1.用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述通用测试治具为依据金属化半孔专用测试针进行设计的具有10层纤维板结构的测试治具，具体为与PCB焊盘接触的为5.0mm厚的第1层纤维板和3.0mm厚的第2层纤维板，第3层至第9层为1.0mm厚的纤维板，第10层为与针床接触的3.0mm厚的纤维板，所述第1层纤维板和第2层纤维板接触连接，所述第2层至第10层纤维板为间隔连接，第2层至第9层任意两相邻纤维板之间均设有多处第一支撑柱，第9层与第10层纤维板之间设有位置与第一支撑柱相对应的第二支撑柱。
2.根据权利要求1所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述第一支撑柱和第二支撑柱均为采用不锈钢制成的直径相同的环形柱，所述环形柱的外径为20mm，所述环形柱的内径为6mm。
3.根据权利要求2所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述第一支撑柱和第二支撑柱的高度不相同，所述第一支撑柱的高度为10mm，所述第二支撑柱的高度为3mm。
4.根据权利要求3所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述金属化半孔治具上按照常规流程插针有金属化半孔专用测试针，测试针插针后两端分别伸出治具2.0mm。
5.根据权利要求4所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述第1层纤维板的正面和第10层纤维板的反面与第一支撑柱和第二支撑柱相对应处进行沉锥形孔，并通过锣母在沉锥形孔处将第一支撑柱与第1层纤维板固紧，将第二支撑柱与第10层纤维板固紧。
6.根据权利要求1至5任一项权利要求所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述金属化半孔专用测试针由针头、针杆和针脚构成，所述针脚直径以通用测试机针盘弹簧孔的直径为标准，减小0.5mm～0.2mm进行设计，所述针杆直径与针脚直径相同，所述针头直径比金属化半孔直径大0.1mm或者与金属化半孔孔环直径相同，所述针脚、针杆和针头一起的总长度与通用治具用普通测试针长度相同。
7.根据权利要求6所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述针脚直径为0.5mm～0.8mm，所述针杆直径与针脚直径相同。
8.根据权利要求7所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述针头直径比金属化半孔直径大0.1mm或者与金属化半孔孔环直径相同。
9.根据权利要求8所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述测试针的长度为95mm，其中针头长度为10mm，针脚和针杆的长度的各为85mm。
10.根据权利要求9所述的用于金属化半孔光电产品电性能检测的通用测试治具，其特征在于：所述金属化半孔专用测试针中的针头、针杆和针脚采用不锈钢材料一次成型。