本实用新型涉及自动化设备领域,具体是一种老化测试箱。
背景技术:
随着经济和科技的发展,在工业生产中自动化设备的运用越来越广泛,在电子产品制备过程中,需进行老化试验,现阶段使用的老化试验设备,设置试验板,试验槽板上设置多个试验槽,进行多个电子产品的同时测试,在应对单个或少个产品测试时,现阶段使用的老化测试设备,存在资源浪费等问题。
因此,有必要提供一种老化测试箱来解决上述问题。
技术实现要素:
本实用新型的目的是提供一种老化测试箱。
本实用新型通过如下技术方案实现上述目的:
一种老化测试箱,包括箱体、设置于箱体上的若干测试箱单体、以及可滑动设置的若干测试抽屉;
所述测试箱单体包括测试箱箱体、设置于所述测试箱箱体上的与所述测试抽屉相对应的容纳槽、设置于所述测试箱箱体上的且与所述容纳槽相对应的测试箱供电组件;
所述测试抽屉包括抽屉体、设置于所述抽屉体上的载具、以及设置于所述抽屉体上的与所述载具相配合使用的与所述测试箱供电组件相配合使用的抽屉体通电件。
进一步的,所述测试箱供电组件包括设置于所述测试箱箱体上的测试箱接电件、设置于所述测试箱接电件上方的支持架、设置于所述支持架上的散热板。
进一步的,所述测试箱供电组件还包括设置于所述测试箱箱体上的散热风扇。
进一步的,所述抽屉体上设置有进出滑台和拉动把手。
进一步的,所述载具包括与所述抽屉体通电件连通的通电载体、以及设置于所述通电载体上的用于装置产品的产品载体。
与现有技术相比,本实用新型能够对应不同测试场合,进行单个或多个电子产品的测试,减少生产资源的浪费,且操作方便,保证产品测试效率。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是测试箱单体的结构示意图;
图3是测试抽屉的结构示意图;
图中数字表示:
1箱体;
2测试箱单体,21测试箱箱体,22容纳槽;
23测试箱供电组件,231测试箱接电件,232支持架,233散热板,散热风扇;
3测试抽屉;
31抽屉体,311通电载体,312产品载体;
32载具,33抽屉体通电件,34进出滑台,35拉动把手。
具体实施方式
实施例:
在电子产品制备过程中,产品老化试验是对单批次产品进行抽检,以保证产品的使用寿命;
现阶段使用的老化试验设备皆为使用可容纳多个产品测设槽的测试箱,多个产品同时测试,但应对抽检式老化测设,现阶段的测试方式,存在进行单个或少量产品测试时,整体设备通电,浪费生产资源,同时测试效率也低;
因此,可提出一种可应对单体测试的设备,如下:
请参阅图1至图3,本实施例展示一种老化测试箱:
包括箱体1、设置于箱体1上的若干测试箱单体2、以及可滑动设置的若干测试抽屉3;
测试箱单体2包括测试箱箱体21、设置于试箱箱体21上的与测试抽屉3相对应的容纳槽22、设置于测试箱箱体21上的且与容纳槽22相对应的测试箱供电组件23;
测试抽屉3包括抽屉体31、设置于抽屉体31上的载具32、以及设置于抽屉体31上的与载具32相配合使用的与测试箱供电组件23相配合使用的抽屉体通电件33。
测试箱供电组件23包括设置于测试箱箱体21上的测试箱接电件231、设置于测试箱接电件231上方的支持架232、设置于支持架232上的散热板233。
测试箱供电组件23还包括设置于测试箱箱体21上的散热风扇234。
抽屉体31上设置有进出滑台34和拉动把手35。
载具31包括与抽屉体通电件连通33的通电载体311、以及设置于通电载体311上的用于装置产品的产品载体312。
本实施例使用时,可针对测试零件数量,进行测试抽屉3的使用数量。
与现有技术相比,本实用新型能够对应不同测试场合,进行单个或多个电子产品的测试,减少生产资源的浪费,且操作方便,保证产品测试效率。
以上所述的仅是本实用新型的一些实施方式。对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本实用新型创造构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本实用新型的保护范围。