应头支臂2为L形，垂直设置在工作固定台4上，比较稳固，不易动摇。

可旋转固定盘9上靠近边缘内的一周均匀设置有若干测试插头5，可旋转固定盘9的盘体侧面，与若干测试插头5的对应位置均匀设置有若干开关控制器3。

当可旋转固定盘9上测试感应头1正下方正对拔插头6，位置匹配时，开关控制器3自动开开启，进行测试，否则，开关控制器3自动关闭，停止测试。

测试感应头为现有的起到感应作用的现有设备，开关控制器为现有的起到开关作用的现有设备。

上述半导体激光器测试装置的工作方法，包括步骤如下：

(1)将需要测试的半导体激光器放入不朝向可旋转固定盘9的拔插头6上；

(2)旋转可伸缩旋转的支臂7，使放入需要测试的半导体激光器的拔插头6朝向可旋转固定盘9；

(3)旋转可旋转固定盘9，使可旋转固定盘9上的测试插头5对准放入需要测试的半导体激光器的拔插头6；

(4)不断缩短可伸缩旋转的支臂7，使需要测试的半导体激光器逐个插入到测试插头5上；

(5)旋转可旋转固定盘9，使插入需要测试的半导体激光器的测试插头5在测试感应头1的正下方，此时自动开启开关控制器3，开始测试；

(6)测试完毕后，开关控制器3自动停止，旋转可旋转固定盘9，使插入测试完毕的半导体激光器的测试插头5对准拔插头6；

(7)拔插头6将测试完毕的半导体激光器从测试插头5上拔出。

通过上述方法循环测试半导体激光器，实现对半导体激光器产品的电流、电压、波长和功率的检测。